本文由 北京恒泰豐科試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編

2014-04-22 00:00 269閱讀次數(shù)

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• SJ 2311-1983 電子工業(yè)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備總技術(shù)條件

  SJ 2311-1983 電子工業(yè)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備總技術(shù)條件[詳細(xì)]

  2014-04-22 00:00

  應(yīng)用文章

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• SJ 2328-1983 高溫試驗(yàn)設(shè)備通用技術(shù)條件

  一、高溫試驗(yàn)箱安全保護(hù)：1.整體設(shè)備超溫；2.整體設(shè)備缺相/逆相；3.整體設(shè)備定時(shí)；4.風(fēng)機(jī)過熱保護(hù)；5.其它還有漏電，運(yùn)行指示，聲光報(bào)警，報(bào)警后自動(dòng)切斷電源等保護(hù)。二、使用條件：1.環(huán)境溫度：5℃～＋30℃2.環(huán)境濕度：≤90%3.電源要求：AC220（±10%）V/50HZ單相三線AC380（±10%）V/50HZ三相五線制4.預(yù)裝容量：5~10KW三、產(chǎn)品用途：高溫試驗(yàn)箱可以用來考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生高溫老化環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響，設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗(yàn)規(guī)定的溫度之差不大于8％，且試驗(yàn)樣品不會(huì)受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。四、高溫試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：1.室體材料為內(nèi)膽優(yōu)質(zhì)不銹鋼板（防止長時(shí)間運(yùn)行狀態(tài)下內(nèi)壁生銹厚度：2.0mm），外膽為優(yōu)質(zhì)不銹鋼板拉絲處理。使用國內(nèi)目前Zxian極n的加工設(shè)備加工成型，顏色搭配協(xié)調(diào)，線條流暢自然。2.設(shè)有獨(dú)立限溫報(bào)警系統(tǒng)，超過限制溫度即自動(dòng)中斷，保證實(shí)驗(yàn)安全運(yùn)行不發(fā)生意外。3.內(nèi)膽為不銹鋼板設(shè)計(jì)成在工作時(shí)是一個(gè)密閉，可安置試樣進(jìn)行高溫試驗(yàn)的空間，能恒定控制試驗(yàn)溫差±2%，溫度波動(dòng)度±1℃。4.室內(nèi)的附件配件均為不銹鋼型材制作，設(shè)計(jì)合理，經(jīng)久耐用。設(shè)備在符合國家標(biāo)準(zhǔn)的前提下，各方面性能都穩(wěn)定的基礎(chǔ)上更具備實(shí)用性和便于控制，并且，該設(shè)備具有容易安裝、操作簡單，基本上不需要日常維護(hù)等特點(diǎn)。5.保溫材質(zhì):高密度超細(xì)玻璃纖維棉，保溫厚度為120mm，使室內(nèi)溫度不會(huì)傳導(dǎo)到設(shè)備外部，確保實(shí)驗(yàn)室內(nèi)平衡穩(wěn)定的溫度。6.在室體合理的位置設(shè)置一個(gè)透明窗口，用以觀測室內(nèi)試樣的變化。觀察窗采用多層中空鋼化玻璃，尺寸為320×220mm。7.