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2025-01-22 09:30:48近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡
近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡是一種利用近場(chǎng)光學(xué)效應(yīng)觀察物體表面微觀形貌和光學(xué)性質(zhì)的儀器。它突破了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的衍射極限，能夠?qū)崿F(xiàn)更高分辨率的成像。近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡廣泛應(yīng)用于納米材料、半導(dǎo)體器件、生物樣品等領(lǐng)域的觀測(cè)和研究，有助于揭示物質(zhì)在納米尺度上的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。其優(yōu)勢(shì)在于高分辨率、非接觸式測(cè)量以及對(duì)樣品表面的輕微損傷或無損傷觀測(cè)。

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2020-09-03 12:37:49成果速遞|超高分辨散射式近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡在超快研究領(lǐng)域ZX應(yīng)用
    近年來，范德瓦爾斯（vdW）材料中的表面極化激元(SP)研究，例如等離極化激元、聲子極化激元、激子極化激元以及其他形式極化激元等，受到了廣大科研工作者的關(guān)注，成為了低維材料領(lǐng)域納米光學(xué)研究的熱點(diǎn)。其中，范德瓦爾斯原子層狀晶體存在獨(dú)特的激子極化激元，可誘導(dǎo)可見光到太赫茲廣闊電磁頻譜范圍內(nèi)的光學(xué)波導(dǎo)。同時(shí)，具有較強(qiáng)的激子共振可以實(shí)現(xiàn)非熱刺激（包括靜電門控和光激發(fā)）的光波導(dǎo)調(diào)控。    前期的眾多研究工作表明，掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡（SNOM）已經(jīng)被廣泛用于穩(wěn)態(tài)波導(dǎo)的可視化表征，非常適合評(píng)估范德瓦爾斯半導(dǎo)體的各向異性和介電張量。 如上所述，范德瓦爾斯材料中具有異常強(qiáng)烈的激子共振，這些激子共振能產(chǎn)生吸收和折射光譜特征，這些特征同樣被編碼在波導(dǎo)模式的復(fù)波矢量qr中，鑒于范德瓦爾斯半導(dǎo)體在近紅外和可見光范圍內(nèi)對(duì)ab-平面的光學(xué)極化率有重大影響，因此引起了人們的研究興趣。    2020年7月，美國(guó)哥倫比亞大學(xué)Aaron J. Sternbach和D.N. Basov教授等研究者在Nature Communications上發(fā)表了題為：”Femtosecond exciton dynamics in WSe2 optical waveguides”的研究文章。研究者以范德瓦爾斯半導(dǎo)體中的WSe2材料為例，利用德國(guó)neaspec公司的納米空間分辨超快光譜和成像系統(tǒng)，通過飛秒激光激發(fā)研究了WSe2材料中光波導(dǎo)在空間和時(shí)間中的電場(chǎng)分布，并成功提取了飛秒光激發(fā)后光學(xué)常數(shù)的時(shí)間演化關(guān)系。同時(shí)，研究者也通過監(jiān)視波導(dǎo)模式的相速度，探測(cè)了WSe2材料中受激非相干的A-exciton漂白和相干的光學(xué)斯塔克（Stark）位移。                                                                原文導(dǎo)讀：①    在納米空間分辨超快光譜和成像（tr-SNOM）實(shí)驗(yàn)中（圖1，a），研究者首先將Probe探測(cè)光（藍(lán)色）照到原子力顯微鏡（AFM）探針JD的頂點(diǎn)上，從探針JD頂點(diǎn)（光束A）散射回的光被離軸拋物面鏡（OAPM）收集并發(fā)送到檢測(cè)器。