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2025-12-15 14:34:15高電壓測量
高電壓測量是指對電力系統(tǒng)、科研實驗等領(lǐng)域中高于常規(guī)電壓等級的電壓進行測量。它涉及高電壓的產(chǎn)生、傳輸、分配及使用的各個環(huán)節(jié),是確保電力系統(tǒng)安全穩(wěn)定運行的關(guān)鍵技術(shù)之一。高電壓測量需考慮測量精度、絕緣安全、環(huán)境適應(yīng)性等因素,常采用分壓器、電阻分壓箱、電容分壓器等設(shè)備,配合高精度測量儀表進行。隨著電力系統(tǒng)電壓等級的提升,高電壓測量技術(shù)也在不斷發(fā)展,以滿足更高要求的測量需求。

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2021-10-29 10:53:56電壓探頭關(guān)鍵因素對高頻暫態(tài)電壓測量精度的影響分析
一、仿真電路高頻暫態(tài)電壓由圖a所示的雙脈沖測試電路產(chǎn)生,采用Saber軟件進行電路仿真,仿真波形如圖b所示。所用開關(guān)器件為有開爾文源的MOSFET,在各目標(biāo)信號中,VGs1為高共模電壓低壓差分信號,VDs1為高共模電壓高壓差分信號,VGs2為低共模電壓低壓差分信號,VDS2為高壓對地信號。根據(jù)信號類型,VGs1、VDs1和 VGs2需采用差分探頭測量,VDS2既可采用高阻無源探頭測量,也可采用差分探頭測量。當(dāng)開關(guān)器件無開爾文源時,S2驅(qū)動回路源端接地,VGs2也可采用高阻無源探頭或具有寬輸入范圍的有源單端探頭測量。a 電路原理b 主要電壓信號暫態(tài)波形雙脈沖測試電路及其仿真結(jié)果二、帶寬與上升時間對于n個模塊級聯(lián)而成的線性時不變系統(tǒng),記各級階躍響應(yīng)的上升時間為tr,m,當(dāng)各級的階躍響應(yīng)皆為高斯函數(shù)(高斯響應(yīng))時,系統(tǒng)的上升時間可表示為(1)當(dāng)各級階躍響應(yīng)有過沖現(xiàn)象且過沖幅度大約為階躍幅度的5%或10%時,系統(tǒng)的上升時間將比式(4)給出的上升時間略短,系統(tǒng)的過沖幅度約為各級過沖幅度總和的二次方根??紤]目標(biāo)信號、電壓探頭和示波器級聯(lián)形成的系統(tǒng),各級階躍響應(yīng)的上升時間依次記為 tr,sign、tr,probe、 tr,scope。其中后兩級組成的測量系統(tǒng)通過示波器的前端放大器相互隔離,使得這兩者的上升時間相互獨立,常用的電壓探頭和示波器一般具有高斯響應(yīng),由式(1)可得測量系統(tǒng)的上升時間為(2)進一步地,假設(shè)目標(biāo)信號和電壓探頭的上升時間也相互獨立,則整個系統(tǒng)的上升時間,即示波器顯示波形的上升時間為(3)實際上,電壓探頭對目標(biāo)信號有負(fù)載效應(yīng),目標(biāo)信號的上升時間將因探頭的加入而改變。負(fù)載效應(yīng)模型如圖1所示。圖中,Vs為單位階躍信號源,Rs為信號源電阻,Cs為負(fù)載電容,Vsign為目標(biāo)信號,Ri與Ci為電壓探頭的輸入阻抗。未施加探頭時,由RC電路的階躍響應(yīng)函數(shù)易得目標(biāo)信號的上升時間tr,sign為2.2RsCs。同理,施加電壓探頭后,目標(biāo)信號的上升時間變?yōu)?.2(Rs//Ri)(Cs+Ci)。