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據(jù)GB/T18043-2008貴金屬含量的測定 X射線熒光光譜法,X射線熒光光譜可用于貴金屬首飾表層含量的測定及委托檢驗和生產(chǎn)企業(yè)內(nèi)部管理由于首飾產(chǎn)品的特殊情況,受方法原理的限制,在使用本方法檢測時可能會受以下幾個方面影響:

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