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2025-01-21 09:30:56緊湊型力矩測(cè)量耦合: 緊湊型力矩測(cè)量耦合是一種集成了力矩測(cè)量功能的設(shè)備組件，它設(shè)計(jì)緊湊、結(jié)構(gòu)精巧，能夠在有限的空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)高精度的力矩測(cè)量。該耦合通常采用先進(jìn)的傳感器技術(shù)，能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)和記錄傳遞的力矩大小，適用于各種需要精確控制力矩的場(chǎng)合，如機(jī)械傳動(dòng)系統(tǒng)、自動(dòng)化裝配線等。其優(yōu)點(diǎn)包括測(cè)量準(zhǔn)確、響應(yīng)迅速、安裝方便等，是提升機(jī)械設(shè)備性能和確保工藝質(zhì)量的重要工具。

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緊湊型力矩測(cè)量耦合問答

2022-02-08 14:54:53解析示波器通道耦合與觸發(fā)耦合的區(qū)別: 相信大家對(duì)示波器有著一定的了解，都知道示波器中有兩反設(shè)置，其實(shí)，在示波器當(dāng)中也存在兩種“兩耦”設(shè)置，一種是通道耦合方式，另一種是觸發(fā)耦合方式。在電子電路中，將前級(jí)電路(或信號(hào)源)的輸出信號(hào)送至后級(jí)電路(或負(fù)載)稱為耦合。耦合的作用就是把某一電路的能量輸送（或轉(zhuǎn)換）到其他的電路中去。先來說示波器通道的耦合方式，一般打開示波器的通道菜單，就可以看到示波器有三種通道耦合方式的設(shè)置，分別是直流耦合、交流耦合、地。我們給示波器輸入一個(gè)頻率為1KHz、幅值為100V、偏置為50V的正弦波信號(hào)（即該信號(hào)含有50V的直流分量）。直流耦合也叫DC耦合，當(dāng)選擇此選項(xiàng)時(shí)，信號(hào)通過導(dǎo)線直接到前端放大器，被測(cè)信號(hào)含有的直流分量和交流分量都能通過，可用于查看低至0Hz且沒有較大DC偏移的波形。此時(shí)信號(hào)顯示如圖所示：交流耦合也叫AC耦合，當(dāng)選擇此選項(xiàng)時(shí)，信號(hào)通過電容耦合到前端放大器，被測(cè)信號(hào)的直流信號(hào)被阻隔，只允許交流分量通過，可用于查看具有較大直流偏移的波形。此時(shí)信號(hào)顯示如圖所示：可以看到信號(hào)從零點(diǎn)（左側(cè)黃色五邊形里面寫了個(gè)1的就是零點(diǎn)）往下移動(dòng)了，上圖中零點(diǎn)在波形下方位置，此時(shí)零點(diǎn)處于波形中間位置，因?yàn)樾盘?hào)的直流分量被過濾掉了。示波器的垂直檔位是20V/div，信號(hào)下移了2格半，差不多正好就是50V。當(dāng)耦合方式為地時(shí)，代表內(nèi)部輸入接地，斷開外部輸入。此時(shí)信號(hào)顯示如圖所示：接地耦合的作用是在不方便外部斷開，或者外部干擾很大的時(shí)候，幫助我們準(zhǔn)確尋找零點(diǎn)。通道耦合，是用來控制信號(hào)到達(dá)示波器前端放大器的能量輸送方式。觸發(fā)耦合，就是用來控制信號(hào)到達(dá)示波器觸發(fā)電路的能量輸送方式。常見的觸發(fā)耦合有直流、交流、高頻Y制、低頻抑制、噪聲抑制。類似通道耦合，當(dāng)選擇直流耦合的時(shí)候，直流分量和交流分量都能通過觸發(fā)。選擇交流耦合的時(shí)候，示波器會(huì)濾除觸發(fā)信號(hào)中的直流成分。高頻抑制會(huì)抑制觸發(fā)信號(hào)中高于50KHz的信號(hào)，低頻抑制會(huì)抑制觸發(fā)信號(hào)中低于50KHz的信號(hào)，而噪聲抑制，是用低靈敏度的直流耦合來抑制觸發(fā)信號(hào)中的高頻噪聲。我們來看下面這個(gè)信號(hào)：此信號(hào)選用交流耦合，當(dāng)觸發(fā)電平超出波形的時(shí)候，信號(hào)依然可以被掃描同步。