- 2025-01-10 17:04:05納米壓入儀
- 納米壓入儀是一種高精度的材料力學測試儀器,主要用于測量材料的納米級硬度和彈性模量。它通過微小的壓頭對樣品表面進行壓入測試,利用高精度的傳感器和數(shù)據(jù)處理技術(shù),能夠準確獲取材料的力學性能參數(shù)。該儀器廣泛應用于材料科學、機械工程、電子封裝等領(lǐng)域,為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供了重要的技術(shù)支持。其測試結(jié)果準確可靠,且測試過程對樣品損傷小,是材料力學性能測試的重要工具之一。
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納米壓入儀相關(guān)內(nèi)容
納米壓入儀資訊
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- 南京市計量監(jiān)督檢測院攻克納米尺度力學計量技術(shù)難題
- 微納尺度力學計量是新材料計量領(lǐng)域必不可少的測試手段,廣泛應用于半導體、存儲材料、光學組件、新材料鍍層等尖端場景。
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- 壓差法氣體滲透儀
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納米壓入儀問答
- 2025-01-17 12:15:12閃點儀怎么卸壓
- 閃點儀怎么卸壓:全面了解卸壓步驟與注意事項 在使用閃點儀進行實驗時,正確的卸壓步驟至關(guān)重要。不僅能確保儀器的正常使用,還能保障操作人員的安全。閃點儀是測量物質(zhì)閃點的專用設(shè)備,在高溫高壓環(huán)境下工作,因此了解如何卸壓操作顯得尤為重要。本篇文章將詳細講解閃點儀的卸壓方法、相關(guān)注意事項以及常見問題的解決方案,幫助大家更好地使用和維護閃點儀,確保實驗的順利進行。 一、閃點儀卸壓的基本步驟 閃點儀通常用于測量液體或固體的閃點,它工作時會產(chǎn)生一定的壓力,因此卸壓操作不可忽視。以下是標準的卸壓步驟: 關(guān)閉加熱源:首先,確保閃點儀的加熱源已關(guān)閉,避免在卸壓時加熱繼續(xù)作用導致危險。 停止氣體流通:關(guān)閉閃點儀的氣體供應閥門,確保設(shè)備內(nèi)部壓力不再增加。 等待降溫:在進行任何卸壓操作之前,等待設(shè)備內(nèi)溫度逐漸下降。過熱的液體或氣體在卸壓時可能引起意外的噴濺或爆炸。 慢慢釋放壓力:使用儀器上的壓力釋放閥門,逐步釋放儀器內(nèi)部的氣體或蒸汽,避免瞬間壓力驟降造成儀器損壞或液體濺出。 確保完全卸壓:在卸壓過程中,要時刻關(guān)注壓力表的變化,直到內(nèi)部壓力恢復至常壓,才可安全打開閃點儀的蓋子或其他相關(guān)部分。 二、閃點儀卸壓的注意事項 正確的卸壓操作能避免設(shè)備損壞和人員受傷。以下幾點是進行閃點儀卸壓時需要特別注意的: 避免溫差過大:閃點儀的壓力釋放通常伴隨著溫度的驟降,這會導致設(shè)備或樣品出現(xiàn)裂紋。避免在極端溫度差異下進行卸壓操作。 遵循操作規(guī)范:不同品牌和型號的閃點儀有不同的卸壓設(shè)計,確保嚴格按照使用手冊中列出的步驟進行操作。 定期檢查儀器:定期對閃點儀的壓力釋放系統(tǒng)進行檢查,確保閥門、管道和壓力表的正常運行,以避免因設(shè)備故障而無法正確卸壓。 三、常見問題及解決方案 盡管按照規(guī)范操作,但有時閃點儀在卸壓過程中可能仍會出現(xiàn)一些問題,以下是一些常見問題及其解決方法: 壓力無法正常釋放:若壓力無法正常釋放,可能是因為釋放閥門被堵塞或損壞。此時應停機檢查并進行維修或更換部件。 溫度不下降:若閃點儀溫度不下降,建議檢查加熱系統(tǒng)是否完全關(guān)閉,或者是否有其他因素導致溫控系統(tǒng)故障。 