本文由 杭州奧科環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編

2018-10-13 10:00 682閱讀次數(shù)

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• 試驗(yàn)A-低溫試驗(yàn)方法

  GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Ab和試驗(yàn)Ad與早期版本無實(shí)質(zhì)性的差異，增加試驗(yàn)Ae的目的主要是檢測那些要求在整個(gè)試驗(yàn)過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行的設(shè)備。本低溫試驗(yàn)的目的于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用，運(yùn)輸或貯存的能力。本低溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下應(yīng)采用GB/T2423.22[詳細(xì)]

  2018-10-13 10:00

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• GB/T2423.1-基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A-低溫試驗(yàn)方法

  GB/T2423.1-電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A-低溫試驗(yàn)方法更過標(biāo)準(zhǔn)下載聯(lián)系：上海覽浩儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

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• GB2423.01-1989 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

  GB2423.01-1989 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2015-10-28 00:00

  應(yīng)用文章

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• GB-T2423.1_2008試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

  GB/T2423.1-2008/IEC60068-2-1:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫1范圍GB/T2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品．試驗(yàn)Ab與試驗(yàn)Ad與早期版本無實(shí)質(zhì)性的差異”，增加試驗(yàn)Ae的目的主要是檢測那些要求在整個(gè)試驗(yàn)過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行的設(shè)備。[詳細(xì)]

  2018-11-15 10:00

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• 電子電工產(chǎn)品試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

  皓天設(shè)備長期致力于研發(fā)生產(chǎn)恒溫恒濕試驗(yàn)箱，冷熱沖擊試驗(yàn)箱，高低溫試驗(yàn)箱等環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備，在這方面，我司取得長足的技術(shù)進(jìn)步和發(fā)展，成為國內(nèi)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備生產(chǎn)企業(yè)廠家。制造業(yè)的使命是一切以客戶的需求為導(dǎo)向,對(duì)客戶提供**的產(chǎn)品,以優(yōu)良的品質(zhì)及迅速負(fù)責(zé)的工作熱忱來獲取客戶的信賴和支持,并為公司創(chuàng)造利潤奠定基石,建立開創(chuàng)永繼經(jīng)營的有利條件,本廠全體同仁必須遵照品質(zhì)政策及品質(zhì)目標(biāo)落實(shí)執(zhí)行,且依據(jù)以上之品質(zhì)承諾,建立符合持續(xù)改善品質(zhì)管理要求[詳細(xì)]

  2018-11-09 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• GB/T 2423.1-1989 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

  GB/T2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境測試規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

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• GB/T 2423.1-1989 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

  附件資料內(nèi)容關(guān)于《GB/T2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法》的詳細(xì)分析紹，由東莞市皓天試驗(yàn)設(shè)備有限公司提供，下載請(qǐng)注明出處，謝謝合作！了解更多相關(guān)內(nèi)容，可撥打13600248795余小姐，竭誠為您服務(wù)！[詳細(xì)]

  2018-10-23 10:31

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• 低溫試驗(yàn)方法

  GBT2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法.pdf[詳細(xì)]

  2018-08-19 10:00

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• GB2423.1-89試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法--上海林頻

  上海林頻儀器股份有限公司座落于ZG上海市科技產(chǎn)業(yè)基地之一的閔行經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)。是一家專業(yè)從事環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)?，F(xiàn)已發(fā)展成為國內(nèi)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)之一。公司生產(chǎn)各類環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備:鹽霧箱,高低溫箱,恒溫恒濕箱,高溫箱,低溫箱,高低溫交變濕熱箱,干燥箱,真空干燥箱,溫度沖擊箱,藥品穩(wěn)定箱,臭氧老化試驗(yàn)箱,紫外耐候試驗(yàn)箱,氙燈耐氣候試驗(yàn)箱,換氣式老化試驗(yàn)箱,砂塵試驗(yàn)箱,箱式淋雨試驗(yàn)箱,擺管淋雨試驗(yàn)裝置,滴水試驗(yàn)裝置,二氧化硫試驗(yàn)箱,霉菌試驗(yàn)箱,防銹油脂濕熱試驗(yàn)箱,鹽霧試驗(yàn)室,大型步入式試驗(yàn)箱,溫度老化試驗(yàn)室,溫濕度振動(dòng)試驗(yàn)箱,溫度快速變化試驗(yàn)箱,單翼跌落試驗(yàn)機(jī),振動(dòng)試驗(yàn)設(shè)備.同時(shí)我廠還可以根據(jù)客戶需要設(shè)計(jì)非標(biāo)產(chǎn)品，歡迎廣大新老客戶前來公司洽談、指導(dǎo)!以上產(chǎn)品我司均嚴(yán)格按照行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)及相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)制造,符合的標(biāo)準(zhǔn)有:GB/T2423.17-2008、GB/T2423.18-2000《電工電子產(chǎn)品基本規(guī)程試驗(yàn)Ka》，鹽霧試驗(yàn)方法及GB/T10125-1997、GB/T10587-2006、GB10593.2-1990、GB/T1765-1979、GB/T1771-2007、GB/T12967.3-2008、GB/T5170.8-2008以及等效的IEC、GB/T2423.1-2008、GB/T2423.2-2008、GB/T5170.5-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A、GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B、GB/T2423.3-2006試驗(yàn)Ca、GB/T2423.4-2008試驗(yàn)Db、MIL、DIN、ASTM、GB/T16422.2-1999、（GB/T1865-2009、GB/T2423.24-1995、ASTMG155、ISO10SB02/B04、SAEJ2527、SAEJ2412）、GB/T4942.2-1993及外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）GB4208-2008、GB/T10485-2007、GB/T7762-2003、GB/T2951.21-200、GB/T14522-2008、GB/T16422.3-1997、GB/T16585-96等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，祥情請(qǐng)瀏覽：http://www.linpin.com.cn[詳細(xì)]

