- 2025-01-10 10:49:53果漿封口機
- 果漿封口機是一種專門用于果漿等液體食品封口的自動化設(shè)備。其基本功能在于自動完成液體食品的灌裝、封口及輸出等工序,確保封口的整潔與密封性,避免液體外泄。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于食品生產(chǎn)、加工及包裝行業(yè),特別適用于果漿、果汁、醬料等液體食品的封口。果漿封口機具有操作簡便、封口速度快、封口效果好及適應(yīng)性強等特點,是提升食品包裝效率和質(zhì)量的關(guān)鍵設(shè)備。
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果漿封口機問答
- 2022-10-31 13:32:40如何有效區(qū)分果蔬的品質(zhì)呢?
- 隨著經(jīng)濟發(fā)展和生活水平的提高,人們對果蔬的品質(zhì)要求越來越高,果蔬的氣味與其新鮮度、成熟度以及貯藏時間等變化密切相關(guān)。電子鼻技術(shù)作為一種新興的智能仿生技術(shù),具有檢測速度快、識別效果好以及無損等優(yōu)點,被廣泛應(yīng)用于食品農(nóng)產(chǎn)品品質(zhì)評價中。德國AIRSENSE電子鼻PEN3是模擬人的嗅覺系統(tǒng)對樣品氣味進行分析,利用快速無損的手段對樣品品質(zhì)進行評價、判斷,給予樣品中揮發(fā)成分的整體信息,也稱“指紋”數(shù)據(jù)。通過建立模型運用歐式距離、馬氏距離、相關(guān)性等可以通過氣味對樣品進行聚類分析、未知樣品的判定和定量預測等。讓簡單快捷的好與不好的模式識別的判別分析思維在某些領(lǐng)域代替了復雜性成分分析方式。產(chǎn)品的特點是全部采用氣體傳感器的方法來分析樣品,并具有功能強大的分析軟件,被普遍被使用,并得到高度認可,成為企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量控制、科研機構(gòu)進行食品分析研究、質(zhì)檢系統(tǒng)進行樣品快速檢測的有利工具。#德國AIRSENSE 電子鼻 PEN3# PART 01#番茄#電子鼻區(qū)分不同成熟期的番茄風味特征樣品信息按堅實度指標對番茄成熟度進行重新分,將番茄按堅實度分為 3 個等級: F i > 0.95 MPa 的為半熟期 0.95 MPa ≥ F i ≥ 0.28 MPa 的為成熟期 F i < 0.28 MPa 的為完熟期結(jié)果分析圖4顯示了電子鼻的分析結(jié)果,PCA分析的總的貢獻率為98.88%,LDA分析的總的貢獻率為89.98%。從中可以看出,電子鼻可以區(qū)別不同成熟度番茄風味差異,采用PCA方法分析時,電子鼻可以100%地區(qū)分不同成熟度的番茄。因此電子鼻在果蔬成熟度評價上具有巨大的潛力。 