- 2025-01-10 10:52:50激光共聚焦偏光
- 激光共聚焦偏光是一種先進(jìn)的顯微鏡技術(shù),它結(jié)合了激光作為光源的高亮度和共聚焦技術(shù)的高分辨率,以及偏光分析的功能。該技術(shù)通過(guò)激光激發(fā)樣品,利用共聚焦原理排除雜散光,同時(shí)結(jié)合偏光鏡分析樣品的雙折射性質(zhì),從而實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)、取向及光學(xué)性質(zhì)的精確研究。激光共聚焦偏光在材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用,可用于觀察晶體結(jié)構(gòu)、細(xì)胞形態(tài)及纖維取向等。
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激光共聚焦偏光問(wèn)答
- 2023-08-21 11:50:20激光共聚焦熒光顯微鏡 活體熒光物質(zhì)檢查
- 激光共聚焦顯微鏡,簡(jiǎn)稱CLSM(Confocal Laser Scanning Microscopy),是一種利用激光共振效應(yīng)進(jìn)行成像的顯微鏡。它通過(guò)使用激光束掃描樣品的不同層面,將所得到的圖像合成成一幅清晰的三維圖像。與傳統(tǒng)顯微鏡相比,激光共聚焦顯微鏡具有更高的分辨率和更強(qiáng)的穿透能力,可以觀察到更加細(xì)微的結(jié)構(gòu)和更深層次的物質(zhì)。在活體熒光物質(zhì)的檢查中,激光共聚焦顯微鏡發(fā)揮了重要的作用。通過(guò)標(biāo)記活體細(xì)胞或組織的特定結(jié)構(gòu)或分子,激光共聚焦顯微鏡可以實(shí)時(shí)觀察到這些結(jié)構(gòu)或分子的活動(dòng)和分布情況。在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域,它可以用于觀察細(xì)胞的生長(zhǎng)、分裂和死亡過(guò)程,研究細(xì)胞信號(hào)傳導(dǎo)和分子交互作用等。在藥物研發(fā)中,它可以用于觀察藥物在活體細(xì)胞或組織中的分布情況,評(píng)估藥物的療效和毒性。此外,在神經(jīng)科學(xué)領(lǐng)域,激光共聚焦顯微鏡可以用于觀察神經(jīng)元的活動(dòng)和連接,揭示大腦的工作機(jī)制。 NCF950激光共聚焦顯微鏡較寬場(chǎng)熒光顯微鏡的優(yōu)點(diǎn):l 能夠通過(guò)熒光標(biāo)本連續(xù)生產(chǎn)?。?.5至1.5微米)的光學(xué)切片,厚度范圍可達(dá)50微米或更大。(主要優(yōu)點(diǎn))l 控制景深的能力。l能夠從樣品中分離和收集焦平面,從而消除熒光樣品通常看到的焦外“霧霾",非共焦熒光顯微鏡下無(wú)法檢測(cè)到。(最重要的特點(diǎn))l 從厚試樣收集連續(xù)光學(xué)切片的能力。l 通過(guò)三維物體收集一系列圖像,用于二維或三維重建。l收集雙重和三重標(biāo)簽,精確的共定位。l 用于對(duì)在不透明的圖案化基底上生長(zhǎng)的熒光標(biāo)記細(xì)胞之間的相互作用進(jìn)行成像。l 有能力補(bǔ)償自發(fā)熒光。 