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2025-01-10 10:53:39透射照明顯微: 透射照明顯微是一種顯微技術(shù)，利用光線透過樣品進(jìn)行照明和成像。該技術(shù)通過顯微鏡的光學(xué)系統(tǒng)，將透過樣品的光線聚焦并放大，從而觀察樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、形態(tài)和細(xì)節(jié)。透射照明顯微廣泛應(yīng)用于生物學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域，適用于觀察透明或半透明樣品，如細(xì)胞、組織薄片、纖維等。它能夠提供高分辨率的圖像，幫助研究人員深入了解樣品的微觀特征。

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透射照明顯微問答

2025-05-16 11:15:24透射式偏心儀怎么用: 透射式偏心儀怎么用：全面解析及操作指南透射式偏心儀是一種在機(jī)械加工和檢測中廣泛使用的工具，主要用于檢測物體的偏心程度，確保其加工精度。隨著現(xiàn)代制造業(yè)對(duì)精度要求的不斷提高，透射式偏心儀的應(yīng)用變得越來越重要。本文將詳細(xì)介紹透射式偏心儀的基本原理、操作步驟以及如何通過正確使用該設(shè)備提高檢測效率和度。無論是初學(xué)者還是有一定經(jīng)驗(yàn)的工程師，都能從中獲取實(shí)用的操作技巧與專業(yè)建議。我們需要了解透射式偏心儀的工作原理。這種儀器的核心在于利用光學(xué)原理，通過透射光的變化來判斷被測物體的偏心度。偏心是指物體的旋轉(zhuǎn)中心與其幾何中心不重合，這在機(jī)械加工中是一個(gè)常見的問題。如果偏心度過大，可能會(huì)導(dǎo)致設(shè)備運(yùn)轉(zhuǎn)不穩(wěn)定，影響生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。因此，使用透射式偏心儀對(duì)這些偏心現(xiàn)象進(jìn)行檢測和調(diào)整，對(duì)于提高機(jī)械設(shè)備的穩(wěn)定性至關(guān)重要。透射式偏心儀的基本構(gòu)造透射式偏心儀通常由光源、透射鏡、接收器及調(diào)節(jié)裝置等部分組成。其工作原理是通過光源投射到被測物體上，當(dāng)物體發(fā)生偏心時(shí)，透過物體的光線發(fā)生偏移，進(jìn)而被接收器感知并顯示為偏心量。該儀器一般具有較高的精度，能夠快速、直觀地反映出物體的偏心狀況。透射式偏心儀的使用步驟準(zhǔn)備工作在開始操作透射式偏心儀之前，需要確保儀器的清潔狀態(tài)，特別是光源和接收器部分。臟污會(huì)影響測量的準(zhǔn)確性。安裝被測物體將被測物體準(zhǔn)確地固定在儀器的測量平臺(tái)上，確保其處于正確的位置。此時(shí)應(yīng)避免任何震動(dòng)或干擾，以確保測量結(jié)果的可靠性。調(diào)整光源和接收器根據(jù)被測物體的尺寸和形狀，調(diào)整光源和接收器的位置。確保透射光線通過物體，且接收器能夠正確感應(yīng)到偏移后的光線。讀取測量結(jié)果啟動(dòng)透射式偏心儀，觀察偏心度顯示。一般來說，儀器會(huì)通過數(shù)字或指示燈顯示物體的偏心值。若檢測到偏心超出設(shè)定范圍，應(yīng)采取相應(yīng)的調(diào)整措施。記錄和分析數(shù)據(jù) 操作完成后，記錄下測量數(shù)據(jù)，并進(jìn)行分析。這些數(shù)據(jù)將為后續(xù)的調(diào)整提供參考依據(jù)。