- 2025-01-10 10:52:26電鏡組織處理機(jī)
- 電鏡組織處理機(jī)是專門用于電子顯微鏡樣本前處理的設(shè)備。它采用精密的自動化程序,能夠自動完成組織樣本的脫水、固定、染色等步驟,為后續(xù)的電子顯微鏡觀察做好準(zhǔn)備。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的科研實(shí)驗(yàn),適用于多種類型的組織樣本處理。相比傳統(tǒng)的手工處理方法,電鏡組織處理機(jī)能夠提供更精細(xì)、一致的處理效果,提高實(shí)驗(yàn)效率和準(zhǔn)確性。
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電鏡組織處理機(jī)問答
- 2023-04-17 15:26:25常溫電鏡公開課第8講丨高壓冷凍組織樣品的電鏡制樣技術(shù)
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- 2023-06-08 16:04:39邀請函|飛納電鏡邀您共赴西北五省第十三屆電鏡學(xué)術(shù)交流及技術(shù)研討會!
- 會議邀請 “西北五省第十三屆電鏡學(xué)術(shù)交流及技術(shù)研討會”將于 2023 年 6 月 9 日 - 12 日在甘肅省蘭州市蘭州大學(xué)舉辦。此次會議是西北五省規(guī)模最 大、影響力最 強(qiáng)的電子顯微學(xué)盛會。本次會議將采用會前培訓(xùn)、會議中專家報(bào)告、學(xué)術(shù)座談、廠商報(bào)告和廠家現(xiàn)場設(shè)備使用技術(shù)培訓(xùn)形式。專家學(xué)者將齊聚一堂,共赴這場電鏡盛會。會議時間:2023 年 6 月 9 日 - 12 日會議地點(diǎn):蘭州大學(xué)電鏡中心復(fù)納科技致力于為實(shí)驗(yàn)室樣品制備與檢測提供智能、高效、可靠的高科技解決方案。其中飛納臺式掃描電鏡作為全 球 領(lǐng) 先的桌面式掃描電鏡,憑借操作簡單、成像質(zhì)量高和效率高等優(yōu)勢成為眾多研究人員的選擇。在本次會議中,我們也將現(xiàn)場展示飛納電鏡能譜一體機(jī) ProX,由工程師現(xiàn)場開展電鏡技能培訓(xùn)與問題答疑,歡迎大家前來上機(jī)測試。會議報(bào)告/ FUNA本次會議中,復(fù)納科技產(chǎn)品經(jīng)理萬正宇將帶來“DENSsolutions 基于 MEMS 的原位透射電鏡技術(shù)發(fā)展 & STEM 在飛納臺式電鏡上的應(yīng)用”主題報(bào)告,為大家分享最 新的原位實(shí)驗(yàn)方案與 STEM 表征。歡迎各位專家老師和我們一起探討交流!01Pharos - STEM作為全 球 唯 一臺式場發(fā)射 Pharos-STEM 電子顯微鏡,在較低的加速電壓下,可減少電子束對樣品的損傷,顯著提高了圖像的襯度。Pharos STEM 電子顯微鏡,利用 FEG 高亮度電子源,可在透射模式下對薄樣品進(jìn)行成像。專用的樣品夾可輕松裝載常規(guī) 3mm 直徑透射電鏡 (TEM) 載網(wǎng),實(shí)現(xiàn)樣品的快速、安全切換。STEM 樣品杯可提供明場 (BF) 、暗場 (DF) 和高角度環(huán)形暗場 (HAADF) 像,并支持自定義選擇成像模式。02DENSsolutionsDENS 產(chǎn)品可以為原位 TEM 樣品施加外界刺激,捕捉 TEM 樣品在真實(shí)環(huán)境下的動態(tài)現(xiàn)象。目前提供的四種原位實(shí)驗(yàn)方案:Wildfire TEM 原位加熱方案、Lightning TEM 原位熱電方案、Climate TEM 原位氣相加熱方案和 Stream TEM 原位液相加熱 / 加電方案,已經(jīng)可以在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種狀態(tài)。03Technoorg Linda復(fù)納科技擁有 Technoorg Linda 離子研磨儀,采用離子束技術(shù),可對樣品進(jìn)行快速研磨及表面精細(xì)加工和最 終拋光。是 SEM / TEM 樣品表面處理的有力工具。04NEOSCANNeoscan 臺式顯微 CT 采用先進(jìn) X 射線成像技術(shù),分辨率高,對場地要求少,緊湊便攜,適用于實(shí)驗(yàn)室和研究機(jī)構(gòu)日常使用。歡迎各位老師蒞臨展位與我們探討交流,我們隨時為您提供專業(yè)的解答與支持,現(xiàn)場也有精美小禮品相送噢!
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- 2023-06-21 14:21:22飛納電鏡線下用戶培訓(xùn)會 —— 廣州站
- 飛納電鏡第三場線下用戶培訓(xùn)會要來廣州啦!本次培訓(xùn)會誠摯邀請各位用戶朋友們來到飛納電鏡最 佳 Demo 室——廣州國際生物島,讓我們一起開啟為期兩天的電鏡培訓(xùn)之旅吧!* 若有時間沖突,請于培訓(xùn)開始前告知。培訓(xùn)·流程6月29日6月30日期待您的到來!