因?yàn)榇诵盘?hào)是一個(gè)2V的方波，其中帶有1V的直流分量。因此當(dāng)觸發(fā)耦合方式為交流時(shí)，信號(hào)實(shí)際應(yīng)該下移1V，因此當(dāng)觸發(fā)電平-500mV時(shí)依然可以被觸發(fā)。再來看下下面這個(gè)信號(hào)：此信號(hào)選用低頻抑制，雖然觸發(fā)電平在信號(hào)范圍內(nèi)，但是由于觸發(fā)信號(hào)中低于50KHz的信號(hào)被抑制，因此信號(hào)依然無法被掃描同步，出現(xiàn)信號(hào)不穩(wěn)定的現(xiàn)象。通道耦合與觸發(fā)耦合雖然都是耦合但有本質(zhì)的區(qū)別，它們只是并行的兩個(gè)通道信號(hào)的耦合，兩個(gè)通道的信號(hào)不會(huì)相互影響的。如需了解更多，歡迎訪問安泰測(cè)試網(wǎng)www.agitek.com.cn。

2022-06-01 15:29:21OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀能有效檢測(cè)FA耦合面測(cè)量: FA簡(jiǎn)稱光纖陣列，是把光纖按照一定的間距排列固定起來形成的光器件，它是光進(jìn)出光器件的通道。光纖陣列分為單芯光纖陣列（SFA）和多芯光纖陣列（MFA），光纖陣列有常規(guī)FA、45°光纖懸出FA、光纖轉(zhuǎn)90°FA。45°FA利用端面全反射使光路90°轉(zhuǎn)角與VCSEL或者PD耦合，這種方法耦合效率高，但苦于45°端面研磨工藝有較大難度，工藝制造成本高，生產(chǎn)良率不高。光纖轉(zhuǎn)90°FA通常與硅光芯片中的光柵進(jìn)行耦合，不過直接對(duì)準(zhǔn)耦合，會(huì)存在一定的角度失配，盡管國內(nèi)廠商經(jīng)過這幾年的努力與克服，已有不少廠家能夠批量制造提高良率，但FA耦合面檢測(cè)一直是通信行業(yè)所關(guān)注的熱點(diǎn)話題。FA耦合一般都是在一些很小的尺寸里面，例如光器件、光模塊、硅光芯片等等，這些器件級(jí)的檢測(cè)對(duì)設(shè)備要求極高。而OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀是專門針對(duì)這種微小尺寸的檢測(cè)利器，其空間分辨率高達(dá)10微米，能實(shí)現(xiàn)芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)可視化。OLI測(cè)量FA耦合面多芯FA耦合面測(cè)量，測(cè)試結(jié)果顯示該耦合位置回?fù)p為-62dB，耦合情況良好由此可見，OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀能精準(zhǔn)定位器件內(nèi)部斷點(diǎn)、微損傷點(diǎn)、耦合面以及鏈路連接點(diǎn)，以亞毫米級(jí)別分辨率探測(cè)光學(xué)原件內(nèi)部，且廣泛用于光器件、光模塊損傷檢測(cè)以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。如需了解更多產(chǎn)品詳情，請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系

2022-09-25 19:01:02產(chǎn)品演示系列：VE Cam緊湊型全高清數(shù)碼顯微鏡系統(tǒng): VE Cam緊湊型全高清數(shù)碼顯微鏡系統(tǒng)，在需要它的任何地方為您提供快速準(zhǔn)確的觀測(cè)。高質(zhì)量定制化光學(xué)和數(shù)碼功能結(jié)合的卓越性能。適用于目視觀測(cè)及質(zhì)量控制的理想之選。VE Cam的緊湊設(shè)計(jì)令工作環(huán)境減少雜亂，節(jié)省寶貴的工作空間。它不需要搭配PC電腦、鍵盤或鼠標(biāo)，如果您的空間特別有限，可以簡(jiǎn)單地僅在該系統(tǒng)上安裝一個(gè)屏幕。搭配小巧的迷你顯示器，該系統(tǒng)僅需占地面積25 × 34毫米。