  2018-09-03 10:00

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• GB2423.01 2001 電工電子產(chǎn)品 試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法

  GB2423.012001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

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• 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法

  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2024-09-17 01:54

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• 電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)方法

  電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2015-08-20 00:00

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• 環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)

  環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)[詳細(xì)]

  2014-02-20 00:00

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• GB2423.01低溫試驗(yàn)方法

  GB2423.01低溫試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

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• GB2423.1-89 低溫試驗(yàn)方法

  東莞市皓天試驗(yàn)設(shè)備有限公司發(fā)布GB2423.1-89低溫試驗(yàn)方法拱對(duì)試驗(yàn)箱感興趣的朋友進(jìn)行參考：如需要更詳細(xì)的了解可與本公司銷售部同仁洽淡！或進(jìn)入東莞市皓天試驗(yàn)設(shè)備有限公司了解。[詳細(xì)]

  2018-10-23 10:31

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• GB-T2423.1-2008A-低溫試驗(yàn)方法

  GB/T2423.1是GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的**部分，GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見資料性附錄NA。本部分等同采用IEC60068-2-1《環(huán)境試驗(yàn)第2-1部分:試驗(yàn)試驗(yàn)A：低溫》（英文版）本部分與IEC60068-2-1:2007相比，主要做了下列編輯性修改：---本部分為的名稱改為：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》---“本標(biāo)準(zhǔn)”一詞改為“本部分”；---刪除了IEC60068-2-1:2007前言；---刪除了IEC60068-2-1:2007引言，將其內(nèi)容轉(zhuǎn)化為增的資料性附錄NB的內(nèi)容；---增加了資料性附錄“GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分”（見附錄NB）；---增加了資料性附錄“試驗(yàn)A:低溫和試驗(yàn)B：高溫的分類代號(hào)小寫字母之間的關(guān)系”（見附錄NB）---刪除了第1章第1段中的“對(duì)于非散熱試驗(yàn)樣品”；---第1章中Z后兩段的內(nèi)容移到4.1中；---4.3標(biāo)題“非散熱試驗(yàn)樣品”改為“非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)”；---6.2Z后一段原文為正文，本部分改為注。為清晰起見，上述修改已在正文相應(yīng)位置加了腳注。本部分代替GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》，與之相比，主要變化如下：---刪除了試驗(yàn)Aa：非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的低溫試驗(yàn)；---刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E；---增加了試驗(yàn)Ae：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)一試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。本部分的附錄NA、附錄NB為資料性附錄。本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC8）提成并歸口。本部分有廣州電器科學(xué)研究院負(fù)責(zé)起草。本部分主要起草人：張志勇。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為；-------CB/T2423.1一1981、CB/T2423.1一1989、CB/T2423.1一2001.[詳細(xì)]

  2018-11-20 10:00

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• GJB 6458.20-2008 火箭炮試驗(yàn)方法 第20部分：低溫試驗(yàn)

  GJB 6458.20-2008 火箭炮試驗(yàn)方法 第20部分：低溫試驗(yàn)[詳細(xì)]

  2014-12-01 00:00

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• GB/T2423.1-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB/T2423.1-89標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：已作廢替代情況：替代GB2423.1-81;被GB/T2423.1-2001[詳細(xì)]

  2018-09-13 10:00

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• GJB 6458.20 火箭炮試驗(yàn)方法 第20部分：低溫試驗(yàn)

  GJB6458.20-2008火箭炮試驗(yàn)方法第20部分：低溫試驗(yàn)[詳細(xì)]

  2018-09-14 10:00

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• GB2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) A 低溫試驗(yàn)方法

  GB2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法[詳細(xì)]

  2018-10-05 10:00

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