同時(shí)，WSe2材料的中的波導(dǎo)被激發(fā)并傳播到樣品邊緣后，進(jìn)而波導(dǎo)被散射到自由空間（光束B）。第二個(gè)Pump泵通道（紅色）可均勻地?cái)_動(dòng)樣本并改變波導(dǎo)的傳播。 通過在WSe2/SiO2界面處的近場(chǎng)tr-SNOM的振幅圖像（圖1b）可明顯觀察到約120 nm厚WSe2材料邊緣（白色虛線）處形成的特征周期條紋—光波導(dǎo)電場(chǎng)分布。研究者進(jìn)一步通過定量分析數(shù)據(jù)，分別獲取了穩(wěn)態(tài)和光激發(fā)態(tài)下，WSe2中波導(dǎo)的光波導(dǎo)的相速度q1,r和q1,p。圖1：納米空間分辨超快光譜和成像系統(tǒng)對(duì)WSe2材料中光波導(dǎo)的納米成像結(jié)果。a:實(shí)驗(yàn)示意圖（藍(lán)色為Probe光，紅色為Pump光）；b：近場(chǎng)納米光學(xué)成像 c: 在穩(wěn)態(tài)下，WSe2邊緣的近場(chǎng)光學(xué)振幅圖像；d: 光激發(fā)態(tài)下，延遲時(shí)間 Δt=1ps的WSe2邊緣的近場(chǎng)光學(xué)振幅圖像；e: 分別對(duì)c、d進(jìn)行截面分析，獲取定量數(shù)據(jù)。Probe探測(cè)能量，E=1.45 eV②    研究者通過變化Probe探測(cè)能量范圍（1.46–1.70 eV）及其理論計(jì)算成功獲取了WSe2晶體穩(wěn)態(tài)下的色散關(guān)系和理論數(shù)據(jù)顯示A-exciton所對(duì)應(yīng)的能量。圖2：WSe2晶體穩(wěn)態(tài)動(dòng)力學(xué)的時(shí)空納米成像研究。a: 不同Probe能量的近場(chǎng)光學(xué)振幅；b: 傅里葉變換（FT）分析; c:  Lorentz擬合的WSe2塊體材料介電常數(shù)面內(nèi)組成；d: 基于Lorentz模型理論計(jì)算的能量動(dòng)量分布（吸收光譜）。Probe探測(cè)能量，E 1.46–1.70 eV。③    為了進(jìn)一步研究光激發(fā)下WSe2中波導(dǎo)的色散和動(dòng)力學(xué)，研究者進(jìn)一步在90 nm的WSe2材料上，通過探測(cè)能量E = 1.61 eV，泵浦能量E = 1.56 eV，泵浦功率1.5 mW的實(shí)驗(yàn)條件進(jìn)行了一列的納米空間分辨超快光譜和理論研究。研究結(jié)果表明（圖3a,b），研究者成功獲取到了不同延遲時(shí)間Δt與δq2和δq1的關(guān)系。結(jié)果表明：光激發(fā)后的DY個(gè)ps內(nèi)，虛部q2（圖3a）突然下降（δq2
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2025-10-27 15:15:20掃描透射電子顯微鏡是什么
掃描透射電子顯微鏡（STEM）作為現(xiàn)代材料科學(xué)、納米技術(shù)以及生命科學(xué)研究中不可或缺的工具，憑借其高分辨率和優(yōu)越的成像能力，極大地推動(dòng)了微觀世界的探索。本篇文章將深入解析掃描透射電子顯微鏡的基本原理、結(jié)構(gòu)組成、技術(shù)優(yōu)勢(shì)及在科研領(lǐng)域的核心應(yīng)用，旨在幫助讀者全面理解這一儀器的技術(shù)特性及其科研價(jià)值。 一、掃描透射電子顯微鏡的基本原理 掃描透射電子顯微鏡結(jié)合了掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微鏡（TEM）的優(yōu)點(diǎn)，利用電子束掃描樣品表面，生成高分辨率的內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像。在操作過程中，電子束被聚焦成細(xì)束，逐點(diǎn)掃描樣品，穿透樣品后被不同區(qū)域的原子散射。通過檢測(cè)電子的穿透和散射，STEM可以獲取樣品的微觀結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成信息，其分辨率甚至可以達(dá)到亞納米級(jí)別。 二、結(jié)構(gòu)組成與工作原理 STEM主要由高強(qiáng)度電子槍、電子透鏡系統(tǒng)、掃描控制系統(tǒng)和檢測(cè)器組成。電子槍發(fā)射加速電子，經(jīng)過一系列電子透鏡聚焦成細(xì)電子束。