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PHI Quantera II掃描XPS微探針是建基于業(yè)界榮獲最多殊榮的Quantum 2000和Quantera SXM之上zuixin研發(fā)的XPS分析儀器,其革命性的技術(shù)包括:duchuang微聚焦X-ray源,可以得到世界Z小至7.5μm的聚焦X-ray;ZL的雙束電荷中和技術(shù),即使到各位數(shù)微米區(qū)域,依然能夠有效中和樣品荷電;五軸精密樣品臺(tái)及全自動(dòng)樣品傳遞手臂,可同時(shí)進(jìn)樣數(shù)百個(gè)樣品;全自動(dòng)支持互聯(lián)網(wǎng)遠(yuǎn)程控制。這些革命性的技術(shù),使XPS的應(yīng)用范圍從數(shù)百微米擴(kuò)展至個(gè)位數(shù)微米,同時(shí)能夠GX快速的處理各種樣品,包括導(dǎo)體、絕緣體、磁性樣品等。

1. 掃描式聚焦X-ray設(shè)計(jì),使7.5μm至1.4mm的分析區(qū)域內(nèi)都可維持高性能的快速分析。
PHI Quantera II使用了PHIduchuang的掃描聚焦式X-ray源,配合升級(jí)版的單色聚焦石英晶體,對(duì)比上一代的最小X-ray束斑進(jìn)一步減少20%至7.5μm。X-ray束斑從7.5μm至400μm范圍內(nèi)連續(xù),配合掃描功能,使分析面積范圍擴(kuò)充至7.5μm~1400μm*1400μm。
PHI Quantera II同時(shí)配備高收集效能的靜電式半球能量分析器,擁有大收集角度的同時(shí),創(chuàng)新性的采用橢圓式的羅蘭圓設(shè)計(jì),極大的提高了能量分辨率。在空間分辨率、靈敏度、能量分辨率等指標(biāo)上,堪稱(chēng)世界性能XPS系統(tǒng)。配合掃描X-ray高速同步掃描,真正意義上實(shí)現(xiàn)了單點(diǎn)、多點(diǎn)、線(xiàn)、面分析的功能。
2. 高靈敏度的分析能力
PHI Quantera II采用聚焦X-ray系統(tǒng),在能量分析器的收集透鏡端摒棄傳統(tǒng)的光闌設(shè)計(jì)進(jìn)行選區(qū),最大可能的提升了光電子的收集效率,使其遠(yuǎn)遠(yuǎn)高出同類(lèi)產(chǎn)品在200μm以下空間尺度的靈敏度,在30μm以下分區(qū)區(qū)域時(shí),靈敏度高出非聚集XPS達(dá)100倍以上。同時(shí),勿需采用磁透鏡,保證了磁性樣品分析時(shí)的靈敏度及避免了由磁透鏡所帶來(lái)的荷電中和困難,即使是磁性樣品,也可輕松應(yīng)對(duì)。在靈敏度提高的同時(shí),極大的提高了分析效率,縮短分析時(shí)間。

3. 占優(yōu)勢(shì)的微區(qū)分析能力
傳統(tǒng)的XPS在微區(qū)分析定位時(shí),存在不能清晰觀察樣品的困難。PHI Quantera II通過(guò)X-ray激發(fā)樣品產(chǎn)生二次電子影像(SXI),可由二次電子影像提供分析所用的全部細(xì)微特征。二次電子影像(SXI)與采譜過(guò)程采用相同的激發(fā)源、光電子經(jīng)過(guò)相同的光學(xué)路徑、使用同一探測(cè)器進(jìn)行成像及獲譜。避免了因?yàn)楣鈱W(xué)圖像上選點(diǎn)與分析位置的偏差,保證了所見(jiàn)即所得的精確分析。
微小區(qū)域的高靈敏度分析不只在于表面分析,PHI Quantera II在微區(qū)深度剖析時(shí),在相距只有幾十微米的不同結(jié)構(gòu)區(qū)域,都可有效提供超高靈敏度的分析結(jié)果。