目標(biāo)信號上升時間因電壓探頭的負(fù)載效應(yīng)而變化的程度可表示為(4)圖1 電壓探頭對目標(biāo)信號的負(fù)載效應(yīng)模型開關(guān)器件的柵源電壓和漏源電壓對應(yīng)的等效負(fù)載電容Cs可分別用器件的輸入電容和輸出電容近似,tr,sign可由數(shù)據(jù)表直接讀出,因此開關(guān)器件等效信號源電阻Rs可表示為tr,sign/(2.2Cs),取現(xiàn)有商售SiC器件進行估算,可得目標(biāo)信號的等效負(fù)載電阻約在100Ω的數(shù)量級上,而常用的高阻無源探頭和有源高壓差分探頭的輸入電阻數(shù)量級約為MΩ,于是,式(4)可近似為(5)高阻電壓探頭的輸入電容越大,其對開關(guān)器件的負(fù)載效應(yīng)越明顯。然而,由于開關(guān)器件的輸入電容和輸出電容是變量,不能用式(5)來準(zhǔn)確計算。為考慮到電壓探頭的負(fù)載效應(yīng),式(5)可修正為(6)進而可定義測量系統(tǒng)產(chǎn)生的上升時間誤差為(7)可知,為減小目標(biāo)信號的上升時間測量誤差,應(yīng)使電壓探頭的輸入電容足夠小,并且使測量系統(tǒng)的上升時間遠(yuǎn)小于目標(biāo)信號的上升時間。帶寬和上升時間成反比,對于高斯響應(yīng)型的測量系統(tǒng),兩者間關(guān)系可近似表示為(8)暫態(tài)信號含有豐富的頻率分量,理論上需要用全部的頻率分量才能重構(gòu)暫態(tài)信號,實際上頻率過高的分量對暫態(tài)信號的重構(gòu)影響甚微,為此定義拐點頻率,在暫態(tài)信號重構(gòu)過程,高于拐點頻率的分量將被舍棄。對于目標(biāo)信號,其拐點頻率表示為(9)因此,從頻域的角度看,為減小目標(biāo)信號上升時間的測量誤差,應(yīng)當(dāng)要求測量系統(tǒng)的帶寬遠(yuǎn)大于目標(biāo)信號的拐點頻率。圖2比較了在不同的探頭帶寬下VDs2和VGs2的仿真波形,為簡化分析,不考慮示波器的作用,以探頭輸出電壓Vp和衰減系數(shù)k的乘積作為目標(biāo)信號的測量結(jié)果。不難看出, 隨著探頭帶寬的降低,目標(biāo)信號測量結(jié)果的上升時間變長,測量誤差也相應(yīng)增大。此外,可以看出探頭的測量結(jié)果滯后于目標(biāo)信號,即出現(xiàn)傳輸延遲現(xiàn)象,這主要是探頭的傳輸線導(dǎo)致的,本文對此不作深入討論。圖2. 不同的探頭帶寬下VDs2和VGs2的仿真波形比較為定量說明電壓探頭對目標(biāo)信號測量結(jié)果上升時間的作用,取VDs2在50MHz帶寬探頭作用前后的上升時間來分析。由圖2a可知,該探頭的負(fù)載效應(yīng)使VDs2的上升時間由10.424ns變?yōu)?0.875ns,又由式(8)可得該探頭的上升時間約為7ns,將這些數(shù)據(jù)代入到式(6)可解得探頭測量結(jié)果的上升時間為12.933ns,這與仿真得到的12.915ns一致。由式(7)可得,50MHz帶寬探頭對VDs2上升時間的測量誤差達到23.9%,這表明低帶寬探頭無法滿足高頻暫態(tài)信號上升時間的測量要求。電壓探頭帶寬過低,意味著暫態(tài)信號的高頻分量被極大衰減,當(dāng)暫態(tài)信號波形具有高頻振蕩或尖刺時,低帶寬電壓探頭將無法還原其快速變化的細(xì)節(jié),圖2a和圖2b的仿真波形分別顯示出低帶寬探頭對目標(biāo)信號過沖幅度的抑制作用和對目標(biāo)信號尖刺波形的平滑作用。綜上所述,本節(jié)的分析得到以下主要結(jié)論:(1)電壓探頭對目標(biāo)信號的負(fù)載效應(yīng)和測量系統(tǒng)與目標(biāo)信號的級聯(lián)效應(yīng)共同導(dǎo)致上升時間的測量誤差,且誤差隨探頭的輸入電容或上升時間增大而增大。(2)電壓探頭的帶寬和上升時間成反比。(3)電壓探頭帶寬過低將使測得信號的過沖幅度下降、尖刺波形平滑。
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2024-08-12 17:16:57HALT高加速極限壽命試驗測試步驟是怎樣的?
