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2026-03-27 11:47:28探針臺: 探針臺是一種用于電子器件測試的實驗裝置，通過探針與樣品接觸來測量其電性能。

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狂發(fā)Nature等頂刊！Lake Shore低溫探針臺，助力超越硅極限的二維晶體管革新

當(dāng)今科技迅猛發(fā)展，電子器件的小型化和性能提升是科研人員的極致追逐。其中，晶體管是當(dāng)代電子設(shè)備中不可或缺的核心組件，其尺寸微縮和性能提升直接關(guān)系到整個電子行業(yè)的進(jìn)步。

Quantum Design中國子公司 169
2024-09-10
Lake Shore低溫探針臺低溫探針臺探針臺
預(yù)算130萬元東南大學(xué)集成電路學(xué)院采購高低溫真空探針臺

東南大學(xué)集成電路學(xué)院高低溫真空探針臺采購項目招標(biāo)項目的潛在投標(biāo)人應(yīng)在登錄江蘇招采平臺（網(wǎng)址為：https://www.jsygjy.cn）獲取招標(biāo)文件，并于2025年08月01日 09點00分（北京

 ABC123 221
2025-07-14
高低溫真空探針臺
預(yù)算130萬元東南大學(xué)集成電路學(xué)院采購高低溫真空探針臺

東南大學(xué)集成電路學(xué)院高低溫真空探針臺采購項目招標(biāo)項目的潛在投標(biāo)人應(yīng)在登錄江蘇招采平臺（網(wǎng)址為：https://www.jsygjy.cn）獲取招標(biāo)文件，并于2025年09月16日 09點30分（北京

 ABC123 173
2025-08-26
高低溫真空探針臺
預(yù)算98萬元東南大學(xué)集成電路學(xué)院采購高低溫真空探針臺

東南大學(xué)集成電路學(xué)院高低溫真空探針臺采購項目招標(biāo)項目的潛在投標(biāo)人應(yīng)在江蘇省招標(biāo)中心有限公司（https://www.jstcc.cn/）、東南大學(xué)電子評標(biāo)系統(tǒng)（https://zbb.seu.edu

ABC123 989
2026-01-21
高低溫真空探針臺
預(yù)算45萬元東南大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院采購高低溫射頻探針臺

東南大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院高低溫射頻探針臺采購招標(biāo)項目的潛在投標(biāo)人應(yīng)在江蘇省南京市建鄴區(qū)云龍山路101號海協(xié)大廈2號樓2001室獲取招標(biāo)文件，并于2025年11月18日 09點30分（北京時間）前遞

 ABC123 229
2025-10-28
高低溫射頻探針臺

探針臺文章

高低溫探針臺

高低溫探針臺是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu)，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺（chuck）上，在顯微鏡配合下，X-Y移動器件，找到需要探測的位置。接下來測試人員通過旋轉(zhuǎn)高低溫探針臺探針座上的X-Y-Z的三

 北方華測（蘇州）測控技術(shù)有限公司 234
2024-11-14
高低溫探針臺 Huace-6S-高低溫探針臺探針臺
Lake Shore低溫探針臺助力一篇Nature子刊！錫基鈣鈦礦鐵電半導(dǎo)體研究取得重要進(jìn)展

Lake Shore低溫探針臺助力一篇Nature子刊！錫基鈣鈦礦鐵電半導(dǎo)體研究取得重要進(jìn)展

 Quantum Design中國子公司 194
2025-03-07
探針臺低溫探針臺高低溫探針臺
Lake Shore低溫探針臺選型指南！從先進(jìn)技術(shù)到全新應(yīng)用

 Quantum Design中國子公司 204
2024-07-25
探針臺低溫真空探針高低溫探針臺
SMU數(shù)字源表與探針臺連接示意圖及注意事項

數(shù)字源表SMU與探針臺組合用于半導(dǎo)體測試，連接需考慮線纜類型和探針選擇。測試時需注意探針臺接地、連接線接地、關(guān)閉光源，小電流測試加屏蔽罩，異面電極材料連接需注意Chuck盤平整度。

