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2025-01-10 10:52:50糾纏光子源: 糾纏光子源是用于產(chǎn)生糾纏光子對的設(shè)備或技術(shù)。它基于量子糾纏原理，能夠生成具有特定糾纏態(tài)的光子對。這些糾纏光子對在量子通信、量子計(jì)算等領(lǐng)域有重要應(yīng)用，如量子密鑰分發(fā)、量子態(tài)傳輸?shù)取Ｓ捎谛畔⒂邢?，無法給出更具體的介紹。

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案例分享 | 基于Sagnac-ppln的寬光譜偏振糾纏光子源

如何將高效的 Type-0 非線性晶體同偏振光子對轉(zhuǎn)化為量子通信所需的偏振糾纏態(tài)？ Sagnac干涉儀的精密設(shè)計(jì)提供了答案，研究者充分利用PPLN晶體特性優(yōu)勢實(shí)現(xiàn)寬光譜SPDC偏振量子糾纏源。

上海昊量光電設(shè)備有限公司 203
2025-08-12
案例分享 | 聚焦PPLN:1.48GHz通信波段糾纏光子源的技術(shù)創(chuàng)新與商業(yè)價(jià)值

Covesion旨在開發(fā) PPLN 波導(dǎo)實(shí)現(xiàn)高效光子對產(chǎn)生，于通信波長下展示了高速率偏振極化糾纏光子對。已開發(fā)PPLN波導(dǎo)并搭建糾纏源裝置，驗(yàn)證糾纏且測得相關(guān)參數(shù)，成果已部分商用，為量子通信實(shí)用化光子源提供路徑。

上海昊量光電設(shè)備有限公司 265
2025-06-26

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糾纏光子源問答

2025-02-27 13:30:14脹破測試儀要接氣源嗎: 脹破測試儀要接氣源嗎？在進(jìn)行脹破測試時(shí)，許多用戶可能會遇到一個(gè)疑問：脹破測試儀是否需要接氣源？這個(gè)問題直接關(guān)系到測試儀器的使用方法及其性能表現(xiàn)，本文將圍繞這一問題展開探討，幫助用戶更清楚地了解脹破測試儀的工作原理及其對氣源的需求，確保在實(shí)際操作中能夠獲得準(zhǔn)確的測試結(jié)果。通過本篇文章的解讀，您將更好地理解脹破測試儀在不同測試環(huán)境中的操作要求，并且確保在使用時(shí)不因氣源問題影響測試效果。脹破測試儀的基本工作原理脹破測試儀是一種用于測試材料或管道在承受內(nèi)部壓力時(shí)，終破裂前的極限壓力值的儀器。這類儀器常用于金屬管材、塑料管材、橡膠等材料的質(zhì)量控制和技術(shù)檢驗(yàn)。其主要作用是評估材料的耐壓性能和使用壽命。因此，測試儀的精確性和穩(wěn)定性至關(guān)重要。是否需要接氣源？關(guān)于是否需要接氣源，答案取決于具體的脹破測試儀類型。在傳統(tǒng)的脹破測試中，許多測試儀器都需要外部氣源作為施加壓力的來源。通常，氣源通過氣泵或壓縮空氣供應(yīng)系統(tǒng)連接到測試儀器的氣路系統(tǒng)，氣體被注入到被測材料內(nèi)部，通過逐步增加壓力直到材料破裂，從而測量破裂所需的大壓力值。氣源的作用和選擇氣源的選擇對脹破測試儀的測試精度和操作便捷性有著重要影響。大多數(shù)現(xiàn)代脹破測試儀可以通過工業(yè)氣體（如壓縮空氣）進(jìn)行操作，部分測試儀器也能夠通過氮?dú)獾榷栊詺怏w進(jìn)行壓力施加，避免與測試物質(zhì)反應(yīng)或產(chǎn)生安全隱患。在選擇氣源時(shí)，需要考慮氣體的干燥度和潔凈度，以避免氣源中的水分或雜質(zhì)對測試結(jié)果產(chǎn)生影響。還要確保氣源的穩(wěn)定性和壓力范圍符合設(shè)備要求，以便在測試過程中維持均勻的壓力提升。總結(jié) 大多數(shù)脹破測試儀確實(shí)需要接入氣源來提供施加壓力的動(dòng)力。不過，氣源的選擇、接入方式以及管理維護(hù)都會直接影響測試的準(zhǔn)確性和設(shè)備的使用壽命。在操作過程中，用戶應(yīng)確保氣源充足且符合設(shè)備要求，以確保測試的順利進(jìn)行并獲得精確的結(jié)果。因此，了解脹破測試儀是否需要?dú)庠匆约皻庠吹氖褂靡?guī)范，對于測試效果至關(guān)重要。

