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2025-02-28 18:58:17上海滬助科研圈
上海滬助科研圈是一個專注于科研服務(wù)與交流的平臺,致力于為上海的科研人員提供全面的科研支持。該平臺涵蓋科研儀器租賃、實(shí)驗(yàn)技術(shù)服務(wù)、科研項(xiàng)目合作等多個方面,旨在促進(jìn)科研資源共享與合作。通過滬助科研圈,科研人員可以更加便捷地獲取所需資源,提高科研效率。同時(shí),平臺還定期舉辦學(xué)術(shù)交流活動,為科研人員搭建互動與學(xué)習(xí)的橋梁,推動科研創(chuàng)新與進(jìn)步。

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CFM-500EC上海長方科研倒置熒光顯微鏡
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CFM-550EC/CFM-550ZD上海長方科研
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XSP-18CD上海長方科研倒置數(shù)碼生物顯微鏡
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CMM-70EC上海長方科研正置金相顯微鏡
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上海滬析 微孔板熱封儀 HBF-1200
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上海希言科學(xué)儀器有限公司

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2023-06-13 14:52:29【上海滬敖】移動計(jì)量室 ZEISS T-SCAN
您的移動計(jì)量室-Zeiss T-scan模塊化T-SCAN系統(tǒng)助力實(shí)現(xiàn)快速檢測:系統(tǒng)即刻捕捉零件三維數(shù)據(jù),無需任何準(zhǔn)備工作。手持式T-SCAN激光掃描儀與光學(xué)跟蹤系統(tǒng)T-TRACK,T-POINT接觸式探針完 美結(jié)合,形成一套直觀且高精度的三維計(jì)量解決方案。搭配GOM Inspect Suite軟件套裝,突破了其在三坐標(biāo)測量技術(shù)領(lǐng)域的新高度。模塊一體化概念模塊一體化概念和完整的激光掃描儀解決方案為各種應(yīng)用和表面檢測提供極高的靈活性。及時(shí)發(fā)現(xiàn)偏差省時(shí)省錢:該移動式測量解決方案可作用于車間現(xiàn)場,帶來直觀的零件分析,測量以及數(shù)模建立。用戶引導(dǎo)性的軟件工作流程T-SCAN系統(tǒng)現(xiàn)與GOM?Inspect?Suite軟件套裝結(jié)合。用戶可在視察器上實(shí)時(shí)查看掃描進(jìn)度,并在掃描,探針探測和檢測過程中獲得軟件操作提示。移動式測量系統(tǒng) 兩種適配選擇數(shù)據(jù)輕松捕獲手持式激光掃描儀-ZEISS T-SCANT-SCAN掃描儀可進(jìn)行快速,直觀的三維數(shù)據(jù)采集。手持式設(shè)計(jì)符合人體工學(xué),掃描輕松不費(fèi)力。測頭輕巧,結(jié)構(gòu)緊湊,尤其適用于可及性非常差的零件部位的數(shù)據(jù)采集多尺寸測量ZEISS TTRACK 20蔡司T-TRACK20的測量體積可達(dá)20m3。單次設(shè)置即可測量大至4m的零件。上手容易,您可以高效,準(zhǔn)確,快速的采集到三維數(shù)據(jù)。只需將零件放入其跟蹤體積范圍內(nèi),即可進(jìn)行測量,無需準(zhǔn)備參考點(diǎn)。可追溯的精度確保數(shù)據(jù)重復(fù)性和可靠性。高精度測量ZEISS TTRACK 10全新T-TRACK 10光學(xué)跟蹤系統(tǒng)的測量體積可達(dá)10m3。與T-SCAN 10結(jié)合,只需進(jìn)行一次設(shè)置,就可以測量長達(dá)2.5m的零件。配備高品質(zhì)的蔡司光學(xué)元件,尤其適用于對精度有高要求的工業(yè)應(yīng)用??勺匪莸木却_保數(shù)據(jù)重復(fù)性和可靠性。快速單點(diǎn)測量ZEISS T-POINT蔡司T-POINT接觸式探針是對物體標(biāo)準(zhǔn)幾何形狀,切邊區(qū)域,以及光測量手段難以進(jìn)入的死角區(qū)域進(jìn)行單點(diǎn)測量的理想解決方案。它可以快速,穩(wěn)定地采集到目標(biāo)位置的三維數(shù)據(jù)。