武漢普賽斯儀表有限公司 350
2024-10-29
SMU源表探針臺連接
藍(lán)岸探針臺M系列M-300特點

它在微納米樣品表征、器件探針連接、材料表面分析等場景中，提供穩(wěn)定、可重復(fù)的定位和高效的數(shù)據(jù)采集能力。

似空科學(xué)儀器（上海）有限公司 98
2025-12-16

探針臺產(chǎn)品

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: 手動探針臺 E6增強(qiáng)型手動探針臺; 國內(nèi) 上海; 面議; 上海納騰儀器有限公司
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: X系列半自動探針臺X12半自動探針臺; 國內(nèi) 上海; 面議; 上海納騰儀器有限公司
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: 手動探針臺 C12 C系列高低溫手動探針臺; 國內(nèi) 上海; 面議; 上海納騰儀器有限公司
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: 高低溫探針臺CG系列真空高低溫探針臺SCG; 國內(nèi) 上海; 面議; 上海納騰儀器有限公司
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: 探針臺 M系列小型探針臺 M4，M6 mini，M6; 國內(nèi) 上海; 面議; 上海納騰儀器有限公司
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探針臺問答

2023-07-31 16:55:12微電容單通道叉指電極真空探針臺用途介紹: 叉指微電極因其微小的電極間距結(jié)構(gòu)，可用于各種小型化傳感器。對于傳統(tǒng)分析檢測，包括色譜法、光譜法、質(zhì)譜等方法，大多都需要昂貴的儀器和多種操作步驟，使得許多實際問題仍面臨困難。開發(fā)高靈敏度、低成本、小型化的傳感器尤為重要。本文綜述了叉指微電極的研究進(jìn)展，介紹了基于叉指微電極的傳感器在各領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。小型真空探針臺鄭科探 KT-Z4019MRL4T是一款性高價比配置的真空高低溫探針臺。高溫400℃ 低-196℃ 測試噪聲小于5E-13A 可擴(kuò)展上下雙透視窗口用于光電測試可擴(kuò)展凹視鏡。公司致力于各類探針臺，（包括手動與自動探針臺、雙面探針臺、真空探針臺、）、顯微鏡成像、光電一體化的技術(shù)研發(fā)，擁有國內(nèi)專業(yè)的技術(shù)研發(fā)團(tuán)隊，在探針臺電學(xué)量測方面擁有近十年的經(jīng)驗團(tuán)隊。微電容單通道叉指電極探針臺微電容單通道叉指電極探針臺KT-Z4019MRL4T真空腔體類型高溫型室溫到400℃高低溫型室溫到400℃ 室溫到-196℃腔體材質(zhì)304不銹鋼 6061鋁合金可選腔體內(nèi)尺寸127mmX57mmX20mm腔體外尺寸150mmX80mmX32mm腔體重量不銹鋼材質(zhì) 約1.5KG 鋁合金材質(zhì) 約0.5KG腔體上視窗尺寸Φ42mm（可選配凹視窗用于減少窗口和樣品之間距離）腔體抽氣口KF16法蘭（其余接口規(guī)格可轉(zhuǎn)接）腔體真空測量口KF16法蘭（其余接口規(guī)格可轉(zhuǎn)接）腔體進(jìn)氣口6mm快擰或 6mm快插腔體冷卻方式腔體水冷+上蓋氣冷腔體水冷接口腔體正壓≤0.05MPa腔體真空度機(jī)械泵≤5Pa （5分鐘）分子泵≤5E-3Pa（30分鐘）樣品臺樣品臺材質(zhì)不銹鋼銀銅合金純銀塊銀銅合金純銀塊樣品臺尺寸26x26mm樣品臺加熱方式電阻加熱電阻加熱液氮制冷樣品臺-視窗距離11mm（可選配凹視窗用于減少窗口和樣品之間距離到6mm）樣品臺測溫傳感器PT100型熱電阻樣品臺溫度室溫到400℃室溫到400℃ 室溫到-196℃樣品臺測溫誤差±0.5℃樣品臺升溫速率高溫100℃/min 值低溫7℃/min溫控儀溫度顯示7寸人機(jī)界面溫控類型標(biāo)準(zhǔn)PID溫控 +自整定溫度分辨率0.1℃溫控精度±0.5℃溫度信號輸入類型PT100 （可選K S B型熱電偶）溫控輸出直流線性電源加熱直流線性電源加熱+液氮流速控制器輔助功能溫度數(shù)據(jù)采集并導(dǎo)出實時溫度曲線+歷史溫度曲線可擴(kuò)展真空讀數(shù)接口溫控器尺寸32cmX170cmX380cm溫控器重量約5.6KG探針電信號接頭配線轉(zhuǎn)接 BNC接頭 BNC三同軸接頭 SMA 接頭香蕉插頭線長1.2米電學(xué)性能絕緣電阻 ≥4000MΩ 介質(zhì)耐壓 ≤200V 電流噪聲 ≤10pA探針數(shù)量4探針（可擴(kuò)展5探針）探針材質(zhì)鍍金鎢針（其他材質(zhì)可選）探針尖10μm手動探針移動平臺X軸移動行程20mm ±10mm（需手動推動滑臺）X軸控制精度≥500μmR軸移動行程120° ±60°（需手動旋轉(zhuǎn)探針桿）R軸控制精度≥500μmZ軸移動行程2mm ±1mmZ軸控制精度≤50μm（需手動螺紋調(diào)節(jié)探針桿）