掃描系統(tǒng)通過精密的掃描線控制電子束在樣品上的運(yùn)動(dòng)軌跡，樣品通過特殊的支持架固定在樣品架上。檢測(cè)器如能量色散X射線（EDS）和電子能譜分析（EELS）則供應(yīng)材料的化學(xué)和電子結(jié)構(gòu)信息。整個(gè)系統(tǒng)通過實(shí)時(shí)掃描與信號(hào)采集，重建出細(xì)膩的二/三維微觀圖像，提供豐富的結(jié)構(gòu)與成分信息。 三、技術(shù)優(yōu)勢(shì)與創(chuàng)新點(diǎn) 相比傳統(tǒng)的顯微技術(shù)，STEM具有多項(xiàng)獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。其極高的空間分辨率使微米、納米甚至亞納米尺度的結(jié)構(gòu)成像成為可能。STEM結(jié)合了多種分析技術(shù)，如EDS和EELS，可以在同一平臺(tái)實(shí)現(xiàn)元素分析與化學(xué)狀態(tài)檢測(cè)。先進(jìn)的掃描算法和電子源的優(yōu)化提升了成像速度和成像質(zhì)量，同時(shí)降低了樣品的輻射損傷，尤其重要于生命科學(xué)和有機(jī)材料研究。 四、在科研中的廣泛應(yīng)用 科學(xué)研究中，STEM扮演著關(guān)鍵角色。從材料科學(xué)的角度，它被用來觀察先驅(qū)材料如納米粒子、二維材料和復(fù)合材料的原子排列。對(duì)于電子器件開發(fā)，STEM可以詳細(xì)分析晶格缺陷和界面結(jié)構(gòu)，為性能優(yōu)化提供依據(jù)。在生命科學(xué)領(lǐng)域，STEM使得生物樣品的超高分辨率成像成為可能，即使是在不破壞樣品的基礎(chǔ)上揭示細(xì)胞內(nèi)部的復(fù)雜微觀結(jié)構(gòu)。除此之外，STEM在催化劑研究、能源存儲(chǔ)以及環(huán)境科學(xué)中都顯示出巨大的應(yīng)用潛力。 五、未來發(fā)展方向與挑戰(zhàn) 未來，隨著電子源和檢測(cè)器技術(shù)的進(jìn)步，STEM有望實(shí)現(xiàn)更快的掃描速度和更高的空間分辨率。樣品制備方面也在不斷創(chuàng)新，以適應(yīng)更復(fù)雜和多樣的研究需求。STEM仍面臨輻射損傷、樣品制備困難以及設(shè)備成本高昂的挑戰(zhàn)?？鐚W(xué)科的技術(shù)融合，如與人工智能的結(jié)合，也為其未來的發(fā)展打開了新的思路。 結(jié)語 掃描透射電子顯微鏡作為一種結(jié)合了高空間分辨率與多功能分析能力的先進(jìn)顯微技術(shù)，正不斷拓展其在科學(xué)研究中的邊界。借助其強(qiáng)大的成像和定量分析能力，STEM正為解碼微觀世界的奧秘提供無可替代的工具，推動(dòng)科學(xué)從宏觀走向微觀、從定性走向量化的深層次理解。未來，隨著技術(shù)的不斷演進(jìn)，STEM必將在材料科學(xué)、生物醫(yī)藥以及納米技術(shù)等領(lǐng)域扮演更加核心的角色。
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2025-02-01 12:10:12顯微鏡偏光在哪看
顯微鏡偏光在哪看：如何正確觀察偏光現(xiàn)象 在顯微鏡觀察中，偏光現(xiàn)象的應(yīng)用廣泛，特別是在材料科學(xué)、礦物學(xué)和生物學(xué)等領(lǐng)域。了解如何通過顯微鏡觀察偏光現(xiàn)象，對(duì)于科研工作者和相關(guān)領(lǐng)域的專業(yè)人士至關(guān)重要。本文將深入探討偏光顯微鏡的工作原理，以及如何使用偏光顯微鏡來觀察不同樣本中的偏光現(xiàn)象，并為讀者提供一些實(shí)用的技巧和建議。 1. 偏光顯微鏡的工作原理 偏光顯微鏡是通過使用偏光片來觀察樣品的偏振特性。偏光片通過限制光波的傳播方向，使得光線只能沿一個(gè)特定的方向傳播。當(dāng)光線通過樣品時(shí)，樣品的結(jié)構(gòu)、形態(tài)或組成物質(zhì)可能會(huì)對(duì)光線進(jìn)行旋轉(zhuǎn)或偏折，這一現(xiàn)象即為偏光現(xiàn)象。通過對(duì)比未經(jīng)過濾的自然光與經(jīng)過偏光片過濾后的光，偏光顯微鏡可以有效地揭示樣品內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)。 2. 顯微鏡偏光現(xiàn)象的觀察方法 在使用偏光顯微鏡時(shí)，首先需要安裝偏光片。