該設(shè)備可以與傳統(tǒng)的測量探針一起使用,更換起來方便快捷。擴(kuò)展您的測量體積ZEISS T-SCAN SMTs通過使用T-SCAN SMT(球形標(biāo)靶),您可以進(jìn)一步擴(kuò)展測量體積,甚至結(jié)合多個蔡司T-SCAN系統(tǒng)使用。當(dāng)被測零件尺寸過大,或者表面形狀阻礙激光投影時(shí),您可以將這個方便的多位置跟蹤器安裝到物體上,從而獲得精度一致的三維數(shù)據(jù)。高過程可靠性GOM Inspect SuiteGOM Inspect Suite擁有成熟的三維計(jì)量體系標(biāo)準(zhǔn)。蔡司T-SCAN 目前與GOM Inspect Suite多合一軟件解決方案實(shí)現(xiàn)同步結(jié)合。測量和檢測均可以在軟件中執(zhí)行,全參數(shù)化的工作流程確保所有過程步驟的可追溯性。此外軟件提供用戶操作指引,可輔助用戶進(jìn)行掃描和探測,從而簡化并加快工作流程。技術(shù)參數(shù)ZEISS T-SCAN 手持式激光掃描儀測量深度+/- 50 mm線寬至 125 mm工作距離150 mm線頻率至 330 Hz數(shù)據(jù)速率210,000 測點(diǎn)/秒重量1100 g測頭尺寸(包括把手和IR pins)300 x 170 x 150 mm纜線長度10 m點(diǎn)間距0.075 mm激光等級 (IEC 60825-1:2014)Class 2M (人眼安全)軟件GOM Inspect SuiteT-SCAN 10產(chǎn)品型號T-SCAN 10測量距離: 測量物到相機(jī)距離2.0 m – 4.50 m測量體積10 m3掃描視場最 大 2894 mm x 2324 mm測量速率最快 2.8 kHz重量18.5 kg尺寸1150 x 180 x 150 mm軟件GOM Inspect Suite精度可溯源是精確度 33+(33*L/1000)T-SCAN 20產(chǎn)品型號T-SCAN 20測量距離: 測量物到相機(jī)距離2.0 m – 6.0 m測量體積20 m3掃描視場最大 3200 mm x 2500 mm測量速率最快 2.8 kHz重量18.5 kg尺寸1150 x 180 x 150 mm軟件GOM Inspect Suite精度可溯源是精確度 40+(40*L/1000)
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2023-06-07 17:21:08【上海滬敖3D】NavVis VLX穿戴式三維掃描系統(tǒng)
NavVis VLX是一款專為激光掃描和AEC專業(yè)人員設(shè)計(jì)的,即使在最復(fù)雜的建筑地形也能實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量現(xiàn)實(shí)捕捉的移動掃描系統(tǒng)。01動態(tài)掃描產(chǎn)品通用性解決您最迫切的需求。NavVis VLX 第二代的掃描速度比架站儀快至10倍,可以很好的處理光線條件不佳的各種復(fù)雜室內(nèi)空間或室外及建筑工地等環(huán)境所遇到的問題。02極高的精度為了獲得超越行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的精度,NavVis VLX采用了首屈一指的精密 SLAM 技術(shù)。03一體化現(xiàn)實(shí)捕獲兩個多層 LiDAR傳感器采集 3D 測量數(shù)據(jù),并結(jié)合行業(yè)領(lǐng)先的 SLAM 算法軟件,生成測繪級質(zhì)量的點(diǎn)云。設(shè)備頂部裝有四個攝像頭,用于360o全方位拍攝高分率的畫面,確保無拍攝死角的同時(shí)保證使用者不出現(xiàn)在畫面中。04掃描現(xiàn)場的實(shí)時(shí)反饋通過內(nèi)置的觸屏式交互界面實(shí)時(shí)監(jiān)控您的掃描進(jìn)度,以確保在您移動時(shí)掃描的完全覆蓋。05精度與人體工程學(xué)想結(jié)合一款首 創(chuàng)的可穿戴設(shè)備,使操作人員能夠以行走的速度舒適地進(jìn)行掃描。面向前方的設(shè)計(jì)使之可以有針對性得掃描,內(nèi)置的屏幕也使觀察角度最 佳化。06地理位置登記NavVis VLX 可與現(xiàn)場的標(biāo)準(zhǔn)工具完全兼容。它可以捕獲由全站儀和GNSS漫游器測量的本地站點(diǎn)坐標(biāo)系統(tǒng)中的控制點(diǎn),還支持全 球各地的坐標(biāo),以便對數(shù)據(jù)集進(jìn)行精確的地理登記 和校準(zhǔn)。