如何確保偏心儀的精確度為了確保透射式偏心儀的測量精度，操作人員需要定期對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并檢查光源和接收器的工作狀態(tài)。定期維護(hù)儀器，不僅能提高其使用壽命，還能保證每次測量結(jié)果的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。總結(jié) 透射式偏心儀的正確使用不僅能有效提高生產(chǎn)過程中檢測精度，還能避免因偏心導(dǎo)致的設(shè)備故障或質(zhì)量問題。通過掌握其操作步驟和維護(hù)技巧，可以大大提升工作效率。作為專業(yè)的檢測工具，透射式偏心儀在現(xiàn)代機(jī)械加工中發(fā)揮著不可替代的作用，對(duì)于提高整體生產(chǎn)質(zhì)量具有重要意義。

2023-05-16 10:19:34工業(yè)應(yīng)用的顯微鏡照明 | 如何為顯微分析選擇合適的光源: 本文旨在為使用顯微鏡檢測的用戶提供實(shí)用的建議，幫助他們?yōu)榱慵蚪M件觀察選擇最佳照明或照明系統(tǒng)。顯微鏡使用的照明會(huì)嚴(yán)重影響到最終的圖像質(zhì)量，并且會(huì)對(duì)可視化細(xì)節(jié)造成顯著影響。以下信息可以幫助用戶選擇可針對(duì)顯微分析需求優(yōu)化成像結(jié)果的照明。顯微鏡檢測需要什么樣的照明？工業(yè)制造和生產(chǎn)、流程工藝、質(zhì)量控制和保證（QC/QA）、故障分析（FA）或研發(fā)（R&D）的零部件檢查通常需要借助顯微鏡完成。所用顯微鏡的性能對(duì)于檢測效率有著巨大影響。如何選擇有助于幫助使用顯微鏡檢測的用戶獲取最佳圖像結(jié)果的照明，取決于此類零部件的類型以及必須顯示的感興趣細(xì)節(jié)[1-4]。本文可以為需要使用顯微鏡檢測的用戶提供實(shí)用的建議，幫助他們?yōu)榱慵蚪M件觀察選擇最佳照明或照明系統(tǒng)。以下信息可以幫助用戶選擇適合顯微分析的照明。什么類型的顯微鏡光源最合適顯微分析？10 到 20 多年前，鹵素?zé)鬧5]是顯微鏡檢測最常用的照明類型。不過，也是從那時(shí)候起，LED（發(fā)光二極管）燈[6、7]越來越多用于顯微鏡照明。LED 照明的優(yōu)點(diǎn)相比鹵素?zé)簦琇ED 顯微鏡照明技術(shù)可以為顯微鏡成像提供多項(xiàng)優(yōu)點(diǎn)。具體包括：更長的使用壽命（25,000 到 50,000 小時(shí)）更低的功耗色溫自然即使在低亮度狀況下也能保持恒定色溫更低的發(fā)熱（作為冷光源，用于對(duì)溫度敏感的樣品）更為實(shí)用且緊湊的設(shè)計(jì)為什么顯微鏡照明在顯微分析過程中極為重要？如果需要選擇合適的照明類型以便對(duì)部件或零件進(jìn)行高質(zhì)量的顯微觀察和成像，需要考慮哪些關(guān)鍵因素：待觀察的樣品類型（組件、零件等）；需要分析的樣品特征（發(fā)光或透明區(qū)域、孔洞、劃痕、表面結(jié)構(gòu)等）；當(dāng)前采用的照明類型很難用于某些特定應(yīng)用（顯微分析、FA、R&D 等）；在顯微鏡觀察過程中需要接觸樣品，例如，使用鑷子、烙鐵或其他需要在樣品和物鏡之間保持足夠工作距離的工具[8、9]。使用顯微鏡進(jìn)行檢測的用戶可以必須嘗試多種照明類型才能找到最佳照明[10、11]。選擇合適的 LED 顯微鏡照明LED 照明解決方案描述如下。包括 LED3000 和 LED 5000 系統(tǒng)，主要用于立體[9]或數(shù)碼顯微鏡[12]，通常用于進(jìn)行顯微分析。需要用到它們的其他應(yīng)用示例包括故障分析（FA）和研發(fā)（R&D）。LED3000 和 LED 5000 照明系統(tǒng)的一些基本信息如表 1 所示。