耐可視共聚焦成像效果圖 尼康共聚焦成成像效果圖NCF950激光共聚焦顯微鏡應(yīng)用,共聚焦顯微鏡在以下研究領(lǐng)域中應(yīng)用較為廣泛:1、細(xì)胞生物學(xué):細(xì)胞結(jié)構(gòu)、細(xì)胞骨架、細(xì)胞膜結(jié)構(gòu)、流動(dòng)性、受體、細(xì)胞器結(jié)構(gòu)和分布變化、細(xì)胞凋亡;2、生物化學(xué):酶、核酸、FISH、受體分析3、藥理學(xué):藥物對(duì)細(xì)胞的作用及其動(dòng)力學(xué);4、生理學(xué):膜受體、離子通道、離子含量、分布、動(dòng)態(tài);5、遺傳學(xué)和組胚學(xué):細(xì)胞生長(zhǎng)、分化、成熟變化、細(xì)胞的三維結(jié)構(gòu)、染色體分析、基因表達(dá)、基因診斷;6、神經(jīng)生物學(xué):神經(jīng)細(xì)胞結(jié)構(gòu)、神經(jīng)遞質(zhì)的成分、運(yùn)輸和傳遞;7、微生物學(xué)和寄生蟲學(xué):細(xì)菌、寄生蟲形態(tài)結(jié)構(gòu);8、病理學(xué)及病理學(xué)臨床應(yīng)用:活檢標(biāo)本的快速診斷、腫瘤診斷、自身免疫性疾病的診斷;9、生物學(xué)、免疫學(xué)、環(huán)境醫(yī)學(xué)和營(yíng)養(yǎng)學(xué)。NCF950激光共聚焦顯微鏡配置NCF950激光共聚焦配置表激光器激光405 nm、488 nm、561 nm、640 nm探測(cè)器波長(zhǎng):400-750nm,探測(cè)器:3個(gè)獨(dú)立的熒光檢測(cè)通道;1個(gè)DIC透射光檢測(cè)通道掃描頭最大像素大?。?096 x 4096 掃描速度:2 fps(512 x 512像素,雙向),18 fps(512 x 32像素,雙向),圖像旋轉(zhuǎn): 360°掃描模式X-T, Y-T, X-Y, X-Y-Z, X-Y-Z-T針孔無(wú)級(jí)變速六邊形電動(dòng)針孔;調(diào)節(jié)范圍:0-1.5毫米共焦視場(chǎng)φ18mm內(nèi)接正方形圖像位深12bits配套顯微鏡NIB950全電動(dòng)倒置顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)NIS60無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)(F200)目鏡(視野)10×(25),EP17.5mm,視度可調(diào)-5~+5,接口Φ30觀察鏡筒鉸鏈?zhǔn)饺坑^察鏡筒,45度傾斜,瞳距47-78mm,目鏡接口Φ30,固定視度;1)目/攝切換:(100/0,50/50,0/100);2)目視/關(guān)閉目視/可調(diào)焦勃氏鏡NIS60物鏡10×復(fù)消色差物鏡,NA=0.45 WD=4.0 蓋玻片=0.1720×復(fù)消色差物鏡,NA=0.75 WD=1.1 蓋玻片=0.1760×半復(fù)消色差物鏡,NA=1.40 WD=0.14 蓋玻片=0.17 油鏡100×復(fù)消色差物鏡,NA=1.45 WD=0.13 蓋玻片=0.17 油鏡物鏡轉(zhuǎn)換器電動(dòng)六孔轉(zhuǎn)換器(擴(kuò)展插槽),M25×0.75聚光鏡6孔位電動(dòng)控制:NA0.55,WD26;相襯(10/20,40,60選配)DIC(10X,20X/40X)選配.空孔照明系統(tǒng)透射柯拉照明,10W LED照明;落射照明:寬場(chǎng)光纖照明6孔位電動(dòng)熒光轉(zhuǎn)盤(B,G,U標(biāo)配);電動(dòng)熒光光閘;中間倍率切換手動(dòng)1X,1.5X、共焦切換機(jī)身端口分光比:左側(cè):目視=100:0;右側(cè):目視=100:0;平臺(tái)電動(dòng)控制:行程范圍130 mm x100 mm (臺(tái)面325 mm x 144 mm )最大速度:25mm/s;分辨率:0.1μm - 重復(fù)精度:3μm。