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2025-02-28 19:02:57碳基鈣鈦礦太陽(yáng)電池
碳基鈣鈦礦太陽(yáng)電池是一種采用碳材料作為電極，鈣鈦礦結(jié)構(gòu)材料作為吸光層的太陽(yáng)能電池。它具有成本低、制備工藝簡(jiǎn)單、光電轉(zhuǎn)換效率高等優(yōu)點(diǎn)。碳電極的使用提高了電池的穩(wěn)定性，鈣鈦礦材料則具有優(yōu)異的吸光性能和電荷傳輸性能。該電池在光照下能將光能高效轉(zhuǎn)換為電能，是實(shí)現(xiàn)太陽(yáng)能利用的重要技術(shù)之一，在可再生能源領(lǐng)域具有廣闊的發(fā)展前景。

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2023-07-21 10:25:31ALD在鈣鈦礦方面的應(yīng)用
    “碳達(dá)峰”和“碳中和”一直都是能源領(lǐng)域的熱點(diǎn)話題，作為助力“雙碳”戰(zhàn)略的生力軍，光伏產(chǎn)業(yè)具有舉足輕重的地位。目前光伏的主力是硅太陽(yáng)能電池，它們具有效率高、穩(wěn)定性好、產(chǎn)業(yè)鏈完備、使用壽命長(zhǎng)的優(yōu)勢(shì)。然而，晶硅電池的轉(zhuǎn)換效率到達(dá)瓶頸，且從硅料到組件至少經(jīng)過(guò)4 道工序，單位制程需要3 天以上，同時(shí)還需要大量人力、運(yùn)輸成本等。為了讓太陽(yáng)能的利用更加便捷、高效且廉價(jià)，科學(xué)界和工業(yè)界正在研制新型太陽(yáng)能電池；鈣鈦礦太陽(yáng)能電池就是備受關(guān)注的后起之秀，鈣鈦礦疊層效率極限可達(dá)50%，而鈣鈦礦組件在單一工廠完成生產(chǎn)，原材料經(jīng)過(guò)加工后直接成組件，沒(méi)有傳統(tǒng)的“電池片”工序，大大縮短制程耗時(shí)。但是，如何制備大面積且能保持較高效率的鈣鈦礦太陽(yáng)能電池，依然是難題，也成了制約其產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用的瓶頸。       原速ALD在鈣鈦礦電子傳輸層、空穴傳輸層、鈍化層、封裝阻水層等領(lǐng)域已取得了突破性進(jìn)展，獲得了業(yè)界的認(rèn)可。為了更高效地服務(wù)于世界光伏產(chǎn)業(yè)高地，原速也在上海建立了技術(shù)研發(fā)中心。截止目前，公司已形成服務(wù)于鈣鈦礦電池研發(fā)、中試、100MW、 GW級(jí)量產(chǎn)的產(chǎn)線ALD技術(shù)解決方案。1、ALD-SnO2 應(yīng)用于鈣鈦礦電池電子傳輸層 ? ALD 相比于傳統(tǒng)沉積技術(shù)，在制備超薄膜時(shí)具有更優(yōu)異的均勻性和保形性，以及缺陷更少的優(yōu)點(diǎn) 2、ALD-NiO 應(yīng)用于鈣鈦礦電池空穴傳輸層 ? ALD 可用于制備性能優(yōu)異的超薄（
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2023-07-25 10:40:14半導(dǎo)體和鈣鈦礦材料的高光譜（顯微）成像
目前在光伏業(yè)界，正在進(jìn)行一項(xiàng)重大努力，以提高光伏和發(fā)光應(yīng)用中所用半導(dǎo)體的效率并降低相關(guān)成本。這就需要探索和開(kāi)發(fā)新的制造和合成方法，以獲得更均勻、缺陷更少的材料。無(wú)論是電致還是光致發(fā)光，都是實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)的重要工具。通過(guò)發(fā)光可以深入了解薄膜內(nèi)部發(fā)生的重組過(guò)程， 而無(wú)需通過(guò)對(duì)完整器件的多層電荷提取來(lái)解決復(fù)雜問(wèn)題。HERA高光譜照相機(jī)是繪制半導(dǎo)體光譜成像的理想設(shè)備，因?yàn)樗軌蚩焖?、定量地繪制半導(dǎo)體發(fā)射光譜圖，且具有高空間分辨率和高光譜分辨率的特性。硅太陽(yáng)能電池的電致發(fā)光光譜成像光伏設(shè)備中的缺陷會(huì)導(dǎo)致光伏產(chǎn)生的載流子發(fā)生重組，阻礙其提取并降低電池效率。