多端口光器件IL、PDL測試高速光功率測試平臺

一.多端口光器件IL、PDL測試高速光功率測試平臺產(chǎn)品概述

主機和模塊

      多端口高速光功率測試平臺，支持光功率計模塊、偏振態(tài)發(fā)生器和分束模塊。主機有5個插槽，可根據(jù)需要自由選擇光功率計、偏振態(tài)發(fā)生器、分束模塊組合， 適用于密集波分復(fù)用（DWDM）、陣列波導(dǎo)光柵（AWG）、波長選擇開關(guān)（WSS）等多端口光器 件的插入損耗（IL）和偏振相關(guān)損耗（PDL）測試。 產(chǎn)品具有 LAN、HDMI 和 USB 接口，其中 LAN 接口能夠滿足各種程控和數(shù)據(jù)通信需要。

二.多端口光器件IL、PDL測試高速光功率測試平臺主要特點

測試模塊

• 主機 5 個插槽支持不同功能模塊

• 采用 PCIE 通信，通信速率大于 100Msps

• 至快采樣時間 1μs

• 支持單機工作和局域網(wǎng)程控

• 擴展性高，主機支持級聯(lián)，通道數(shù) N≥144

• 大容量存儲，功率計模塊每通道支持至大 3200 萬個數(shù)據(jù)

• 功率計模塊高速測量模式下動態(tài)范圍為 70dB

三.多端口光器件IL、PDL測試高速光功率測試平臺技術(shù)規(guī)范

四.多端口光器件IL、PDL測試高速光功率測試平臺典型應(yīng)用

      IL 測量接線示意圖 普通測試：光源輸出不經(jīng)過分束模塊。

      高精度測試：光源輸出經(jīng)過分束模塊。分束模塊參考接口接光功率計參考通道，分束模 塊輸出接口接待測件輸入。

      PDL/ILavg 測量接線示意圖 普通測試：偏振發(fā)生器輸出不經(jīng)過分束模塊。

      高精度測試：偏振發(fā)生器輸出經(jīng)過分束模塊。分束模塊參考接口接光功率計參考通道， 分束模塊輸出接口接待測件輸入。

五.多端口光器件IL、PDL測試高速光功率測試平臺訂貨信息

1、主機

      6337F：5 插槽

2、光功率計模塊

      74600B-4137：4 通道光功率計

      74600B-4137A：4 通道光功率計，帶一個模擬輸出口（可配置）

3、偏振態(tài)發(fā)生器

      85210H-X1X2X3X4

      X1X2：波長范圍，13：O-band（1260~1360nm），15：CL-band（1480~1620nm）

      X3X4：接口類型，01：FC/UPC，02：FC/APC

4、分束模塊

      74200X1-X2X3X4X5

      X1：接口類型，A：FC/UPC，B：FC/APC

      X2X3：光纖類型，SM：單模，PM：保偏

      X4X5：分光比，01：90:10，02：95:5，03：97:3，04：99:1，05：80:20，06：50:50