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高溫電阻測量系統(tǒng)RMS1000S

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佰力博 RMS1000S 湖北 武漢 2026-04-14 12:11:45
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產(chǎn)品詳情:

RMS1000S系列高溫半導(dǎo)體材料電阻率測量系統(tǒng)主要用于半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的評估和測試,該系統(tǒng)采用四線電阻法測量原理進行設(shè)計開發(fā),可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導(dǎo)體材料電阻和電阻率,可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。

 

目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試,廣泛用于半導(dǎo)體材料硅(si)、鍺(ge)、化合物半導(dǎo)體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦(InSb)三元化合物半導(dǎo)體GaAsAl、GaAsP,固溶體半導(dǎo)體,如Ge-Si、GaAs-GaP等的塊體材料的電阻率測量。

QQ圖片20250408140327.png 

功能特點

2 針對性質(zhì)不同的材料開發(fā)相應(yīng)的測試系統(tǒng)

2 多種保護措施,確保測試安全

2 溫度范圍廣:RT~600℃/1000℃

2 可實現(xiàn)惰性、氧化、還原、真空等多種氣氛測量

2 樣品壓力最 大0.25N,保證測量過程不損壞樣品

2 上電極半球狀+下電極平板狀設(shè)計,可以精確定位測量被測樣品某一點


半導(dǎo)體材料-2W法

 QQ圖片20250408140449.png


半導(dǎo)體2W法計算公式

ρ=RS/L=Vs/IL

ρ =以厘米-歐姆為單位的電阻率

V =加載樣品上的電壓或電壓源輸出電壓

l =表示流過樣品的電流或電流源輸出電流

L =表示樣品的厚度

S =表示樣品橫截面積


型號

RMS 1000C

RMS 1000S

RMS 1000I

RMS 1000P

應(yīng)用范圍

導(dǎo)電材料

半導(dǎo)體材料

絕緣材料

半導(dǎo)體薄膜/薄片

測試方法

四線電阻法

半導(dǎo)體材料2線法

三環(huán)電極法*

雙電測組合直排4探針法

電極材料

鉑金電極,碳化鎢探針

鉑金電極

鉑金電極

碳化鎢探針,鉑金探針

樣品規(guī)格

10mm×10mm×20mm

φ<20mm,d<5mm

φ<25mm,d<4mm

薄膜φ15~30mm,d<4mm

電阻范圍

1nΩ~1GΩ

0.1mΩ~100MΩ

100Ω~10PΩ

0.1mΩ~100MΩ

電 阻 率

0.1nΩ.cm~100MΩ.cm

1mΩ.cm~10MΩ.cm

1000Ω.cm~1PΩ.cm

1mΩ.cm~10MΩ.cm

 


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