07折疊式設(shè)計(jì)獨(dú)特的鉸鏈?zhǔn)皆O(shè)計(jì)使之可以折疊起來,裝入一個保護(hù)箱中, 讓單個操作員能夠輕松地運(yùn)輸和配置。08測繪級別的點(diǎn)云NavVis 系統(tǒng)軟件使用獨(dú)特的 SLAM 算法,專為克服用移動系統(tǒng)采集高質(zhì)量點(diǎn)云這一挑戰(zhàn)而研發(fā)。 保留原始細(xì)節(jié) 點(diǎn)云表面重建保留了細(xì)節(jié),同時(shí)消除了噪點(diǎn),以便更有效地用 于2D繪圖和3D模型。 高度逼真的紋理 彩色和紋理逼真的精細(xì)點(diǎn)云。 檢測和移除動態(tài)對象 在掃描過程中移動的物體會被自動檢測并在后期數(shù)據(jù)處理過 程中從點(diǎn)云中移除 ,從而節(jié)省人力工作。 強(qiáng)大的SLAM  算法可以準(zhǔn)確地捕捉到整個建筑,包括外墻和周圍環(huán)境Navvis現(xiàn)實(shí)捕捉解決方案總而言之,NavVis VLX 和 NavVis IVION Core(標(biāo)準(zhǔn)版) 為建筑環(huán)境提供了完整的移動掃描解決方案,讓您對數(shù)字建 筑的訪問不受地理位置的限制。利用 NavVis IVION Cloud  Processing Add-on(云處理插件),將您的處理工作流程推 至新的高度。NavVis IVION Core(標(biāo)準(zhǔn)版)NavVis IVION Core(標(biāo)準(zhǔn)版)是一個適用于激光掃描和  AEC 專業(yè)人員的現(xiàn)實(shí)捕捉平臺。它使用直觀的工具管理您的3D掃描,用于創(chuàng)建、協(xié)作和發(fā)布項(xiàng)目。NavVis IVION Cloud Processing add-on(云處理插件)使用NavVis IVION Cloud Processing Add-on(云處理插件)時(shí),您可以在任何有網(wǎng)絡(luò)連接的地方處理NavVis設(shè)備所采集的掃描數(shù)據(jù)??稍诂F(xiàn)場輕松設(shè)置并開始處理多個數(shù)據(jù)集,當(dāng)您回到辦公室時(shí)即可使用。
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2022-11-08 10:42:05貼息貸款助科研,“空中實(shí)驗(yàn)室”帶您近距離了解高端質(zhì)譜
為進(jìn)一步提升科研實(shí)力,國家新推出貼息貸款政策,以支持高校、職業(yè)院校、醫(yī)院、中小微企業(yè)等領(lǐng)域的設(shè)備購置和更新改造。但當(dāng)下,以下問題是否一直在困擾著您:如何快速了解高端科研設(shè)備?它們有什么特點(diǎn)?能做哪些方面的應(yīng)用?又有哪些科學(xué)家用它做出了新成果?現(xiàn)在,沃特世特別推出“走進(jìn)空中實(shí)驗(yàn)室 — 近距離了解高端質(zhì)譜,探究科研無限可能” 系列活動,沃特世國內(nèi)外資 深應(yīng)用工程師將為您一一解答! 掃描上方二維碼報(bào)名講座系列一玩轉(zhuǎn)環(huán)形離子淌度質(zhì)譜  — “Explore  What‘s Possible”連線時(shí)間:2022年11月10日(周四),14:00 - 15:00連線實(shí)驗(yàn)室嘉賓:Dale Cooper-Shepherd歐洲實(shí)驗(yàn)室首席成像專家袁銘上海實(shí)驗(yàn)室資深應(yīng)用專家連線實(shí)驗(yàn)室展示內(nèi)容:SELECT SERIES Cyclic IMS的結(jié)構(gòu)與特點(diǎn)使用環(huán)形離子淌度質(zhì)譜產(chǎn)品所做的應(yīng)用客戶使用體驗(yàn)、評價(jià)和成果系列二使用DESI體驗(yàn)清晰成像    — “Imaging Clarity with DESI XS”連線時(shí)間:2022年11月16日(周三),14:00 - 15:00連線實(shí)驗(yàn)室嘉賓:饒煒歐洲實(shí)驗(yàn)室首席成像專家楊青上海實(shí)驗(yàn)室資深應(yīng)用專家連線實(shí)驗(yàn)室展示內(nèi)容:DESI成像使用原理和方式使用DESI體驗(yàn)清晰成像產(chǎn)品所做的應(yīng)用DESI與Cyclic IMS淌度質(zhì)譜聯(lián)用時(shí)的效果系列三探究多反射超高分辨率質(zhì)譜  — “Deep Dive into MRT”連線時(shí)間:2022年11月23日(周三), 14:00 - 15:00連線實(shí)驗(yàn)室嘉賓:饒煒歐洲實(shí)驗(yàn)室首席成像專家許譯升北京實(shí)驗(yàn)室資深應(yīng)用專家   連線實(shí)驗(yàn)室展示內(nèi)容:MRT多反射超高分辨率質(zhì)譜的使用原理和方式使用多反射超高分辨率質(zhì)譜產(chǎn)品所做的應(yīng)用客戶使用體驗(yàn)、評價(jià)和成果