機(jī)械可調(diào)樣品夾板調(diào)焦系統(tǒng)同軸粗微動(dòng)升降機(jī)構(gòu),行程:焦點(diǎn)上7下2;粗調(diào)2mm/圈,微調(diào)0.002mm/圈;可手動(dòng)和電動(dòng)控制,電動(dòng)控制時(shí),最小步進(jìn)0.01um;DIC插板10X,20X,40X插板;可放置于轉(zhuǎn)換器插槽;選配控制搖桿,控制盒,USB連接線軟件軟件:NOMIS Advanced C圖像顯示/圖像處理/分析2D/3D/4D圖像分析,經(jīng)時(shí)變化分析,三維圖像獲得及正交顯示,圖像拼接,多通道彩色共聚焦圖像
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- 2025-02-01 12:10:12顯微鏡偏光在哪看
- 顯微鏡偏光在哪看:如何正確觀察偏光現(xiàn)象 在顯微鏡觀察中,偏光現(xiàn)象的應(yīng)用廣泛,特別是在材料科學(xué)、礦物學(xué)和生物學(xué)等領(lǐng)域。了解如何通過(guò)顯微鏡觀察偏光現(xiàn)象,對(duì)于科研工作者和相關(guān)領(lǐng)域的專業(yè)人士至關(guān)重要。本文將深入探討偏光顯微鏡的工作原理,以及如何使用偏光顯微鏡來(lái)觀察不同樣本中的偏光現(xiàn)象,并為讀者提供一些實(shí)用的技巧和建議。 1. 偏光顯微鏡的工作原理 偏光顯微鏡是通過(guò)使用偏光片來(lái)觀察樣品的偏振特性。偏光片通過(guò)限制光波的傳播方向,使得光線只能沿一個(gè)特定的方向傳播。當(dāng)光線通過(guò)樣品時(shí),樣品的結(jié)構(gòu)、形態(tài)或組成物質(zhì)可能會(huì)對(duì)光線進(jìn)行旋轉(zhuǎn)或偏折,這一現(xiàn)象即為偏光現(xiàn)象。通過(guò)對(duì)比未經(jīng)過(guò)濾的自然光與經(jīng)過(guò)偏光片過(guò)濾后的光,偏光顯微鏡可以有效地揭示樣品內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)。 2. 顯微鏡偏光現(xiàn)象的觀察方法 在使用偏光顯微鏡時(shí),首先需要安裝偏光片。這些偏光片一般位于顯微鏡的光路中,一個(gè)在光源位置,另一個(gè)位于物鏡下方。調(diào)整偏光片的角度可以實(shí)現(xiàn)不同程度的光線偏振,進(jìn)而影響觀察到的樣品效果。對(duì)于透明樣品,偏光顯微鏡尤為有效,可以清晰地顯示出樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及其物理性質(zhì),如應(yīng)力、晶體結(jié)構(gòu)等。 3. 如何識(shí)別偏光現(xiàn)象 在顯微鏡下觀察偏光現(xiàn)象時(shí),樣品會(huì)呈現(xiàn)出不同的色彩和對(duì)比度,這取決于樣品的光學(xué)性質(zhì)。觀察時(shí),通常需要旋轉(zhuǎn)偏光片,以尋找佳的觀察角度。在偏光顯微鏡中,偏光效應(yīng)經(jīng)常表現(xiàn)為樣品表面的一些暗紋或色彩變化。通過(guò)這些變化,研究人員可以分析樣品的組成物質(zhì)、晶體結(jié)構(gòu)及其物理特性。 4. 偏光顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域 偏光顯微鏡廣泛應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域。