2023-08-30 09:13:57為何稱呼為源表？源表是如何四象限工作的？: 為何稱呼為源表？“源”為電壓源和電流源，“表”為測量表；“源表”即指一種可作為四象限的電壓源或電流源提供精確的電壓或電流，同時(shí)可同步測量電流值或電壓值的測量儀表。（恒流源時(shí)測電壓，恒壓源時(shí)測電流）數(shù)字源表功能：①集合電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載的功能于一身，廣泛用于各類精密器件的測量。②四象限工作，可作為源或負(fù)載四象限工作，可以作為源或負(fù)載電源象限是指以電源輸出電壓為X軸、輸出電流為Y軸形成的象限圖。第一、三象限即電壓電流同向，源表對其它設(shè)備供電，稱為源模式；第二、四象限即電壓電流反向，其它設(shè)備對源表放電，源表被動(dòng)吸收流入的電流，且可為電流提供返回路徑，稱為阱模式。在選擇源表時(shí)，需要先確認(rèn)待測DUT的電流電壓Z大范圍，以此為參照來選擇源的輸出范圍,這個(gè)輸出范圍是指源表對外輸出恒定電壓電流的功能范圍，這里需要注意，由于源表有總功率的限制，其輸出不能同時(shí)達(dá)到電流輸出和電壓輸出的Z大值。源表采用四象限工作模式，當(dāng)電壓、電流均為正時(shí)，工作在第一象限;當(dāng)電壓為負(fù)、電流為正時(shí)，工作在第二象限;當(dāng)電壓、電流均為負(fù)時(shí)，工作在第三象限;當(dāng)電壓為正、電流為負(fù)時(shí)，工作在第四象限。以SiC、GaN為代表的第三代半導(dǎo)體材料，具備高禁帶寬度、高熱導(dǎo)率、高擊穿場強(qiáng)、高電子飽和漂移速率等特點(diǎn)，在沒有自熱效應(yīng)的情況下測量半導(dǎo)體器件的真實(shí)狀態(tài)至關(guān)重要。脈沖表征是自熱效應(yīng)的有效解決方案，通過短時(shí)間通電(脈沖)來降低溫升對半導(dǎo)體性能的影響，進(jìn)而得到更真實(shí)的數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)更快速和更晶準(zhǔn)的測量。對于高速數(shù)字化或波形采集的應(yīng)用場景，脈沖測試具有更高的分辨率,可以做到更優(yōu)的采樣性能,在同等帶寬下可獲得更精確的瞬態(tài)特性,是波形捕獲和瞬態(tài)特性應(yīng)用的理想選擇。功率器件測試HCPL100型高電流脈沖電源

2024-04-17 15:13:45如何用源表精確測量apd管的暗電流？: APD雪崩光電二極管是一種高性能光電探測器，它是一種PN結(jié)型光電二極管，具有高增益、高靈敏度和快速響應(yīng)等特點(diǎn)。廣泛應(yīng)用于光電檢測、傳感、安檢等各個(gè)領(lǐng)域。APD雪崩光電二極管的工作原理是基于光電效應(yīng)和雪崩效應(yīng)，當(dāng)光子被吸收時(shí)，會產(chǎn)生電子空穴對，空穴向P區(qū)移動(dòng)，電子向N區(qū)移動(dòng)，由于電場的作用，電子與空穴相遇時(shí)會產(chǎn)生二次電子，形成雪崩效應(yīng)，從而使電荷載流子數(shù)目增加，電流增大，實(shí)現(xiàn)光電轉(zhuǎn)換。在APD的光電特性中，暗電流是一個(gè)重要的參數(shù)。暗電流是指在沒有光照射的情況下，APD中由于熱激發(fā)等原因?qū)е碌碾娮悠坪碗娮?空穴對產(chǎn)生而產(chǎn)生的電流，暗電流測試的準(zhǔn)確性對于評估APD的性能和穩(wěn)定性非常重要。在進(jìn)行APD暗電流測試時(shí)，通常面臨如下挑戰(zhàn)：測試環(huán)境影響在進(jìn)行暗電流測試時(shí)，需要確保測試環(huán)境中沒有光照射，光照會激發(fā)APD中的載流子，導(dǎo)致暗電流的增加，從而影響測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。連接電路影響暗電流的測試通常需要提供一個(gè)反向偏壓，縱觀目前的電流表和電流計(jì)，都不具備提供偏壓的功能，因此必須在電流表的回路中加入電壓源。但這樣會使測試系統(tǒng)變得復(fù)雜，引入更多干擾條件，導(dǎo)致暗電流的測試精度無法保證。目前暗電流測試的最佳工具之一是數(shù)字源表（SMU），數(shù)字源表可作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源、伏特計(jì)、安培計(jì)和歐姆表，還可用作精密電子負(fù)載，其高性能架構(gòu)還允許將其用作脈沖發(fā)生器、波形發(fā)生器和自動(dòng)電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng)，支持四象限工作。采用數(shù)字源表進(jìn)行暗電流測試時(shí)，需要注意以下事項(xiàng)：三同軸線纜連接APD暗電流測試連接線通常會選擇使用低噪聲、低電阻的導(dǎo)線，三同軸線纜具有良好的導(dǎo)電性能和抗干擾能力，適合用于傳輸微弱信號，可以減少測試過程中的干擾和誤差。如下圖三同軸線纜的半剖圖，多層絕緣屏蔽具有良好的抗干擾能力。 (1導(dǎo)體;2絕緣;3內(nèi)屏蔽層;4中間層;5外屏蔽層;6外護(hù)套)屏蔽外部電磁信號干擾測試系統(tǒng)架構(gòu)圖如下圖所示，數(shù)字源表（SMU）連接到光電二極管上，該光電二極管安放在一個(gè)電屏蔽的暗箱中，為了對敏感的電流測量進(jìn)行屏蔽使其不受外部干擾的影響，通過將屏蔽箱與數(shù)字源表（SMU）的低端相連，可以形成一個(gè)封閉的金屬屏蔽環(huán)境，有效地阻止外部電磁干擾信號的進(jìn)入，保護(hù)測試信號的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。預(yù)留充足的測量時(shí)間在進(jìn)行暗電流測試時(shí)，需要考慮測試時(shí)間的長短。通常情況下，這種現(xiàn)象可能是由于APD內(nèi)部的一些因素導(dǎo)致的，例如載流子的生成和收集過程。隨著測試時(shí)間的推移，由于暗電流源的累積或者其他因素的影響，暗電流會逐漸增加至一個(gè)穩(wěn)定的數(shù)值。此外，對于測量得到的暗電流數(shù)據(jù)，需要進(jìn)行適當(dāng)?shù)奶幚砗头治?，以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確可靠。下圖為普賽斯數(shù)字源表（SMU）測試完成后，上位機(jī)軟件通過數(shù)據(jù)處理給出的測試結(jié)果以及測試曲線。測試結(jié)果測試曲線

