新一代SEM（掃描電鏡）TEM（透射電鏡）XTEM（X透射電鏡）和FIB（聚焦離子束）樣品制備設(shè)備：低能離子減薄儀！ 常規(guī)的離子減薄儀離子源能量較大，非常容易破壞樣品的微觀結(jié)構(gòu)，而且很難看到材料真實的自然狀態(tài)下的納米結(jié)構(gòu)； 而該設(shè)備采用低能離子源，在有效避免樣品的微觀結(jié)構(gòu)被損傷的基礎(chǔ)上，大大提高了電鏡圖片的清晰度，進而可以更為清楚的將材料自然狀態(tài)下的微觀結(jié)構(gòu)展現(xiàn)出來