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2025-01-10 17:05:28新型半導(dǎo)體光電材料: 新型半導(dǎo)體光電材料是指在光電轉(zhuǎn)換、光電探測、光存儲等領(lǐng)域具有優(yōu)異性能的一類半導(dǎo)體材料。它們具有獨特的光電特性，如高光電轉(zhuǎn)換效率、快速響應(yīng)速度、寬光譜響應(yīng)范圍等。這些材料在太陽能電池、光電探測器、LED照明、光存儲器等領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用前景，對提高能源利用效率、推動信息技術(shù)發(fā)展具有重要意義。隨著研究不斷深入，新型半導(dǎo)體光電材料的應(yīng)用領(lǐng)域還將進(jìn)一步拓展。

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人物專訪|浙江大學(xué)何海平教授—明星材料鈣鈦礦的產(chǎn)業(yè)化之路

本期卓立漢光《視點前沿》欄目組邀請到來自浙江大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院，一直從事氧化鋅、鹵化物鈣鈦礦等半導(dǎo)體發(fā)光材料與器件研究的何海平教授，做客我們的直播間

 北京卓立漢光儀器有限公司 515
2023-02-06
卓立漢光新型半導(dǎo)體光電材料

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新型半導(dǎo)體光電材料問答

2023-07-25 10:40:14半導(dǎo)體和鈣鈦礦材料的高光譜（顯微）成像: 目前在光伏業(yè)界，正在進(jìn)行一項重大努力，以提高光伏和發(fā)光應(yīng)用中所用半導(dǎo)體的效率并降低相關(guān)成本。這就需要探索和開發(fā)新的制造和合成方法，以獲得更均勻、缺陷更少的材料。無論是電致還是光致發(fā)光，都是實現(xiàn)這一目標(biāo)的重要工具。通過發(fā)光可以深入了解薄膜內(nèi)部發(fā)生的重組過程，而無需通過對完整器件的多層電荷提取來解決復(fù)雜問題。HERA高光譜照相機(jī)是繪制半導(dǎo)體光譜成像的理想設(shè)備，因為它能夠快速、定量地繪制半導(dǎo)體發(fā)射光譜圖，且具有高空間分辨率和高光譜分辨率的特性。硅太陽能電池的電致發(fā)光光譜成像光伏設(shè)備中的缺陷會導(dǎo)致光伏產(chǎn)生的載流子發(fā)生重組，阻礙其提取并降低電池效率。電致發(fā)光光譜成像可以揭示這些有害缺陷的位置和性質(zhì)。"反向"驅(qū)動太陽能電池（即施加電流）會產(chǎn)生電致發(fā)光，因為載流子在電極上被注入并在有源層中重新結(jié)合。在理想的電池中，所有載流子都會發(fā)生帶間重組，這在硅中會產(chǎn)生1100 nm附近的光（效率非常低）。然而，晶體結(jié)構(gòu)中的缺陷會產(chǎn)生其他不利的重組途徑。雖然這些過程通常被稱為"非輻射"重組，但偶爾也會產(chǎn)生光子，其能量通常低于帶間發(fā)射。捕獲這些非常罕見的光子可以了解缺陷的能量和分布。在本實驗中，我們使用了HERA SWIR (900-1700 nm)，它非常適合測量硅發(fā)光衰減。測量裝置如圖1所示：HERA安裝在三腳架上，在太陽能電池上方，連接到一個10A的電源。640×512像素的傳感器安裝在樣品上方75厘米處，空間分辨率約為250微米。圖1. 實驗裝置最重要的是，HERA光學(xué)系統(tǒng)沒有輸入狹縫，因此光通量非常高，是測量極微弱光發(fā)射的理想選擇。圖2.A和2.B顯示了兩個波長的電致發(fā)光（EL）圖像：1150 nm（帶間發(fā)射）和1600 nm（缺陷發(fā)射），這是4次掃描的平均值（總采集時間：5分鐘）。通過分析這些圖像，我們可以看到，盡管缺陷區(qū)域的亮度遠(yuǎn)低于主發(fā)射區(qū)域，但它們?nèi)员磺逦胤直娉鰜怼４送?，具有?qiáng)缺陷發(fā)射的區(qū)域的帶間發(fā)射相對較弱。我們可以注意到有幾個區(qū)域在兩個波長下都是很暗的；這可能是由于樣品在運(yùn)輸過程中損壞了電池造成的。圖2.C中以對數(shù)標(biāo)尺顯示了小方塊感興趣區(qū)域（圖2A和2B中所示）的光譜。圖 2.A 和 B：兩個選定波長（1150 nm 和 1600 nm）的電致發(fā)光（EL）圖像。C：A和B中三個不同區(qū)域?qū)?yīng)的電致發(fā)光光譜（圖像中的彩色方框）。金屬鹵化物鈣鈦礦薄膜的光致發(fā)光顯微研究通過旋涂等技術(shù)含量低、成本效益高的方法，可以制造出非常高效的太陽能電池和LED。這些方法面臨的一個挑戰(zhàn)是在微觀長度的尺度上保持均勻的成分。光致發(fā)光顯微鏡是表征這種不均勻性的一個特別強(qiáng)大的工具。HERA高光譜相機(jī)可以連接到任何顯微鏡（正置或倒置）的c-mount相機(jī)端口，并直接開始采集高光譜數(shù)據(jù)，無需任何校準(zhǔn)程序。圖3. 與尼康LV100直立顯微鏡連接的HERA VIS-NIR。在本實驗中，我們使用HERA VIS-NIR（400-1000 nm）耦合到尼康LV100直立顯微鏡（圖3）來表征兩種鹵化物前驅(qū)體合金的帶隙分布。將兩種鹵化物前驅(qū)體合金化的優(yōu)點是能夠調(diào)整材料的帶隙；然而，這兩種成分經(jīng)常會發(fā)生逆混合，從而導(dǎo)致性能損失。本實驗的目的是檢測這種逆混合現(xiàn)象：事實上，混合比的局部變化會改變局部帶隙，從而導(dǎo)致發(fā)射不同能量的光子。在這種配置中，激發(fā)光來自汞燈，通過帶通濾光片在350 nm處進(jìn)行濾光，并通過發(fā)射路徑上的二向色鏡將其從相機(jī)中濾除。HERA的高通量使其能夠在大約1分鐘的測量時間內(nèi)收集完整的數(shù)據(jù)立方體（130萬個光譜）。圖4.樣品的光譜綜合強(qiáng)度圖（A：全尺寸；B：放大）。圖4.A和4.B分別顯示了所有波長（400-1000 nm）總集成信號的全尺寸和放大圖像，揭示了長度尺度在1 μm左右的明亮特征。當(dāng)我們比較亮區(qū)和暗區(qū)的光譜時（圖5.B中的黑色和紅色曲線），我們發(fā)現(xiàn)暗區(qū)實際上也有發(fā)射，不僅強(qiáng)度較低，而且波長中心比亮區(qū)短。事實上，光譜具有雙峰形狀，很可能與逆混合前驅(qū)體的發(fā)射相對應(yīng)。圖5.A的發(fā)射圖清楚地顯示了帶隙的這種變化。我們現(xiàn)在可以理解為什么低帶隙區(qū)域看起來更亮了--載流子可能從高帶隙區(qū)域弛豫到那里，并且在發(fā)生輻射重組之前無法返回。圖5.A：顯示平均發(fā)射波長的強(qiáng)度圖。B：亮區(qū)和暗區(qū)的發(fā)射光譜（正常化）。東隆科技作為NIREOS國內(nèi)總代理公司，在技術(shù)、服務(wù)、價格上都具有優(yōu)勢。如果您有任何產(chǎn)品相關(guān)的問題，歡迎隨時來電垂詢，我們將為您提供專業(yè)的技術(shù)支持與產(chǎn)品服務(wù)。