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- 2023-06-20 15:09:23火爆招募 | 歐波同創(chuàng)新研究中心電鏡培訓(xùn)班
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- 2023-05-31 11:35:26鋰電清潔度分析:從光鏡到電鏡(上)
- 01金屬異物對鋰電池安全性的影響鋰離子電池正極材料中金屬異物(包括鐵、鎳、銅、鋅、鉻等)的含量對鋰電池的性能有較大影響。金屬異物在電池化成階段會先在正極氧化再到負(fù)極還原,當(dāng)負(fù)極處的金屬單質(zhì)累積到一定程度會形成枝晶,導(dǎo)致隔膜穿孔,造成電池內(nèi)部短路,提高電池的自放電率,嚴(yán)重時甚至?xí)姵仄鸹?、爆炸,影響電池的安全性能。目前對金屬異物的管控水平已?jīng)成為衡量鋰離子電池正極材料生產(chǎn)線最核心的指標(biāo)之一。由于動力鋰電池的最 終客戶為汽車公司(如大眾,寶馬,戴姆勒等),對于金屬異物的檢測標(biāo)準(zhǔn)也基本沿用燃油汽車清潔度標(biāo)準(zhǔn)(德國的汽車工業(yè)聯(lián)合會推出的 VDA19)的相關(guān)概念。VDA19 中對于異物的評估方法主要包括:稱重法,光鏡法、電鏡法、拉曼法等,其中光鏡法和電鏡法作為可視化的方法,得到了廣泛應(yīng)用。02光學(xué)顯微鏡檢測的原理及結(jié)果金屬表面的物理特性決定了光線不能進(jìn)入金屬物質(zhì),它會像鏡子般把所有入射光全部反射出去。入射光在經(jīng)由金屬表面反射后,其反射光與入射光具有相同的振動方向。如果反射光通過兩片平行的偏振片,金屬顆粒呈現(xiàn)亮色;如果反射光通過兩片垂直的偏振片,金屬顆粒呈現(xiàn)純黑色。入射光在經(jīng)過非金屬物質(zhì)后,其振動方向會發(fā)生改變(主要原因是光可以射入非金屬物質(zhì)內(nèi)部),經(jīng)過非金屬物質(zhì)內(nèi)部后再出來的反射光不再具有偏振性,其方向也會發(fā)生改變。反射光通過平行和垂直的偏振片時,其亮度變化不大。通過記錄、對比顆粒在不同偏振光下的圖片,而后鑒別出金屬和非金屬顆粒。具體測試結(jié)果如下:03光鏡檢測的局限性3.1 無法區(qū)分金屬顆粒的詳細(xì)分類并非所有金屬顆粒都具有相同的危害性,例如,在對大量失效電池進(jìn)行拆解分析后發(fā)現(xiàn),相對于不銹鋼,銅的危害性更高。主要是因?yàn)殂~離子更容易在負(fù)極析出,析出后的生長方式呈現(xiàn)枝晶狀,很容易刺穿隔膜。并且,銅的電導(dǎo)率比鐵高了一個數(shù)量級,一旦銅枝晶刺穿隔膜,極易導(dǎo)致電池內(nèi)部短路,進(jìn)一步導(dǎo)致電池過熱甚至起火。為了有效評估金屬顆粒的危害性,需要知道顆粒的詳細(xì)成分,而光學(xué)顯微鏡只能區(qū)分金屬和非金屬,但具體是哪類金屬則無從得知。3.2 會造成金屬與非金屬的誤識別根據(jù)光反射原理的分析,要求濾膜上的金屬顆粒要反光發(fā)亮。由于污染物顆粒在零件加工過程中暴露于液體、高溫和摩擦環(huán)境中,因此它們的表面會因?yàn)楦g等原因而不反光,呈現(xiàn)暗色。這些金屬顆粒在光學(xué)顯微鏡下,會被錯誤地分類為非金屬顆粒。在如下示例中,顯示了三個顆粒(鋅,鋼和鋁),這些顆粒通過光學(xué)顯微鏡確認(rèn)為非金屬。然而,SEM+EDX 分析顯示了這些顆粒的金屬性質(zhì)。3.3 對小尺寸顆粒的統(tǒng)計(jì)準(zhǔn)確性較低光學(xué)顯微鏡的分辨率較低(相比電子顯微鏡要低 2-3 個數(shù)量級),其對小尺寸顆粒的測試準(zhǔn)確性也較低。以下與 SEM+EDX 統(tǒng)計(jì)結(jié)果的比較,顯示了光學(xué)顯微鏡的錯誤分類有多嚴(yán)重。由汽車供應(yīng)商提供的同一片濾膜,分別進(jìn)行了光學(xué)顯微鏡的顆粒分析以及 SEM+EDX 的測試分析,并進(jìn)行了比較。結(jié)果顯示,通過光學(xué)顯微鏡檢測的金屬顆粒數(shù),不到實(shí)際金屬顆粒的 1/60。3.4 無法分析顆粒的可能來源鋰電池清潔度分析的意義,一方面是對清潔度的水平進(jìn)行評估,另一方面,希望通過對金屬顆粒的分析,確定其產(chǎn)生原因,并回溯至對應(yīng)的生產(chǎn)工序,進(jìn)行針對性的管控,從而提升產(chǎn)線的清潔度水平。由以上分析可知,光學(xué)顯微鏡提供的關(guān)于金屬顆粒形態(tài)和成分的信息有限,無法分析顆粒的可能來源,對清潔度水平的提升幫助有限。因此,全自動鋰電清潔度分析方案應(yīng)運(yùn)而生。Phenom ParticleX 以臺式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ),可以全自動對顆?;螂s質(zhì)進(jìn)行快速識別、分析和分類統(tǒng)計(jì),為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。小編將在下一篇為大家詳細(xì)講述。
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