PART 02#菠蘿#鮮切菠蘿儲藏方式對氣味的影響樣品信息對照組(CK):分割后不做任何處理,直接包裝;酸處理(A):1%檸檬酸溶液浸泡5min,自然風干后包裝;漂燙處理(B):75℃水中處理2min,自然風干后包裝;酸+漂燙處理(C):1%檸檬酸溶液浸泡2min,再置于75℃水中處理2min,自然風干后包裝;結(jié)果分析從圖2中虛線部分可以看出,不同貯藏天數(shù)的CK與酸+漂燙處理的揮發(fā)性成分區(qū)域幾乎無重疊部分,說明LDA分析方法能夠區(qū)分CK與酸+漂燙處理;同種處理響應(yīng)信號值的空間分布較為集中,說明同種處理在貯藏過程中的氣味成分在一定比例范圍內(nèi)變化。該方法處理后的菠蘿放置很多天氣味也不會發(fā)生太大的變化。 PART 03#藍莓#藍莓保鮮效果評估樣品信息不同劑量60Co-γ 輻照處理和新型包裝材料對貯藏期間藍莓果保鮮的影響。結(jié)果分析各處理組藍莓果實揮發(fā)性物質(zhì)互不交叉重疊,電子鼻基本能根據(jù)藍莓果實香氣將同一貯藏期、不同處理的藍莓區(qū)分開。貯藏20d時各處理組的響應(yīng)值沿PC1軸移動幅度較小,說明各處理組的果實在 20d貯藏期內(nèi)的氣味變化較小,能與其他樣品明顯區(qū)分。各處理組果實的傳感器響應(yīng)值沿PC1軸向右移動幅度均較大,說明其氣味變化較大。將保鮮盒與低劑量輻照處理結(jié)合可有效延長藍莓貯藏期并達到保持果實品質(zhì)的目的。PART 04#青椒#電子鼻對鮮切青椒品質(zhì)的分析樣品信息鮮切青椒冰箱冷藏:從上到下分別設(shè)置白色、紅色、藍色、綠色LED燈、無燈光(避光處理組)。結(jié)果分析各處理組在主成分1的投影具有一定區(qū)分度,其中新鮮樣品和避光處理組與其他各處理組均有明顯的差別,而藍光、綠光、紅光和白光處理組之間未有效區(qū)分。與藍光、綠光、紅光和白光處理組相比,避光處理樣品的香氣更加接近于新鮮樣品。因此,光照處理會引起鮮切青椒香氣的變化,而避光處理有利于維持青椒原有的香氣。
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- 2023-09-01 09:27:58拔插釘機 拔插膠釘機 充氦插釘機 包膜機 貼膜機 鋼珠封口機
- “東莞市雙仁機械設(shè)備科技有限公司”始創(chuàng)于2010年7月,是一家集研發(fā)、制造、服務(wù)于一體的專業(yè)鋰電池自動化生產(chǎn)設(shè)備的公司。 擁有方形鋁殼動力電池、軟包裝電池等系列生產(chǎn)設(shè)備的研發(fā)與制造能力。我們不僅僅制造設(shè)備,同時也專注于配合客戶對電池生產(chǎn)工藝的改進,協(xié)助客戶提高產(chǎn)品優(yōu)率和產(chǎn)能;我們的團隊擁有豐富的同行業(yè)實戰(zhàn)經(jīng)驗,對電池生產(chǎn)工序和生產(chǎn)設(shè)備有非常深刻的理解;希望我們的用心服務(wù)為您創(chuàng)造更高價值!主要產(chǎn)品有:全自動包膜機貼膜機/全自動鋼珠封口機 /全自動換釘線自動拔釘自動塞釘機/全自動膠釘封口機/全自動氦檢測漏機/PACK組裝線;“技術(shù)創(chuàng)新,永不止步;用心服務(wù),創(chuàng)造價值”是“我們雙仁”永恒的主題!
