本文由 廣州領(lǐng)拓儀器科技有限公司 整理匯編

2025-08-26 14:27 183閱讀次數(shù)

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• 徠卡EM TXP應用技巧：一刀校準樣品切割方向

  本文將介紹如何在EM TXP的操作過程中快速校準樣品的切割和研磨?向，可以應?于?屬、玻璃和微電?器件等多種類型樣品的缺陷分析前處理。[詳細]

  2025-08-26 14:27

  實驗操作

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• 徠卡精研一體機-Leica EM TXP

  徠卡精研一體機EM TXP標靶面制備系統(tǒng)具有定點修塊拋光功能，是用鋸、磨、銑削、拋光樣品后，用于電子顯微鏡（TEM-透射電子顯微鏡和SEM-掃描電子顯微鏡）、LM（光學顯微鏡）、共聚焦顯微鏡和AFM（原子力顯微鏡）檢驗。 帶有一體化體視鏡，用于準確定位及對細微難以觀察的目標位置進行樣品處理時觀察；使用樣品旋轉(zhuǎn)手柄，可以改變樣品觀察角度，0°－60°可調(diào)，或者垂直于樣品前表面90°觀察，可利用目鏡刻度標尺測量距離。 一體化自動程序控制，包括自動左右制動機制，前進反饋力控制，倒計數(shù)功能等，為使用者節(jié)約大量時間。 表面處理與目標檢測，都通過一體化體視鏡來完成，用戶不需要專程將樣品拿出來再進行表面觀察檢測，這可大大提高使用者的工作效率。 可適配多種多樣工具，從而使樣品不經(jīng)轉(zhuǎn)移就可以進行磨削、切割、鉆孔、研磨及拋光。并且整個處理過程都可通過體視鏡進行觀察監(jiān)控，大大節(jié)省時間和費用。[詳細]

  2024-09-12 16:05

  產(chǎn)品樣冊

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• 徠卡 精研一體機 Leica EM TXP產(chǎn)品樣冊

  徠卡精研一體機 Leica EM TXP產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2016-10-20 09:15

  安裝說明

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• 德國徠卡 精研一體機EM TXP產(chǎn)品樣本

  全新的精研一體機[詳細]

  2024-09-27 10:46

  產(chǎn)品樣冊

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• 徠卡Leica EM TXP精研一體機 產(chǎn)品樣冊

  LEICA EM TXP是一款獨特的可對目標區(qū)域進行準確定位的表面處理工具，特別適合于SEM，TEM及LM觀察之前對樣品進行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品，如需要對目標精細定位或需對肉眼難以觀察的微小目標進行定點處理。有了 Leica EM TXP，這些工作就可輕松完成。[詳細]

  2024-05-15 16:50

  產(chǎn)品樣冊

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• 德國徠卡 精研一體機 EM TXP產(chǎn)品單頁

  一款專門的可對目標區(qū)域進行精確定位的表面處理工具[詳細]

  2024-09-27 10:45

  產(chǎn)品樣冊

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• 徠卡三離子束切割儀-Leica EM TIC 3X

  Leica EM TIC 3X 通過離子槍激發(fā)獲得的離子束，以垂直于樣品側(cè)面縱向轟擊樣品，可獲得高質(zhì)量無應力“切割”截面，便于SEM觀察。該處理方法適用于多層膜材料、軟硬復合材料等高難度制備樣品，并且操作簡單，可有效避免涂抹效應，不需要大量摸索條件即可獲得理想的截面，使樣品暴露內(nèi)部細微結(jié)構(gòu)信息。[詳細]

  2024-09-11 17:47

  產(chǎn)品樣冊

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• 精研一體機 Leica EM TXP資料

  精研一體機 Leica EM TXP資料[詳細]

  2016-01-29 00:00

  標準

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• 徠卡 三離子束切割儀 Leica EM TIC 3X產(chǎn)品樣冊

  徠卡三離子束切割儀 Leica EM TIC 3X產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2024-09-28 00:31

  其它

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• 德國徠卡 三離子束切割儀 EM TIC 3X產(chǎn)品單頁

  德國徠卡 三離子束切割儀 EM TIC 3X產(chǎn)品單頁[詳細]

  2024-09-27 23:50

  產(chǎn)品樣冊

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• 鉑金樣品支架的應用技巧

  鉑金樣品支架的應用技巧[詳細]

  2024-09-28 01:21

  其它

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• 徠卡電鏡制樣產(chǎn)品資料_Leica EM TXP精研一體機_樣本、參數(shù)、價格、應用案例、配置對比等

  LEICA EM TXP是一款專門的可對目標區(qū)域進行精確定位的表面處理工具,非常適合于SEM, TEM及LM觀察之前對樣品進行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品，如需要對目標精細定位或需對肉眼難以觀察的微小目標進行定點處理。有了徠卡EM TXP,這些工作就可輕松完成。 [詳細]