LED3000 和 LED 5000 顯微鏡照明解決方案概述環(huán)形燈（RL）提供明亮且均勻的照明；適用于多種類型的零部件。此外，擴(kuò)散器和偏振光組可用于兩種環(huán)形燈類型。這些配件可以減少眩光和斑點(diǎn)突出的問題。同軸照明（CXI），其中的光束經(jīng)引導(dǎo)通過光學(xué)器件，在零部件上發(fā)生反射，最適合光滑和反射組件。如果必須評(píng)估細(xì)微裂紋或表面質(zhì)量，這種光源尤其有用。近垂直照明（NVI）通過非?？拷廨S放置的 LED 燈實(shí)現(xiàn)。它能提供幾乎沒有陰影的照明，適用于有凹槽和深孔的零部件，或者需要長工作距離的零部件。采用靈活鵝頸設(shè)計(jì)的聚光燈照明（SLI）提供適合多種類型零部件的高對(duì)比度照明。漫射和高度漫射照明（DI 和 HDI）專為反光、非平面或彎曲的零部件設(shè)計(jì)。由于背反射光的數(shù)量，這些情況很難成像。多重對(duì)比照明，利用來自兩個(gè)不同方向和角度的照明實(shí)現(xiàn)可重復(fù)對(duì)比，對(duì)于很難找到細(xì)節(jié)的零部件特別有用。背光照明（BLI）可以為具有透明區(qū)域的零部件提供透射照明。徠卡 LED 5000 和 LED3000 的照明效果不同樣品的示例圖如下所示。這些圖像由配備 Flexacam C3 顯微鏡相機(jī)和 LED3000 或LED 5000 照明系統(tǒng)的徠卡立體顯微鏡（M60 或 M125）記錄。所用照明類型為環(huán)形燈（RL）[帶漫射器或偏振器]、近垂直（NVI）、同軸（CXI）、聚光燈（SLI）、多重對(duì)比（MCI）和漫射（DI）或高度漫射（HDI）照明。參考樣品：硬幣圖 1 顯示了使用各種 LED 照明獲得的金屬硬幣圖像。硬幣圖像清晰展示出不同對(duì)比度帶來的差異。圖 1a：環(huán)形燈（RL），所有區(qū)段圖 1b：環(huán)形燈（RL），所有左半?yún)^(qū)段圖 1c：環(huán)形燈（RL），左上象限區(qū)段圖 1d：近垂直照明（NVI）圖 1e：同軸照明（CXI）圖 1f：高度漫射照明（HDI）圖 1g：多重對(duì)比照明（MCI）圖 1h：聚光燈照明（SLII），雙燈印刷電路板（PCB）印刷電路板（PCB）圖 2 顯示了使用 RL、NVI 和 SLI 照明記錄的印刷電路板圖像。圖 2a：環(huán)形燈（RL），配漫射器：多樣品特征圖 2b：近垂直照明（NVI）：孔洞和凹槽圖 2c：環(huán)形燈（RL），配交叉偏振器：反光區(qū)域圖 2d：聚光燈照明（SLI）：多樣品特征晶圓加工晶圓加工圖 3 顯示了使用 RL、NVI、CXI 和 SLI 照明記錄的晶圓加工圖像。圖 3a：環(huán)形燈（RL），配漫射器：多樣品特征圖 3b：同軸照明（CXI）：晶圓加工的表面紋理圖 3c：近垂直照明（NVI）：晶圓加工的孔洞和凹槽圖 3d：聚光燈照明（SLI）：多樣品特征汽車零部件汽車零部件圖 4 顯示了使用 RL、NVI 和 SLI 照明記錄的鏈輪圖像。圖 4a：環(huán)形燈（RL），配漫射器：多樣品特征圖 4b：近垂直照明（NVI）：孔洞和凹槽圖 4c：環(huán)形燈（RL），配交叉偏振器：反光區(qū)域圖 4d：聚光燈照明（SLI）：多樣品特征醫(yī)療器械醫(yī)療器械圖 5 顯示了使用 RL、NVI 或 SLI 照明記錄的髖關(guān)節(jié)植入物圖像。圖 5a：環(huán)形燈（RL），配漫射器：多樣品特征圖 5b：近垂直照明（NVI）：孔洞和凹槽圖 5c：環(huán)形燈（RL），配交叉偏振器：反光區(qū)域圖 5d：聚光燈照明（SLI）：多樣品特征顯微鏡檢測時(shí) LED 照明選擇指南下方表 2 顯示了 LED3000 和 LED 5000 系列照明解決方案的快速選擇指南。