Keysight N7788C 光器件分析儀 回收

歐陽(yáng)R:13537；；；；229325

Keysight N7788C 結(jié)合了偏振計(jì)和偏振控制器，適用于靈活的實(shí)驗(yàn)室使用，以及使用是德科技可調(diào)諧激光器的單掃描算法對(duì)光學(xué)元件和光纖進(jìn)行快速光譜 DGD/PMD 和 PDL 測(cè)量。

單次掃描中的高精度。無需進(jìn)行多次掃描并計(jì)算平均值

對(duì)元器件的光路徑長(zhǎng)度沒有限制

1240 nm 至 1650 nm 工作波長(zhǎng)范圍

1 MHz 大采樣率

0 ps 至 1000 ps DGD 測(cè)量范圍

0 ps 至 300 ps PMD 測(cè)量范圍

1.5° SOP 測(cè)量不確定度

±2% DOP 測(cè)量不確定度

N7788C 光器件分析儀可在一臺(tái)儀器中同時(shí)提供偏振控制和分析功能，因而能夠在實(shí)驗(yàn)室中靈活使用。尤其是，N7788C 能夠與可調(diào)諧激光源結(jié)合使用，測(cè)量光元器件如何改變信號(hào)的 SOP。該測(cè)量以廣義標(biāo)準(zhǔn)瓊斯矩陣本征分析法（JME）為基礎(chǔ)，使用獨(dú)特的單次掃描偏振相關(guān)方法來確定參數(shù)偏振模色散（PMD）或差分群時(shí)延（DGD）以及偏振相關(guān)損耗（PDL）。

N7788C 與可調(diào)諧激光源和新的 N7700 軟件引擎結(jié)合使用，能夠?qū)@些偏振相關(guān)損耗和色散進(jìn)行光譜測(cè)量。

可提供的測(cè)量參數(shù)包括：

DGD/PMD

PDL

功率/損耗

TE/TM 損耗

瓊斯矩陣

米勒矩陣

二階 PMD（去偏振 + PCD）

內(nèi)置用戶界面支持 N7788C 的通用偏振計(jì)和偏振控制功能。

該儀器外形緊湊，僅有一個(gè)機(jī)架單元高，并配有 LAN 和 USB 接口。