它在礦物學(xué)中用于鑒定礦石的種類、分析礦物的結(jié)構(gòu);在材料科學(xué)中,用來(lái)研究材料的內(nèi)應(yīng)力和缺陷;在生物學(xué)中,偏光顯微鏡則常用于研究細(xì)胞結(jié)構(gòu)和組織。偏光顯微鏡不僅能揭示常規(guī)顯微鏡無(wú)法觀察到的細(xì)節(jié),還能提供有關(guān)材料本質(zhì)的重要信息。 5. 總結(jié)與建議 偏光顯微鏡在多個(gè)科研領(lǐng)域中具有重要的應(yīng)用價(jià)值。了解其原理和使用方法,能夠幫助專業(yè)人員更準(zhǔn)確地觀察和分析樣本。在進(jìn)行偏光顯微鏡觀察時(shí),正確的操作技巧和細(xì)心的調(diào)整偏光片角度是至關(guān)重要的,能夠顯著提高實(shí)驗(yàn)效果和觀察精度。希望通過(guò)本文,您能對(duì)顯微鏡偏光現(xiàn)象的觀察有更深入的理解,助力您的科研工作。 偏光顯微鏡是一項(xiàng)關(guān)鍵的技術(shù)手段,掌握其操作要領(lǐng),能夠幫助我們更好地研究微觀世界。
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- 2025-02-01 18:10:11偏光顯微鏡有幾種偏光
- 偏光顯微鏡有幾種偏光 偏光顯微鏡是一種常用于研究物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的工具,尤其適用于分析透明材料、晶體、礦物和生物組織等。它的主要功能是通過(guò)偏光濾鏡的運(yùn)用,將樣品中物質(zhì)的光學(xué)特性放大,從而揭示出其內(nèi)部結(jié)構(gòu)和成分。本文將詳細(xì)探討偏光顯微鏡的幾種偏光方式,了解它們?cè)趯?shí)際應(yīng)用中的重要性和區(qū)別,以幫助科研人員更好地選擇適合的實(shí)驗(yàn)方法。 在偏光顯微鏡的使用中,偏光通常是指通過(guò)偏振光源和濾光片的組合,使得經(jīng)過(guò)樣品的光線具有特定的方向性。常見的偏光顯微鏡偏光方式包括:平面偏光、圓偏光、交叉偏光及偏光分析法等。這些偏光方式的選擇和應(yīng)用,直接影響著顯微鏡下所觀察到的圖像的質(zhì)量和清晰度。 平面偏光 平面偏光是基礎(chǔ)的一種偏光方式。在這種模式下,偏光光源通過(guò)偏振片產(chǎn)生平面偏光,經(jīng)過(guò)樣品后,成像系統(tǒng)可捕捉到光的振動(dòng)方向。這種方式適用于觀察透明材料或單一晶體的結(jié)構(gòu),能夠揭示出其內(nèi)部的晶體取向和物質(zhì)的各向異性特征。平面偏光常常被應(yīng)用于礦物學(xué)、地質(zhì)學(xué)以及生物組織的研究中,具有較高的分辨率。 圓偏光 圓偏光通過(guò)將平面偏光轉(zhuǎn)變?yōu)樾D(zhuǎn)的圓形偏光。與平面偏光相比,圓偏光能夠更好地揭示樣品中旋轉(zhuǎn)對(duì)稱的光學(xué)特性,尤其適用于觀察具有旋光性的物質(zhì)。常用于對(duì)一些生物樣品如蛋白質(zhì)或某些化學(xué)晶體的結(jié)構(gòu)分析。通過(guò)圓偏光觀察,能夠?qū)悠返墓鈱W(xué)活性進(jìn)行更精確的分析,從而獲得更多的物質(zhì)信息。 交叉偏光 交叉偏光通常是指兩個(gè)偏光片在顯微鏡下的設(shè)置相互交叉,通常為90度角,形成一種對(duì)樣品的雙重偏振效果。這種偏光方式尤其適用于觀察具有各向異性光學(xué)特性的礦物、晶體和某些固體物質(zhì)。交叉偏光能夠提高樣品的對(duì)比度,并幫助分析樣品的晶體結(jié)構(gòu)、晶面方向等,特別是在顯微鏡下可見的干涉條紋的形成。 