高溫試驗(yàn)箱的門與箱體之間采用自吸式耐高溫之高張性密封條以確保測試區(qū)的密閉。并采用無反作用門把手。8.循環(huán)系統(tǒng)采用長軸風(fēng)扇電機(jī)，耐高低溫之不銹鋼多翼式葉輪,以達(dá)強(qiáng)制對流垂直循環(huán)，使實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)的溫度均勻并保持穩(wěn)定。9.配有引線孔可外接測試電源線或信號(hào)線使用（孔徑或孔數(shù)量可根據(jù)客戶需求制作）。10.工作室配有等距離的不銹鋼活動(dòng)隔板，用角鋼角做支架。11.高溫試驗(yàn)箱設(shè)有獨(dú)特的風(fēng)道，為試驗(yàn)箱溫度調(diào)節(jié)，循環(huán)的主體，使用材料為優(yōu)質(zhì)不銹鋼型材經(jīng)切割氬弧焊制作而成，高溫試驗(yàn)箱的加熱系統(tǒng)及溫度循環(huán)風(fēng)機(jī)、溫度進(jìn)出風(fēng)口均安裝在風(fēng)道中。12.高溫試驗(yàn)箱底部加四個(gè)活動(dòng)輪子，兩個(gè)帶自鎖功能。五、高溫試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：高溫試驗(yàn)箱滿足GB2423.1－2001試驗(yàn)A《高溫試驗(yàn)方法》國家標(biāo)準(zhǔn)，以及其它相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。嚴(yán)格按GB105，可在規(guī)定范圍內(nèi)進(jìn)行各種高溫環(huán)境試驗(yàn)。六、技術(shù)參數(shù)：1.溫度范圍：室溫+10℃～450℃2.溫度均勻度：±2℃3.溫度波動(dòng)度：±1℃4.控溫精度：1℃5.升溫速率：7～11℃/min6.時(shí)間設(shè)定范圍：1～9999秒、分鐘、小時(shí)可調(diào)7.電源電壓：AC1220V/50HZAC3380V/50HZ8.室體噪音：＜30dB七、高溫試驗(yàn)箱型號(hào)規(guī)格：1.型號(hào)：HT/GW-100內(nèi)箱尺寸:（寬*深*高mm）450×450×500外箱尺寸:（寬*深*高mm）1000×800×11002.型號(hào)：HT/GW-225內(nèi)箱尺寸:（寬*深*高mm）500×600×750外箱尺寸:（寬*深*高mm）1050×950×13503.型號(hào)：HT/GW-500內(nèi)箱尺寸:（寬*深*高mm）700×800×900外箱尺寸:（寬*深*高mm）1250×1150×15004.型號(hào)：HT/GW-800內(nèi)箱尺寸:（寬*深*高mm）800×1000×1000外箱尺寸:（寬*深*高mm）1350×1350×16005.型號(hào)：HT/GW-010內(nèi)箱尺寸:（寬*深*高mm）1000×1000×1000外箱尺寸:（寬*深*高mm）1550×1350×1600八、高溫試驗(yàn)箱電氣控制運(yùn)行系統(tǒng)：1.溫度控制儀表采用全進(jìn)口（日本富士、韓國TIME）高精度數(shù)顯PID微電腦控制儀表，控制精度高且穩(wěn)定性好，從而有效保證了溫度的波動(dòng)范圍及試驗(yàn)運(yùn)行。2.測溫傳感器：PT100鉑金電阻。3.加熱器：鰭片式散熱管形不銹鋼電熱器。4.溫度控制采用P.I.D＋S.S.R，系統(tǒng)同頻道協(xié)調(diào)控制，可提高控制元件與界面使用之穩(wěn)定性及壽命。5.觸控式設(shè)定、數(shù)位及直接顯示。6.具有P.I.D自動(dòng)演算之功能，可減少人為設(shè)定時(shí)帶來之不便。7.在運(yùn)轉(zhuǎn)或設(shè)定中，如發(fā)生故障會(huì)自動(dòng)切斷加熱電源。SJ2328-1983高溫試驗(yàn)設(shè)備通用技術(shù)條件......詳見：http://www.hongda17.cn[詳細(xì)]