2023-07-29 15:20:25高低溫探針臺-解釋塞貝克系數(shù)測量原理及系數(shù): 塞貝克系數(shù)（Seebeck Coefficient）也稱為熱電偶效應(yīng)或Seebeck效應(yīng)，是指兩種不同導(dǎo)體（或半導(dǎo)體）材料在一定溫差下產(chǎn)生熱電動勢的現(xiàn)象。塞貝克系數(shù)是研究熱電材料（將熱能轉(zhuǎn)化為電能的材料）非常重要的一個參數(shù)，它用來衡量材料在一定溫差下產(chǎn)生的熱電壓。塞貝克系數(shù)的測量方法有很多種，其中一種常用的方法是恒流法。首先準(zhǔn)備一個熱電偶，它由兩種不同材料的導(dǎo)線組成。然后將熱電偶的其中一個節(jié)點保持在恒定的高溫T1，而另一個節(jié)點保持在低溫T2（不同于T1），使熱電偶產(chǎn)生熱電動勢（熱電壓）。通過測量恒流狀態(tài)下的電壓值V以及溫差ΔT，可以計算出塞貝克系數(shù)： S = V / ΔT。另外，還有一些其他的測量方法如閉環(huán)法、開路法等，各種方法都有其優(yōu)缺點，具體選擇哪種方法取決于實際的測試環(huán)境和需求。解釋塞貝克系數(shù)測量原理。塞貝克系數(shù)（也稱為Seebeck系數(shù)）是一個描述一個材料熱電效應(yīng)特性的參數(shù)，具體地說，它表示了一個材料中的電流與橫向溫差將產(chǎn)生的電壓之間的關(guān)系。測量塞貝克系數(shù)的原理主要基于Seebeck效應(yīng)。Seebeck效應(yīng)是指在一種導(dǎo)體材料中，當(dāng)兩個不同導(dǎo)體之間有一個溫差時，將產(chǎn)生一個電壓。測量塞貝克系數(shù)的實驗裝置通常包括以下部分：1. 絕熱材料底座：確保測試樣品的溫度穩(wěn)定。2. 樣品夾持器：保持測試樣品的固定。3. 加熱器：用于在樣品的一端創(chuàng)建溫差，從而在樣品中產(chǎn)生Seebeck電壓。4. 冷卻器：在樣品的另一端保持較低的溫度。5. 熱電偶：用于測量樣品兩端的溫差。6. 電壓測量儀器：用于測量生成的Seebeck電壓。在測量過程中，首先將測試樣品固定在夾持器中，然后通過在樣品的一端加熱和在另一端冷卻來創(chuàng)建穩(wěn)定的溫差。Seebeck電壓將在樣品兩端形成，然后可以使用電壓測量儀器將其測量出來。計算塞貝克系數(shù)所需的公式是： Seebeck系數(shù) = (產(chǎn)生的電壓) / (熱電偶測量的溫差) 通過測量此特定溫差下生成的Seebeck電壓，我們可以計算出材料的塞貝克系數(shù)。

