博勢(shì)Proceq Equotip 550 UCI 便攜硬度計(jì)
博勢(shì)Proceq Zonotip(+) 探傷儀
博勢(shì)Proceq Equotip 550 Portable Rockwell 便攜硬度計(jì)
博勢(shì)Proceq Flaw Detector 100 PA 16:64 探傷儀
博勢(shì)Proceq Equotip 550 Leeb 便攜硬度計(jì)
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澤攸科技ZEM15C臺(tái)式掃描電鏡——優(yōu)于10nm高性價(jià)比教學(xué)級(jí)SEM。采用預(yù)對(duì)中鎢燈絲設(shè)計(jì),15萬(wàn)倍放大+即插即用操作,無(wú)需減震臺(tái)即可穩(wěn)定成像。專為高校實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)質(zhì)檢設(shè)計(jì)
澤攸科技ZEM Ultra場(chǎng)發(fā)射臺(tái)式掃描電鏡——優(yōu)于2.5nm超高分辨率桌面SEM。采用肖特基電子槍+三級(jí)真空系統(tǒng),支持50萬(wàn)倍放大及EDS/EBSD分析。適用納米材料、電池研發(fā)、半導(dǎo)體檢測(cè)領(lǐng)域
澤攸科技ZEM18臺(tái)式掃描電鏡——優(yōu)于6nm高分辨率桌面SEM。獨(dú)創(chuàng)90秒快速抽真空技術(shù),支持20萬(wàn)倍放大及BSE/SE雙模式成像。無(wú)縫兼容加熱/冷臺(tái)等原位附件,廣泛應(yīng)用于新材料、新能源、生物醫(yī)藥、半導(dǎo)體等領(lǐng)域,是高校、研究機(jī)構(gòu)與企業(yè)的高性價(jià)比首選臺(tái)式電子顯微鏡。
在日常的顯微鏡操作中體驗(yàn)到更高的效率和舒適度。Visoria M材料顯微鏡適用于金屬、電子和聚合物行業(yè)以及材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)室。 使用編碼的功能、優(yōu)化的光強(qiáng)設(shè)置及其他顯微鏡功能可以提高您的工作流程效率。此外,顯微鏡的人體工學(xué)設(shè)計(jì)讓您能更加舒適地工作,最大限度減少勞損。
在日常的顯微鏡操作中體驗(yàn)到更高的效率和舒適度。Visoria P偏光顯微鏡使用偏光來(lái)研究材料和地質(zhì)樣品的光學(xué)特性。 使用編碼的功能、優(yōu)化的光強(qiáng)設(shè)置及其他顯微鏡功能可以提高您的工作流程效率。此外,顯微鏡的人體工學(xué)設(shè)計(jì)讓您能更加舒適地工作,最大限度減少勞損。
HCS621GXY專為顯微鏡/光譜儀設(shè)計(jì)。此款冷熱臺(tái)可在 -190℃ ~ 600℃ 范圍內(nèi)控溫,同時(shí)允許光學(xué)觀察和樣品氣體環(huán)境控制。熱臺(tái)上蓋與底殼構(gòu)成一個(gè)氣密腔,可往內(nèi)充入氮?dú)獾缺Wo(hù)氣體,來(lái)防止樣品在負(fù)溫下結(jié)霜,或高溫下氧化。此外冷熱臺(tái)帶有可從密封腔外移動(dòng)樣品的XY樣品微分移動(dòng)尺。此外另有真空腔型號(hào)HCS421VXY提供。