電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-AES),是以電感耦合等離子矩為激發(fā)光源的光譜分析方法,具有準確度高和精密度高、檢出限低、測定快速、線性范圍寬、可同時測定多種元素等優(yōu)點,國外已廣泛用于環(huán)境樣品及巖石、礦物、金屬等樣品中數(shù)十種元素的測定。今天,我們?yōu)槟鷰鞩CP-AES分析常見12個故障問題及解決辦法!
流量增大,ZX部位溫度下降。
激發(fā)溫度隨載氣壓力的降低而增加。
激發(fā)溫度隨功率增大而,近似線性關(guān)系,在其他條件相同時,增加頻率,放電溫度降低。
引入低電離電位的釋放劑的等離子體,電子溫度將增加。
原子在火焰或等離子體的蒸氣相中電離而產(chǎn)生的干擾。它使火焰中分析元素的中性原子數(shù)減少,因而降低分析信號。在標準和分析試樣中加入過量的易電離元素,使火焰或等離子體中的自由電子濃度穩(wěn)定在相當高的水平上,從而YZ或消除分析元素的電離。此外,由于溫度愈高,電離度愈大,因此,降低溫度也可減少電離干擾。

提升率及其中元素的譜線強度均低于水溶液隨著酸度增加,譜線強度顯著降低,各種無機酸的影響并不相同,按下列順序遞增:HCl、HNO3、HClO4、H3PO4 、H2SO4;譜線強度的變化與提升率的變化成正比例。所以在ICP-AES測試中,應盡量的避免使用H3PO4、H2SO4作為介質(zhì)。
譜線干擾;
譜帶系對分析譜線的干擾;
連續(xù)背景對分析譜線的干擾;
雜散光引起的干擾;
基體干擾;
YZ干擾等。
對于譜線干擾,一般選擇更換譜線,連續(xù)背景干擾一般用儀器自帶的扣背景的方法消除,基體干擾一般基體區(qū)配或標準加入法,YZ干擾一般是分離或基體區(qū)配。

在測定過程中,氣體壓力改變會影響到原子化效率和基態(tài)原子的分布;另外,毛細管阻塞、廢液排泄不暢,會使溶液提升量和霧化效率受到影響;以及電壓變化甚至環(huán)境溫度等諸多因素都會使靈敏度發(fā)生漂移,其校正方法可每測10個樣品加測一個與樣品組成接近的質(zhì)控樣,并根據(jù)所用儀器的新舊程度適當縮短標準化的時間間隔。
測量時,不要依次測量濃度懸殊很大的樣品,可把濃度相近的樣品放在一起測定,測定樣品之間,應用蒸餾水沖洗,進標準樣品測試標準曲線時,應該從低標到高標儀次進樣。
盡可能使各種元素迅速、完全分解;所含待測元素的量可忽略不計;
分解樣品時,待測元素不應損失;
與待測元素間不形成不溶性物質(zhì);
測定時共存元素的影響要小;
不損傷霧化器、炬管等。氫氟酸能很快的損壞霧化器、霧室和炬管。
不正確的配置方法將導致系統(tǒng)偏差的產(chǎn)生;
介質(zhì)和酸度不合適,會產(chǎn)生沉淀和渾濁;
元素分組不當,會引起元素間譜線干擾;
試劑和溶劑純度不夠,會引起空白值增加、檢測限變差和誤差增大。
溶劑用高純酸或超純酸;
用重蒸的離子交換水;
使用光譜純、高純或基準物質(zhì);
把有的元素元素分成幾組配制,避免譜線干擾或形成沉淀。比如測硅時就要單獨測硅。
高頻功率一般應高于水溶液試樣;
冷卻氣流量要,載氣流量要減少,同時應通入較高流量的輔助氣;
對炬管的結(jié)構(gòu)和安裝也有某些特殊要求;
多采用鏈狀結(jié)構(gòu)的有機溶劑作稀釋劑。
一般粘度大的試樣,用氣動霧化進樣較難,常用低粘度的有機溶劑去稀釋試樣,這種有機溶劑稱為稀釋劑。對其要求有:
①粘度較低;
②分子中的碳原子數(shù)較少;
③有中等的揮發(fā)性;
④不產(chǎn)生或少產(chǎn)生有毒氣體;
⑤允許有較高的進樣量而不致使等離子體熄滅;
⑥在炬管口產(chǎn)生的碳沉積較少。
稀釋劑的粘度對霧化進樣、速率產(chǎn)生影響;
密度、粘度和表面張力影響形成霧滴的初始致敬;
沸點影響霧滴的揮發(fā)及進入ICP-AES通道的有機溶劑蒸發(fā)量,從而影響ICP-AES的穩(wěn)定性。
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除了擦干凈,紅外壓片機模具(KBr/ATR)的“續(xù)命”秘訣全在這里
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