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儀器網(wǎng)/ 應用方案/ QCM-D和橢偏儀聯(lián)用檢測吸附薄膜

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多種不同的表面檢測技術可以讓我們得知分子膜在芯片表面的形成過程已經薄膜性質隨著技術的日新月異的發(fā)展，一種技術已經不能讓我們對檢測的表面有全面的了解而多種技術的聯(lián)用提供了互補的信息，讓我們可以對研究的物質有更客觀的了解在本文中論述了如何在一個實驗中將QCM-D技術與橢偏技術結合來檢測吸附分子層的特性 Q-Sensezhuo越版四通道石英晶體微天平 Q-Sense擴展版單通道石英晶體微天平 Q-Sense全自動八通道石英晶體微天平

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