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徠卡顯微PCB行業(yè)應用解決方案_2023版
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本文由 徠卡顯微系統(tǒng)(上海)貿易有限公司 整理匯編
2024-09-24 16:56 439閱讀次數
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徠卡顯微PCB行業(yè)應用解決方案_2023版
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PCB解決方案(**部分)
- 手持式XRF分析儀S1TITAN近年來,越來越多的制造商要求遵循一系列對于材料成分含量的準入限制條款,典型的如歐盟對有害物質(RoHS-II),以及2008年美國CPSIA對玩具中鉛的Z高含量限制,這些法規(guī)使得越來越多的生產商選擇使用XRF進行嚴格的質量控制。手持式XRF已然成為業(yè)界廣為接受的成品及原料篩選工具,其對于重金屬和其它限制物質的檢測頗為有效。美國消費產品安全委員會已認可手持式X射線熒光光譜儀為有效工具。S1TITAN600與800號可對無鉛產品進行完全無損檢測,也可檢測RoHS合規(guī)性,以及玩具和消費產品中的重金屬。且對鉛(Pb)、汞(Hg)、鉻(Cr)、砷(As)、銻(Sb)和鋇(Ba)檢測性能可達到ppm級別。優(yōu)點:分析快速而準確無損檢測現(xiàn)場測量微區(qū)準直器攝像頭選配件報告生成快速簡單安全加密數據儲存輕質,僅1.5公斤防護臺面支架X-RAY鍍層測厚儀M1MISTRAL測量RoHS指令元素高性能的M1MISTRAL也可以測量RoHS指令規(guī)定的輕基體中的痕量元素。直接控制電子電氣產品中有害元素的濃度。RoHS檢測要求>Cr,Br,Pb,Hg的濃度必須<1,000ppm>Cd的濃度必須<100ppm測量鍍層樣品采用X射線熒光技術的M1MISTRAL可以分析薄鍍層樣品,如印刷電路板、金屬或塑料件,包括單層鍍層和多層鍍層。XSpect軟件采用無標樣基本參數法,可以同時計算鍍層厚度和鍍層組成。使用標準樣品可以進一步提高定量分析的準確性。可分析的多層鍍膜樣品可以測定鍍層樣品的鍍層厚度及成分,例如:>Zn-Fe>Au-Ni-Cu>Au-Pd-Ni-Cu>CuSn-Ni-Cu>Au-Pd-Ni-CuX-RAY鍍層測厚儀M2BLIZZARDM2BLIZZARD是布魯克公司Zxin推出的一款微區(qū)X射線熒光光譜儀,依據ASTMB568和DIN/ISO3497,對材料成分和多層涂層厚度進行無損分析。采用開槽設計,非常適用于扁平形狀和尺寸過大的樣品,例如大型印刷電路板。該儀器采用全新的、世界領xian的XSpectPro軟件進行控制。主要特性:開槽構型,帶可伸長的“超大尺寸"樣品臺可以調節(jié)槽縫間隙(10或20毫米)設有大型、耐用的樣品托盤,用于樣品定位全新優(yōu)化XSpectPro操作軟件Zxian極n的XData軟件用于應用程序,標準樣品與數據庫管理可自定義設置用戶界面和測試結果界面具備波譜自動保存功能,用于測量后結果的再處理以及存檔用戶設定公差,可以方便地判定“合格/不合格"“峰值查找器",用于定性分析未知樣品軟件含有測試報告模板以供客戶編輯使用配置工業(yè)強度的腳踏開關,用于“開始/停止"測量(可選項)可完全設置SPC軟件,配合客戶工藝需求(可選項)儀器設計簡潔堅固,只需一條USB電纜與PC連接高性能微區(qū)X射線熒光光譜儀M4TORNADO-樹立了微區(qū)x射線熒光光譜儀的典范應用領域:質量控制與故障分析電子與電子部件的元素分布分析>鑲嵌圖像可顯示PCB里面各個細小電子部件>通過選擇性目標量化實現(xiàn)超級分布圖RoHS符合性>有害元素與限制性元素,如:Pb,Cd,Cr,Hg,Br,As,Sb,等.>量化觸點與焊接點的元素成分,如:Sn,Pb,Ag及Cu,等.>對IC芯片等單個電子部件進行無損元素分布檢查.>電子行業(yè)>研發(fā)部門>FA,QA/QC實驗室>教育研發(fā)機構>電子與電子工程學>材料科學>獨立科研實驗室如SGS,Intertek,等等.RoHS檢測測量一個PCB樣品。