  2018-08-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• SJ 2328 高溫試驗(yàn)設(shè)備通用技術(shù)條件

  SJ2328高溫試驗(yàn)設(shè)備通用技術(shù)條件[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• SJ 2330-1983 濕熱試驗(yàn)設(shè)備通用技術(shù)條件.pdf

  SJ 2330-1983 濕熱試驗(yàn)設(shè)備通用技術(shù)條件.pdf[詳細(xì)]

  2014-10-29 00:00

  報(bào)價(jià)單

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• SJ 2329-1983 溫度變化試驗(yàn)設(shè)備通用技術(shù)條件

  SJ2329-1983溫度變化試驗(yàn)設(shè)備通用技術(shù)條件詳情下載地址：http://www.hongda17.cn[詳細(xì)]

  2018-08-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• SJ 2326-1983 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備通用技術(shù)條件

  SJ 2326-1983 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備通用技術(shù)條件[詳細(xì)]

  2024-09-18 02:54

  實(shí)驗(yàn)操作

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• SJZ 2312-1983 電子工業(yè)氣候環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備測試方法

  SJZ 2312-1983 電子工業(yè)氣候環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備測試方法[詳細(xì)]

  2013-11-02 00:00

  操作手冊

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• SJ 20643-1997 脈沖氙燈總規(guī)范

  SJ 20643-1997 脈沖氙燈總規(guī)范[詳細(xì)]

  2013-12-23 00:00

  應(yīng)用文章

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• 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備解析

  環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備是模擬各類環(huán)境氣候，運(yùn)輸、搬運(yùn)、振動(dòng)、等條件下，是企業(yè)或機(jī)構(gòu)為驗(yàn)證原材料、半成品、成品質(zhì)量的一種方法。試驗(yàn)設(shè)備做試驗(yàn)，來驗(yàn)證材料和產(chǎn)品是否達(dá)到在研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造中預(yù)期的質(zhì)量目標(biāo)。廣泛用于大專院校、航空、航天、軍事、造船、電工、電子、YL、儀器儀表、石油儀表、石油化工、YL、汽摩等領(lǐng)域。環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備能按IEC、MIL、ISO、GB、GJB等各種標(biāo)準(zhǔn)或用戶要求進(jìn)行高溫、低溫、溫度沖擊（氣態(tài)及液態(tài)）、浸漬、溫度循環(huán)、低氣壓、高低溫低氣壓、恒定濕熱、交變濕熱、高壓蒸煮、砂塵、耐爆炸、鹽霧腐蝕、氣體腐蝕、霉菌、淋雨、太陽輻射、光老化等。[詳細(xì)]

  2018-08-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 低溫試驗(yàn)箱環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備

  低溫試驗(yàn)箱環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]

  2024-09-28 22:49

  產(chǎn)品樣冊

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• 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備實(shí)用知識(shí)

  環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備實(shí)用知識(shí)[詳細(xì)]

  2011-03-31 00:00

  標(biāo)準(zhǔn)

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• 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備選擇方法

  環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備選擇方法[詳細(xì)]

  2012-07-27 00:00

  專利

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• 選擇環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備依據(jù)

  選擇環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備依據(jù)[詳細(xì)]

  2012-09-17 00:00

  標(biāo)準(zhǔn)

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• 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備用戶常識(shí)

  環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備用戶常識(shí)[詳細(xì)]

  2009-12-22 00:00

  應(yīng)用文章

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• 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)目錄

  環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)目錄[詳細(xì)]

  2012-01-06 00:00

  應(yīng)用文章

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• 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備沖擊試驗(yàn)方法

  環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備沖擊試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2024-09-15 21:20

  其它

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• 怎樣選擇環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備

  怎樣選擇環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]

  2024-09-20 02:09

  標(biāo)準(zhǔn)

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• 怎么選擇環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備

  怎么選擇環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備[詳細(xì)]

  2024-09-29 11:02

  期刊論文

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• GBT 5170.11電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

  GBT5170.11-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備上海覽浩儀器設(shè)備有限公司電話：021-5978838159788382傳真：021-39651412更多產(chǎn)品信息請瀏覽:[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 模擬環(huán)境低溫試驗(yàn)測試國家標(biāo)準(zhǔn):低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

  中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn):低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件適用于對電工電子及其他產(chǎn)品\零部件及材料進(jìn)行低溫試驗(yàn)的試驗(yàn)箱.本內(nèi)容規(guī)定了低溫試驗(yàn)箱(簡稱試驗(yàn)箱)的使用技術(shù)條件,技術(shù)要求,試驗(yàn)方法,檢驗(yàn)規(guī)則及標(biāo)志,包裝,運(yùn)輸,貯存等要求.低溫試驗(yàn)箱適用范圍:用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變試驗(yàn)。還可以對電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。[詳細(xì)]

  2018-11-09 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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