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晶片或LCD和TFT的檢驗(yàn)、過程控制和缺陷分析必須快速、精確并符合人體工學(xué). Leica DM8000 M和DM12000 M光學(xué)檢驗(yàn)顯微鏡提供了一個(gè)創(chuàng)新而性價(jià)比高的系統(tǒng)解決方案,幫助客戶充滿信心地應(yīng)對現(xiàn)在和未來的手動(dòng)檢驗(yàn)挑戰(zhàn)。除了視場和高分辨率光學(xué)部件,這些系統(tǒng)還采用了高度人性化的設(shè)計(jì)和全內(nèi)置的LED照明,可以從不同角度照亮樣品。
更大的視場,更快速的檢驗(yàn)
Leica DM8000 M和Leica DM12000 M集成的宏觀模式為您提供了4倍于常規(guī)描物鏡的視場??吹酶嘁簿鸵馕吨斓男?。
各個(gè)角度均可獲得高分辨率
新的Oblique UV (OUV)模式組合了斜射照明和紫外線,讓您可以從任意角度以高分辨率查看樣品一并提高了檢驗(yàn)結(jié)果的精確度。
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