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2025-01-21 09:33:05無掩膜直寫
無掩膜直寫是一種無需傳統(tǒng)掩膜版的光刻技術(shù)，它利用直接控制的光束（如激光）在樣品表面進行圖案化曝光。其基本原理是通過精密的光學系統(tǒng)，將設(shè)計好的圖案直接轉(zhuǎn)化為光束的開關(guān)狀態(tài)，從而在樣品上精確刻寫所需的微納結(jié)構(gòu)。無掩膜直寫廣泛應(yīng)用于微納制造、半導體加工、生物芯片等領(lǐng)域，具有靈活性高、加工速度快、成本低等優(yōu)勢。

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2023-06-14 16:49:45無掩膜直寫光刻系統(tǒng)助力二維材料異質(zhì)結(jié)構(gòu)電輸運性能研究，意大利
期刊：ACS NanoIF：18.027文章鏈接: https://doi.org/10.1021/acsnano.1c09131 【引言】      MoS2是一種典型的二維材料，也是電子器件的重要組成部分。研究者發(fā)現(xiàn)，當MoS2與石墨烯接觸會產(chǎn)生van der Waals作用，使之具有良好的電學特性，可廣泛應(yīng)用于各類柔性電子器件、光電器件、傳感器件的研究。然而，MoS2-石墨烯異質(zhì)結(jié)構(gòu)背后的電輸運機理尚不明確。這主要是因為傳統(tǒng)器件只有兩個接觸點，不能將MoS2-石墨烯異質(zhì)結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的電學輸運特性與二維材料自身的電學特性所區(qū)分。此外，電荷轉(zhuǎn)移、應(yīng)變、電荷在缺陷處被俘獲等因素也會對器件的電輸運性能產(chǎn)生影響，進一步提高了相關(guān)研究的難度。盡管已有很多文獻報道MoS2-石墨烯異質(zhì)結(jié)構(gòu)的電輸運性能，但這些研究主要基于理論計算，缺乏對MoS2-石墨烯異質(zhì)結(jié)構(gòu)的電輸運性能在場效應(yīng)器件中的實驗研究。 【成果簡介】     2021年，意大利比薩大學Ciampalini教授課題組利用小型臺式無掩膜直寫光刻系統(tǒng)- MicroWriter ML3 制備出基于MoS2-石墨烯異質(zhì)結(jié)構(gòu)的多場效應(yīng)管器件，在場效應(yīng)管器件中直接測量了MoS2-石墨烯異質(zhì)結(jié)構(gòu)的電輸運特性。通過比較MoS2的跨導曲線和石墨烯的電流電壓特性，發(fā)現(xiàn)在n通道的跨導輸運被抑制，這一現(xiàn)象明顯不同于傳統(tǒng)對場效應(yīng)的認知。借助第一性原理計算發(fā)現(xiàn)這一獨特的輸運抑制現(xiàn)象與硫空位相關(guān)。     本文中所使用的小型臺式無掩膜直寫光刻系統(tǒng)- MicroWriter ML3無需掩膜版，可在光刻膠上直接曝光繪出所要的圖案。設(shè)備采用集成化設(shè)計，全自動控制，可靠性高，操作簡便，同時其還具備結(jié)構(gòu)緊湊（70cm X 70cm X 70cm）、高直寫速度，高分辨率（XY：
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2023-06-29 10:11:54無掩膜直寫光刻系統(tǒng)助力二維材料異質(zhì)結(jié)構(gòu)電輸運性能研究，意大利科學家揭秘其機理！