電致發(fā)光光譜成像可以揭示這些有害缺陷的位置和性質(zhì)。"反向"驅(qū)動(dòng)太陽(yáng)能電池（即施加電流）會(huì)產(chǎn)生電致發(fā)光，因?yàn)檩d流子在電極上被注入并在有源層中重新結(jié)合。在理想的電池中，所有載流子都會(huì)發(fā)生帶間重組，這在硅中會(huì)產(chǎn)生1100 nm附近的光（效率非常低）。然而，晶體結(jié)構(gòu)中的缺陷會(huì)產(chǎn)生其他不利的重組途徑。雖然這些過(guò)程通常被稱為"非輻射"重組，但偶爾也會(huì)產(chǎn)生光子，其能量通常低于帶間發(fā)射。捕獲這些非常罕見(jiàn)的光子可以了解缺陷的能量和分布。在本實(shí)驗(yàn)中，我們使用了HERA SWIR (900-1700 nm)，它非常適合測(cè)量硅發(fā)光衰減。測(cè)量裝置如圖1所示：HERA安裝在三腳架上，在太陽(yáng)能電池上方，連接到一個(gè)10A的電源。640×512像素的傳感器安裝在樣品上方75厘米處，空間分辨率約為250微米。圖1. 實(shí)驗(yàn)裝置最重要的是，HERA光學(xué)系統(tǒng)沒(méi)有輸入狹縫，因此光通量非常高，是測(cè)量極微弱光發(fā)射的理想選擇。圖2.A和2.B顯示了兩個(gè)波長(zhǎng)的電致發(fā)光（EL）圖像：1150 nm（帶間發(fā)射）和1600 nm（缺陷發(fā)射），這是4次掃描的平均值（總采集時(shí)間：5分鐘）。通過(guò)分析這些圖像，我們可以看到，盡管缺陷區(qū)域的亮度遠(yuǎn)低于主發(fā)射區(qū)域，但它們?nèi)员磺逦胤直娉鰜?lái)。此外，具有強(qiáng)缺陷發(fā)射的區(qū)域的帶間發(fā)射相對(duì)較弱。我們可以注意到有幾個(gè)區(qū)域在兩個(gè)波長(zhǎng)下都是很暗的；這可能是由于樣品在運(yùn)輸過(guò)程中損壞了電池造成的。圖2.C中以對(duì)數(shù)標(biāo)尺顯示了小方塊感興趣區(qū)域（圖2A和2B中所示）的光譜。圖 2.A 和 B：兩個(gè)選定波長(zhǎng)（1150 nm 和 1600 nm）的電致發(fā)光（EL）圖像。C：A和B中三個(gè)不同區(qū)域?qū)?yīng)的電致發(fā)光光譜（圖像中的彩色方框）。金屬鹵化物鈣鈦礦薄膜的光致發(fā)光顯微研究通過(guò)旋涂等技術(shù)含量低、成本效益高的方法，可以制造出非常高效的太陽(yáng)能電池和LED。這些方法面臨的一個(gè)挑戰(zhàn)是在微觀長(zhǎng)度的尺度上保持均勻的成分。光致發(fā)光顯微鏡是表征這種不均勻性的一個(gè)特別強(qiáng)大的工具。HERA高光譜相機(jī)可以連接到任何顯微鏡（正置或倒置）的c-mount相機(jī)端口，并直接開(kāi)始采集高光譜數(shù)據(jù)，無(wú)需任何校準(zhǔn)程序。圖3. 與尼康LV100直立顯微鏡連接的HERA VIS-NIR。在本實(shí)驗(yàn)中，我們使用HERA VIS-NIR（400-1000 nm）耦合到尼康LV100直立顯微鏡（圖3）來(lái)表征兩種鹵化物前驅(qū)體合金的帶隙分布。將兩種鹵化物前驅(qū)體合金化的優(yōu)點(diǎn)是能夠調(diào)整材料的帶隙；然而，這兩種成分經(jīng)常會(huì)發(fā)生逆混合，從而導(dǎo)致性能損失。本實(shí)驗(yàn)的目的是檢測(cè)這種逆混合現(xiàn)象：事實(shí)上，混合比的局部變化會(huì)改變局部帶隙，從而導(dǎo)致發(fā)射不同能量的光子。在這種配置中，激發(fā)光來(lái)自汞燈，通過(guò)帶通濾光片在350 nm處進(jìn)行濾光，并通過(guò)發(fā)射路徑上的二向色鏡將其從相機(jī)中濾除。HERA的高通量使其能夠在大約1分鐘的測(cè)量時(shí)間內(nèi)收集完整的數(shù)據(jù)立方體（130萬(wàn)個(gè)光譜）。圖4.樣品的光譜綜合強(qiáng)度圖（A：全尺寸；B：放大）。圖4.A和4.B分別顯示了所有波長(zhǎng)（400-1000 nm）總集成信號(hào)的全尺寸和放大圖像，揭示了長(zhǎng)度尺度在1 μm左右的明亮特征。