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2023-06-13 10:24:54【上海滬敖】新一代手持激光掃描系統(tǒng) ZEISS T-SCAN hawk 2 歡迎預(yù)約演示
新一代手持激光掃描系統(tǒng) ZEISS T-SCAN hawk 2快速、流暢的掃描功能。直觀的操作,引導(dǎo)式工作流程,強(qiáng)大的軟件。德國制造,ZEISS制造,為您量身打造。ZEISS T-SCAN hawk 2Take it. Make it.ZEISS開發(fā)和制造的手持式高精度系統(tǒng)新一代輕量級三維激光掃描儀——便攜式T-SCAN hawk 2,具有計(jì)量級精度和非凡的易用性。德國研發(fā)制造。驗(yàn)收測試已通過行業(yè)內(nèi)最 高標(biāo)準(zhǔn)的認(rèn)證。理想的工作距離通過全新的投影模式控制工作距離-紅色激光標(biāo)記可幫助您輕松調(diào)整,以得到理想的掃描結(jié)果。適應(yīng)您的工作流程的解決方案流程由您掌控——T-SCAN hawk 2操作直觀,可輕松適應(yīng)操作者的手部移動。使用全新的衛(wèi)星模式測量大型物體T-SCAN hawk 2是第 一款具有新型衛(wèi)星模式的便攜式激光掃描儀,可用于掃描高達(dá)數(shù)米的物體。無需通過編碼標(biāo)記點(diǎn)進(jìn)行攝影測量。不會損傷精度。使用新的激光網(wǎng)格輕松進(jìn)行掃描儀定位。用于三維檢測的一體化軟件T-SCAN hawk 2可與GOM Inspect配合使用,GOM Inspect是三維計(jì)量領(lǐng)域的公認(rèn)標(biāo)準(zhǔn),也是ZEISS Quality Suite的一部分。您可免費(fèi)試 用GOM Inspect Pro 14天。ZEISS逆向工程軟件CAD建模使用T-SCAN hawk 2掃描三維數(shù)據(jù),并將數(shù)據(jù)導(dǎo)入ZEISS Reverse Engineering 軟件,軟件將引導(dǎo)您進(jìn)行操作,只需幾步即可獲得高精度的CAD模型。系統(tǒng)認(rèn)證的參考標(biāo)Carl Zeiss GOM Metrology GmbH是光學(xué)計(jì)量領(lǐng)域的長度和坐標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)的認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室。每一臺 T-scan hawk 2 系統(tǒng)都提供了三份系統(tǒng)認(rèn)證報(bào)告,可追溯的長度標(biāo)準(zhǔn)報(bào)告和一個DAkkS校準(zhǔn)報(bào)告及可追溯的標(biāo)定板坐標(biāo)校準(zhǔn)報(bào)告。在不同任務(wù)之間切換T-SCAN hawk 2具有無縫調(diào)節(jié)分辨率和測量范圍的功能。無論是小型零件、精細(xì)細(xì)節(jié)、大型物體或深孔、還是在狹窄空間內(nèi)或者可觸及性差的區(qū)域,這款三維激光掃描儀均可勝任工作。按下按鈕即可操作T-SCAN hawk 2有四個按鈕,按下后可直接啟動并導(dǎo)航工作流程。無需通過筆記本電腦單獨(dú)操作點(diǎn)擊軟件。在高暗或高亮表面上也具有極 佳表現(xiàn)T-SCAN hawk 2適用于在各類材料和表面上進(jìn)行掃描,可提供最 高精度的三維測量數(shù)據(jù)。一切盡在掌握:出差攜帶方便無論您將三維激光掃描儀帶至生產(chǎn)現(xiàn)場還是在室外進(jìn)行掃描,您都只需要攜帶一個手提箱,手提箱內(nèi)同時(shí)配置了其它工具。適用于多種應(yīng)用場景無論是檢測缺陷、在生產(chǎn)區(qū)域進(jìn)行質(zhì)量控制或數(shù)字孿生、逆向工程、汽車設(shè)計(jì)或定制,T-SCAN hawk 2均可適用。技術(shù)參數(shù)歡迎預(yù)約演示......
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2022-11-21 11:57:31走進(jìn)上海實(shí)驗(yàn)室,真機(jī)測評助力科研選型
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