LED3000 系列專為常規(guī)應(yīng)用（例如纖維分析和質(zhì)量控制）設(shè)計(jì)，而 LED 5000 系列更適合高級(jí)應(yīng)用（例如故障分析和研發(fā)）。本指南可以幫助顯微鏡用戶，為特定組件或零件的顯微分析尋找最為合適的照明系統(tǒng)。圖 6：LED3000/LED 5000 快速選擇指南其他推薦除了集成到徠卡顯微鏡的高質(zhì)量光學(xué)器件，在選擇照明系統(tǒng)時(shí)，必須確定要分析的組件細(xì)節(jié)和觀察所需的視場（物場）。還值得考慮顯微鏡計(jì)算機(jī)編碼的優(yōu)勢和顯微鏡光學(xué)性能，例如物鏡在傳輸、色差校正和平面偏差方面的優(yōu)勢，即平面復(fù)消色差、消色差等。結(jié) 論有時(shí)，很難找到適合檢測零部件的顯微鏡照明系列。然而，此處提到的意見和建議可以幫助用戶了解各種照明解決方案，從而找到能夠?yàn)閳D像觀察和記錄提供最佳結(jié)果的解決方案。

2025-04-23 14:15:19電子探針顯微分析方法有哪些？: 電子探針顯微分析方法電子探針顯微分析方法（Electron Probe Microanalysis, EPMA）是一種利用電子束與樣品相互作用原理來進(jìn)行元素分析和成分分析的技術(shù)。該技術(shù)廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、冶金學(xué)等領(lǐng)域，是研究微觀結(jié)構(gòu)、元素分布以及樣品成分的關(guān)鍵工具。通過高精度的分析，電子探針顯微分析方法能夠提供極為詳盡的樣品元素信息，并為科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用提供可靠的數(shù)據(jù)支持。本文將介紹電子探針顯微分析的基本原理、應(yīng)用領(lǐng)域及其優(yōu)勢。電子探針顯微分析的基本原理電子探針顯微分析方法基于電子束與樣品相互作用后產(chǎn)生的各種信號(hào)，如特征X射線、二次電子和背散射電子等。通過測量這些信號(hào)，能夠獲得樣品的元素組成和空間分布信息。具體來說，電子探針顯微分析通過聚焦電子束在樣品表面激發(fā)特征X射線，這些X射線的能量與元素的原子結(jié)構(gòu)相對(duì)應(yīng)，因此可以通過對(duì)X射線進(jìn)行能量分析來確定樣品中各元素的種類和含量。在實(shí)際操作中，電子束的能量通常設(shè)置在10-30kV之間，能夠深入樣品的表面層并激發(fā)X射線。這些X射線的強(qiáng)度與樣品中相應(yīng)元素的濃度成正比，通過對(duì)X射線譜圖的定量分析，研究人員可以精確地測定元素的分布和含量。電子探針顯微分析的應(yīng)用領(lǐng)域材料科學(xué) 電子探針顯微分析技術(shù)在材料科學(xué)中有著廣泛應(yīng)用。尤其是在金屬合金、陶瓷、復(fù)合材料等的成分分析中，EPMA能夠提供高空間分辨率和定量分析能力。通過對(duì)材料微觀結(jié)構(gòu)的研究，科學(xué)家們可以了解材料的性能、相變以及在不同條件下的行為，從而優(yōu)化材料的設(shè)計(jì)和性能。地質(zhì)學(xué) 在地質(zhì)學(xué)研究中，電子探針顯微分析方法被廣泛應(yīng)用于礦物學(xué)和巖石學(xué)研究。通過分析礦物和巖石樣品的元素組成，EPMA能夠幫助地質(zhì)學(xué)家解讀地質(zhì)過程、巖漿活動(dòng)、礦產(chǎn)資源的成因以及沉積環(huán)境等信息，為資源勘探和環(huán)境保護(hù)提供有力支持。生命科學(xué) 在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，電子探針顯微分析也有著重要的應(yīng)用。