偏光分析法 偏光分析法是一種綜合性較強(qiáng)的顯微鏡偏光應(yīng)用方法,它結(jié)合了多個(gè)偏光方式,通過(guò)對(duì)比不同偏光下樣品的表現(xiàn)來(lái)推測(cè)樣品的光學(xué)特性和物理結(jié)構(gòu)。這種方法通常用于復(fù)雜樣品的高精度分析,能夠幫助研究人員深入了解物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和性質(zhì),例如在光學(xué)顯微鏡下進(jìn)行微細(xì)的光學(xué)材料分析。 偏光顯微鏡的幾種偏光方式各具特色,且具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。平面偏光、圓偏光、交叉偏光及偏光分析法,都是科研中重要的工具和技術(shù)手段。選擇合適的偏光方式,將有助于研究人員在顯微鏡下獲得更為的觀察結(jié)果。因此,在不同研究場(chǎng)景中,應(yīng)根據(jù)實(shí)驗(yàn)?zāi)繕?biāo)和樣品的特點(diǎn)來(lái)選擇合適的偏光方式,確保研究的科學(xué)性和精確度。
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- 2025-05-16 11:15:25掃描電鏡怎么聚焦
- 掃描電鏡怎么聚焦 掃描電鏡(SEM,Scanning Electron Microscope)作為一種強(qiáng)大的分析工具,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、半導(dǎo)體等領(lǐng)域。其核心功能之一就是通過(guò)的聚焦技術(shù),確保掃描電子束能夠高效且清晰地探測(cè)樣品表面特征,從而提供高分辨率的圖像和數(shù)據(jù)。要獲得高質(zhì)量的掃描圖像,正確的聚焦至關(guān)重要。在這篇文章中,我們將詳細(xì)探討掃描電鏡的聚焦原理、聚焦過(guò)程中常見的問(wèn)題以及如何通過(guò)合理調(diào)整參數(shù)確保佳成像效果。 掃描電鏡的聚焦原理 掃描電鏡的基本原理是利用電子束掃描樣品表面,并通過(guò)探測(cè)二次電子、背散射電子等信號(hào)來(lái)形成圖像。電鏡中的電子束必須聚焦在樣品的表面,以獲得清晰的圖像。聚焦過(guò)程通過(guò)調(diào)節(jié)電子束的大小、形狀和射向樣品的角度來(lái)實(shí)現(xiàn),這需要精確的控制電子鏡頭系統(tǒng)。在SEM中,電子鏡頭通常由多個(gè)磁透鏡構(gòu)成,每個(gè)透鏡通過(guò)調(diào)整電流來(lái)影響電子束的聚焦度。 如何聚焦掃描電鏡 調(diào)節(jié)光圈:光圈控制電子束的大小,它直接影響到束流的強(qiáng)度和成像的深度。當(dāng)光圈調(diào)整不當(dāng)時(shí),電子束可能會(huì)擴(kuò)散或聚焦不清,導(dǎo)致圖像模糊。通常,使用較小的光圈會(huì)提供更高的分辨率,但也會(huì)減小視場(chǎng)。 調(diào)整物鏡透鏡:掃描電鏡通過(guò)物鏡透鏡進(jìn)行精確聚焦。物鏡透鏡的調(diào)節(jié)主要是通過(guò)改變電流強(qiáng)度來(lái)實(shí)現(xiàn)。當(dāng)樣品距離透鏡不合適時(shí),圖像會(huì)顯得不清晰,因此調(diào)整物鏡透鏡的位置是確保清晰成像的關(guān)鍵。 對(duì)焦的細(xì)節(jié)調(diào)節(jié):在實(shí)際操作中,電鏡通常配備精細(xì)的對(duì)焦系統(tǒng),允許用戶在微米甚至納米級(jí)別精確調(diào)節(jié)焦點(diǎn)。