- 2025-01-10 10:50:40X射線光電子能譜分析儀
- X射線光電子能譜分析儀（XPS）是一種表面分析技術(shù)，利用X射線照射樣品表面，激發(fā)原子內(nèi)層電子或價電子發(fā)射出來，通過測量這些光電子的能量分布，獲得樣品表面的元素組成、化學態(tài)及電子結(jié)構(gòu)等信息。它具有高靈敏度、高分辨率及非破壞性等特點，廣泛應(yīng)用于材料科學、化學、物理、生物、環(huán)境科學等領(lǐng)域，是研究材料表面性質(zhì)的重要工具。XPS可分析除H、He以外的所有元素，對樣品表面污染、氧化等變化也非常敏感。
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