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掃描開爾文探針
掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢,表面功函。由材料表面zui頂部的1-3層原子或分子決定,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界zui高分辨率的測試系統(tǒng)。
掃描開爾文探針
掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢,表面功函。由材料表面zui頂部的1-3層原子或分子決定,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界zui高分辨率的測試系統(tǒng)。
掃描開爾文探針
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掃描開爾文探針
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超高真空開爾文探針
UHV-KP020 是超高真空室的一個wan美補(bǔ)充工具,可靠的和可重復(fù)的可輕松獲得,包括高質(zhì)量的線性解碼器,使得探針和樣品的定位變得簡單, 無與倫比的跟蹤系統(tǒng)在測試過程中始終將探針和樣品恒定的分開。對于薄膜研究,亞單層范圍檢測是很平常的;也可選購SPV020或SPS030表面光電壓模塊用于光敏材料研究。
超高真空開爾文探針
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