2022-07-19 14:09:33中教金源濾光片種類齊全，歡迎采購: 石英光學(xué)鍍膜濾光片石英光學(xué)鍍膜濾光片全部采用優(yōu)質(zhì)石英硬質(zhì)鍍膜技術(shù)制成，常用規(guī)格為直徑59mm基底圓片，采用M62螺紋固定，可以多層疊加。可以配合中教金源全系列光源使用。QD紫外帶通濾光片一覽表說明石英鍍膜型號峰值波長QD紫外帶通濾光片（單色光）石英基底鍍膜，基片直徑59mm，標(biāo)配M62螺紋夾具，耐高溫，截止背景波長200-900nm，OD2，配合UVREF，QD300-400，QD300-800，單色光更純凈濾光片QD254254nm濾光片QD275275nm濾光片QD280280nm濾光片QD285285nm濾光片QD290290nm濾光片QD295295nm濾光片QD300300nm濾光片QD313313nm濾光片QD315315nm濾光片QD320320nm濾光片QD325325nm濾光片QD330330nm濾光片QD334334nm濾光片QD340340nm濾光片QD350350nm濾光片QD355355nm濾光片QD360360nm濾光片QD365365nm濾光片QD370370nm濾光片QD375375nm濾光片QD380380nm濾光片QD390390nmQD可見區(qū)+紅外區(qū)帶通濾光片一覽表說明石英鍍膜型號峰值波長QD可見區(qū)帶通濾光片（單色光）石英基底鍍膜，基片直徑59mm，標(biāo)配M62螺紋夾具，耐高溫，截止背景波長200-1100nm，OD2，配合VISREF， QD300-800或UVIRCUT，單色光更純凈濾光片QD400400nm濾光片QD405405nm濾光片QD420420nm濾光片QD435435nm濾光片QD450450nm濾光片QD460460nm濾光片QD475475nm濾光片QD500500nm濾光片QD520520nm濾光片QD535535nm濾光片QD550550nm濾光片QD578578nm濾光片QD600600nm濾光片QD630630nm濾光片QD650650nm濾光片QD670670nm濾光片QD700700nm濾光片QD730730nm濾光片QD765765nmQD紅外區(qū)濾光片濾光片QD808808nm濾光片QD850850nm濾光片QD940940nm寬帶通和截止濾光片說明石英鍍膜型號說明石英鍍膜寬帶通和截止濾光片濾光片QD300-400M62，圓片，300-400nm紫外區(qū)輸出，其他截止濾光片QD300-800M62，圓片，300-800nm紫外區(qū)+可見區(qū)輸出，其他截止濾光片 UVIRCUT400-780M62，圓片，400-780nm可見區(qū)輸出，其他截止濾光片 UVIRCUT420-780M62，圓片，420-780nm可見區(qū)輸出，其他截止濾光片UVCUT400M62，圓片，400nm以下紫外截止，400nm以上可見區(qū)+紅外區(qū)輸出，其他截止濾光片UVCUT420M62，圓片，420nm以下紫外截止，400nm以上可見區(qū)+紅外區(qū)輸出，其他截止濾光片VISCUT800M62，圓片，800nm以下紫外+可見截止，800nm以上紅外區(qū)輸出，其他截止濾光片AM1.5M62，圓片，，配合氙燈光源，模擬太陽光光譜濾光片，需配合AREF使用濾光片UVREF56*70mm，方片，紫外反射濾光片（濾除紅外+可見），光路90°轉(zhuǎn)向?yàn)V光片，反射輸出光譜200-400nm濾光片VisREF56*70mm，方片，可見反射濾光片（濾除紅外熱量，冷光片），光路90°轉(zhuǎn)向?yàn)V光片，反射輸出光譜300-800nm濾光片AREF56*70mm，方片，全反射濾光片（全光譜反射），僅做光路90°轉(zhuǎn)向?yàn)V光片，反射輸出全光譜光學(xué)玻璃濾光片，M62螺紋，鋼化光學(xué)玻璃，耐高溫；1) 帶通濾光片：DBT395；DBT435；DBT470；DBT500；DBT5302) DBT700；313nm；334nm；365nm ；HB700；HWB950；HWB8003) 紅外濾除濾光片：GRB3；GRB14) 紫外截止系列濾光片：JB280；JB360；JB340；JB380；JB400；JB420；JB450；JB450；JB5105) 衰減片：AB25；AB506) 偏振片