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- 2021-09-09 15:32:25供應(yīng)LS1206B水文測驗水利調(diào)查旋漿式流速儀
- 驗水文測驗、水利調(diào)查旋轉(zhuǎn)式流速儀是一種在水文測驗中進行流速測量的常規(guī)通用型儀器,用于江河、湖泊、水庫、水渠、等過水斷面中預定測點的時段平均流速的測量,亦可用于壓力管道以及某些科學實驗中進行流速測量。符合GB/T11826一2002《轉(zhuǎn)子式流速儀》等相關(guān)國家標準。廣泛適用于水文測驗、水利調(diào)查、農(nóng)田灌溉、徑流實驗等,亦可適用于水電、環(huán)保、礦山、交通、科研院所、市政等行業(yè)或部門進仔相關(guān)流速流量仔監(jiān)測。水文測驗、水利調(diào)查旋轉(zhuǎn)式流速儀主要技術(shù)性能參數(shù)1. 旋漿回轉(zhuǎn)直徑:70mm2. 理論水力螺距b:120mm3. 起轉(zhuǎn)速度:0.05m/s4. 測速范圍:0.06m/s-8m/s5. 輸出信號:開關(guān)接點通斷信號6. 信號數(shù)/轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)數(shù):2/1(每1轉(zhuǎn)2個信號)7. 工作水體溫度:水溫0℃-+40℃水深0.1m-30m懸移質(zhì)含沙量≤30kg/m38. 連續(xù)工作時間:≤8h水文測驗、水利調(diào)查旋轉(zhuǎn)式流速儀結(jié)構(gòu)工作原理旋轉(zhuǎn)式流速儀由旋轉(zhuǎn)、旋轉(zhuǎn)部件、支座、尾翼部件(固桿螺絲)、干簧管部件組成旋轉(zhuǎn)用于被動感受水流,在水流驅(qū)動作用力下,繞水平支承軸。旋轉(zhuǎn)部件由殼體及其內(nèi)部的轉(zhuǎn)子系統(tǒng)、動套支部件和壓帽等組成。用于在旋漿推動力下,產(chǎn)生一定的角速度,并激勵干簧管產(chǎn)生通斷信號。支座用于流速儀工作時的安裝和固定尾翼部件(產(chǎn)品選配件)用于流速儀工作時的定向。干簧管部件用于接受來自轉(zhuǎn)子系統(tǒng)的磁激勵,對外提供流速儀信號。流速儀工作時,旋漿受水流驅(qū)動產(chǎn)生回轉(zhuǎn),帶動旋轉(zhuǎn)部件的轉(zhuǎn)子部分同步旋轉(zhuǎn),安裝在轉(zhuǎn)子上的磁鋼激勵干簧管產(chǎn)生通斷信號。水文測驗、水利調(diào)查旋轉(zhuǎn)式流速儀使用注意事項:流速儀入水使用前應(yīng)進行簡單測試:1、對準旋漿迎水面輕緩而均勻地吹氣,旋漿應(yīng)能輕松也轉(zhuǎn),無卡頓現(xiàn)象2、用手快速撥轉(zhuǎn)旋漿,應(yīng)無急停現(xiàn)象。入水前,裸露的信號接線處應(yīng)用絕緣膠布或膠帶裹緊,以免影響信號的可靠性入水前,應(yīng)檢查流速儀安裝各環(huán)節(jié)是否穩(wěn)固流速儀提出水面時,為防止可能發(fā)生旋槳松脫現(xiàn)象,不可使旋漿迎水面背離流向(流速較大時尤其注意)
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- 2021-07-15 10:14:13CMP漿體粒徑分析:SPOS與費朗霍夫