通過對(duì)細(xì)胞和組織樣本進(jìn)行元素分析，研究人員可以探索生物體內(nèi)微量元素的分布，幫助揭示生物體的代謝過程和疾病機(jī)制。例如，通過EPMA分析癌細(xì)胞與正常細(xì)胞中的元素差異，有助于癌癥早期診斷和策略的優(yōu)化。電子探針顯微分析的優(yōu)勢與傳統(tǒng)的分析方法相比，電子探針顯微分析在空間分辨率和分析精度方面具有明顯優(yōu)勢。EPMA具有極高的空間分辨率，能夠?qū)ξ⒚咨踔良{米尺度的樣品進(jìn)行高精度分析，適用于復(fù)雜的微觀結(jié)構(gòu)研究。EPMA具備較強(qiáng)的元素分析能力，能夠?qū)Χ喾N元素進(jìn)行定性和定量分析，尤其適合于分析復(fù)雜樣品中的微量元素。EPMA分析無需對(duì)樣品進(jìn)行復(fù)雜的化學(xué)預(yù)處理，能夠直接在固體樣品表面進(jìn)行分析，具有較高的分析效率。總結(jié) 電子探針顯微分析方法是一項(xiàng)高精度的材料分析技術(shù)，憑借其的空間分辨率和元素分析能力，在多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。從材料科學(xué)到生命科學(xué)，EPMA技術(shù)為研究者提供了深入理解樣品成分和微觀結(jié)構(gòu)的強(qiáng)大工具。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，電子探針顯微分析在科研和工業(yè)中的應(yīng)用前景將更加廣闊，并為推動(dòng)科技創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)發(fā)展作出更大的貢獻(xiàn)。

2023-07-25 10:40:14半導(dǎo)體和鈣鈦礦材料的高光譜（顯微）成像: 目前在光伏業(yè)界，正在進(jìn)行一項(xiàng)重大努力，以提高光伏和發(fā)光應(yīng)用中所用半導(dǎo)體的效率并降低相關(guān)成本。這就需要探索和開發(fā)新的制造和合成方法，以獲得更均勻、缺陷更少的材料。無論是電致還是光致發(fā)光，都是實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)的重要工具。通過發(fā)光可以深入了解薄膜內(nèi)部發(fā)生的重組過程，而無需通過對(duì)完整器件的多層電荷提取來解決復(fù)雜問題。HERA高光譜照相機(jī)是繪制半導(dǎo)體光譜成像的理想設(shè)備，因?yàn)樗軌蚩焖?、定量地繪制半導(dǎo)體發(fā)射光譜圖，且具有高空間分辨率和高光譜分辨率的特性。硅太陽能電池的電致發(fā)光光譜成像光伏設(shè)備中的缺陷會(huì)導(dǎo)致光伏產(chǎn)生的載流子發(fā)生重組，阻礙其提取并降低電池效率。電致發(fā)光光譜成像可以揭示這些有害缺陷的位置和性質(zhì)。"反向"驅(qū)動(dòng)太陽能電池（即施加電流）會(huì)產(chǎn)生電致發(fā)光，因?yàn)檩d流子在電極上被注入并在有源層中重新結(jié)合。在理想的電池中，所有載流子都會(huì)發(fā)生帶間重組，這在硅中會(huì)產(chǎn)生1100 nm附近的光（效率非常低）。然而，晶體結(jié)構(gòu)中的缺陷會(huì)產(chǎn)生其他不利的重組途徑。雖然這些過程通常被稱為"非輻射"重組，但偶爾也會(huì)產(chǎn)生光子，其能量通常低于帶間發(fā)射。捕獲這些非常罕見的光子可以了解缺陷的能量和分布。在本實(shí)驗(yàn)中，我們使用了HERA SWIR (900-1700 nm)，它非常適合測量硅發(fā)光衰減。