2023-07-08 15:42:40真空高低溫探針臺用于傳感器半導(dǎo)體光電集成電路以及封裝的測試: 型號 KT-0904T-RL 加熱制冷 KT-0904T 不帶加熱制冷 KT-0904T-R 加熱類型加熱型 400℃ 加熱制冷型室溫到-190℃-350℃ 低溫型：室溫到-190℃ 腔體材質(zhì) 304 不銹鋼腔體內(nèi)尺寸 φ90x40mm 腔體上視窗尺寸 Φ42mm（選配凹視窗Φ22mm）腔體抽氣口 KF16 腔體進(jìn)氣口公制 3mm 6mm 氣管接頭英制 1/8mm 1/4mm 氣管接頭可選腔體出氣口公制 3mm 6mm 氣管接頭英制 1/8mm 1/4mm 氣管接頭可選腔體正壓 ≤0.05MPa 腔體真空度機(jī)械泵≤5Pa （5 分鐘）分子泵≤5E-3Pa（30 分鐘）樣品臺樣品臺材質(zhì) 304 不銹鋼樣品臺尺寸 26X26mm 樣品臺-視窗距離 30mm（可選凹視窗間距 15mm）樣品臺測溫傳感器 A 級 PT100 鉑電阻樣品臺溫度室溫到 350℃（可選高低溫樣品臺高溫 350℃低溫-190℃）樣品臺測溫誤差 ±0.2℃ 樣品臺變溫速率高溫 10℃/min 低溫 5℃/min 溫控儀

2020-05-12 10:58:29手動探針臺用途: 探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。手動探針臺的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對芯片進(jìn)行科研分析，抽查測試等用途。手動探針臺應(yīng)用領(lǐng)域：Wafer level reliability晶元可靠性認(rèn)證Process modeling塑性過程測試(材料特性分析)Package part probing IC封裝階段打線品質(zhì)測試PC board probing PC主板的電性測試Microwave probing 微波量測(高頻)LED、OLED、LCD領(lǐng)域檢測分析

2020-09-09 15:11:38激光探針臺使用及測試內(nèi)容: 激光探針臺使用及測試內(nèi)容？探針臺大家不陌生了，是我們半導(dǎo)體實驗室電性能測試的常用設(shè)備，也是各大實驗室的熟客。優(yōu)點太多了，成本低，用途廣，操作方便，對環(huán)境要求也不高，即使沒有超凈間，普通的壞境也可以配置，測試結(jié)果穩(wěn)定，客觀。深受工程師們的青睞。探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。手動探針臺的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對芯片進(jìn)行科研分析，抽查測試等用途。最近北軟實驗室探針臺再升級，趁機(jī)為大家總結(jié)一下探針臺的用途，若您還有新發(fā)現(xiàn)，歡迎留言交流。激光探針臺服務(wù)內(nèi)容：1、激光打標(biāo)；2、表層修復(fù)線路（利用激光將兩層金屬線熔融連接）；3、驅(qū)除短路點；4、激光斷線；5、干擾芯片測試；除了以上幾項之外激光探針臺兼?zhèn)涑Ｒ?guī)探針臺功能：1.微小連接點信號引出 2.失效分析失效確認(rèn)3.FIB電路修改后電學(xué)特性確認(rèn)4.晶圓可靠性驗證一：手動探針臺用途：手動探針臺應(yīng)用領(lǐng)域：Failure analysis 集成電路失效分析 Wafer level reliability晶元可靠性認(rèn)證Device characterization 元器件特性量測 Process modeling塑性過程測試(材料特性分析)IC Process monitoring 制成監(jiān)控 Package part probing IC封裝階段打線品質(zhì)測試Flat panel probing 液晶面板的特性測試 PC board probing PC主板的電性測試ESD&TDR testing ESD和TDR測試 Microwave probing 微波量測(高頻)Solar太陽能領(lǐng)域檢測分析 LED、OLED、LCD領(lǐng)域檢測分析二：手動探針臺的使用方式：1.將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。2.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺將樣品待測試點移動至顯微鏡下。4.顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測點，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調(diào)節(jié)清晰,帶測點在顯微鏡視場ZX。5.待測點位置確認(rèn)好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測點的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測點,此時動作要小心且緩慢，以防動作過大誤傷芯片，當(dāng)探針針尖懸空于被測點上空時，可先用Y軸旋鈕將探針退后少許，再使用Z軸旋鈕進(jìn)行下針，ZH則使用X軸旋鈕左右滑動，觀察是否有少許劃痕，證明是否已經(jīng)接觸。6.確保針尖和被測點接觸良好后，則可以通過連接的測試設(shè)備開始測試。常見故障的排除當(dāng)您使用本儀器時，可能會碰到一些問題，下表列舉了常見的故障及解決方法。手動探針臺技術(shù)參數(shù)。