通過(guò)在圖像屏幕上觀察樣品表面,可以實(shí)時(shí)調(diào)整焦距,直到圖像清晰為止。 常見的聚焦問(wèn)題及其解決方法 圖像模糊:這通常是由于對(duì)焦不準(zhǔn)或電子束未能有效聚焦所致。解決方法是通過(guò)調(diào)整物鏡透鏡和光圈來(lái)重新聚焦,或者檢查電鏡的電子源是否穩(wěn)定。 樣品表面損傷:當(dāng)聚焦過(guò)于集中時(shí),電子束的能量過(guò)高可能會(huì)對(duì)樣品表面造成損害。為避免這種情況,應(yīng)適當(dāng)減小束流并適當(dāng)調(diào)節(jié)對(duì)焦。 焦點(diǎn)漂移:由于樣品或電鏡系統(tǒng)的溫度變化,焦點(diǎn)可能會(huì)發(fā)生漂移。為了克服這個(gè)問(wèn)題,使用精細(xì)的對(duì)焦調(diào)節(jié)系統(tǒng)是非常重要的。 如何確保佳聚焦效果 在掃描電鏡的操作中,確保佳聚焦效果的關(guān)鍵是細(xì)致的調(diào)節(jié)和耐心的操作。除了基礎(chǔ)的物鏡調(diào)節(jié)和光圈控制外,操作員應(yīng)當(dāng)熟悉樣品的特性和掃描參數(shù)的影響,并能夠根據(jù)實(shí)際情況調(diào)整聚焦參數(shù)。保持電鏡系統(tǒng)的穩(wěn)定性,定期校準(zhǔn)設(shè)備,也能大大提高聚焦效果和圖像質(zhì)量。 掃描電鏡的聚焦是一個(gè)精細(xì)而復(fù)雜的過(guò)程,只有通過(guò)對(duì)電子束的準(zhǔn)確控制與合理調(diào)節(jié),才能確保獲得高質(zhì)量的掃描圖像。掌握這一過(guò)程的技巧,能夠極大提升掃描電鏡在科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用中的精度和可靠性。
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- 2023-08-21 11:41:24熱點(diǎn)應(yīng)用丨OLED的光致發(fā)光和電致發(fā)光共聚焦成像
- 要點(diǎn)光致發(fā)光和電致發(fā)光是有機(jī)發(fā)光二極管(OLED)視覺顯示發(fā)展的重要技術(shù)。與共聚焦顯微鏡相結(jié)合,使用RMS1000共聚焦顯微拉曼光譜儀對(duì)OLED器件的光電特性進(jìn)行成像研究。光譜和時(shí)間分辨成像獲得了比宏觀測(cè)試更詳細(xì)的器件組成和質(zhì)量信息。介紹近年來(lái),有機(jī)發(fā)光二極管(OLED)已成為高端智能手機(jī)和電視全彩顯示面板的領(lǐng)先技術(shù)之一1。使用量的快速增長(zhǎng)是因?yàn)镺LED提供了比液晶顯示器(LCD)更卓 越的性能。例如,它們更薄、更輕、更靈活、功耗更低、更明亮2。在典型的OLED器件中,電子和空穴被注入到傳輸層中,然后在中心摻雜發(fā)光層中復(fù)合。這種復(fù)合產(chǎn)生的能量通過(guò)共振轉(zhuǎn)移到摻雜分子中,從而使其發(fā)光。OLED發(fā)光的顏色取決于發(fā)光層中所摻雜分子的化學(xué)結(jié)構(gòu)。當(dāng)新的有機(jī)電致發(fā)光器件開發(fā)出來(lái)時(shí),可以利用光致發(fā)光(PL)和電致發(fā)光(EL)光譜來(lái)表征單個(gè)元件和整個(gè)器件的光電特性。在本文中,RMS1000共聚焦顯微拉曼光譜儀用于表征四種成像模式下OLED器件的光電特性:PL、EL、時(shí)間分辨PL(TRPL)和時(shí)間分辨EL(TREL)。