QuanX型熒光能譜儀晶園上薄膜納米級薄膜厚度均勻度測量

薄膜厚度的測量

表征非晶碳薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)

薄膜測量

使用配備 UMA 附件的 Cary 5000 測量折射率薄膜厚度

X熒光能譜法同時測定工業(yè)硅中鐵鋁鈣

specac_迷你等厚度薄膜制樣套裝

橢偏儀法測量薄膜的解決方案

不同厚度薄膜材料阻隔性能的比較研究

增減薄膜材料厚度是改善包裝阻隔性能的重要措施之一，然而材料厚度的增加勢必會提高包裝成本并加重環(huán)境負擔(dān)。本文通過對不同厚度薄膜材料氧氣透過量的測試，探究增加復(fù)合膜材料中不同單層膜結(jié)構(gòu)的厚度對包裝整體阻氧

石墨薄膜面內(nèi)熱擴散系數(shù)測量

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聚酰亞胺薄膜厚度均勻性分析及測試方法介紹

ATR-FTIR光譜法快速測定BOPP薄膜的厚度和定量

超薄膜折彎機測試液晶顯示薄膜

本試驗采用超薄膜折彎機對液晶顯示薄膜進行了全面的折彎測試。通過改變折彎角度、速度和次數(shù)，對液晶顯示薄膜的光學(xué)性能（透光率、反射率、亮度均勻性、視角）、機械性能（拉伸強度、斷裂伸長率、表面硬度）

硅薄膜晶化率的拉曼檢測分析

鍍鋁層厚度對鍍鋁薄膜水蒸氣透過率的影響分析

本文通過對鍍鋁層厚度不同的兩種VMBOPP樣品水蒸氣透過率的測試，研究了鍍層厚度對鍍鋁膜阻濕性能的影響，并介紹了試驗原理、設(shè)備C330H水蒸氣透過率測試系統(tǒng)的參數(shù)及適用范圍、試驗過程等內(nèi)容。

微波消解薄膜

TiN 硬質(zhì)薄膜涂層評估 MSE測量應(yīng)用

熱導(dǎo)率的薄膜

微波消解聚酰亞胺薄膜