Dimension?  Icon?優(yōu)秀的分辨率，與 Bruker 特有的電子掃描算法相結(jié)合，顯著提升了測(cè)量速度與質(zhì)量。Dimension?  Icon?是針尖掃描技術(shù)的zui新革新，一直處于領(lǐng)先地位。該系統(tǒng)配置溫度補(bǔ)償位置傳感器，實(shí)現(xiàn)了 Z 軸亞埃級(jí)和 XY 軸埃級(jí)的低噪音水平，將這個(gè)性能應(yīng)用在 90 微米掃描范圍、大樣品臺(tái)系統(tǒng)上，效果甚至超過(guò)高分辨率原子力顯微鏡的開(kāi)環(huán)噪音水平。XYZ 閉環(huán)掃描頭的新設(shè)計(jì)使儀器在較高掃描速度工作時(shí)，圖像質(zhì)量也不會(huì)被損壞，實(shí)現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。配置Bruker 的PeakForce?技術(shù)，Dimension Icon可實(shí)現(xiàn)智能獲取高分辨圖像。

Dimension Icon 展現(xiàn)出了的卓越的性能，穩(wěn)定性和靈活性，幾乎可以實(shí)現(xiàn)以前只有在特制系統(tǒng)中才能完成的所有測(cè)量。利用開(kāi)放式平臺(tái)，大型或多元樣品支架和許多簡(jiǎn)單易用的性能，把AFM 的強(qiáng)大功能完全展現(xiàn)在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前，為高質(zhì)量AFM成像和納米操作設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn)。

Dimension Icon 

提供對(duì)性能沒(méi)有任何影響的靈活性平臺(tái)， 一個(gè)平臺(tái)，無(wú)限可能：

• 開(kāi)放的平臺(tái)，能整合其他技術(shù)

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• 電池、有機(jī)太陽(yáng)能等研究的完整解決方案