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GB/T 2423.16-1999 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分 長霉
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本文由 武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備有限公司 整理匯編
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GB/T2423.16-1999電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分長霉,該標(biāo)準(zhǔn)所作的試驗(yàn)采用經(jīng)過選擇的霉菌孢子在已經(jīng)裝配的樣品上接種,然后再促進(jìn)孢子發(fā)芽和霉菌生長的條件下培養(yǎng)一段時間的方法進(jìn)行長霉試驗(yàn),采用的試驗(yàn)裝置為霉菌試驗(yàn)箱。
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GB/T 2423.16-1999 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分 長霉
- GB/T2423.16-1999電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分長霉,該標(biāo)準(zhǔn)所作的試驗(yàn)采用經(jīng)過選擇的霉菌孢子在已經(jīng)裝配的樣品上接種,然后再促進(jìn)孢子發(fā)芽和霉菌生長的條件下培養(yǎng)一段時間的方法進(jìn)行長霉試驗(yàn),采用的試驗(yàn)裝置為霉菌試驗(yàn)箱。[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:01
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 2423.10-1995 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 正弦振動
- GB/T2423.10-1995電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法正弦振動主要是提供一種確定元器件、設(shè)備及氣體產(chǎn)品承受規(guī)定登記正弦振動能力的標(biāo)準(zhǔn)方法(在此,我們要提醒廣大用戶的是,這里指的是正弦振動,不是隨機(jī)振動)。我們一般用的是電磁吸合式振動試驗(yàn)臺。武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備有限公司供應(yīng)的振動試驗(yàn)臺有定頻、變頻的,也有兩個方向、四個方向、六個方向的振動試驗(yàn)臺。頻率方位由600Hz-2000Hz等規(guī)格的產(chǎn)品。售后服務(wù)方面:只要您不是認(rèn)為因素導(dǎo)致產(chǎn)品故障或不能使用,我們都可以包換,但是,運(yùn)費(fèi)可得您出。這是因?yàn)槲覀兏矣谶@么擔(dān)保,是因?yàn)楫a(chǎn)品質(zhì)量過硬,一直以來都極低的返修率的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),讓我們率先提出振動試驗(yàn)臺業(yè)內(nèi)Z嚴(yán)售后服務(wù)標(biāo)準(zhǔn)。[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:01
產(chǎn)品樣冊
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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則:長霉 GB/T 2423.16-1999
- 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則:長霉GB/T2423.16-1999idtIEC68-2-10:1988[詳細(xì)]
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2018-09-29 10:01
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 12085.11-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法:長霉
- GB/T12085.11-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第11部分:長霉規(guī)定了長霉試驗(yàn)用的試驗(yàn)菌種,試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。目的是研究長霉對試樣的光學(xué)、熱學(xué)、化學(xué)、機(jī)械和電氣的工作性能的影響程度,以及估價霉菌代謝產(chǎn)物(比如酶或酸性物質(zhì))導(dǎo)致對零件的腐蝕程度或引起想線路板的短路等嚴(yán)重程度。試驗(yàn)所需設(shè)備為武漢尚測試驗(yàn)設(shè)備有限公司的霉菌試驗(yàn)箱,[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T2423.16-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則 長霉
- GB/T2423.16-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則長霉免費(fèi)下載地址:http://www.bjlihui.comE-mail:lihui@bjlihui.com[詳細(xì)]
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2018-09-29 10:02
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 2423.5-1995 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 沖擊
- GB/T2423.5-1995標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)?zāi)康氖怯脕斫衣稒C(jī)械弱點(diǎn)和(或)性能下降情況,并且利用這些資料,結(jié)合有關(guān)規(guī)范,來決定是否可以接收。GB/T2423.5-1995電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)沖擊標(biāo)準(zhǔn)的沖擊不是用來模擬實(shí)際所遭受的沖擊,可能的話,加于樣品的試驗(yàn)嚴(yán)酷等級和沖擊脈沖波形應(yīng)能模擬樣品將要經(jīng)受到的實(shí)際運(yùn)輸和工作環(huán)境的效應(yīng)。[詳細(xì)]
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2018-10-08 10:01
產(chǎn)品樣冊
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GBT 2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則長霉
- GBT2423.16-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則長霉[詳細(xì)]
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2018-09-04 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 10588-2006 長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件
- GB/T10588-2006長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了長霉試驗(yàn)箱(以下簡稱“試驗(yàn)箱”)的術(shù)語和定義、使用條件、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則及標(biāo)志、包裝、貯存。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對電子、電工及其他產(chǎn)品、零部件、材料進(jìn)行長霉試驗(yàn)的試驗(yàn)箱。(資料來源:中科美其(北京)科技有限公司試驗(yàn)設(shè)備有限公司技術(shù)部)[詳細(xì)]
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2018-09-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件:GB/T 10588-2006