2022-04-15 09:38:30實(shí)驗(yàn)室常用的氣源裝置有哪些？: 實(shí)驗(yàn)室常用的氣源裝置包括兩類：鋼瓶氣和氣體發(fā)生器。1 鋼瓶氣一般而言，如果鋼瓶氣供貨商資質(zhì)完備的話，鋼瓶氣的質(zhì)量穩(wěn)定性可以得到有效的保證；同時(shí)維護(hù)更換等方面相對來說比較省事；同時(shí)如果用量不大的話，使用鋼瓶氣可以節(jié)省投入。但是出于安全考慮，很多單位會建設(shè)專門的氣瓶室和布置專門的氣路管道，這在初期或許是一筆不小的開銷。需要注意的是，鋼瓶氣并不意味者純度高——如果需要高純度的氣體，以氮?dú)?氫氣為例，需要購買高純氮?dú)?氫氣，并指明純度為99.999%。另外，使用鋼瓶氣時(shí)，需要配備合乎使用規(guī)范的減壓器。2 氣體發(fā)生器出于安全考慮，不少的實(shí)驗(yàn)室目前使用氣體發(fā)生器進(jìn)行供氣。使用氣體發(fā)生器的優(yōu)點(diǎn)——安全——顯而易見，同時(shí)，氣體發(fā)生器可以放在儀器旁邊，避免了布置氣路管道等問題。但是使用氣體發(fā)生器也有不少的問題需要克服:比如使用高純氮?dú)獍l(fā)生器，并不能如鋼瓶氣那樣隨時(shí)使用，從打開到合格供氣需要一定的時(shí)間；需要定期的保養(yǎng)，更換水分和烴類的捕集裝置；如果儀器較多，單臺的發(fā)生器可能不能滿足所有的需求，需要增加投入。目前市面上具有氮?dú)獍l(fā)生器、氫氣發(fā)生器和空氣源，以及可以同時(shí)提供氮?dú)淇杖N氣體的一體機(jī)。氮?dú)獍l(fā)生器根據(jù)原理可分為有電化學(xué)、變壓吸附和膜分離三種，其中變壓吸附原理可以達(dá)到（可以達(dá)到而非一定是）99.995%以上的純度。氫氣發(fā)生器根據(jù)原理可分為堿性電解制氫和固體聚合物電解質(zhì)水電解制氫（SPE或者PEM），兩者的簡單區(qū)別是前者需要堿性電解液，后者只需要去離子水。純度上來講，兩者均可達(dá)到99.99%以上。空氣源根本上來說就是空氣壓縮機(jī)，具有多種類型。在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)使用的一般來說是往復(fù)式和渦旋式，需要注意的是，氣相色譜使用的空氣源應(yīng)當(dāng)是無油的——?dú)庀嗌V對使用的空氣的要求shi：不得含有影響儀器正常工作的灰塵、烴類、水分及腐蝕性物質(zhì)。實(shí)驗(yàn)室如果需要更高純度的空氣，可以在空氣源后面加裝除烴裝置，或者直接采購一體式的零級空氣發(fā)生器——可以有效除去空氣中的碳?xì)浠衔铮怪_(dá)到更低的濃度。