期刊：ACS NanoIF：18.027文章鏈接: https://doi.org/10.1021/acsnano.1c09131引言MoS2是一種典型的二維材料，也是電子器件的重要組成部分。研究者發(fā)現(xiàn)，當MoS2與石墨烯接觸會產(chǎn)生van der Waals作用，使之具有良好的電學特性，可廣泛應(yīng)用于各類柔性電子器件、光電器件、傳感器件的研究。然而，MoS2-石墨烯異質(zhì)結(jié)構(gòu)背后的電輸運機理尚不明確。這主要是因為傳統(tǒng)器件只有兩個接觸點，不能將MoS2-石墨烯異質(zhì)結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的電學輸運特性與二維材料自身的電學特性所區(qū)分。此外，電荷轉(zhuǎn)移、應(yīng)變、電荷在缺陷處被俘獲等因素也會對器件的電輸運性能產(chǎn)生影響，進一步提高了相關(guān)研究的難度。盡管已有很多文獻報道MoS2-石墨烯異質(zhì)結(jié)構(gòu)的電輸運性能，但這些研究主要基于理論計算，缺乏對MoS2-石墨烯異質(zhì)結(jié)構(gòu)的電輸運性能在場效應(yīng)器件中的實驗研究。成果簡介2021年，意大利比薩大學Ciampalini教授課題組利用小型臺式無掩膜直寫光刻系統(tǒng)- MicroWriter ML3 制備出基于MoS2-石墨烯異質(zhì)結(jié)構(gòu)的多場效應(yīng)管器件，在場效應(yīng)管器件中直接測量了MoS2-石墨烯異質(zhì)結(jié)構(gòu)的電輸運特性。通過比較MoS2的跨導曲線和石墨烯的電流電壓特性，發(fā)現(xiàn)在n通道的跨導輸運被抑 制，這一現(xiàn)象明顯不同于傳統(tǒng)對場效應(yīng)的認知。借助第 一性原理計算發(fā)現(xiàn)這一獨特的輸運抑 制現(xiàn)象與硫空位相關(guān)。本文中所使用的小型臺式無掩膜直寫光刻系統(tǒng)- MicroWriter ML3無需掩膜版，可在光刻膠上直接曝光繪出所要的圖案。設(shè)備采用集成化設(shè)計，全自動控制，可靠性高，操作簡便，同時其還具備結(jié)構(gòu)緊湊（70cm X 70cm X 70cm）、高直寫速度，高分辨率（XY：
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2019-10-18 10:47:51小型無掩膜光刻直寫系統(tǒng)（MicroWriter）
    小型臺式無掩膜光刻直寫系統(tǒng)（MicroWriter ML3）是英國Durham Magneto Optics公司專為實驗室設(shè)計開發(fā)，為微流控、MEMS、半導體、自旋電子學等研究領(lǐng)域提供方便GX的微加工方案。傳統(tǒng)的光刻工藝中所使用的鉻玻璃掩膜板需要由專業(yè)供應(yīng)商提供，但是在研發(fā)環(huán)境中，掩膜板的設(shè)計通常需要經(jīng)常改變。無掩膜光刻技術(shù)通過以軟件設(shè)計電子掩膜板的方法，克服了這一問題。與通過物理掩膜板進行光照的傳統(tǒng)工藝不同，激光直寫是通過電腦控制DMD微鏡矩陣開關(guān)，經(jīng)過光學系統(tǒng)調(diào)制，在光刻膠上直接曝光繪出所要的圖案。同時其還具備結(jié)構(gòu)緊湊（70cm X 70cm X 70cm）、高直寫速度，高分辨率（XY：圖8. CsPbBr3 PNC/monolayer MoS2異質(zhì)結(jié)光電器件的制備流程，紅色框所示為利用無掩膜激光直寫系統(tǒng)（MicroWriter）所制備電極結(jié)構(gòu)示意 圖9. （左）利用MicroWriter制備的MoS2基器件的I-V特性曲線，其中所示單層MoS2形貌及表面電極；（右）MicroWriter虛擬掩膜功能（VMA）結(jié)果示意
