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白光干涉儀-P3D
Proflim 3D是一款基于白光干涉儀的光學(xué)輪廓儀,采用相位掃描干涉技術(shù)(PSI)對納米級特征進行測量,以及采用垂直掃描干涉技術(shù)(VSI)對亞微米至毫米級特征進行測量。 Proflim 3D的程序設(shè)置簡單靈活,可以進行單次掃描或多點自動測量,適用于研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境。
KLA 白光干涉儀Profilm 3D
※ 從納米級到毫米級的3D臺階高度 ※ 3D粗糙度、波紋度、翹曲度和形狀,紋理表征 ※ 3D缺陷表面形貌、缺陷表征 ※ 大型透明薄膜的表面進行高分辨率掃描 ※ 高粗糙度,低反射率,劃痕表征
鐳測科技激光干涉儀LH2000雙頻激光干涉儀
滿足計量檢測用戶更穩(wěn)定、更高精度、更便利的使用要求;雙頻激光干涉儀
鐳測科技激光干涉儀LH1000雙頻激光干涉儀
專為光刻機配套開發(fā)的高精度測量系統(tǒng);雙頻激光干涉儀,進口設(shè)備轉(zhuǎn)國產(chǎn)化的優(yōu)選產(chǎn)品
FUJINON IR10 富士紅外激光干涉儀
FUJINON IR10 富士紅外激光干涉儀 產(chǎn)品信息 品牌:FUJINON 型號:IR10 產(chǎn)地:日本
FUJINON IR10 富士紅外激光干涉儀
FUJINON IR10 富士紅外激光干涉儀 產(chǎn)品信息 品牌:FUJINON 型號:IR10 產(chǎn)地:日本
FUJINON IR10 富士紅外激光干涉儀
FUJINON IR10 富士紅外激光干涉儀 產(chǎn)品信息 品牌:FUJINON 型號:IR10 產(chǎn)地:日本
FUJINON IR10 富士紅外激光干涉儀
FUJINON IR10 富士紅外激光干涉儀 產(chǎn)品信息 品牌:FUJINON 型號:IR10 產(chǎn)地:日本