測量裝置如圖1所示：HERA安裝在三腳架上，在太陽能電池上方，連接到一個(gè)10A的電源。640×512像素的傳感器安裝在樣品上方75厘米處，空間分辨率約為250微米。圖1. 實(shí)驗(yàn)裝置最重要的是，HERA光學(xué)系統(tǒng)沒有輸入狹縫，因此光通量非常高，是測量極微弱光發(fā)射的理想選擇。圖2.A和2.B顯示了兩個(gè)波長的電致發(fā)光（EL）圖像：1150 nm（帶間發(fā)射）和1600 nm（缺陷發(fā)射），這是4次掃描的平均值（總采集時(shí)間：5分鐘）。通過分析這些圖像，我們可以看到，盡管缺陷區(qū)域的亮度遠(yuǎn)低于主發(fā)射區(qū)域，但它們?nèi)员磺逦胤直娉鰜怼４送猓哂袕?qiáng)缺陷發(fā)射的區(qū)域的帶間發(fā)射相對(duì)較弱。我們可以注意到有幾個(gè)區(qū)域在兩個(gè)波長下都是很暗的；這可能是由于樣品在運(yùn)輸過程中損壞了電池造成的。圖2.C中以對(duì)數(shù)標(biāo)尺顯示了小方塊感興趣區(qū)域（圖2A和2B中所示）的光譜。圖 2.A 和 B：兩個(gè)選定波長（1150 nm 和 1600 nm）的電致發(fā)光（EL）圖像。C：A和B中三個(gè)不同區(qū)域?qū)?yīng)的電致發(fā)光光譜（圖像中的彩色方框）。金屬鹵化物鈣鈦礦薄膜的光致發(fā)光顯微研究通過旋涂等技術(shù)含量低、成本效益高的方法，可以制造出非常高效的太陽能電池和LED。這些方法面臨的一個(gè)挑戰(zhàn)是在微觀長度的尺度上保持均勻的成分。光致發(fā)光顯微鏡是表征這種不均勻性的一個(gè)特別強(qiáng)大的工具。HERA高光譜相機(jī)可以連接到任何顯微鏡（正置或倒置）的c-mount相機(jī)端口，并直接開始采集高光譜數(shù)據(jù)，無需任何校準(zhǔn)程序。圖3. 與尼康LV100直立顯微鏡連接的HERA VIS-NIR。在本實(shí)驗(yàn)中，我們使用HERA VIS-NIR（400-1000 nm）耦合到尼康LV100直立顯微鏡（圖3）來表征兩種鹵化物前驅(qū)體合金的帶隙分布。將兩種鹵化物前驅(qū)體合金化的優(yōu)點(diǎn)是能夠調(diào)整材料的帶隙；然而，這兩種成分經(jīng)常會(huì)發(fā)生逆混合，從而導(dǎo)致性能損失。本實(shí)驗(yàn)的目的是檢測這種逆混合現(xiàn)象：事實(shí)上，混合比的局部變化會(huì)改變局部帶隙，從而導(dǎo)致發(fā)射不同能量的光子。在這種配置中，激發(fā)光來自汞燈，通過帶通濾光片在350 nm處進(jìn)行濾光，并通過發(fā)射路徑上的二向色鏡將其從相機(jī)中濾除。HERA的高通量使其能夠在大約1分鐘的測量時(shí)間內(nèi)收集完整的數(shù)據(jù)立方體（130萬個(gè)光譜）。圖4.樣品的光譜綜合強(qiáng)度圖（A：全尺寸；B：放大）。圖4.A和4.B分別顯示了所有波長（400-1000 nm）總集成信號(hào)的全尺寸和放大圖像，揭示了長度尺度在1 μm左右的明亮特征。當(dāng)我們比較亮區(qū)和暗區(qū)的光譜時(shí)（圖5.B中的黑色和紅色曲線），我們發(fā)現(xiàn)暗區(qū)實(shí)際上也有發(fā)射，不僅強(qiáng)度較低，而且波長中心比亮區(qū)短。事實(shí)上，光譜具有雙峰形狀，很可能與逆混合前驅(qū)體的發(fā)射相對(duì)應(yīng)。圖5.A的發(fā)射圖清楚地顯示了帶隙的這種變化。我們現(xiàn)在可以理解為什么低帶隙區(qū)域看起來更亮了--載流子可能從高帶隙區(qū)域弛豫到那里，并且在發(fā)生輻射重組之前無法返回。圖5.A：顯示平均發(fā)射波長的強(qiáng)度圖。B：亮區(qū)和暗區(qū)的發(fā)射光譜（正?；|隆科技作為NIREOS國內(nèi)總代理公司，在技術(shù)、服務(wù)、價(jià)格上都具有優(yōu)勢。如果您有任何產(chǎn)品相關(guān)的問題，歡迎隨時(shí)來電垂詢，我們將為您提供專業(yè)的技術(shù)支持與產(chǎn)品服務(wù)。