2023-07-08 15:42:40真空高低溫探針臺用于傳感器半導(dǎo)體光電集成電路以及封裝的測試: 型號 KT-0904T-RL 加熱制冷 KT-0904T 不帶加熱制冷 KT-0904T-R 加熱類型加熱型 400℃ 加熱制冷型室溫到-190℃-350℃ 低溫型：室溫到-190℃ 腔體材質(zhì) 304 不銹鋼腔體內(nèi)尺寸 φ90x40mm 腔體上視窗尺寸 Φ42mm（選配凹視窗Φ22mm）腔體抽氣口 KF16 腔體進(jìn)氣口公制 3mm 6mm 氣管接頭英制 1/8mm 1/4mm 氣管接頭可選腔體出氣口公制 3mm 6mm 氣管接頭英制 1/8mm 1/4mm 氣管接頭可選腔體正壓 ≤0.05MPa 腔體真空度機(jī)械泵≤5Pa （5 分鐘）分子泵≤5E-3Pa（30 分鐘）樣品臺樣品臺材質(zhì) 304 不銹鋼樣品臺尺寸 26X26mm 樣品臺-視窗距離 30mm（可選凹視窗間距 15mm）樣品臺測溫傳感器 A 級 PT100 鉑電阻樣品臺溫度室溫到 350℃（可選高低溫樣品臺高溫 350℃低溫-190℃）樣品臺測溫誤差 ±0.2℃ 樣品臺變溫速率高溫 10℃/min 低溫 5℃/min 溫控儀