以下視頻由工程師為您演示VE Cam緊湊型全高清數(shù)碼顯微鏡。緊湊型數(shù)碼顯微鏡系統(tǒng)VE Cam 50和VE Cam 80專為提高生產(chǎn)率而設(shè)計(jì)，在小巧外觀下提供了數(shù)碼成像的功能、速度和效率。VE Cam兼具全新以及固有功能，使您能夠最大化利用空間效率完成更多任務(wù)。可提供視場(chǎng)大小為80mm或50mm，VE Cam是許多常規(guī)檢查任務(wù)的理想選擇。適用多種領(lǐng)域包括：電子、機(jī)械工程、塑料、增材制造和陶瓷。 VE Cam ? 緊湊型全高清數(shù)碼顯微鏡，最大程度節(jié)省工作空間 ? 高品質(zhì)定制光學(xué)元件和800萬像素?cái)z像頭，帶來高品質(zhì)成像，高效檢測(cè) ? 觸摸屏控制選項(xiàng)：易于使用和功能實(shí)現(xiàn)，節(jié)省時(shí)間和精力 ? 無線連接：在不中斷工作的情況下查看實(shí)時(shí)圖像，監(jiān)控生產(chǎn)流程? 單機(jī)系統(tǒng)：無需PC即可快速工作 ? 支架選擇豐富：滿足不同的應(yīng)用需求 ? 高性價(jià)比高效精確觀測(cè)緊湊設(shè)計(jì)勝任多種工作高效功能? 10個(gè)可編程用戶預(yù)設(shè)? 6個(gè)快捷鍵可立即訪問最常用的預(yù)設(shè)。? 可配置界面，將最常用的設(shè)置直接顯示在屏幕上。簡(jiǎn)單選擇即可查看所需要的功能。簡(jiǎn)化流程可輕松地將VE Cam集成在您的車間內(nèi)進(jìn)行中期檢驗(yàn)或放在特定機(jī)器旁，以達(dá)到最大限度的便捷高效，減少往返不同工作區(qū)域運(yùn)輸樣品的需要。隨意控制可實(shí)時(shí)自定義的屏幕顯示（OSD）菜單提供一系列的一觸即用功能。可平移和縮放實(shí)時(shí)圖像和保存的圖像，可顯示實(shí)時(shí)網(wǎng)格用于對(duì)齊和測(cè)量大小。只需簡(jiǎn)單地指向你需要的功能。圖像上的圖形覆蓋有助于快速評(píng)估檢驗(yàn)對(duì)象，并可以作為捕捉圖像的一部分保存。添加可選的時(shí)間戳增強(qiáng)可追溯性。視覺輔助觀察在同一時(shí)間查看2種不同的放大倍率。適應(yīng)多種方式搭配最大尺寸為12寸的觸摸屏作為完整的獨(dú)立系統(tǒng)使用，可進(jìn)行完全靈活的傾斜和旋轉(zhuǎn)，最大化地提供舒適方便以及人機(jī)工效學(xué)優(yōu)勢(shì)。或者與更大的顯示器監(jiān)視器搭配使用，并連接PC電腦獲得豐富的軟件功能，如注釋、測(cè)量和遠(yuǎn)程攝像頭控制。還可通過鼠標(biāo)、觸摸屏、鍵盤、腳踏開關(guān)或小鍵盤進(jìn)行操作控制。以上分別為標(biāo)準(zhǔn)顯示器，觸屏顯示器，立式顯示器(包括迷你顯示器支架)。微調(diào)圖像在對(duì)比度、亮度和圖像大小之間找到完美平衡。通過光圈控制來精細(xì)調(diào)控聚焦的深度和照射在樣品上的光線量和形狀。這對(duì)于在高放大倍率下控制對(duì)比度十分重要。照明控制精準(zhǔn)照明帶來精準(zhǔn)圖像：控制內(nèi)置的8點(diǎn)環(huán)形燈從屏幕方向帶來直接照明，通過選擇配件，增加底部透射照明、傾斜和靈活光源選項(xiàng)。 WiFi屏幕共享在不中斷生產(chǎn)的情況下可以通過無線方式查看操作結(jié)果，并節(jié)省時(shí)間。VE Cam數(shù)碼顯微鏡可通過靈活的無線網(wǎng)絡(luò)連接方式，在智能設(shè)備上進(jìn)行屏幕鏡像顯示。支架豐富的支架選項(xiàng)，可滿足不同應(yīng)用場(chǎng)景。快速有效地在不同環(huán)境中進(jìn)行觀測(cè)。

