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本儀器采用 3測試方法, 利用微/納米薄膜材料導(dǎo)熱引起加熱器電信號的變化來檢測其熱導(dǎo)率 主要應(yīng)用范圍為微/納米薄膜材料的熱導(dǎo)率測量,可廣泛應(yīng)用于輔助各種功能薄膜材料的研究與開發(fā),其涵蓋范圍包括高等院校及科研院所集成電路散熱材料航空航天材料熱電材料與器件信息存儲與光電器件 微-納米薄膜材料的熱導(dǎo)率測量-薄膜熱導(dǎo)率測試系統(tǒng)(TCT)

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