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2026-04-13 14:39:29熒光分析儀
熒光分析儀是一種基于物質(zhì)受光激發(fā)后發(fā)射熒光的原理進行定性或定量分析的設(shè)備。它利用特定波長的光照射樣品,使樣品中的熒光物質(zhì)吸收光能后躍遷到激發(fā)態(tài),再返回到基態(tài)時發(fā)出熒光。通過檢測熒光的強度、波長等參數(shù),可以分析樣品的成分、濃度或結(jié)構(gòu)。熒光分析儀廣泛應(yīng)用于生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境監(jiān)測、食品安全等領(lǐng)域,具有靈敏度高、選擇性好、操作簡便等優(yōu)點。

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2021-01-21 14:20:32有效易用,智能堅固——奧林巴斯新款在線X射線熒光分析儀Vanta iX登場
新款Vanta iX在線X射線熒光(XRF)分析儀現(xiàn)已上市。該分析儀可以對生產(chǎn)線上的產(chǎn)品進行自動材料分析和合金的牌號辨別,并即時提供結(jié)果,從而可對生產(chǎn)過程進行實時監(jiān)控,并對產(chǎn)品進行100%無遺漏檢測。 全天候,有效易用Vanta iX可以全天時、全天候(24/7)運行的分析儀,簡化了金屬制造和地質(zhì)選礦的質(zhì)量檢測過程。金屬制造過程需要受到全天時、全天候(24/7)的控制,以確保產(chǎn)品由正確的合金制造,避免出現(xiàn)代價高昂的材料混淆錯誤。 Vanta iX分析儀可以在幾秒鐘內(nèi)提供明晰的材料成分和合金的牌號信息,因此金屬制造商可以此證明他們的產(chǎn)品經(jīng)過了100%無遺漏檢測和驗證。分析儀可提供通過/失敗結(jié)果,或完整的材料化學(xué)成分信息。在地質(zhì)選礦和采礦方面,分析儀可以對巖芯進行掃查,對傳送帶上的礦石進行分析,并提供實時結(jié)果,以監(jiān)控選礦和采礦過程中發(fā)生的變化,并確保礦石品位的一致性。強大的性能通過硅漂移探測器(SDD)和奧林巴斯業(yè)已成熟的Axon技術(shù),這款分析儀可以對包括輕元素在內(nèi)的多種金屬和合金進行檢測和牌號辨別。這款分析儀具有與其他Vanta系列分析儀相同的高計數(shù)率和穩(wěn)定性。智能整合傳輸Vanta iX分析儀易于安裝在制造環(huán)境中:使用其兩側(cè)的安裝孔就可將其安裝到機器人或其他系統(tǒng)上。通過Vanta Connect API(應(yīng)用程序編程接口)或一個PLC(可編程邏輯控制器),并借助離散導(dǎo)線,可以輕松控制分析儀。連接器選項包括用于以太網(wǎng)供電的以太網(wǎng)(RJ-45)、USB、離散I/O(16針)和輔助DC電源。堅固,適合生產(chǎn) 這款分析儀通過了振動測試(MIL-STD-810G),符合IP54評級標(biāo)準(zhǔn),可在-10 °C至50 °C的溫度范圍內(nèi)連續(xù)工作,可以承受住生產(chǎn)設(shè)備的劇烈振動、強烈的電磁噪聲和聲學(xué)噪音、灰塵和濕氣的侵?jǐn)_。內(nèi)置散熱器可以降低分析儀內(nèi)部的溫度,如果需要進一步冷卻,還可以通過風(fēng)扇連接點連接一個風(fēng)扇。無需使用工具,就可以更換分析儀的窗口,從而實現(xiàn)快速維護的目標(biāo)。 
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2020-02-12 13:41:19X射線熒光分析儀-黃銅管路配件的裂紋分析
簡介       為了Z大限度地減少因產(chǎn)品缺陷造成的損失,必須在早期階段查明原因,采取措施防止問題再次發(fā)生。X射線熒光分析儀( ED-XRF)對任何狀態(tài)的樣品,不管是固體、液體還是粉末,都能提供快速、無損的元素分析,可以作為早期查明原因的篩選儀器使用。ED-XRF       下圖是因開裂發(fā)生漏水的黃銅管(用于冷卻水系統(tǒng))管路配件,我們利用ED-XRF對裂紋處進行了元素分析。       根據(jù)元素分析結(jié)果發(fā)現(xiàn)Sn、Pb的含量是有差異的。由于裂紋部分的元素分布狀態(tài)不同于正常部位,就利用EPMA進行了精密分析。EPMA       EPMA能確認(rèn)元素的分布狀態(tài)及組織結(jié)構(gòu)的大小。利用EPMA進行元素面分布,發(fā)現(xiàn)主要成分Cu和Zn的組織結(jié)構(gòu)大小不同總結(jié)       ED-XRF能簡便、快速地獲得所含元素的信息。此外,根據(jù)這些元素信息還可以在早期階段確定后續(xù)的精密分析方法。EPMA的元素面分布,能獲得有關(guān)元素的分布狀態(tài)及成份信息,有助于查明故障發(fā)生的原因。
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2020-03-04 17:18:48X射線熒光分析儀-利用薄膜FP法測試膜厚
簡介       利用薄膜FP法測試膜厚為了提高產(chǎn)品部件的耐腐蝕性、裝飾性和功能性,電鍍等表面處理技術(shù)被廣泛地應(yīng)用于各個行業(yè)。由于鍍膜的厚度與產(chǎn)品的特性、質(zhì)量及生產(chǎn)成本有關(guān),因此管理非常重要,對鍍層厚度有著多種測試、分析和評定方法。X射線熒光光譜儀可以進行無損、無標(biāo)樣分析,Z多能夠測試5層鍍膜。各種標(biāo)準(zhǔn)樣品的測試實例1.金鍍層樣品測試條件管電壓:50 kV準(zhǔn)直器直徑:0.9 mm Φ氣氛:大氣測試時間:60秒譜圖分析結(jié)果 2.鎳鍍層樣品測試條件管電壓:50 kV準(zhǔn)直器直徑:0.9 mm Φ氣氛:大氣測試時間:60秒譜圖分析結(jié)果3、鋅鍍層樣品測試條件管電壓:50 kV準(zhǔn)直器直徑:0.9 mm Φ氣氛:大氣測試時間:60秒譜圖分析結(jié)果4、銀鍍層樣品測試條件管電壓:50 kV準(zhǔn)直器直徑:0.9 mm Φ氣氛:大氣測試時間:60秒譜圖分析結(jié)果使用儀器:JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀
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2018-12-08 14:24:55X熒光分析儀的簡介
 
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2018-11-25 05:51:23X熒光分析儀的工作原理及特點
 
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