掃描電鏡（SEM）是一種分析無(wú)紡布纖維的理想成像技術(shù)。眾所周知，使用 SEM 時(shí)，無(wú)紡布等非導(dǎo)電材料會(huì)因樣品表面電荷積累而難以成像，這些電荷可以通過(guò) SEM 腔室內(nèi)的低真空技術(shù)來(lái)消除。因此，無(wú)紡布可以直接放入掃描電鏡中成像，無(wú)需任何樣品制備。

飛納臺(tái)式掃描電鏡高分辨率專業(yè)版 Phenom Pro，可以生成無(wú)紡布材料的納米分辨率圖像。Phenom Pro的真正強(qiáng)大之處在于集成的全景圖像拼接和纖維統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量軟件。該軟件可以幫助新手用戶在幾分鐘內(nèi)自動(dòng)測(cè)量數(shù)千根纖維的直徑分布。