高加速壽命試驗(Highly Accelerated Life Testing,簡稱HALT)的測試步驟涉及多個環(huán)節(jié),旨在通過逐步增加應(yīng)力來揭示產(chǎn)品的潛在缺陷和設(shè)計不足。以下是其具體的測試步驟介紹:準(zhǔn)備工作:準(zhǔn)備階段包括形成試驗團隊、安裝受試產(chǎn)品、進行必要的電連接和監(jiān)測設(shè)備連接。團隊成員應(yīng)涵蓋研發(fā)設(shè)計、制造工藝和質(zhì)控等專業(yè)技術(shù)人員。受試產(chǎn)品需要安裝在HALT試驗箱中,并進行功能測試以確保其正常工作。
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2026-01-30 17:35:19如何用數(shù)字化手段破解糧油與農(nóng)產(chǎn)品檢測的高負(fù)荷與高溯源難題?
在守護公眾健康與生態(tài)安全的最前沿,檢測數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性與可靠性至關(guān)重要。面對日益繁重的檢測任務(wù)與持續(xù)升級的監(jiān)管要求,實驗室亟需通過數(shù)字化手段實現(xiàn)效率提升與合規(guī)保障的雙重目標(biāo)。青軟青之深耕檢測行業(yè)數(shù)字化領(lǐng)域,依托多年技術(shù)積淀與行業(yè)實踐經(jīng)驗,自主研發(fā) King's LIMS 實驗室信息管理系統(tǒng),以微服務(wù)架構(gòu)為核心技術(shù)底座,打造高適配性數(shù)字化解決方案,深度覆蓋環(huán)境檢測、環(huán)境監(jiān)測、糧油及農(nóng)產(chǎn)品等 90% 以上檢測領(lǐng)域,為實驗室高質(zhì)量運營注入數(shù)智動能。King’s LIMS 堅持“全流程數(shù)字化、全鏈條可追溯、全要素智能化”的核心理念,構(gòu)建起貫穿采樣、前處理、儀器對接、數(shù)據(jù)分析到報告生成的全生命周期管理閉環(huán)。其微服務(wù)架構(gòu)賦予系統(tǒng)卓越的靈活性與可擴展性,既能精準(zhǔn)匹配當(dāng)前業(yè)務(wù)需求,又能敏捷響應(yīng)未來標(biāo)準(zhǔn)演進與業(yè)務(wù)拓展。在環(huán)境檢測與監(jiān)測領(lǐng)域,系統(tǒng)針對水質(zhì)、空氣、土壤等多場景,提供靈活的采樣方案配置與移動終端支持,實現(xiàn)從現(xiàn)場采樣、數(shù)據(jù)自動采集、智能分析到報告生成與監(jiān)管上報的全流程閉環(huán)管理。樣品流轉(zhuǎn)全程可追溯,數(shù)據(jù)修改全程可審計,有力支撐環(huán)保合規(guī),確保每一份檢測報告都經(jīng)得起監(jiān)管檢驗。針對糧油與農(nóng)產(chǎn)品檢測中樣品量大、溯源要求高的特點,系統(tǒng)內(nèi)置豐富的檢測方法庫與標(biāo)準(zhǔn)庫,可自動完成結(jié)果判定與超標(biāo)預(yù)警,大幅減少人工干預(yù)。通過檢測儀器直連與電子原始記錄系統(tǒng)的無縫對接,實現(xiàn)數(shù)據(jù)的自動采集與實時歸檔,徹底杜絕人工轉(zhuǎn)錄誤差,確保檢測數(shù)據(jù)真實、完整、不可篡改,為糧食安全和農(nóng)產(chǎn)品質(zhì)量構(gòu)筑堅實的數(shù)字化防線。