本文由 賽默飛化學(xué)分析儀器 整理匯編

2007-03-21 00:00 571閱讀次數(shù)

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• 納米硅薄膜的鏡反射紅外光譜研究

  納米硅薄膜的鏡反射紅外光譜研究[詳細(xì)]

  2007-03-21 00:00

  報價單

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• di-soric鏡反射傳感器

  di-soric鏡反射傳感器代理di-soric鏡反射傳感器di-soric鏡反射傳感器可用在多個不同的應(yīng)用領(lǐng)域。產(chǎn)品特點(diǎn)是堅固的外殼和緊湊的設(shè)計。產(chǎn)品防護(hù)等級為IP69K，在嚴(yán)苛的工作環(huán)境以及戶外應(yīng)用穩(wěn)定。發(fā)射器和接收器同在一體，發(fā)射器發(fā)出的光經(jīng)鏡面反射，由接收器接收。產(chǎn)品型號較多，有不同的感應(yīng)范圍，為客戶提供好而不貴的方案。鏡反射光電開關(guān)高分辨率檢測范圍可達(dá)10m靈敏度通過電位計或示教功能調(diào)節(jié)不銹鋼外殼外殼防護(hù)等級IP69KDATASHEETS光電開關(guān)IP69KProductfamilyseries30PhotoelectricSensorsLaserPhotoelectricSensorsFLYER光電開關(guān)Blackline光電開關(guān)IP69Kdi-soric鏡反射傳感器di-soric鏡反射傳感器[詳細(xì)]

  2018-09-21 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• wenglor鏡反射傳感器K1R87PCT2說明書

  wenglor鏡反射傳感器K1R87PCT2說明書鏡反射傳感器透明玻璃檢測專用K1R87PCT2便于裝配切換閾值的動態(tài)補(bǔ)充調(diào)節(jié)示教屏、外部示教、RS-232接口透明玻璃識別這種傳感器的正常運(yùn)作需要一個反射器。wenglor為每種應(yīng)用提供適當(dāng)?shù)溺R面反射光柵。甚至連玻璃透明的對象和薄膜也可能得到可靠識別?；贛18螺紋緊固系統(tǒng)，傳感器得以簡便安裝，并受到機(jī)械式保護(hù)。時間延遲功能只能通過RS-232接口激活。光學(xué)數(shù)據(jù)作用范圍4000mm基準(zhǔn)反射器/反射膜RQ100BA透明玻璃識別是切換遲滯<5%光線類型紅光偏振鏡是使用壽命（Tu=+25°C）100000hZda允許的外部光線10000Lux張角5°單透鏡系統(tǒng)是電氣數(shù)據(jù)供電電壓10...30VDC電流消耗（Ub=24V）<40mA切換頻率1700Hz響應(yīng)時間250s吸合/脫扣時間延遲（RS-232）0...5s溫度偏差<5%溫度范圍-10...60°C切換輸出端壓降<2,5VPNP切換輸出端切換電流200mA切換輸出端剩余電流<50A抗短路是反極性保護(hù)是防過載是可鎖定是示教模式MT防護(hù)類別III機(jī)械數(shù)據(jù)調(diào)整方式示教屏外殼材料塑料全鑄型是防護(hù)等級IP67接口類型M12×1；4針輸出功能PNP常閉觸點(diǎn)/常開觸點(diǎn)（可切換）是具有轉(zhuǎn)接盒的RS-232是[詳細(xì)]

  2018-11-14 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 反射光譜法計算薄膜厚度

  M0061-反射光譜法計算薄膜厚度[詳細(xì)]

  2019-01-18 11:07

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• 立方氮化硼(C-BN)薄膜的紅外光譜

  立方氮化硼(C-BN)薄膜的紅外光譜[詳細(xì)]

  2006-10-22 00:00

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• 使用積分球測定樣品的鏡反射和漫反射光譜

  使用積分球測定樣品的鏡反射和漫反射光譜[詳細(xì)]

  2024-10-09 18:47

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• NanoCalc薄膜反射光譜儀系統(tǒng)產(chǎn)品樣冊

  NanoCalc薄膜反射光譜儀系統(tǒng)產(chǎn)品樣冊[詳細(xì)]

  2016-10-20 11:06

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  單次反射ATR法測定高分子薄膜[詳細(xì)]

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  由于底材的影響，薄膜材料彈性模量的可靠測量是非常有挑戰(zhàn)性的。特別是當(dāng)薄膜厚度小于200nm的時候，限制測試10%的鍍膜厚度來避免底材機(jī)械力因素是一種有效的預(yù)防原則。探針的曲率半徑是許多影響因素之一。[詳細(xì)]

  2021-04-25 11:36

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• 薄膜的磁控濺射沉積研究

  薄膜的磁控濺射沉積研究[詳細(xì)]

  2024-09-12 18:28

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  紅外光譜研究的物體的的性質(zhì)[詳細(xì)]

  2008-07-31 00:00

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• 使用積分球測定阻燃布樣品的鏡反射和漫反射光譜

  使用積分球測定阻燃布樣品的鏡反射和漫反射光譜[詳細(xì)]

  2010-06-24 00:00

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  納米硅 測定比表面積BET法[詳細(xì)]

  2009-07-10 00:00

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  2009-03-26 00:00

  期刊論文

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• 美國AST光譜反射薄膜分析儀SR300產(chǎn)品樣冊

  美國AST光譜反射薄膜分析儀SR300產(chǎn)品樣冊[詳細(xì)]

  2016-10-20 10:19

  專利

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• 【海洋光學(xué)】NanoCalc薄膜反射光譜儀系統(tǒng)產(chǎn)品樣冊

  【海洋光學(xué)】NanoCalc薄膜反射光譜儀系統(tǒng)產(chǎn)品樣冊[詳細(xì)]

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  應(yīng)用紅外光譜研究生物大分子的結(jié)構(gòu)[詳細(xì)]

  2024-09-18 18:09

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• eQCM研究聚合物薄膜

  ThisApplicationNoteisintendedtoprovidethereaderwithageneralframeworkforcharacterizationofanelectroactivepolymerfilm.Electropolymerizationisaconvenientwaytocontrolfilmgrowtheitherthroughrepeatedcyc領(lǐng),potentialsteps,orcurrentsteps.Examinationofthefilmredoxbehaviorinmonomer-free,freshelectrolyteprovidesinsightondopinganddedopingofthesepolymerfilms.Polybithiophenefilmswereassembledbycyc領(lǐng)anAu-coated10MHzquartzcrystalbetween0and1.5Vinthepresenceof1mMbithiophenesolutioncontaining100mMtetrabutylammoniumperchlorate(TBAP)inacetonitrile(MeCN).PotentialsarereportedagainstaAg/Ag+pseudo-referenceelectrode.TheTefloncellwasoutfittedwithaTeflono-ringtopreventswel領(lǐng)fromtheacetonitrileandplacedinsideaVistaShield.ThecellwasconnectedtoaneQCM10MwhichwascoupledtoaReference600.BothinstrumentswereconnectedtoacomputerrunningResonatorversion5.67.Bithiophene,electropolymerizesviaatwo-electronoxidationatpotentialsgreaterthan~1.25VversusaAg/Ag+pseudoreferenceelectrode.[詳細(xì)]

  2018-08-30 10:00

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• 納米硬度計表征薄膜（涂層）力學(xué)性質(zhì)

  納米硬度計表征薄膜（涂層）力學(xué)性質(zhì)[詳細(xì)]

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