2022-09-26 14:33:37熒光顯微系統(tǒng)的新高度——Luminosa單光子計(jì)數(shù)共聚焦顯微: 過去的幾十年中，德國PicoQuant的研發(fā)人員一直致力于制造最具定量性和重復(fù)性的時(shí)間分辨熒光顯微鏡系統(tǒng)?，F(xiàn)在他們終于邁出了這一步，完成了一套更易于使用、且不影響靈敏度的系統(tǒng)。該系統(tǒng)打破常規(guī)，無需培訓(xùn)物理學(xué)支持人員便可輕松使用。全新的Luminosa可以讓每個(gè)分子生物物理學(xué)或結(jié)構(gòu)生物學(xué)研究人員輕松地將單分子和時(shí)間分辨熒光顯微鏡的方法添加到他們的“工具箱”中。Luminosa系統(tǒng)的主要功能包括一鍵式自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)程序和基于上下文的直觀工作流程。例如，系統(tǒng)可以自動(dòng)識(shí)別單個(gè)分子，或者它可以自動(dòng)確定單個(gè)分子FRET (smFRET) 的校正因子。對(duì)于經(jīng)驗(yàn)豐富的專家，它仍具有先進(jìn)的靈活性。所有光機(jī)組件均可訪問，數(shù)據(jù)以開放格式存儲(chǔ)，工作流程和圖形用戶界面均可定制。用戶可以完全訪問實(shí)驗(yàn)參數(shù)，例如可調(diào)節(jié)的觀察量。全新的Luminosa本身就是一套時(shí)間分辨熒光顯微的多功能“工具箱”。它用于單分子水平的動(dòng)態(tài)結(jié)構(gòu)生物學(xué)研究。這些方法包括熒光壽命成像 (FLIM)、用于快速過程的rapidFLIMHiRes、FLIM-FRET、單分子FRET（突發(fā)和時(shí)間跟蹤分析）、熒光相關(guān)光譜 (FCS)、各向異性成像和微分干涉對(duì)比 (DIC) 成像。隨著時(shí)間分辨熒光顯微技術(shù)的用戶群體不斷擴(kuò)大，對(duì)高重復(fù)性、高準(zhǔn)確性和寶貴實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)規(guī)則的需求變得尤為明顯。Luminosa已經(jīng)包含了科學(xué)家集體努力制定的經(jīng)驗(yàn)指南，例如來自于單分子FRET群體在基準(zhǔn)研究中的經(jīng)驗(yàn)指南。Luminosa 是一款將超高數(shù)據(jù)質(zhì)量與超簡日常操作相結(jié)合的單光子計(jì)數(shù)共聚焦顯微鏡。它可以輕松集成到任何研究人員的“工具箱”中，成為開始探索使用時(shí)間分辨熒光方法科學(xué)家以及想要突破極限專家的省時(shí)、可靠的“伙伴”。它是一個(gè)真正的顯微鏡系統(tǒng)，每個(gè)人都可以依賴。產(chǎn)品特點(diǎn)：◆ 全軟件控制共聚焦系統(tǒng)，基于倒置顯微鏡◆ 激光波長從375到1064 nm可選◆ VarPSF：觀察量高精度調(diào)節(jié)，用于FCS和單分子FRET實(shí)驗(yàn)◆ 電動(dòng)平移臺(tái)，可在傳動(dòng)和FLIM模式下進(jìn)行“圖像拼接”◆ 掃描選項(xiàng)：FLIMbee振鏡掃描和壓電物鏡掃描◆ 最多可集成SPAD, PMT或Hybrid-PMT組成相互獨(dú)立的6通道探測單元◆