當(dāng)我們比較亮區(qū)和暗區(qū)的光譜時(shí)（圖5.B中的黑色和紅色曲線），我們發(fā)現(xiàn)暗區(qū)實(shí)際上也有發(fā)射， 不僅強(qiáng)度較低，而且波長(zhǎng)中心比亮區(qū)短。事實(shí)上，光譜具有雙峰形狀，很可能與逆混合前驅(qū)體的發(fā)射相對(duì)應(yīng)。圖5.A的發(fā)射圖清楚地顯示了帶隙的這種變化。我們現(xiàn)在可以理解為什么低帶隙區(qū)域看起來(lái)更亮了--載流子可能從高帶隙區(qū)域弛豫到那里，并且在發(fā)生輻射重組之前無(wú)法返回。圖5.A：顯示平均發(fā)射波長(zhǎng)的強(qiáng)度圖。B：亮區(qū)和暗區(qū)的發(fā)射光譜（正常化）。東隆科技作為NIREOS國(guó)內(nèi)總代理公司，在技術(shù)、服務(wù)、價(jià)格上都具有優(yōu)勢(shì)。如果您有任何產(chǎn)品相關(guān)的問(wèn)題，歡迎隨時(shí)來(lái)電垂詢，我們將為您提供專業(yè)的技術(shù)支持與產(chǎn)品服務(wù)。
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2025-01-06 18:15:12電渦流測(cè)厚儀可以測(cè)鋁基么
電渦流測(cè)厚儀可以測(cè)鋁基么 電渦流測(cè)厚儀作為一種常用于材料厚度檢測(cè)的設(shè)備，因其非接觸、快速、精確的特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于各種金屬及涂層的厚度測(cè)量。在實(shí)際應(yīng)用中，很多用戶對(duì)于電渦流測(cè)厚儀是否能夠用于測(cè)量鋁基材料存在疑問(wèn)。本文將深入探討電渦流測(cè)厚儀能否有效測(cè)量鋁基材料的厚度，并分析其工作原理與適用性，以幫助用戶做出更合適的選擇。 電渦流測(cè)厚儀的工作原理 電渦流測(cè)厚儀通過(guò)測(cè)量電渦流在被測(cè)材料中產(chǎn)生的變化來(lái)確定材料的厚度。設(shè)備通過(guò)發(fā)射一個(gè)電磁場(chǎng)到被測(cè)物體表面，材料的電導(dǎo)率會(huì)影響電渦流的分布，進(jìn)而影響測(cè)量信號(hào)的強(qiáng)度和頻率變化。這些變化會(huì)被儀器轉(zhuǎn)換成厚度值。由于電渦流的探測(cè)主要依賴于材料的導(dǎo)電性和磁導(dǎo)率，因此，對(duì)于不同材質(zhì)的材料，電渦流測(cè)厚儀的適用性有所差異。 電渦流測(cè)厚儀測(cè)量鋁基的挑戰(zhàn) 鋁是一種導(dǎo)電性良好的輕金屬，因此在理論上，電渦流測(cè)厚儀是可以對(duì)鋁基材料進(jìn)行測(cè)量的。鋁基材料的厚度測(cè)量存在一定的挑戰(zhàn)，主要表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面： 鋁的電導(dǎo)率較高：鋁具有較高的電導(dǎo)率，這使得電渦流的衰減較快，測(cè)量信號(hào)可能較弱，影響測(cè)量的精度和穩(wěn)定性。 涂層影響：如果鋁基表面涂覆有涂層，電渦流測(cè)厚儀可能只能測(cè)量涂層的厚度，而無(wú)法直接獲得基材的厚度。對(duì)于純鋁或表面涂層較薄的鋁基，測(cè)量可能會(huì)更加準(zhǔn)確，但對(duì)于涂層較厚的鋁基，可能需要使用專門的涂層測(cè)厚儀。 頻率選擇問(wèn)題：電渦流測(cè)厚儀的頻率需要根據(jù)被測(cè)材料的性質(zhì)進(jìn)行調(diào)整。對(duì)于鋁基材料，由于其導(dǎo)電性較強(qiáng)，需要選擇合適的測(cè)量頻率，否則可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)量誤差或無(wú)法正常讀取結(jié)果。 電渦流測(cè)厚儀是否適合測(cè)量鋁基材料？ 電渦流測(cè)厚儀能夠用于鋁基材料的厚度測(cè)量，但需要考慮鋁的特性及應(yīng)用環(huán)境。對(duì)于一些特殊需求，如精度要求較高的鋁材測(cè)量或鋁基涂層測(cè)量，選擇合適的儀器和參數(shù)調(diào)節(jié)至關(guān)重要。若鋁基材料表面涂層較厚，用戶可能需要選擇專門的涂層測(cè)厚儀，或者使用能夠區(qū)分涂層與基材厚度的電渦流儀器。 電渦流測(cè)厚儀可以應(yīng)用于鋁基材料的厚度檢測(cè)，但在實(shí)際應(yīng)用中，選型和參數(shù)設(shè)置的合理性直接影響測(cè)量的準(zhǔn)確性和可行性。