設(shè)備損壞或泄漏:如果在卸壓過程中發(fā)現(xiàn)設(shè)備出現(xiàn)泄漏或其他損壞,需立即停止使用并聯(lián)系專業(yè)技術(shù)人員進行修理。 四、結(jié)論 閃點儀的卸壓操作是保證實驗安全與設(shè)備正常運行的重要環(huán)節(jié)。掌握正確的卸壓方法和注意事項,能夠有效避免事故的發(fā)生,并延長設(shè)備的使用壽命。始終按照操作規(guī)范進行卸壓,定期檢查設(shè)備,確保閃點儀處于佳狀態(tài),是每位操作人員的責任與義務。通過科學的卸壓操作,能夠?qū)崿F(xiàn)實驗數(shù)據(jù)的準確性與操作安全性,進一步提高工作效率。 這樣的內(nèi)容不僅突出了關(guān)鍵的卸壓步驟,還涵蓋了常見問題及解決方案,符合SEO優(yōu)化要求,便于提高排名。
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- 2025-01-16 17:30:16閃點儀怎么卸壓
- 閃點儀怎么卸壓:全面了解卸壓步驟與注意事項 在使用閃點儀進行實驗時,正確的卸壓步驟至關(guān)重要。不僅能確保儀器的正常使用,還能保障操作人員的安全。閃點儀是測量物質(zhì)閃點的專用設(shè)備,在高溫高壓環(huán)境下工作,因此了解如何卸壓操作顯得尤為重要。本篇文章將詳細講解閃點儀的卸壓方法、相關(guān)注意事項以及常見問題的解決方案,幫助大家更好地使用和維護閃點儀,確保實驗的順利進行。 一、閃點儀卸壓的基本步驟 閃點儀通常用于測量液體或固體的閃點,它工作時會產(chǎn)生一定的壓力,因此卸壓操作不可忽視。以下是標準的卸壓步驟: 關(guān)閉加熱源:首先,確保閃點儀的加熱源已關(guān)閉,避免在卸壓時加熱繼續(xù)作用導致危險。 停止氣體流通:關(guān)閉閃點儀的氣體供應閥門,確保設(shè)備內(nèi)部壓力不再增加。 等待降溫:在進行任何卸壓操作之前,等待設(shè)備內(nèi)溫度逐漸下降。過熱的液體或氣體在卸壓時可能引起意外的噴濺或爆炸。 慢慢釋放壓力:使用儀器上的壓力釋放閥門,逐步釋放儀器內(nèi)部的氣體或蒸汽,避免瞬間壓力驟降造成儀器損壞或液體濺出。 確保完全卸壓:在卸壓過程中,要時刻關(guān)注壓力表的變化,直到內(nèi)部壓力恢復至常壓,才可安全打開閃點儀的蓋子或其他相關(guān)部分。 二、閃點儀卸壓的注意事項 正確的卸壓操作能避免設(shè)備損壞和人員受傷。以下幾點是進行閃點儀卸壓時需要特別注意的: 避免溫差過大:閃點儀的壓力釋放通常伴隨著溫度的驟降,這會導致設(shè)備或樣品出現(xiàn)裂紋。避免在極端溫度差異下進行卸壓操作。 遵循操作規(guī)范:不同品牌和型號的閃點儀有不同的卸壓設(shè)計,確保嚴格按照使用手冊中列出的步驟進行操作。 定期檢查儀器:定期對閃點儀的壓力釋放系統(tǒng)進行檢查,確保閥門、管道和壓力表的正常運行,以避免因設(shè)備故障而無法正確卸壓。 三、常見問題及解決方案 盡管按照規(guī)范操作,但有時閃點儀在卸壓過程中可能仍會出現(xiàn)一些問題,以下是一些常見問題及其解決方法: 壓力無法正常釋放:若壓力無法正常釋放,可能是因為釋放閥門被堵塞或損壞。此時應停機檢查并進行維修或更換部件。 溫度不下降:若閃點儀溫度不下降,建議檢查加熱系統(tǒng)是否完全關(guān)閉,或者是否有其他因素導致溫控系統(tǒng)故障。 設(shè)備損壞或泄漏:如果在卸壓過程中發(fā)現(xiàn)設(shè)備出現(xiàn)泄漏或其他損壞,需立即停止使用并聯(lián)系專業(yè)技術(shù)人員進行修理。 四、結(jié)論 閃點儀的卸壓操作是保證實驗安全與設(shè)備正常運行的重要環(huán)節(jié)。掌握正確的卸壓方法和注意事項,能夠有效避免事故的發(fā)生,并延長設(shè)備的使用壽命。始終按照操作規(guī)范進行卸壓,定期檢查設(shè)備,確保閃點儀處于佳狀態(tài),是每位操作人員的責任與義務。通過科學的卸壓操作,能夠?qū)崿F(xiàn)實驗數(shù)據(jù)的準確性與操作安全性,進一步提高工作效率。 這樣的內(nèi)容不僅突出了關(guān)鍵的卸壓步驟,還涵蓋了常見問題及解決方案,符合SEO優(yōu)化要求,便于提高排名。