這些偏光片一般位于顯微鏡的光路中，一個(gè)在光源位置，另一個(gè)位于物鏡下方。調(diào)整偏光片的角度可以實(shí)現(xiàn)不同程度的光線偏振，進(jìn)而影響觀察到的樣品效果。對(duì)于透明樣品，偏光顯微鏡尤為有效，可以清晰地顯示出樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及其物理性質(zhì)，如應(yīng)力、晶體結(jié)構(gòu)等。 3. 如何識(shí)別偏光現(xiàn)象 在顯微鏡下觀察偏光現(xiàn)象時(shí)，樣品會(huì)呈現(xiàn)出不同的色彩和對(duì)比度，這取決于樣品的光學(xué)性質(zhì)。觀察時(shí)，通常需要旋轉(zhuǎn)偏光片，以尋找佳的觀察角度。在偏光顯微鏡中，偏光效應(yīng)經(jīng)常表現(xiàn)為樣品表面的一些暗紋或色彩變化。通過這些變化，研究人員可以分析樣品的組成物質(zhì)、晶體結(jié)構(gòu)及其物理特性。 4. 偏光顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域 偏光顯微鏡廣泛應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域。它在礦物學(xué)中用于鑒定礦石的種類、分析礦物的結(jié)構(gòu)；在材料科學(xué)中，用來研究材料的內(nèi)應(yīng)力和缺陷；在生物學(xué)中，偏光顯微鏡則常用于研究細(xì)胞結(jié)構(gòu)和組織。偏光顯微鏡不僅能揭示常規(guī)顯微鏡無法觀察到的細(xì)節(jié)，還能提供有關(guān)材料本質(zhì)的重要信息。 5. 總結(jié)與建議 偏光顯微鏡在多個(gè)科研領(lǐng)域中具有重要的應(yīng)用價(jià)值。了解其原理和使用方法，能夠幫助專業(yè)人員更準(zhǔn)確地觀察和分析樣本。在進(jìn)行偏光顯微鏡觀察時(shí)，正確的操作技巧和細(xì)心的調(diào)整偏光片角度是至關(guān)重要的，能夠顯著提高實(shí)驗(yàn)效果和觀察精度。希望通過本文，您能對(duì)顯微鏡偏光現(xiàn)象的觀察有更深入的理解，助力您的科研工作。 偏光顯微鏡是一項(xiàng)關(guān)鍵的技術(shù)手段，掌握其操作要領(lǐng)，能夠幫助我們更好地研究微觀世界。
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2025-02-01 09:10:16立體化顯微鏡名稱是什么
立體化顯微鏡是一種用于觀察微小物體細(xì)節(jié)的先進(jìn)儀器，其主要應(yīng)用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域。在本篇文章中，我們將深入探討立體化顯微鏡的定義、工作原理及其在不同專業(yè)領(lǐng)域中的重要性。通過對(duì)比其他類型顯微鏡，立體化顯微鏡展示了其獨(dú)特的三維觀察能力，使得在多個(gè)學(xué)科的研究中發(fā)揮著重要作用。 立體化顯微鏡的名稱來源于其獨(dú)特的三維圖像呈現(xiàn)方式，這使得觀察者可以通過立體視角對(duì)樣本進(jìn)行更精確的分析。與傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡不同，立體化顯微鏡通過兩個(gè)物鏡和兩個(gè)目鏡的配合，為觀察者提供深度感和空間感，使得樣本表面的微小細(xì)節(jié)得以更加清晰地呈現(xiàn)。這一特性使得它在醫(yī)學(xué)診斷、電子顯微學(xué)及精密工程中，尤其在活體觀察和微觀結(jié)構(gòu)研究方面具有不可替代的優(yōu)勢(shì)。 除了在結(jié)構(gòu)上展現(xiàn)三維效果外，立體化顯微鏡的成像質(zhì)量也得到顯著提升。它能夠在不損害樣本的情況下獲得高清的圖像，尤其是在對(duì)樣本的表面結(jié)構(gòu)進(jìn)行高精度分析時(shí)，具有傳統(tǒng)顯微鏡無法比擬的優(yōu)勢(shì)。立體化顯微鏡的光學(xué)系統(tǒng)通常包括多個(gè)透鏡，具備較大的景深，能夠清晰顯示不同層次的細(xì)節(jié)。其應(yīng)用不僅局限于基礎(chǔ)的科學(xué)研究，也廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)中，特別是在電子產(chǎn)品制造、質(zhì)量控制及生物樣本的精密檢測(cè)等領(lǐng)域。 