作為擁有完全自主知識產(chǎn)權(quán)的國產(chǎn)化利器,King’s LIMS 始終秉持“質(zhì)量合規(guī)、數(shù)據(jù)可信、效率躍升”的設(shè)計原則,已成功服務(wù)于1000余家第三方檢測機構(gòu)及企事業(yè)單位,助力客戶顯著縮短檢測周期、降低合規(guī)風(fēng)險、提升運營效能。未來,青軟青之將持續(xù)以技術(shù)創(chuàng)新為引擎,依托 King’s LIMS 強大的場景適配能力,推動檢測行業(yè)向更高效、更智能、更可信的方向邁進,為民生安全與生態(tài)文明建設(shè)注入持久的數(shù)字化動能。
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2023-03-27 23:49:14低場磁共振和高場磁共振有什么區(qū)別
低場磁共振和高場磁共振有什么區(qū)別磁共振分析應(yīng)用方面:低場核磁主要用于測試分子與分子之間的動力學(xué)信息,過弛豫時間得到分子運動信息,分子與分子之間的作用信息;研究領(lǐng)域?qū)賮單⒂^領(lǐng)域(分子之間),可測定玻璃態(tài)轉(zhuǎn)化溫度、高分子材料交聯(lián)密度、造影劑弛豫率、孔徑分布及孔隙度等,廣泛應(yīng)用于食品工業(yè)、石油工業(yè)、醫(yī)藥工業(yè)、紡織工業(yè)、聚合物工業(yè)。低場核磁使用永磁體,設(shè)備小型化,靈活易于移動,也不需要特別維護,易與其他設(shè)備或配件整合,滿足在線高通量測試要求。低場核磁共振儀器費用低,儀器內(nèi)部已做屏蔽,安裝場地不需特殊處理。高場核磁具有高靈敏度、高分辨率、高信噪比,但是對樣品均勻度要求高,液體需要去離子化,固體需要是粉末狀,而且儀器費用昂貴,安裝需要專用場地,需要屏蔽設(shè)施,儀器需要液氮或液氦冷卻,后續(xù)維護成本非常高;磁共振成像應(yīng)用方面:低場磁共振一般指磁場強度小于0.5T的成像系統(tǒng)。由于磁場強度較小,低場磁共振成像儀器的價格始終,應(yīng)用也非常廣泛,可用于各類疾病模型的成像研究,如腫瘤、脊柱疾病、關(guān)節(jié)炎、肌肉創(chuàng)傷等。相比于高場磁共振,低場磁共振成本較低,設(shè)備易于維護,適用于各大行業(yè)。高場磁共振一般指磁場強度大于1.5T的成像系統(tǒng)。由于磁場強度較高,高場磁共振成像信噪比高,可以提供更廣泛和更詳細(xì)的解剖學(xué)和生理學(xué)信息。高場磁共振成像適用于診斷各種疾病,如神經(jīng)系統(tǒng)疾病、心血管疾病、腫瘤等,并且在醫(yī)學(xué)領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。然而,高場磁共振成本較高,設(shè)備維護和管理的難度也相對較高。
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2023-06-14 15:01:54【新品】第三代紅外探測器:高動態(tài)范圍二類超晶格T2SL
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