- 2025-01-10 17:05:48自原子力顯微鏡（AFM）
- 自原子力顯微鏡（AFM）是一種高分辨率的掃描探針顯微鏡，用于研究材料表面的納米級形貌。它通過探測樣品表面與微型力敏感元件間的相互作用力，來繪制表面形貌圖。AFM具有原子級分辨率，能測量表面的三維形貌、粗糙度、顆粒大小等，適用于導體、半導體及絕緣體等多種材料。在材料科學、納米技術(shù)、生物學等領(lǐng)域有廣泛應用，是研究表面微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的重要工具。
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