元素的面分布圖顯示了下列元素的分布情況:Br(綠色)、Cu(紅色)、Au(黃色)、Pb(白色)和Sn(粉紅色)。圖像的原始大?。?50x75像素測量時間:015s/像素。光學輪廓儀ContourGT集合領xian的64位,多核操作和分析軟件,ZL的白光干涉(WLI)硬件以及的簡易操作性于一身,是目前Zxian極n的三維光學輪廓儀。這款第十代的光學輪廓儀在大視場上提供快速。埃級到毫米級的垂直測量范圍,并有靈活的樣品設置和行業(yè)領xian的重現(xiàn)性。ContourGT是現(xiàn)今生產、研究和質量控制領域中Z具綜合性及直觀性的三維輪廓測量系統(tǒng)。大工件-光學輪廓儀NPFLEX布魯克的NPFlex三維表面測量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測量提供了Z靈活的非接觸式的方案,可廣泛用于YL植入,航空航天、汽車或精密加工上的大型、異型工件的測量?;诎坠飧缮嬖恚琋PFlex為用戶提供超過接觸式方法所能達到的更大數據量、更高分辨率和更好的重復性,使它成為獨立或者互補型的測量方案。開放式的龍門設計克服了以往某些零件由于角度或取向造成的測量困難,現(xiàn)在NPFlex可實現(xiàn)超過300度的測量空間。NPFlex的超級靈活性、數據準確性和測試效率為精密加工行業(yè)提供了一種簡單的方法,來實現(xiàn)其更苛刻的加工要求、更GX的加工工藝和更好的終端產品。原子力顯微鏡涵蓋了聚合物材料表征,集成光路測量,材料力字性能表征,MEMS制造,細胞表面形態(tài)觀察,生物大分子的結構及性質,數據存儲,金屬/合金/金屬蒸鍍的性質研究,食品、化字品、護膚品的加工/包裝,液晶材料性能表征,分子器件,生物傳感器,分子自組裝結構,光盤存儲,陶瓷工藝,薄膜性能表征,地質、能源、環(huán)境等領域的監(jiān)測等各類科研和生產工作。掃描電鏡鎢燈絲掃描電子顯微鏡是一款緊湊型鎢燈絲掃描電子顯微鏡,用于各種材料的綜合檢查和高分辨質量控制,其具有超大的樣品室、強大的輪式底盤和設計緊湊等特點,使其成為現(xiàn)場檢查的移動實驗室。采用眾多自動化功能和自我診斷的直觀觸摸屏控制界面,即使對于沒有經驗的用戶,也能保證得到高質量的結果。SEM應用⑴生物:種子、花粉、細菌⑵醫(yī)學:血球、病毒⑶動物:大腸、絨毛、細胞、纖維⑷材料:陶瓷、高分子、粉末、環(huán)氧樹脂⑸化學、物理、地質、冶金、礦物、污泥(桿菌)、機械、電機及導電性樣品,如半導體(IC、線寬量測、斷面、結構觀察)電子材料等。電鏡用EDS,WDS,EBSD.Micro-XRF及CT布魯克公司提供范圍多樣的系統(tǒng),適用于掃描和透射式電子顯微鏡的X射線能譜(EDS),波譜(WDS),電子背散射衍射(EBSD),以及X射線微區(qū)熒光(Micro-XRF)和Micro-CT。QUANTAXEDSForSEM是搭配在掃描電鏡上的快速、多功能能譜系統(tǒng)。QUANTAXEDSForS/TEM是搭配在透射或者掃描透射電鏡上的高性能能譜儀,對電鏡本身性能沒有任何影響。QUANTAXWDS是搭配在掃描電鏡上的高精度波長色散X射線譜儀。QUANTAXEBSD是搭配在掃描電鏡上兼?zhèn)涓咝阅芗耙子眯缘谋成⑸潆娮友苌湎到y(tǒng)。QUANTAXMicro-XRF把完整的XRF系統(tǒng)整合到了掃描電鏡上。Micro-CTforSEM通過計算機三維重構X射線形貌圖,展現(xiàn)樣品內部結構自動研磨拋光機全新精研一體機LeicaEMTXP徠卡EMTXP標靶面制備系統(tǒng)具有定點修塊拋光功能,是用鋸、磨、銑削、拋光樣品后,供掃描電鏡、透射電鏡,和LM技術檢測。帶有一體化視鏡,用于極ng確定位及對較細微難以觀察的目標位置進行樣品處理時觀察;使用樣品旋轉手柄,可以改變樣品觀察角度,0°-60°可調,或者垂直于樣品前表面90°觀察,可利用目鏡刻度標尺測量距離。為您帶來的優(yōu)勢一體化自動程序控制一體化自動程序控制,包括自動左右制動機制,前進反饋力控制,倒計書功能等,為使用者節(jié)約大量時間。適配工具多樣性可適配多種多樣工具,從而使樣品不經轉移就可以進行研磨,切割,鉆孔,打磨及拋光。并且整個處理過程都可以通過體視鏡進行觀察監(jiān)控,大大節(jié)省時間和費用。