• KLA Profilm3D 光學輪廓儀

  KLA Profilm3D 是一款3D白光干涉輪廓儀。KLA Profilm3D 光學輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術與相位干涉(PSI)技術。以較低的價格實現(xiàn)次納米級的表面形貌研究。采用白光干涉[詳細]

  2025-06-19 17:01

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• Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀

  Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀能以一個電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米，可選擇數十種內建之同心圓,矩形,或[詳細]

  2025-06-19 16:47

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• Filmetrics F60-t 白光干涉膜厚測量儀

  Filmetrics F60-t 白光干涉膜厚測量儀就像我們的F50白光干涉膜厚測量儀產品一樣。主要測繪薄膜厚度和折射率。但它增加了許多用于生產環(huán)境的功能。這些功能包括凹槽自動檢測、自動基準確定、全封[詳細]

  2025-06-19 16:45

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• Filmetrics F54-XY-200 白光干涉膜厚測量儀

  Filmetrics F54-XY-200 白光干涉膜厚測量儀借助光譜反射系統(tǒng)，可以測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，達到每秒兩點。[詳細]

  2025-06-19 16:44

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• Filmetrics F50 白光干涉膜厚測量儀

  Filmetrics F50 白光干涉膜厚測量儀依靠光譜測量系統(tǒng)，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，可以快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非?？焖?a href="" target="_blank">[詳細]

  2025-06-19 16:44

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• Filmetrics F32 白光干涉膜厚測量儀

  Filmetrics F32 白光干涉膜厚測量儀特殊的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3u rack- mount底盤，加上附加的分光計，可達到四個不同的位置(EXR和UVX版本至多兩個位置)。F32膜厚儀軟件[詳細]

  2025-06-19 16:43

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