- 長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件:GB/T10588-2006適用于電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件、材料進(jìn)行長霉試驗(yàn)的試驗(yàn)箱。本標(biāo)準(zhǔn)只是“環(huán)境試驗(yàn)條件之一”具體標(biāo)準(zhǔn)目錄如下:GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB/T10587-2006鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB/T10588-2006長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB/T10589-1989低溫濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB/T10590-2006高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB/T10591-1989高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB/T10592-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB/T11158-2006高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件[詳細(xì)]
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2018-11-09 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 231.2-2012 金屬材料 布氏硬度第二部分
- GB/T231.2-2012金屬材料布氏硬度第二部分:硬度計(jì)的校驗(yàn)與校準(zhǔn)[詳細(xì)]
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2018-10-15 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GBT 2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則長霉.pdf
- GBT 2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則長霉.pdf[詳細(xì)]
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2015-01-26 00:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 17394.2-2012金屬材料里氏硬度試驗(yàn) 第二部分
- GB/T17394.2-2012金屬材料里氏硬度試驗(yàn)第二部分:硬度計(jì)的校驗(yàn)與校準(zhǔn)[詳細(xì)]
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2018-10-15 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T 230.1-2009金屬材料洛氏硬度試驗(yàn) 第二部分:硬度計(jì)
- GB/T230.1-2009金屬材料洛氏硬度試驗(yàn)**部分:硬度計(jì)(A,B,C,D,E,F,G,H,K,N,T標(biāo)尺)的檢驗(yàn)與校準(zhǔn)[詳細(xì)]
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2018-10-15 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T2423.37-2006電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 沙塵試驗(yàn)方法
- GB/T2423.37-2006電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)沙塵試驗(yàn)方法[詳細(xì)]
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2018-09-19 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB 10588-2006 長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件.
- GB 10588-2006 長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件.[詳細(xì)]
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2014-04-26 00:00
報(bào)價單
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GB/T10588-2006長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件
- GB/T10588-2006長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件,指向“"或“"右擊鼠標(biāo),目標(biāo)另存為(A)。。。。。。。東莞市環(huán)宇檢測儀器有限公司是一家專業(yè)生產(chǎn)和銷售電池檢測設(shè)備,電池?cái)D壓試驗(yàn)機(jī),電池針刺試驗(yàn)機(jī),電池沖擊試驗(yàn)機(jī),恒溫恒濕箱,紙箱抗壓試驗(yàn)機(jī),環(huán)壓強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī),模擬運(yùn)輸振動臺,熔融指數(shù)儀,拉力試驗(yàn)機(jī)等,環(huán)宇品牌,因?yàn)閷I(yè),所以值得信賴!TEL:0769-22673533,22673599,22767130,22013346FAX:0769-22673576http://www.bell0769.com.cnhttp://www.huanyu17.cn[詳細(xì)]
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2018-09-13 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB 10588-2006 長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件
- GB10588-2006長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件詳細(xì)資料請下載瀏覽附件北京恒泰豐科公司服務(wù)承諾:向您提供全方位的售前、售中、售后服務(wù)。選型時提供完善的技術(shù)支持,及免費(fèi)的技術(shù)培訓(xùn),定期回訪,產(chǎn)品終身維修。[詳細(xì)]
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2018-10-05 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB/T2423.16-第2部分:試驗(yàn)J及導(dǎo)則:長霉
- GB/T2423.16-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)J及導(dǎo)則:長霉上海覽浩儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]
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2018-09-03 10:00
產(chǎn)品樣冊
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GB 2423.04-1993 電子電工產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程-交變濕
- GB 2423.04-1993 電子電工產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程-交變濕[詳細(xì)]
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2011-09-10 00:00
期刊論文
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GBT2423.16-1999長霉免費(fèi)下載
- GBT2423.16-1999長霉免費(fèi)下載北京北方利輝試驗(yàn)設(shè)備有限公司http://www.bjlihui.com[詳細(xì)]
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2018-09-19 10:00
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