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- 2023-04-25 09:25:28Nicomp? 在線粒度儀用于納米藥物粒度監(jiān)測
- 在過去的幾十年中,納米醫(yī)學研究發(fā)展迅速,大部分重 點放在藥物輸送上。納米顆粒具有降低毒性和副作用等優(yōu)點,控制這些納米粒子的大小至關(guān)重要。Nicomp系列的大部分粒度測量是在實驗室進行的,但現(xiàn)在已經(jīng)有在生產(chǎn)線中進行粒度測量的產(chǎn)品——Nicomp? 在線粒度儀。本應用說明介紹了 Bind Therapeutics(輝瑞于 2016 年收購的資產(chǎn))開展的開創(chuàng)性工作,將Nicomp? 在線動態(tài)光散射測量納入其 Accurins? 納米粒子候選藥物的制造過程。引言BIND Therapeutics, Inc. 是一家生物制藥公司,開發(fā)稱為 Accurins(見圖 1)的靶向納米粒子技術(shù),用于治 療癌癥和其他具有大量未滿足醫(yī)療需求的嚴重疾病。通過結(jié)合控釋聚合物系統(tǒng)、靶向和遞送大量治 療藥物的能力,Bind 正在為一類新型靶向治 療開發(fā)一個納米技術(shù)支持的平臺。圖 1. BIND Accurins 技術(shù)Accurins 通常是 80-120 nm 的顆粒,由具有活性藥物成分 (API) 核心的聚丙交酯聚乙二醇 (PLA-PEG) 共聚物組成。共聚物的 PLA 部分為包封疏水性 API 提供了一個可生物降解的、相對疏水的核心。聚合物的親水性聚乙二醇酯部分期望覆蓋在顆粒的表面,使它們能夠逃避網(wǎng)狀內(nèi)皮系統(tǒng)(RES)吞噬細胞的調(diào)理和從血液循環(huán)中移除。80-120 nm 的大小非常適合通過滲漏的脈管系統(tǒng)(增強的通透性和滯留性,或 EPR 效應)積聚在腫瘤部位,同時避免被脾 臟過濾。80-120 nm也是適合所需理化特性的尺寸,可保持高載藥量、控制釋放和加工能力,包括最 終無菌過濾和凍干的能力。Accurins 是通過納米乳液工藝制造的,該工藝使用高壓均化來剪切分散在不混溶水相中的有機液滴??刂埔旱纬叽鐚τ诖_定藥品的最 終尺寸分布十分重要。許多因素會影響液滴大小,包括原材料屬性、顆粒配方、均質(zhì)機機械性能、水相組成和工藝參數(shù)。該批次開始生產(chǎn)后,均質(zhì)器壓力是最容易控制來調(diào)節(jié)尺寸的過程。BIND 014 是一種 Accurin,開發(fā)用于將多西紫杉醇遞送至實體瘤和癌細胞,表達前列腺特異性膜抗原 (PSMA)。這里描述的所有實驗都是針對 BIND-014 Accurins。在線動態(tài)光散射動態(tài)光散射 (DLS) 可用于測量亞微米顆粒尺寸,DLS 的工作原理是小顆粒通過布朗運動在流體中隨機移動。系統(tǒng)檢測到布朗運動引起的平移擴散,然后用于求解 Stokes-Einstein 方程以確定粒子大?。ǚ匠?1)。其中: D = 擴散系數(shù) kB = 波爾茲曼常數(shù) η = 粘度 R = 粒子半徑Nicomp DLS 已在實驗室中成功使用數(shù)十年,Nicomp?在線粒度儀也已有了實際應用。Entegris (Nicomp粒度儀生產(chǎn)商)現(xiàn)在已在客戶制造業(yè)務中安裝了多個系統(tǒng),用于在生產(chǎn)運行期間跟蹤顆粒大小。在線系統(tǒng)從過程中取出樣品,稀釋樣品以避免多重散射效應,測量樣品,然后重復該過程(見圖 2)。完整的測量周期約為 2 分鐘,為監(jiān)控制造操作的工藝工程師提供連續(xù)的粒度信息。