- CMP漿體粒徑分析:SPOS與費朗霍夫 半導體行業(yè)正在朝著更小的線寬和更多的層的方向發(fā)展。邁向這種高密度芯片技術(shù)的重要的工藝考慮之一是對平面化步驟的更復雜的控制。拋光步驟受膠體分散金屬氧化物漿料(CMP,化學機械平面化的簡稱)的影響,主要是二氧化硅和氧化鋁,平均直徑在10nm-200nm范圍。這些漿料被用于放置晶圓片的旋轉(zhuǎn)拋光墊上。在過去,激光衍射常用來表征這些漿料的粒度分布。人們一直都知道,這些漿料中含有的體積百分比小于1微米的顆粒。這些顆粒會在晶圓片表面造成劃傷和其他缺陷。本文將證明,由于測量的性質(zhì),激光衍射法不足以定量測定不合規(guī)格的漿料顆粒的濃度。另一方面,單粒子光學粒度(SPOS)可對顆粒進行計數(shù),將被證明是表征CMP漿料的一個很好的工具。高密度集成電路制造中重要的工藝控制參數(shù)之一是拋光或平面化漿料的性能質(zhì)量。在光刻或沉淀步驟后,這些漿料用于產(chǎn)生二維表面。在拋光過程中,CMP漿料是否誘發(fā)晶圓缺陷是非常重要的。人們早就知道,缺陷是由大的不合規(guī)格的粒子引起的。其中一些異常值主要是漿料顆粒的聚集物,而另一些則是在使用過程中引入的污染物。首先考慮聚集方面,我們必須認識到膠體系統(tǒng)在熱力學上是不穩(wěn)定的。此外,不當?shù)幕旌匣驊?yīng)用剪切所帶來的化學變化也會加速漿料的分解。使問題更加復雜的是第二個方面,CMP漿料在使用之前和使用過程中都要經(jīng)過大量的處理。例如,某些漿料由幾個部分組成(化學部分和研磨部分),需要混合。硅漿通常以濃縮的形式出售,并在現(xiàn)場稀釋。在這些準備過程中,可能會有污染物進入漿料中。此外,漿料通常儲存在大容器中,拋光機從那里提取材料。在某些情況下,運輸箱被存儲在工廠其他地方,需要泵將漿料輸送到很遠的距離(30-50英尺)。泵送作用(剪切作用)可能使?jié){料聚集。漿料可以在距離上分離或離析將其帶到拋光機,改變材料的性能特性。在任何情況下,在漿料制備過程中,直到使用的地方,都有足夠的機會引入雜質(zhì),這可能會造成缺陷,以及各種環(huán)境,可能導致漿料變得不穩(wěn)定和隨著時間的推移聚集。因此,在平面化過程中的任何改進都需要對漿料拋光性能進行量化。明顯的方法應(yīng)該是檢測引起粒子的大缺陷的存在。在這個任務(wù)中,使用大量的顆粒大小測定技術(shù)似乎是明智的。一種常用的技術(shù)是激光衍射(LD)。激光衍射儀由于具有大的動態(tài)范圍和快速的測量時間而得到廣泛的應(yīng)用。但是激光衍射裝置有嚴重的局限性,這是它們所基于的原理所固有的。原因是激光衍射是一種集成技術(shù),需要一個相對復雜的數(shù)學算法來獲得粒徑分布(PSD)的近似表示。從適當濃度的樣品中獲得的信號是散射/衍射強度與角度的圖案。這種圖案是有許多粒子同時被激光光源照射而產(chǎn)生的,他們各自的散射/衍射光在每個探測元件上混合在一起。產(chǎn)生的圖案散射/衍射光線在每個探測器元件上混合在一起。由此產(chǎn)生的散射/衍射光強度與角度的關(guān)系不再像一個簡單的max和min的交替。整個檢測到的強度值(在時間上適當?shù)钠骄┍仨毐灰粋€適當?shù)臄?shù)學算法擬合,以便獲得一個合理的準確和可重現(xiàn)的潛在PSD估值。雖然激光衍射被認為是一種單一的方法,但事實上,它是基于費朗霍夫和米氏散射這兩個理論的結(jié)合。前者依賴于由衍射現(xiàn)象明顯引起的散射光強的圖案。利用合適的探測器單元空間陣列,在相對于前向激光束方向的一個相對較小的角度范圍內(nèi)檢測衍射光強度。理論上,在所有其他物理參數(shù)(如波長)固定的情況下,衍射光強度的max和min交替模式的角度范圍與球形粒子的直徑成反比。