值得注意的是，立體化顯微鏡根據(jù)不同的觀察需求可以配備不同的配件和功能。比如，熒光立體顯微鏡可以結(jié)合熒光標(biāo)記物，以實(shí)現(xiàn)特定分子層次的觀測(cè)；而數(shù)字化立體顯微鏡則可以將其觀測(cè)結(jié)果實(shí)時(shí)傳輸?shù)接?jì)算機(jī)，方便數(shù)據(jù)分析和存檔。隨著科技的不斷進(jìn)步，立體化顯微鏡的功能愈發(fā)強(qiáng)大，其在科研、教育及工業(yè)等多個(gè)行業(yè)的應(yīng)用也日益增多。 立體化顯微鏡是一種革命性技術(shù)，憑借其的三維觀察能力，成為多個(gè)專業(yè)領(lǐng)域中不可或缺的分析工具。在未來，隨著技術(shù)的發(fā)展，立體化顯微鏡將在更廣泛的領(lǐng)域中發(fā)揮更大的作用。
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2025-02-02 09:10:123d顯微鏡是不是體視鏡
3D顯微鏡是不是體視鏡？ 在顯微鏡領(lǐng)域，許多人可能會(huì)混淆“3D顯微鏡”和“體視鏡”這兩個(gè)術(shù)語，認(rèn)為它們是相同的設(shè)備。事實(shí)上，盡管它們都被用來觀察物體的細(xì)節(jié)，但它們?cè)诠ぷ髟?、使用范圍和成像方式上存在顯著差異。本文將詳細(xì)闡明這兩種顯微鏡的區(qū)別，以幫助讀者更清晰地了解它們各自的特點(diǎn)及應(yīng)用場(chǎng)景。 3D顯微鏡的定義與特點(diǎn) 3D顯微鏡，顧名思義，是一種能夠提供三維成像效果的顯微鏡設(shè)備。其主要功能是通過特殊的技術(shù)手段獲取樣品的三維結(jié)構(gòu)。常見的3D顯微鏡有激光共聚焦顯微鏡和共聚焦掃描顯微鏡等，它們利用激光束掃描樣品并通過探測(cè)反射光來重建物體的三維圖像。這種顯微鏡的優(yōu)勢(shì)在于它能夠精確測(cè)量物體的高度、深度等空間信息，廣泛應(yīng)用于生物學(xué)、材料科學(xué)以及工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域。 體視鏡的定義與特點(diǎn) 體視鏡（又稱立體顯微鏡）則是一種可以通過雙眼觀察樣品的顯微鏡，能夠提供一定程度的立體視覺效果。它通過兩個(gè)獨(dú)立的光路系統(tǒng)，使觀察者的左右眼分別接收到不同的圖像，從而產(chǎn)生一種深度感。體視鏡通常用于觀察較大的物體或具有明顯三維結(jié)構(gòu)的樣品，如電子元件、昆蟲標(biāo)本和植物樣品等。它的放大倍率較低，通常在20倍到200倍之間，主要用于物體的粗略觀察和簡(jiǎn)單操作。 3D顯微鏡與體視鏡的區(qū)別 雖然3D顯微鏡和體視鏡在名稱上都涉及“立體”或“3D”概念，但兩者的原理和應(yīng)用場(chǎng)景截然不同。3D顯微鏡能夠提供細(xì)致的三維重建圖像，適用于高精度的微觀分析，特別是在需要獲取樣品高度和深度數(shù)據(jù)時(shí)。相比之下，體視鏡更側(cè)重于觀察物體的外部結(jié)構(gòu)，適用于較大的樣品或需要大視野的工作環(huán)境。 3D顯微鏡通常需要較高的技術(shù)支持，價(jià)格也相對(duì)較高，適用于實(shí)驗(yàn)室和科研機(jī)構(gòu)。而體視鏡則更加簡(jiǎn)便，使用范圍更廣，適合實(shí)驗(yàn)教學(xué)、工程檢測(cè)等領(lǐng)域。 總結(jié) 3D顯微鏡和體視鏡雖然都具有“立體”觀測(cè)的特性，但它們的成像原理、用途和工作方式存在顯著差異。3D顯微鏡提供了高分辨率的三維成像，適合細(xì)節(jié)分析，而體視鏡則更適用于大范圍的立體觀察。了解這兩者的不同，有助于在不同的應(yīng)用場(chǎng)景中選擇合適的顯微鏡設(shè)備。
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手持式細(xì)胞計(jì)數(shù)器
近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡
digital
高精度皮帶秤
鋼絞線拉伸試驗(yàn)機(jī)
高電壓起痕試驗(yàn)儀
電池洗滌試驗(yàn)機(jī)
雙軸位移臺(tái)
水壓實(shí)驗(yàn)機(jī)
高通量移液工作站