圖 2. DLS 系統(tǒng)簡圖,帶自動稀釋實驗細節(jié)Entegris Nicomp?在線 DLS 系統(tǒng)安裝在高壓均質(zhì)器的下游,其設(shè)置使其能夠每約 2 分鐘從工藝流中獲取乳液樣品。設(shè)置 DLS 的射流系統(tǒng),使乳液樣品以與下游 Accurin 過程類似的方式在水中稀釋,并在流通池中自動稀釋至產(chǎn)生理想光散射強度(~300 kCt/秒)的濃度。此處描述了三個批次: 一個批次由 11 個過程樣品和可變壓力制成,在整個均質(zhì)化過程中,以建立壓力大小相關(guān)性。在工藝條件略有不同的情況下生產(chǎn)的批次導致前兩個工藝樣品的尺寸略小于目標尺寸。調(diào)整壓力后,尺寸恢復到最 后四個樣品的目標值。臨床規(guī)模開發(fā)批次在以約 5 分鐘的間隔采集的八個樣本期間展示穩(wěn)定的尺寸讀數(shù),確認壓力設(shè)定點是合適的。結(jié)果第 一個實驗(圖 3 和圖 4)的結(jié)果顯示了我們預期的壓力與尺寸的關(guān)系。從趨勢線曲線擬合可以看出,尺寸對壓力的響應為每 1,000 psig 約 9 nm。圖 3. 均質(zhì)機壓力與粒徑圖 4. 壓力與平均尺寸的相關(guān)性第二個實驗的初始尺寸讀數(shù)低于目標尺寸約 5–7 nm,因此進行了壓力調(diào)整(降低 1,000 psig)。在稍后的時間點,平均粒徑按預期增加了 ~5–10 nm。圖 5. 均質(zhì)器壓力與粒徑最后一組數(shù)據(jù)來自使用在線分級器的第 一個臨床規(guī)模實驗。盡管 BIND 有程序在尺寸超出我們的目標范圍時根據(jù)需要調(diào)整壓力,但沒有必要這樣做。所有八次測量都非常接近 100 nm 目標。圖 6. 批處理運行期間的平均大小結(jié)論Nicomp? 在線 DLS 系統(tǒng)被集成到 Accurin 制造過程中,用于確定最佳條件并確保在整個批次中粒徑在所需規(guī)格范圍內(nèi)。進行在線測量可減少進行工藝更改與獲取評估更改是否產(chǎn)生預期效果所需的粒度數(shù)據(jù)之間的滯后時間。此外,與將樣品帶到實驗室進行離線批量分析相比,在線分析可以更好地監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量。在線 DLS 是一種有價值的過程分析技術(shù)。
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- 2025-04-10 14:00:14萬能試驗機怎么卸壓
- 萬能試驗機怎么卸壓:全面解讀卸壓方法與注意事項 萬能試驗機作為一種廣泛應用于材料測試領(lǐng)域的重要設(shè)備,在材料性能檢測中起到了至關(guān)重要的作用。隨著實驗的進行,如何正確、安全地卸壓成為了操作人員必須掌握的基本技能。本篇文章將深入探討萬能試驗機的卸壓步驟、常見問題以及需要注意的細節(jié),幫助您更好地理解設(shè)備的使用方式,從而保障實驗的安全性與精確性。 1. 萬能試驗機卸壓的基本步驟 在使用萬能試驗機進行測試時,卸壓是一個至關(guān)重要的操作環(huán)節(jié)。操作人員需要確保試驗機停止運行,即所有的測試活動已經(jīng)結(jié)束。然后,依據(jù)設(shè)備的型號和操作手冊,緩慢釋放試驗機的壓力系統(tǒng)。通常,卸壓步驟包括以下幾個關(guān)鍵環(huán)節(jié): 關(guān)閉加載系統(tǒng):卸下壓力后,首先需要關(guān)閉加載系統(tǒng),確保不再施加任何外力到試樣上。此時,可以通過手動或自動方式停止加載油缸的運動。 減壓過程:緩慢且均勻地釋放油壓,避免急速減壓導致試驗機內(nèi)部部件受損。 解除樣品固定:確保試樣與夾具之間的壓力完全釋放后,解除樣品固定裝置。此步驟需要謹慎操作,以防止樣品受力不均而出現(xiàn)變形或破損。 2. 