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2025-01-09 12:45:13玻璃膜熱傳導測試儀怎么用
玻璃膜熱傳導測試儀怎么用：全面解析與操作指南 玻璃膜熱傳導測試儀是一種專業(yè)的測量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于玻璃材料以及其他薄膜材料的熱傳導性能測試。隨著科技的不斷發(fā)展，玻璃膜在建筑、汽車、電子產(chǎn)品等領(lǐng)域得到了越來越廣泛的應(yīng)用。為了確保其在不同環(huán)境下的表現(xiàn)，測試其熱傳導性能成為了至關(guān)重要的一環(huán)。本文將詳細介紹玻璃膜熱傳導測試儀的使用方法，幫助您理解如何正確操作這一設(shè)備，以獲得準確的測試結(jié)果。 玻璃膜熱傳導測試儀的基本結(jié)構(gòu)與原理 玻璃膜熱傳導測試儀的主要功能是測定薄膜材料的熱導率。它通常由溫度傳感器、加熱裝置、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)等幾個部分組成。測試原理基于熱傳導的基本定律，通過加熱玻璃膜的一個表面，監(jiān)測另一表面的溫度變化，進而計算出熱導率。設(shè)備的準確性和穩(wěn)定性是保證測試結(jié)果可靠性的關(guān)鍵因素。 如何使用玻璃膜熱傳導測試儀 準備工作 在使用玻璃膜熱傳導測試儀之前，首先要確認設(shè)備的校準情況。確保傳感器、加熱模塊和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)正常工作。然后，選擇合適的玻璃膜樣品，清潔其表面以避免污染物影響測試結(jié)果。 安裝樣品 將玻璃膜樣品安裝在測試儀的測試平臺上。樣品的位置需要固定，避免在測試過程中發(fā)生位移。通常測試儀會提供一對加熱和冷卻設(shè)備，用于模擬不同的溫度差，確保熱量傳導的測試環(huán)境準確。 設(shè)置測試參數(shù) 根據(jù)需要測試的材料和實驗條件，設(shè)置相應(yīng)的測試參數(shù)。這包括設(shè)定初始溫度、加熱時間、溫度梯度等。在設(shè)置過程中要特別注意溫度的均勻性，以確保測試結(jié)果的準確性。 啟動測試 啟動測試程序后，測試儀將開始加熱樣品，并實時監(jiān)控另一側(cè)的溫度變化。根據(jù)測試儀的類型，數(shù)據(jù)可能會實時顯示在設(shè)備的屏幕上，或者通過軟件進行記錄。部分高端設(shè)備還提供自動分析功能，直接給出熱導率的數(shù)值。 數(shù)據(jù)分析與結(jié)果輸出 測試完成后，可以通過設(shè)備的內(nèi)置軟件對數(shù)據(jù)進行進一步分析。通常，熱導率的結(jié)果會以數(shù)值的形式輸出，您可以根據(jù)這些數(shù)據(jù)評估玻璃膜的熱導性能。部分設(shè)備還會生成測試報告，方便存檔和對比分析。 玻璃膜熱傳導測試的注意事項 在使用玻璃膜熱傳導測試儀時，有幾個關(guān)鍵的注意事項需要特別關(guān)注： 樣品選擇：確保樣品的厚度和表面狀況符合測試要求。表面不平整或有氣泡的樣品可能導致誤差。 環(huán)境溫度：測試過程中，環(huán)境溫度的變化可能影響測試結(jié)果，最好在穩(wěn)定的環(huán)境下進行測試。 設(shè)備校準：定期對測試儀進行校準，確保測試數(shù)據(jù)的準確性。 結(jié)論 玻璃膜熱傳導測試儀在現(xiàn)代工業(yè)中具有重要的應(yīng)用價值，能夠精確評估玻璃膜等薄膜材料的熱傳導性能。正確使用該設(shè)備，不僅能夠提高測試效率，還能為材料性能優(yōu)化提供科學依據(jù)。掌握設(shè)備的使用方法和操作技巧，對于專業(yè)人員在進行熱傳導測試時至關(guān)重要。
