掃描電鏡/掃描電子顯微鏡 SS-60
SS-60系列掃描電子顯微鏡
TD SS Tube w/ Carbosieve SIII 60/80
SS colum,12% TCEP ON 60/80 CHROMOSORB WAW
TD SS Tube w/ Tenax GR 60/80 Pkg.10
產(chǎn)品說明:
(1)可放大倍率6萬倍(Magnification Max 60,000x)
(2)采用二次電子和背散射電子雙重探測器(Signal Detection: SE Detector+BSE Detector)
(3)5KV~30KV加速電壓選擇,圖像分辨率高(Accelerating Voltage:5kV to 30Kv,High image resolution)
(4)通過選配EDS可進行元素成份分析(EDS is optional, for component analysis)
(5)冷卻臺的安裝可在無前處理情況下對水分取樣分析(Installation a coo領 Stage, Can measure aqueous samples without pretreatment)
(6)高/低真空配置縮短前處理過程(High&Low Vacuum System)
(7)CCD攝像頭的安裝可對載物臺內(nèi)部觀察(The CCD camera is mounted to view the inside of the stage)
(8)Tilt(0~45)載物臺配置(可選擇)(Tilt Stage configuration( optional))
技術(shù)參數(shù):
20nm (30kV, BSE Image) | ||
30x~60,000x | ||
5kV to 30kV (5kV/10 kV /15kV/20kV/30 kV -5 step) | ||
二次電子圖像-(SEI)-Secondary Electron Image | ||
* Multi Detector (SEI+BSEI) | ||
Standard Mode | ||
電子槍系統(tǒng) | ||
預對中鎢燈絲 | ||
自動偏壓方式 | ||
手動方式 | ||
聚光鏡 | 段式磁線圈透鏡 | |
1探測器類型 | 載物臺系統(tǒng) | 自動或者手動 |
3圖像偏移 | ±150um) | |
高度30mm時直徑70mm | ||
快速掃描: 320x240 (Scan time: 0.1 sec.) | ||
圖片模式1: 1280x960 (Scan time: 30sec.) | ||
圖片模式3: 5120x3840 (Scan time: 120sec.) | ||
自動啟動,自動聚焦,自動亮度對比度調(diào)節(jié) | ||
BMP, JPEG, PNG,TIFF | ||
放大倍率,探測器類型,電壓,真空模式,Logo(Text),Date and time,Text marker,比例尺等 | ||
(旋轉(zhuǎn)式機械泵)Rotary Pump/100Liters/min 操控系統(tǒng) | 鼠標和鍵盤 | |
:臺式電腦(Desk Top) CPU : Intel CoreTM i5 or High version USB 2.0 | ||
初始化,圖像拍攝模式轉(zhuǎn)換,Archives, Setting(EDS)模式等 | ||
設備主機-410(W)×660(D)×600(H)mm | ||
105kg | ||
溫度:15℃~30℃ 電源:Single phase 100~240V AC, 1KW, 50/60Hz | ||
上傳人:深圳市善時儀器有限公司
大?。? B
7855
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S-4800型高分辨場發(fā)射掃描電鏡(簡稱S-4800)為日本日立公司于2002年推出的產(chǎn)品。該電鏡的電子發(fā)射源為冷場,物鏡為半浸沒式。在高加速電壓(15kV)下,S-4800的二次電子圖像分辨率為1 nm,這是目前半浸沒式冷場發(fā)射掃描電鏡所能達到的最高水平。該電鏡在低加速電壓(1kV)下的二次電子圖像分辨率為2nm,這有利于觀察絕緣或?qū)щ娦圆畹臉悠贰-4800的主要附件為X射線能譜儀。
二手 日立 SEM+EDX 冷場電鏡SU8000系列高分辨場發(fā)射掃描電鏡,其中SU8020不光1kv的分辨率提升到1.3nm,并且在探測器設計上有新的突破,配置了Lower、Up-per和Top三個Everhart-Thornley型探測器,可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多種信號,實現(xiàn)微區(qū)的形貌襯度、原子序數(shù)襯度、結(jié)晶襯度和電位襯度的觀測;結(jié)合選配的STEM探測器。
日立SU-8010是日立高新技術(shù)的SEM的全新品牌,新品牌 "REGULUS系列" 電子光學系統(tǒng)進行了最優(yōu)化處理,使得著陸電壓在1KV時分辨率較前代機型提高了約20%。另外,最適合低加速電壓下高分辨觀察的冷場電子槍可將樣品的細節(jié)放大,并獲得高質(zhì)量的圖片。最大放大倍率也由之前的100萬倍提高到了800萬倍。除此之外,為了能更好的應對不同樣品的測試和保持并發(fā)揮出高性能,還對用戶輔助工能進行了強化。
日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能,多功能,多用途的鎢燈絲掃描電鏡。顛覆性的前衛(wèi)性外觀設計還特別吸引眼球。操作改為觸摸屏控制,簡單化,從此操作電鏡非常只能化。
掃描電子顯微鏡主要用于觀察物體的表面形貌像,除此意外,如果配備能譜分析系統(tǒng),在進行獲得樣品表面像的時候,還可以對樣品的某個定點位置進行元素的半定量分析。根據(jù)EDS分析出的元素比例,進行擬合處理,可以大概的判斷出樣品是什么類型的樣品。
SU3900/SU3800 SE系列作為FE-SEM產(chǎn)品,配置超高分辨率與觀察能力。此系列突破了傳統(tǒng)SEM產(chǎn)品受安裝樣品尺寸與重量的限制,通過簡單的操作即可實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集??捎糜阡撹F等工業(yè)材料,汽車、航空航天部件等超大、超重樣品的觀察。 此外,SE系列包括4種型號(兩種類型,兩個等級),滿足眾多領域的測試需求。用戶可以根據(jù)實際用途(如微觀結(jié)構(gòu)控制:用于改善電子元件、半導體等材料的功能和性能;異物、缺陷分析:用于提高產(chǎn)品品質(zhì))選擇適合的產(chǎn)品。
德國Zeiss 場發(fā)射電子顯微鏡SIGMA 300 ,ZLGemini鏡筒,超高的束流穩(wěn)定性,超高的束流穩(wěn)定性,zhuo越的低電壓性能,In Lens 探測器,磁性材料高分辨觀察,ding級X射線分析設計,便越操作系統(tǒng)設計,超大空間,多接口,升級靈活。
德Zeiss 電子束直寫儀 Sigma SEM,利用曝光抗蝕劑,采用電子束直接曝光,可在各種襯底材料表面直寫各種圖形,圖形結(jié)構(gòu)(Z小線寬為10nm),是研究材料在低維度、小尺寸下量子行為的重要工具。廣泛應用于納米器件,光子晶體,低維半導體等前沿領域。