美國ASI J200 LA飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)激光進樣系統(tǒng)與等離子體質(zhì)譜連用，組成LA-ICP-MS系統(tǒng)，對樣品的元素組成、元素分布進行檢測。可與市面上的普通四級桿質(zhì)譜儀、飛行時間質(zhì)譜儀和多接收質(zhì)譜儀等常見質(zhì)譜儀聯(lián)用。

J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)（LA）術(shù)可靠性提升到一個新高度，可應(yīng)用于礦物元素定量分析、鋯石U-Pb定年、礦物熔體和流體包裹體分析、微區(qū)同位素分析和定年技術(shù)研究等地質(zhì)研究領(lǐng)域，并在所有采樣點上實現(xiàn)一致的激光剝蝕，這一創(chuàng)新的傳感器特性是由應(yīng)用光譜公司科學(xué)團隊研發(fā)的一項技術(shù)，具備三種照明模式來提高圖像質(zhì)量和對比度：擴散式LED光源，透射光和同軸反射光，光的強度和顏色可控。

J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)是LA-ICP-MS技術(shù)向高精度、高準(zhǔn)確度、高靈敏度水平發(fā)展的重大突破，為了準(zhǔn)確定量的分析元素和同位素，需要高精度的、與測量樣品相匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，ICP源的顆粒能完全被消解