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2025-03-11 13:30:14膜片式壓力表參數(shù)有哪些？
膜片式壓力表參數(shù) 膜片式壓力表是一種常見的壓力測量儀器，廣泛應(yīng)用于工業(yè)、化工、食品加工等多個領(lǐng)域。其通過測量膜片的變形來判斷被測介質(zhì)的壓力大小。為了確保膜片式壓力表的準確性與穩(wěn)定性，選擇合適的參數(shù)至關(guān)重要。本文將詳細介紹膜片式壓力表的關(guān)鍵參數(shù)及其對測量結(jié)果的影響，幫助用戶在實際應(yīng)用中做出科學合理的選擇。 一、膜片式壓力表的工作原理與特點 膜片式壓力表的核心部分是一個彈性膜片，這個膜片安裝在壓力表的測量腔內(nèi)，當外部壓力作用于膜片時，膜片會發(fā)生一定的變形。這個變形通過杠桿機構(gòu)轉(zhuǎn)換成機械指針的位移，顯示在表盤上。膜片式壓力表具有響應(yīng)靈敏、結(jié)構(gòu)簡單、適應(yīng)性強等特點，尤其適用于低壓、密閉環(huán)境下的壓力測量。 二、膜片式壓力表的主要參數(shù) 量程范圍 量程是壓力表基本的參數(shù)之一，表示壓力表能夠測量的壓力范圍。膜片式壓力表的量程通常從幾百Pa到數(shù)百兆帕不等。用戶在選擇時需要根據(jù)實際測量的壓力范圍選擇合適的量程，過大的量程可能導致測量誤差，過小的量程可能導致無法承受較高壓力。 精度等級 精度等級是評定壓力表測量精度的重要指標。一般情況下，膜片式壓力表的精度等級為1.0、1.6、2.5等，精度等級越小，表示壓力表的測量誤差越小。選購時，應(yīng)根據(jù)實際測量要求和精度需求來選擇適合的精度等級。 接液材料 膜片式壓力表的接液部分直接與被測介質(zhì)接觸，因此接液材料的選擇非常關(guān)鍵。常見的接液材料有不銹鋼、銅合金、鋁合金等。對于腐蝕性較強的介質(zhì)，應(yīng)選擇耐腐蝕性較好的材料，確保長期使用中的穩(wěn)定性和準確性。 工作溫度 膜片式壓力表的工作溫度范圍通常在-20℃至+60℃之間，但具體范圍可能會根據(jù)不同型號有所不同。過高或過低的溫度會影響膜片的變形程度，進而影響測量精度。因此，在極端溫度環(huán)境下使用時，必須選擇具有特殊耐溫性能的膜片式壓力表。 連接方式 膜片式壓力表的連接方式可以分為多種類型，如螺紋連接、法蘭連接等。選擇合適的連接方式需要考慮安裝環(huán)境和介質(zhì)的特點。例如，在高溫高壓環(huán)境下，法蘭連接通常更為牢固可靠。 三、膜片式壓力表的應(yīng)用與選擇要點 在實際應(yīng)用中，膜片式壓力表廣泛用于測量液體、氣體等介質(zhì)的壓力。其設(shè)計適應(yīng)性強，特別適合用于具有低壓、脈動壓力、低粘度等特性的介質(zhì)測量。選擇膜片式壓力表時，首先要根據(jù)測量介質(zhì)的特性、工作環(huán)境的溫度及壓力范圍來確定合適的參數(shù)，并且確保壓力表的精度和穩(wěn)定性能夠滿足生產(chǎn)需求。 四、結(jié)論 膜片式壓力表作為一種重要的壓力測量工具，其參數(shù)的選擇直接影響到測量結(jié)果的準確性與穩(wěn)定性。在選擇時，必須充分考慮量程、精度、接液材料、工作溫度等因素。通過科學合理的選擇，可以確保膜片式壓力表在實際應(yīng)用中的佳性能。
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