2025-05-14 18:15:20光電濁度儀要預(yù)熱嗎: 光電濁度儀要預(yù)熱嗎光電濁度儀作為一種精密的分析儀器，在水質(zhì)監(jiān)測、環(huán)保、食品等行業(yè)中廣泛應(yīng)用。它能夠準(zhǔn)確測量液體中懸浮顆粒的濃度，從而反映液體的渾濁度。很多用戶在使用光電濁度儀時，常常會產(chǎn)生一個疑問：光電濁度儀在使用前是否需要預(yù)熱？本文將從光電濁度儀的工作原理、預(yù)熱的重要性以及如何正確操作三個方面，深入探討這一問題，并為廣大用戶提供科學(xué)的操作建議。光電濁度儀的工作原理光電濁度儀的核心工作原理是基于光的散射效應(yīng)。當(dāng)光束通過樣品液體時，液體中的懸浮顆粒會導(dǎo)致光束發(fā)生散射。光電探測器接收到散射光后，轉(zhuǎn)換為電信號，并經(jīng)過儀器的處理系統(tǒng)計算出液體的渾濁度值。由于測量過程中對光的反應(yīng)非常敏感，環(huán)境條件的變化可能會對測量結(jié)果產(chǎn)生影響。光電濁度儀預(yù)熱的重要性光電濁度儀需要預(yù)熱的主要原因在于其內(nèi)部光源、光電探測器等組件對溫度變化非常敏感。尤其是光源，若溫度不穩(wěn)定，可能會影響其發(fā)光強(qiáng)度，從而導(dǎo)致測量結(jié)果不準(zhǔn)確。通過預(yù)熱，儀器的光源和其他敏感部件能夠在穩(wěn)定的工作溫度下運(yùn)行，確保數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和一致性。光源穩(wěn)定性：光源需要達(dá)到穩(wěn)定的工作溫度才能發(fā)出恒定的光強(qiáng)。未經(jīng)過預(yù)熱的光源會導(dǎo)致其發(fā)光強(qiáng)度波動，影響測量精度。傳感器校準(zhǔn)：傳感器的性能在一定溫度下為穩(wěn)定，預(yù)熱可以使傳感器與光源協(xié)調(diào)工作，避免因溫度變化導(dǎo)致的信號波動。溫度影響：溫度變化可能影響測量過程中的反應(yīng)速率，特別是在低溫環(huán)境中，儀器預(yù)熱后能減少外界溫度對儀器性能的影響。如何正確操作光電濁度儀為了確保光電濁度儀能夠準(zhǔn)確測量，需要遵循正確的操作步驟。開機(jī)后應(yīng)進(jìn)行必要的預(yù)熱，一般預(yù)熱時間為15-30分鐘，具體時間根據(jù)儀器型號和使用環(huán)境而定。應(yīng)定期校準(zhǔn)儀器，尤其是在環(huán)境條件發(fā)生較大變化時。在測量前需要確認(rèn)儀器已達(dá)到穩(wěn)定的工作狀態(tài)，避免立即進(jìn)行測量操作。結(jié)論光電濁度儀在使用前需要進(jìn)行預(yù)熱，以確保其內(nèi)部光源和傳感器能夠在穩(wěn)定的狀態(tài)下工作，從而保證測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性。預(yù)熱是提高儀器性能和確保數(shù)據(jù)可靠性的重要步驟，操作人員應(yīng)根據(jù)設(shè)備的使用說明，遵循預(yù)熱時間和操作流程，才能充分發(fā)揮儀器的大性能。

2022-10-30 16:48:50報計劃指南｜半導(dǎo)體材料表征技術(shù)推薦

2023-04-12 09:27:29如何用數(shù)字源表快速掃描光電器件或材料的電性能？: 說到光電器件與材料，你會想到什么？是被譽(yù)為“理想能源”的太陽能電池，還是被稱為“萬物之眼”的光電探測器？在我們的日常生活中，光電器件的應(yīng)用非常廣泛。從電子產(chǎn)品的顯示屏，到指紋解鎖和面部識別，從汽車自動駕駛到太陽能電池板，再到大火的人工智能和AI，處處可見光電器件的身影。光電材料是整個光電產(chǎn)業(yè)的基礎(chǔ)和先導(dǎo)，光電材料已由材料發(fā)展到薄層、超薄層及納米微結(jié)構(gòu)材料，并正向集材料、器件、電路為一體的功能系統(tǒng)集成芯片材料、有機(jī)/無機(jī)復(fù)合、有機(jī)/無機(jī)與生命體復(fù)合和納米結(jié)構(gòu)材料方向發(fā)展。作為科學(xué)領(lǐng)域研究的核心之一，科學(xué)家對光電器件和材料的研究從未停止。近年來，柔性顯示屏、電子皮膚、有機(jī)電致發(fā)光器件（OLED）、有機(jī)光伏器件（OPV）、有機(jī)場效應(yīng)晶體管（OFET）和金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)管（MOSFET）均取得突破性進(jìn)展。在光電器件和材料的研究和應(yīng)用中，電性能表征是關(guān)鍵性的環(huán)節(jié)之一。實施分立器件特性參數(shù)分析的Z佳工具就是數(shù)字源表。數(shù)字源表作為獨立的電壓源或電流源,可輸出恒壓、恒流、或者脈沖信號,還可以當(dāng)作表,進(jìn)行電壓或者電流測量;支持Trig觸發(fā),可實現(xiàn)多臺儀表聯(lián)動工作;針對光電器件單個樣品測試以及多樣品驗證測試,可直接通過單臺數(shù)字源表、多臺數(shù)字源表或插卡式源表搭建完整的測試方案。普賽斯“五合一”高精度數(shù)字源表（SMU）可為高?？蒲泄ぷ髡?、器件測試工程師及功率模塊設(shè)計工程師提供測量所需的工具。不論使用者對源表、電橋、曲線跟蹤儀、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀或示波器是否熟悉，都能簡單而迅速地得到精確的結(jié)果