2023-07-05 10:58:55復(fù)合相變材料與液冷耦合的動(dòng)力電池?zé)峁芾硐到y(tǒng)的研究: HS-TGA-103熱重分析儀主要由加熱系統(tǒng)、稱重系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成。在測(cè)試過程中，樣品被放置在加熱系統(tǒng)內(nèi)，通過溫度控制系統(tǒng)進(jìn)行升溫。同時(shí)，稱重系統(tǒng)監(jiān)測(cè)樣品的質(zhì)量變化，并將數(shù)據(jù)傳輸至數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)進(jìn)行分析。通過測(cè)量樣品質(zhì)量隨溫度的變化，熱重分析儀能夠揭示材料的熱穩(wěn)定性和動(dòng)力學(xué)行為等信息。復(fù)合相變材料與液冷耦合的動(dòng)力電池?zé)峁芾硐到y(tǒng)的研究【南昌大學(xué) 劉自強(qiáng)】復(fù)合相變材料與液冷耦合的動(dòng)力電池?zé)峁芾硐到y(tǒng)的研究上海和晟 HS-TGA-103 熱重分析儀

2023-08-04 11:22:00光纖微裂紋診斷儀（OLI）如何快速對(duì)硅光芯片耦合質(zhì)量檢測(cè)？: 硅光是以光子和電子為信息載體的硅基電子大規(guī)模集成技術(shù)，能夠突破傳統(tǒng)電子芯片的極限性能，是5G通信、大數(shù)據(jù)、人工智能、物聯(lián)網(wǎng)等新型產(chǎn)業(yè)的基礎(chǔ)支撐。光纖到硅基耦合是芯片設(shè)計(jì)十分重要的一環(huán)，耦合質(zhì)量決定著集成硅光芯片上光信號(hào)和外部信號(hào)互聯(lián)質(zhì)量。耦合過程中最困難的地方在于兩者光模式尺寸不匹配，硅光芯片中光模式約為幾百納米，而光纖中則為幾個(gè)微米，幾何尺寸上巨大差異造成模場(chǎng)的嚴(yán)重失配。準(zhǔn)確測(cè)量耦合位置質(zhì)量及硅光芯片內(nèi)部鏈路情況，對(duì)硅光芯片設(shè)計(jì)和生產(chǎn)都變得十分有意義。光纖微裂紋診斷儀（OLI）對(duì)硅光芯片耦合質(zhì)量和內(nèi)部裂紋損傷檢測(cè)，非常有優(yōu)勢(shì)，可精準(zhǔn)探測(cè)到光鏈路中每個(gè)事件節(jié)點(diǎn)，具有靈敏度高、定位精準(zhǔn)、穩(wěn)定性高、簡(jiǎn)單易用等特點(diǎn)，是硅光芯片檢測(cè)不二選擇。OLI測(cè)試硅光芯片耦合連接處質(zhì)量使用OLI測(cè)量硅光芯片耦合連接處質(zhì)量，分別測(cè)試正常和異常樣品，圖1為硅光芯片耦合連接處實(shí)物圖。圖1硅光芯片耦合連接處實(shí)物圖OLI測(cè)試結(jié)果如圖2所示，圖2（a）為耦合正常樣品，圖2（b）為耦合異常樣品。從圖中可以看出第一個(gè)峰值為光纖到硅基波導(dǎo)耦合處反射，第二個(gè)峰值為硅基波導(dǎo)到空氣處反射，對(duì)比兩幅圖可以看出耦合正常的回?fù)p約為-61dB，耦合異常，耦合處回?fù)p較大，約為-42dB，可以通過耦合處回?fù)p值來判斷耦合質(zhì)量。（a）耦合正常樣品（b）耦合異常樣品圖2 OLI測(cè)試耦合連接處結(jié)果OLI測(cè)試硅光芯片內(nèi)部裂紋使用OLI測(cè)量硅光芯片內(nèi)部情況，分別測(cè)試正常和內(nèi)部有裂紋樣品，圖3為耦合硅光芯片實(shí)物圖。圖3.耦合硅光芯片實(shí)物圖OLI測(cè)試結(jié)果如圖4所示，圖4（a）為正常樣品，圖中第一個(gè)峰值為光纖到波導(dǎo)耦合處反射，第二個(gè)峰值為連接處到硅光芯片反射，第三個(gè)峰為硅光芯片到空氣反射；圖4（b）為內(nèi)部有裂紋樣品，相較于正常樣品再硅光芯片內(nèi)部多出一個(gè)峰值，為內(nèi)部裂紋表現(xiàn)出的反射。使用OLI能精準(zhǔn)測(cè)試出硅光芯片內(nèi)部裂紋反射和位置信息。（a）正常樣品（b）內(nèi)部有裂紋樣品圖4.OLI測(cè)試耦合硅光芯片結(jié)果因此，使用光纖微裂紋診斷儀（OLI）測(cè)試能快速評(píng)估出硅光芯片耦合質(zhì)量，并精準(zhǔn)定位硅光芯片內(nèi)部裂紋位置及回?fù)p信息。OLI以亞毫米級(jí)別分辨率探測(cè)硅光芯片內(nèi)部，可廣泛用于光器件、光模塊損傷檢測(cè)以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。