常見的卸壓方法與技巧 不同型號的萬能試驗機在卸壓時可能會有些差異,以下是幾種常見的卸壓方法: 手動卸壓:一些老款的萬能試驗機需要操作人員通過手動操作泵或閥門來釋放壓力。這種方式雖然較為傳統(tǒng),但也非??煽?。 自動卸壓:現(xiàn)代化的萬能試驗機大多配備了自動卸壓系統(tǒng),操作員只需按下指定按鈕,設(shè)備便會自動緩慢釋放壓力,確保卸壓過程更加穩(wěn)定和安全。 氣壓卸壓:對于部分試驗機,氣壓可以幫助加速或調(diào)整卸壓速度,但操作人員必須特別注意氣壓的控制,避免由于氣壓不穩(wěn)定而造成設(shè)備損壞。 3. 卸壓時的注意事項 在卸壓過程中,操作人員需特別注意以下幾個方面: 避免快速卸壓:快速卸壓會導致設(shè)備的內(nèi)部結(jié)構(gòu)遭受沖擊,從而損壞油缸或其他核心組件。因此,卸壓過程應當緩慢進行。 定期檢查系統(tǒng):在每次卸壓后,需對萬能試驗機的油路、氣路等系統(tǒng)進行檢查,確保沒有泄漏或損壞的情況。 遵循操作規(guī)程:每臺萬能試驗機的卸壓方法可能略有不同,操作人員必須熟悉并嚴格遵循設(shè)備的操作手冊和安全規(guī)程。 4. 結(jié)語 萬能試驗機的卸壓操作不僅僅是技術(shù)要求,更是保障實驗安全和設(shè)備正常運轉(zhuǎn)的重要環(huán)節(jié)。通過科學規(guī)范的卸壓操作,可以有效延長設(shè)備的使用壽命,提高實驗的準確性。操作人員在進行卸壓時,應嚴格按照設(shè)備手冊中的步驟進行,避免因為操作不當帶來不必要的麻煩與損失。
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- 2022-11-22 20:15:28BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta 電位儀
- BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta 電位儀——90°散射粒度 + Zeta 電位二合一型 儀 器 簡 介 BeNano 90 Zeta 納 米 粒 度 及 Zeta 電 位 儀 是 BeNano 90 +BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù),可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。指標與性能粒徑測試粒徑范圍:0.3 nm – 15 μm*樣品量:3 μL – 1 mL*檢測角度:90 ° & 12°分析算法:Cumulants、通用模式、CONTIN Zeta 電位測試技術(shù):相位分析光散射檢測角度:12°Zeta 范圍:無實際限制電泳遷移率范圍:> ±20 μm.cm/v.s電導率范圍:0 – 260 mS/cm最小樣品量:0.75 mL – 1.0 mLZeta 測試粒徑范圍:2 nm – 110 μm 分子量測試分子量范圍:342 Da – 2 x 10 7 Da* 趨勢測量模式:時間和溫度 粘度測試粘度范圍:0.01 cp – 100 cp* 系統(tǒng)參數(shù)溫控范圍:-10° C - 110° C,精度 ±0.1° C激光光源:50 mW 高性能固體激光器, 671 nm相關(guān)器:最多 4000 通道,1011 動態(tài)線性范圍檢測器:APD ,高性能雪崩光電二極管光強控制:0.0001% - 100%,手動或自動*取決于樣品和選件原理圖儀器檢測檢測參數(shù)顆粒體系的光強、體積、面積和數(shù)量分布顆粒體系的 Zeta 電位及其分布分子量分布系數(shù) PD.I擴散系數(shù) D流體力學直徑 D H顆粒間相互作用力因子 k D溶液粘度 檢測技術(shù)動態(tài)光散射電泳光散射相位分析光散射靜態(tài)光散射
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