粒子越大,圖案就越小。然而,當顆粒直徑小于約2微米時,由于衍射現(xiàn)象而產(chǎn)生的周期性強度變化的空間格局不再存在。相反,起作用的機制是光散射。因此,為了獲得比這個費朗霍夫下限更小的粒子即使是中等可靠的尺寸信息,這幾乎包括了典型CMPS的整個總體分布,必須實施基于米氏散射理論的第二次測量。該理論描述了由于單個粒子內(nèi)不同點散射的單個光波的相互干擾而在較大角度下散射強度的變化。這種效應(yīng)導致散射強度與角度有關(guān),而散射強度與激光波長、粒子直徑和粒子折射率有關(guān)。此外,粒子吸收光的程度對散射強度隨角度的變化也有顯著影響。這個因素是由粒子折射率的陰影來解釋的。因此,用戶必須準備好提供漿料顆粒折射率的實分量和虛分量。ZH,為了有效,光散射儀器必須成功的將費朗霍夫和米氏散射理論分析的結(jié)果結(jié)合起來,以便為PDS產(chǎn)生準備可靠的結(jié)果,這些結(jié)果既包括物理區(qū)域,也包括理論。對于基于這兩種物理原理的儀器來說,要將兩種完全不同的物理現(xiàn)象的結(jié)果正確的結(jié)合在一起,是一項困難的技術(shù)挑戰(zhàn),而且很大程度上,尚未解決。當然,如果樣品的PSD相對簡單且表現(xiàn)良好,激光衍射可以相對有效地為CMP sully產(chǎn)生可靠的平均粒徑。對于穩(wěn)定的優(yōu)質(zhì)拋光液,通常滿足這一標準。(盡管我們將在下面的例子中看到這種假設(shè)嚴重失敗。)然而,在不穩(wěn)定的情況下,PSD往往不再是精確可靠的分析,通過光散射方法。相比之下,SPOS是一種基于光阻的單粒子計數(shù)器。通過計數(shù)粒子,SPOS可以提供無與倫比的分辨率和靈敏度的尺寸范圍,大多數(shù)缺陷引起的粒子被發(fā)現(xiàn)(見應(yīng)用說明156)。由于SPOS中的PSD是一次檢測一個粒子,因此它基本上不會受到類似激光衍射中獲得的PSD所表現(xiàn)出的不穩(wěn)定和假象的影響。SPOS允許人們獲得關(guān)于漿料顆粒區(qū)域的準確和可重復的定量信息。這是對漿料性能重要的區(qū)域。讓我們通過一些有代表性的數(shù)據(jù)來對比這兩種技術(shù)。圖1a包含了SPOS在兩種氧化鈰行漿料上得到的總體分析。眾所周知,這些漿料在穩(wěn)定性方面是有問題的,而且往往有大量的大顆粒。據(jù)觀察,漿料1是一種性能良好的漿料,而漿料2被制造商指定為平均直徑350nm。這些分布從1μm開始。正如預期的那樣,PSD類似于平滑衰減的尾巴。漿料2的尾部明顯比穩(wěn)定漿料的尾部寬。1.這與漿料更傾向于沉淀有關(guān)。圖1b包含了這些相同的體積加權(quán)分布。2.明顯比更穩(wěn)定的漿料的尾部更寬。這與更大的漿料傾向有關(guān),他們更清楚地強調(diào)了兩個樣本之間的差異。 對于漿料2,大于2微米的顆粒貢獻了相對較多的固體體積。此外,我們還可以從SPOS數(shù)據(jù)中計算出尾部粒子所貢獻體積的JD百分比。經(jīng)測定,對于漿料1,大于1μm的顆粒占0.25%,而漿料2占0.68%。這個數(shù)據(jù)再次支持了漿體2明顯聚集的觀察結(jié)果。需要注意的是,雖然每個樣品尾部的物理總量較小,但對比漿料性能的影響是顯著的。圖2包含了在相同的兩種氧化鈰漿料上通過激光衍射得到的體積加權(quán)PSD?;叵胂?,使用這種儀器的人必須輸入實際折射率和虛折射率。一般來說,大多數(shù)材料的真實折射率是已知的,但虛折射率不是。