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2023-08-10 14:19:11高內(nèi)相乳液模板法制備聚合物基多孔碳及其電化學(xué)性能的研究
HS-STA-002同步熱分析儀將熱重分析 TG 與差示掃描量熱 DSC 結(jié)合為一體，在同一次測(cè)量中利用同一樣品可同步得到熱重與差熱信息。高內(nèi)相乳液模板法制備聚合物基多孔碳及其電化學(xué)性能的研究【福州大學(xué) 張靜】高內(nèi)相乳液模板法制備聚合物基多孔碳及其電化學(xué)性能的研究上海和晟 HS-STA-002 同步熱分析儀
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2025-04-28 12:30:14紅外碳硫分析儀基本組成
紅外碳硫分析儀基本組成 紅外碳硫分析儀是現(xiàn)代工業(yè)中廣泛應(yīng)用的儀器，主要用于測(cè)量樣品中碳（C）和硫（S）元素的含量。其的分析能力，使其在鋼鐵、化工、環(huán)境保護(hù)等多個(gè)領(lǐng)域中扮演著至關(guān)重要的角色。本文將深入探討紅外碳硫分析儀的基本組成，了解其核心技術(shù)與工作原理，為相關(guān)領(lǐng)域的專業(yè)人員提供參考。 紅外碳硫分析儀的工作原理依賴于紅外光譜技術(shù)，通過(guò)測(cè)量樣品在紅外光照射下的吸光度變化，來(lái)定量分析其中碳和硫元素的含量。分析儀的組成通常包括以下幾個(gè)主要部分： 紅外光源：該部分負(fù)責(zé)產(chǎn)生穩(wěn)定的紅外光束，作為儀器測(cè)量的基礎(chǔ)。常見(jiàn)的光源有碳氘燈、鎢絲燈等，它們能夠提供所需的紅外輻射。 光學(xué)系統(tǒng)：光學(xué)系統(tǒng)的主要作用是將光源發(fā)出的紅外光束引導(dǎo)至樣品，并通過(guò)反射、透過(guò)等方式實(shí)現(xiàn)光路的調(diào)節(jié)。通常包括反射鏡、濾光片、透鏡等，確保紅外光束能照射樣品。 樣品爐：樣品爐是紅外碳硫分析儀的核心組成部分之一，用于加熱樣品。高溫條件下，樣品中的碳和硫會(huì)與氧氣反應(yīng)，產(chǎn)生二氧化碳（CO?）和二氧化硫（SO?）氣體。 氣體檢測(cè)系統(tǒng)：在樣品加熱過(guò)程中產(chǎn)生的氣體會(huì)通過(guò)氣體檢測(cè)系統(tǒng)被捕捉。通過(guò)紅外光譜吸收的特性，檢測(cè)系統(tǒng)能夠精確測(cè)定二氧化碳和二氧化硫的濃度，從而間接計(jì)算出樣品中的碳和硫含量。 信號(hào)處理和顯示系統(tǒng)：該系統(tǒng)將氣體檢測(cè)結(jié)果轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，并通過(guò)數(shù)據(jù)處理軟件進(jìn)行分析，終以數(shù)值的形式呈現(xiàn)在儀器的顯示屏上，方便操作人員讀取結(jié)果。 控制系統(tǒng)：控制系統(tǒng)用于對(duì)整個(gè)分析過(guò)程進(jìn)行調(diào)節(jié)和控制。它負(fù)責(zé)設(shè)置溫度、時(shí)間以及其他關(guān)鍵參數(shù)，確保分析過(guò)程的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。 綜合來(lái)看，紅外碳硫分析儀的基本組成體現(xiàn)了光學(xué)、熱力學(xué)和氣體分析等多學(xué)科技術(shù)的集成。每一個(gè)部件都發(fā)揮著至關(guān)重要的作用，確保儀器能夠高效、地完成對(duì)碳硫元素含量的分析任務(wù)。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，紅外碳硫分析儀在工業(yè)和科研領(lǐng)域的應(yīng)用將會(huì)更加廣泛，成為現(xiàn)代化生產(chǎn)過(guò)程中不可或缺的檢測(cè)工具。
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