使用共聚焦顯微拉曼光譜儀來(lái)表征OLED的光譜和時(shí)間分辨特性獲得了比宏觀測(cè)試更詳細(xì)的信息。材料和方法測(cè)試樣品為磷光OLED器件,由圣安德魯斯大學(xué)有機(jī)半導(dǎo)體光電研究組提供。將樣品放置在冷熱臺(tái)(LINKAM)上,通過(guò)兩個(gè)鎢探針連接到器件電極上實(shí)現(xiàn)成像。使用RMS1000共聚焦顯微拉曼光譜儀進(jìn)行PL、EL、時(shí)間分辨PL(TRPL)和時(shí)間分辨EL(TREL)成像,如圖1。圖1 PL、TRPL、EL和TREL成像的實(shí)驗(yàn)裝置。將裝載樣品的冷熱臺(tái)放置在顯微鏡樣品臺(tái)上,如圖2所示。對(duì)于PL測(cè)試,使用532 nm CW激光器和背照式CCD探測(cè)器;對(duì)于TRPL測(cè)試,使用外部耦合的EPL-405皮秒脈沖激光器、MCS模式和快速響應(yīng)的PMT。對(duì)于EL測(cè)試,使用Keithley 2450 SMU向OLED器件加電壓,并用CCD探測(cè)器檢測(cè);對(duì)于TREL測(cè)試,使用Tektronix 31102 AFG向OLED加一系列短脈沖電壓,使用MCS模式測(cè)試每個(gè)脈沖下的衰減。圖2 (a)安裝在RMS1000上的冷熱臺(tái);(b) OLED器件電致發(fā)光寬場(chǎng)成像。測(cè)試結(jié)果與討論大面積光致發(fā)光和電致發(fā)光光譜成像OLED首次采用PL和EL光譜相結(jié)合的方法進(jìn)行研究。當(dāng)使用共聚焦顯微拉曼光譜儀成像時(shí),可以表征材料在整個(gè)器件中的分布以及在發(fā)光強(qiáng)度和顏色均勻性方面的整體質(zhì)量。圖3中的PL成像和相應(yīng)的光譜提供了器件上4個(gè)區(qū)域發(fā)光層分布的信息,還顯示了電極的位置。圖3 (a)OLED器件的PL光譜強(qiáng)度成像;(b)a中標(biāo)記的點(diǎn)1和點(diǎn)2的PL光譜。白色和灰色代表PL強(qiáng)度,顯示了有機(jī)發(fā)光層的位置?;疑珔^(qū)域?yàn)榘l(fā)光層被頂部電極覆蓋的位置。在頂部電極穿過(guò)發(fā)光層的地方,PL強(qiáng)度降低為未覆蓋區(qū)域強(qiáng)度的一半以下。這是由于頂部電極材料削弱了激光強(qiáng)度和光致發(fā)光強(qiáng)度。對(duì)于EL成像,鎢探針連接到與區(qū)域2相交的電極上。圖4中得到的EL圖像和相應(yīng)的光譜表明了EL發(fā)光僅發(fā)生在區(qū)域2中的發(fā)光層與電極重疊的區(qū)域。在PL成像中,空間分辨率主要取決于樣品上激光光斑的大小。而在EL成像中,由于沒有激光,因此是通過(guò)改變共焦針孔直徑來(lái)改變空間分辨率(將針孔直徑減小到25 μm)。圖4 (a)OLED器件的EL光譜強(qiáng)度成像;(b)a中標(biāo)記的點(diǎn)1和點(diǎn)2的EL光譜。EL強(qiáng)度在整個(gè)有源像素上不均勻,這對(duì)器件的質(zhì)量有影響。在區(qū)域外邊緣有兩個(gè)(白色)垂直條帶,強(qiáng)度比其余部分強(qiáng)。此外,存在許多EL強(qiáng)度降低的非發(fā)光區(qū)域。這表明器件有缺陷,理想情況下,OLED將在每個(gè)像素上呈現(xiàn)出密集和均勻的發(fā)光。高分辨率光致發(fā)光和電致發(fā)光光譜成像為了進(jìn)一步研究,使用PL和EL對(duì)EL有源像素上的較小區(qū)域(圖5a和圖5b)進(jìn)行高分辨成像。圖5b網(wǎng)格內(nèi)的上部區(qū)域是發(fā)光層與電極重疊的地方,下部區(qū)域是單獨(dú)的發(fā)光層。