圖2a是實際折射率為1.65,需折射率為0.01i的計算結(jié)果,圖2b是虛折射率為0.10i的計算結(jié)果。兩組數(shù)據(jù)都是根據(jù)相同的散射光模式計算出來的??梢钥闯觯诿看斡嬎阒?,數(shù)據(jù)表明漿料2比漿料1的分布更廣,顆粒更大,正如預期的那樣。但這些數(shù)據(jù)仍然說明了從激光衍射中獲得準確定量信息的困難。首先,虛折射率的選擇使?jié){料1的平均直徑發(fā)生了10%的偏移,大大改變了漿料2的分布形狀,其次,漿料2的結(jié)果表明,固體體積的大部分(>70%)是由大于1μm的顆粒貢獻的。這是不可能的,它與重量分析的結(jié)果以及SPOS的結(jié)果相沖突,后者確定了漿料中大于1μm的顆粒的固體百分比小于1%。這個數(shù)據(jù)證明了上面的觀點,下一個圖包含的數(shù)據(jù)說明了激光衍射的另一個問題,它產(chǎn)生的偽影不能代表真正的顆粒大小。圖3顯示了超聲處理后漿料1的體積加權(quán)PSD?;叵胍幌拢闯晿悠返腜SD(圖2)由一個寬度相對較窄的單峰組成。在用浸入式聲波探頭進行20miao的聲波處理后,平均值移得更高,第二個峰值出現(xiàn)在35μm處,其中包含50%固體體積。單獨來看,這一數(shù)據(jù)表明聲波作用導致漿料聚集。這與預期的行為相反。預計聲波作用可以破壞弱結(jié)合的團聚體。圖4a包含看SPOS從同一樣本得到的數(shù)字加權(quán)PSD。同樣,只有尾巴被觀察到,沒有第二個峰在36μm的跡象被看到。比較大于1μm(0.23%)的顆粒在尾部的固體百分比,表明與未超聲處理的樣品沒有變化(0.25%)。圖4b為超聲處理后漿料2的容積加權(quán)SPOS數(shù)據(jù)。它與圖1中的未聲波處理的數(shù)據(jù)疊加在一起。很明顯,SPOS的結(jié)果在物理上更加真實。我們只能得出這樣的結(jié)論:圖3中的PSD是由散射光模式的反演產(chǎn)生的數(shù)學偽影造成的。這再次證明了使用激光衍射來預測漿料性能的危害。作為進一步的粒子,考慮圖5中的數(shù)據(jù)。這一數(shù)據(jù)是由硅基CMP獲得的,它比鈰氧化物漿料更常用。圖5a包含了兩種硅漿的SPOS尾數(shù)據(jù)(體積加權(quán)),從0.5微米開始。圖5a包含了兩種硅漿的SPOS尾數(shù)據(jù)(體積加權(quán)),從0.5微米開始。這些漿料的平均直徑被認為在0.10至0.15微米范圍內(nèi)??梢姡瑵{體A在2-20微米范圍內(nèi)的顆粒對體積的貢獻顯著,而漿體B沒有大于5微米的顆粒。圖5b包含了漿料a激光衍射得到的體積加權(quán)PSD(ID=1.08+0.10I),漿料B的PSD相同??梢钥闯?,它由一個ZX為0.15μm的單一對稱峰組成,但沒有大于1微米的粒子。這是一個合理的光散射結(jié)果,表明當樣品PSD較窄時,激光衍射可以獲得有用的平均直徑信息。但是,另一方面,這個圖再次說明了激光衍射靈敏度的缺乏。而SPOS可以看出這兩種硅漿的差異,激光衍射則不能。希望這些數(shù)據(jù)以及前面討論的數(shù)據(jù)說明了量化大的差異粒子的重要性,當這些異常粒子出現(xiàn)在CMP漿料中時,可能會導致缺陷和芯片良率降低。在處理器價格下跌的時候,即使是少量的產(chǎn)量也可以獲得顯著的經(jīng)濟回報。能做到這點的技術(shù)是SPOS。
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