  2024-09-27 10:47

  產(chǎn)品樣冊

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• 徠卡 電子顯微鏡 EM綜合產(chǎn)品目錄

  徠卡 電子顯微鏡 EM綜合產(chǎn)品目錄[詳細]

  2024-09-30 16:34

  選購指南

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• 使用離子束制備SEM樣品：徠卡EM TIC 3X三離子束研磨儀

  "如今，離子束蝕刻技術(shù)是應用Z廣泛的電子顯微鏡樣品制備方法。在蝕刻過程中，高能氬離子束轟擊樣品，并根據(jù)其應用領(lǐng)域調(diào)整離子束能量和切割角度。 在制備掃描電子顯微鏡樣品時，離子束蝕刻可改善或修改樣品表面質(zhì)量。 首先，離子束刻蝕能夠清潔、拋光或增加表面的襯度。經(jīng)離子束處理的樣品表面足以適用于各種靈敏的表面性能測試方法（如EBSD）。 另外，離子束刻蝕也可以通過斜面切割制備樣品的橫截面。 徠卡EM TIC 3X是一款離子束研磨儀，用于制備掃描電子顯微鏡樣品?？梢灾苽錁悠返臋M截面以及大面積表面。 樣品的橫截面還可以使用低能離子束再次處理。該處理過程既可以清洗橫截面，也能增強其襯度。 另外，EM TIC 3X可以通過離子束拋光工藝改進樣品的機械拋光表面。樣品表面的Z大離子束制備直徑為 25mm，Z大樣品直徑為38mm。 離子束拋光可以清洗、拋光樣品表面，并增強其襯度，可以在一臺儀器中完成所有類型的掃描電子顯微鏡樣品制備流程。 該儀器配備了一個模塊化的系統(tǒng)，可配置5種適用于不同應用的樣品臺：標準樣品臺，冷凍樣品臺，多樣品臺，旋轉(zhuǎn)樣品臺和預抽真空系統(tǒng)，用以轉(zhuǎn)移冷凍樣品或易氧化的樣品。EM TIC 3X[詳細]

  2024-09-28 01:25

  實驗操作

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• Leica EM TXP 極ng確制樣系統(tǒng)產(chǎn)品樣冊

  Leica EM TXP 極ng確制樣系統(tǒng)產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2016-10-18 14:21

  應用文章

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• 徠卡真空鍍膜儀-Leica EM ACE200/600

  樣品進行掃描電鏡觀察前，通常需要對其表面鍍一層金屬膜，以便減少觀察時產(chǎn)生的荷電，并增強二次電子或背散射電子信號，獲得更好的信噪比。 Leica EM ACE200是一款低真空鍍膜儀，ACE200是高真空鍍膜儀。 可以選擇離子濺射鍍金屬膜或者碳絲蒸發(fā)鍍碳膜功能，或者同時具有這兩種功能。能夠滿足日常SEM需求，也可用于X-射線能譜及波譜分析，或者TEM銅網(wǎng)鍍碳膜。全自動電腦控制，自動完成抽真空、鍍膜、放氣等全過程，一鍵操作。采用當下非常流行的觸摸屏控制，簡單方便。[詳細]

  2024-09-12 16:03

  產(chǎn)品樣冊

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• 德國徠卡 臨界點干燥儀 EM CPD300產(chǎn)品樣本

  德國徠卡 臨界點干燥儀 EM CPD300產(chǎn)品樣本[詳細]

  2024-09-16 07:20

  產(chǎn)品樣冊

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• 徠卡修塊機-Leica EM TRIM2

  徠卡修塊機-Leica EM TRIM2，是一套高速研磨修塊系統(tǒng)，功能和設(shè)計簡便易用；準確、安全、快速的樣品修剪，一體化體視鏡和LED環(huán)型照明，為生物和工業(yè)樣品進行修塊。 Leica EM TRIM2 銑刀研磨步進為1μm，可垂直觀察，方便精細修塊時的定位，并帶有吸塵裝置，防止粉塵污染。[詳細]

  2024-09-11 17:46

  產(chǎn)品樣冊

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• 徠卡冷凍替代儀-Leica EM AFS2

  徠卡冷凍替代儀-Leica EM AFS2主要用于冷凍替代和梯度變溫技術(shù)，同時也可以用于樹脂的低溫包埋和聚合過程。 Leica EM FSP（冷凍替代驅(qū)動器），是為Leica EM AFS2特別設(shè)計的自動化試劑處理系統(tǒng)，可為冷凍替代和梯度變溫過程自動稀釋和更換試劑。樣品室內(nèi)部和體視顯微鏡下都裝有LED照明燈，觀察和定位樣品簡單方便。[詳細]

  2024-09-11 17:47

  產(chǎn)品樣冊

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