表面光潔度和標靶檢測表面處理與目標檢測,都通過一體化體視鏡來完成,用戶不需要專程將樣品拿出來再進行表面觀察檢測,這可大大提高使用者的工作效率。電化學工作站Autolab系列電化學工作站素以模塊化設計、皮實穩(wěn)定、軟件yi流著稱,標準配置的功能十分強大,能滿足用戶的絕大多數測試需要。在這個基礎之上,用戶還能夠配置不同的模塊和外部設備,以滿足特殊的測試要求。電化學工作站主要應用領域:電分析;腐蝕防護與控制儲能設備(燃料電池、電池、太陽能光伏電池、超級電容器等);點催化、電鍍、電解、電點溶解、點沉積、電合成;涂層研究(有機涂層及無機涂層)、納米科學、導電聚合物的膜科學、化學機械拋光、借點材料和半導體材料;生物傳感器;光譜電化學相關行業(yè):電池及電池材料工業(yè)、電鍍工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、航天工業(yè)、國防工業(yè)、汽車、石化、化學加工、包裝、涂料、半導體等業(yè)等。新一代紫外一可見分光光度計SPECORD?PLUS從常規(guī)分析到特殊應用,免費為各個應用領域提供了操作GX、便捷的全套解決方案。在化學、制藥、醫(yī)學、食品、壞境、材料、生命科學等諸多領域,SPECORD?PLUS都為您提供了全面的實驗方法。全息光柵單色器有效減少雜散光;Z少的機械移動部件,提供Z穩(wěn)定的性能、極高信噪比和優(yōu)化的非球面光學系統(tǒng)有著的成像質量;革新的CDD技術檢測器確保測定結果不受環(huán)境溫度影響。高性能全新系列總有機碳/總氮分析儀來的德國耶拿-分析技術領軍者廣泛應用:半導體行業(yè)半導體行業(yè)要求生產過程用水中的TOC含量低至PPB級環(huán)境監(jiān)測符合國際、國內各類環(huán)境標準要求電廠和蒸汽廠滿足電廠和蒸汽廠的TOC分析要求垃圾和土壤土壤、沉積物和垃圾樣品中的TOC/TN的分析水質監(jiān)測應用水、自來水、地表水、江河水、海水、污水等制藥和YL遵循USP28、歐洲藥典、ZG藥典及其他相關國際國內標準,和清潔驗證的要求X射線光電子能譜儀專為生產率而設計,從研究分析到日常測試ThermoScientificK-Alpha是一款完全集成的X射線光電子能譜。獲獎的Zxin版K-Alpha平臺特征光譜性能顯著提高,提供更高計數率和更快分析時間,改善化學探測能力。分析選配件包括一個角分辨XPS傾斜模塊和一個循環(huán)惰性氣體手套箱,用于轉移空氣敏感樣品。K-Alpha帶來一系列激動人心的新軟件特征,旨在進一步增強用戶體驗。K-Alpha是專為多用戶環(huán)境而設計,先進的單色X射線光電子能譜性能與智能自動化及直觀控制相結合,同時滿足有經驗XPS分析人員及新人對此項技術的需求。鉑悅儀器自2004年成立以來,憑借與世界各大儀器知名品牌的戰(zhàn)略合作關系,以及不斷優(yōu)化公司自身經營管理,提高服務質量,成為ZG國內知名的儀器供應商。鉑悅儀器所提供的產品均屬于高科技行業(yè),產品包括高精度的分析儀器、檢測儀器和生產設備,以及配套的耗材和配件,這些產品廣泛應用于工業(yè)、半導體、太陽能、醫(yī)藥、YL器械、生物、能源、電子、石化等各個領域并服務于各大院校、研究所、檢測機構、及政府部門等。鉑悅儀器不僅擁有高品質的產品,更培養(yǎng)了專業(yè)的銷售、技術和售后服務團隊,本著客戶至上的原則,從客戶的實際需求出發(fā),鉑悅儀器為每一位客戶量身訂制Z適合的綜合解決方案,并提供持續(xù)而良好的售后服務,由此也獲得了廣大客戶的信任與認可。鉑悅儀器的總公司設立在上海,并在北京、廣州、成都等共設立了七個辦事處,在能及時引進國外先進技術的同時,保證了鉑悅儀器能快速、有效的為全國各地的客戶提供良好的服務。馬上聯(lián)系我們:021-37018108,info@boyuesh.com[詳細]
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2018-08-15 10:57
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2018-11-15 10:01
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