- 2025-01-10 17:02:53FIB SEM
- FIB SEM,即聚焦離子束掃描電子顯微鏡,是一種集聚焦離子束刻蝕(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)功能于一體的高端分析儀器。它利用聚焦的高能離子束對樣品進(jìn)行微納加工,如切割、沉積和刻蝕等,同時可通過SEM觀察樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)特征。FIB SEM在材料科學(xué)、半導(dǎo)體研究、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用,可實現(xiàn)高精度的樣品制備和原位分析,為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供強(qiáng)大的技術(shù)支持。
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