圖5c為 PL強(qiáng)度成像,再次表明被電極覆蓋的發(fā)光層PL強(qiáng)度小于未覆蓋的發(fā)光層。PL峰值波長(zhǎng)圖像(圖5d)表明,有電極覆蓋的發(fā)光層與未覆蓋的發(fā)光層(611 nm)相比,PL發(fā)射峰發(fā)生紅移(620 nm)。峰值波長(zhǎng)的變化表明在不同的區(qū)域中能級(jí)不同。圖5 (a) OLED器件電致發(fā)光寬場(chǎng)成像;(b)a網(wǎng)格內(nèi)的高分辨率寬場(chǎng)成像;(c)PL強(qiáng)度成像;(d)相同區(qū)域的PL峰值波長(zhǎng)成像;(e)EL強(qiáng)度成像;(f)相同區(qū)域的EL峰值波長(zhǎng)成像。EL成像顯示,與其余部分相比發(fā)射強(qiáng)度較弱的缺陷(圖5e)波長(zhǎng)發(fā)生明顯紅移(圖5f)。這是由于缺陷處的EL能帶的信號(hào)強(qiáng)度降低以及在662 nm處EL能帶信號(hào)強(qiáng)度同時(shí)增加引起的。另外,在EL有源區(qū)域的最 底部的區(qū)域中,發(fā)生藍(lán)移,這與在PL圖像上看到的波長(zhǎng)變化一致。高分辨率時(shí)間分辨光致發(fā)光和電致發(fā)光成像為獲得額外信息,在同一區(qū)域進(jìn)行TRPL和TREL成像,如圖6所示。分別用激光脈沖和電脈沖,在MCS模式下測(cè)試614 nm處OLED的PL和EL衰減。利用單指數(shù)模型擬合衰減曲線。在圖6a的TRPL成像中,EL活性區(qū)域(上部區(qū)域)中的PL壽命比EL非活性區(qū)域(下部區(qū)域)中的PL壽命短大約200 ns。如圖6c所示,分別為800 ns和600 ns。這里觀察到與圖4中PL強(qiáng)度和波長(zhǎng)圖像的類似梯度,沿圖向下方向的發(fā)射強(qiáng)度增強(qiáng),并且發(fā)生了藍(lán)移。因此,根據(jù)TRPL數(shù)據(jù)可得:當(dāng)光激發(fā)時(shí),通過(guò)摻雜帶可獲得不同的能級(jí)。在圖6b中的TREL成像中,整個(gè)區(qū)域的壽命相似,大約為470 ns。發(fā)現(xiàn)EL壽命顯著短于相同區(qū)域的PL壽命。圖6 (a)OLED的時(shí)間分辨PL成像;(b)OLED的時(shí)間分辨EL成像;(c)a中選定區(qū)域的PL衰減曲線;(d)b中圖像的EL衰減曲線。結(jié)論RMS1000共聚焦顯微拉曼光譜儀用于測(cè)試OLED器件的PL、EL、TRPL和TREL成像。這些不同的成像模式提供了關(guān)于發(fā)光層和電極在整個(gè)器件中位置的詳細(xì)信息,在工作條件下器件的發(fā)光強(qiáng)度和顏色均勻性,以及關(guān)于PL和EL過(guò)程中帶隙能量的相對(duì)信息。參考文獻(xiàn)1. A. Salehi et al., Recent Advances in OLED Optical Design, Adv. Funct. Mater., 2019, 29, 1808803, DOI: 10.1002/adfm.201808803.2. J. M. Ha et al., Recent Advances in Organic Luminescent Materials with Narrowband Emission, NPG Asia Mater., 2021, 13, 1–36, DOI: 10.1038/s41427-021-00318-8.天美分析更多資訊
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