4. 自動(dòng)雙束中和設(shè)計(jì),使導(dǎo)體及非導(dǎo)體
雙束中和采用低能電子束及低能離子束,在樣品近表面形成類(lèi)等離子體氣氛,用來(lái)中和絕緣樣品表面的荷電。這一ZL的中和方式,使在分析不同類(lèi)型樣品時(shí),無(wú)需重新設(shè)置中和參數(shù),既能自動(dòng)匹配提供穩(wěn)健的電荷補(bǔ)償功能。浮動(dòng)柱狀離子槍及冷陰極發(fā)射器可以在超低電壓的條件下,提供最大的離子及電子密度流。
5. 逐點(diǎn)掃描的快速化學(xué)成像能力
通過(guò)掃描X-ray,可通過(guò)條件每點(diǎn)的掃描時(shí)間快速完成化學(xué)態(tài)成像。同時(shí)能夠得到每個(gè)像素點(diǎn)的化學(xué)態(tài)信息。傳統(tǒng)的XPS通常采用拍攝大量的化學(xué)態(tài)快照,通過(guò)數(shù)學(xué)計(jì)算得到微區(qū)譜信息。而PHI Quantera II真正意義上實(shí)現(xiàn)了在化學(xué)態(tài)成像圖上獲取數(shù)據(jù)譜信息,同時(shí)數(shù)據(jù)譜的空間分辨率、靈敏度及能量分辨率與儀器主指標(biāo)一致。

6. 精確而快速的深度剖析能力
采用獨(dú)特的聚焦X-ray設(shè)計(jì),可使用較小的束斑得到的界面信息。同時(shí)采用較小的濺射面積實(shí)現(xiàn)快速的深度剖析功能。
上傳人:愛(ài)發(fā)科費(fèi)恩斯(南京)儀器有限公司
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易操作式多功能選配附件 全自動(dòng)樣品傳送停放 高性能大面積和微區(qū) XPS 分析 快速精準(zhǔn)深度剖析 為電池、半導(dǎo)體、有機(jī)器件以及其他各領(lǐng)域提供全面解決方案
PHI第7代TOF-SIMS ?全新外觀,時(shí)尚設(shè)計(jì),設(shè)備占地面積減少,更低功耗 ?全新設(shè)計(jì)的全自動(dòng)樣品臺(tái),可實(shí)現(xiàn)可靠、高通量-的樣品處理和真空停放 ?配置新型鉍源LMIG團(tuán)簇離子槍?zhuān)哂懈叩目臻g分辨率 獲得專(zhuān)利的平行成像MS/MS質(zhì)譜儀 ?無(wú)論樣品表面平整還是粗糙,PHI的第7代三重聚焦質(zhì)量分析器均能勝任 ?并行成像MS/MS將TOF-SIMS譜峰識(shí)別從“我認(rèn)為”變?yōu)椤拔抑?!? ?可對(duì)豐度低于20 ppm的質(zhì)譜峰進(jìn)行無(wú)損和高靈敏度串聯(lián)質(zhì)譜分析 獲得專(zhuān)利的一鍵雙束中和技術(shù) ?全新的脈沖低能電子和低能Ar+離子雙束中和技術(shù),可在正、負(fù)離子模式下實(shí)現(xiàn)可靠且真正的一鍵中和 可靠的自動(dòng)化和遠(yuǎn)程操作 ?高度可配置的序列分析系統(tǒng),可用于自動(dòng)無(wú)人值守分析,以獲得Z大的分析效率 ?可完全遠(yuǎn)程操作和高級(jí)遠(yuǎn)程診斷
1、譜學(xué)性能提升 - 使用微聚焦掃描 X 射線(xiàn)源進(jìn)行小面積和大面積分析時(shí)具有更高靈敏度 2、新功能!大面積成像分析 - 掃描X射線(xiàn)影像(SXI)功能增加樣品臺(tái)驅(qū)動(dòng)功能,用于大面積分析導(dǎo)航 - 增加大面積化學(xué)態(tài)影像及疊加分析功能 3、高性能深度剖析 -適用于各種有機(jī)、無(wú)機(jī)和混合材料的多種離子槍配置 -先進(jìn)的薄膜結(jié)構(gòu)分析軟件 4、可靠的自動(dòng)化和遠(yuǎn)程操作 -高度可配置的序列系統(tǒng),讓分析過(guò)程自動(dòng)化和效率Z大化 -可完全遠(yuǎn)程操作和遠(yuǎn)程診斷 5、更環(huán)保、現(xiàn)代化的配置 - 高效節(jié)能、快速真空獲取和符合人體工程學(xué)的設(shè)計(jì)
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