本文由 北京嘉德元素科技有限公司 整理匯編

2010-04-23 00:00 482閱讀次數(shù)

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  2010-04-23 00:00

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  硅鋇合金硅鍶合金的分析[詳細(xì)]

  2024-09-18 18:08

  實(shí)驗(yàn)操作

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  茶堿中雜質(zhì)分析[詳細(xì)]

  2024-10-06 08:16

  標(biāo)準(zhǔn)

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• 美國(guó)Taco-hvac太陽(yáng)

  美國(guó)Taco-hvac太陽(yáng)的產(chǎn)品，在美國(guó)很多城市建筑上運(yùn)用，有的用在新建建筑工程中，有的用在老建筑改造工程中，深入美國(guó)老百姓的生活中，主要的一些公關(guān)建筑上也廣泛運(yùn)用。聯(lián)系人：顧瑩先生13321950316我們主要做歐美進(jìn)口產(chǎn)品，如BALLUFF巴魯夫、Burkert寶德、Rexroth力士樂(lè)、E+H恩格斯豪斯、EUCHNER安士能、MURR穆?tīng)枴SR、HEIDENHAIN海德漢、Hengstler亨士樂(lè)、HYDAC賀德克、IFM易福門(mén)、LEUZE勞易測(cè)、MAHLE馬勒、PILZ皮爾茲、SCHMERSAL施邁賽、STAUFF西德福、KUBLER庫(kù)伯勒、FESTO費(fèi)斯托、TURCK圖爾克、P+F倍加福、STEIMEL斯特梅爾、BERNSTEIN伯恩斯坦、SIEMENS西門(mén)子模塊、MIT、RFHydraulic、Atos油缸、COMAT電壓繼電器、COMAT延時(shí)繼電器、COMAT繼電器座、COMAT控制器、COMAT計(jì)時(shí)器、COMAT微型電流接觸器、GEORGIN開(kāi)關(guān)、GEORGIN壓力開(kāi)關(guān)、GEORGIN溫度開(kāi)關(guān)、GEORGIN差壓開(kāi)關(guān)、GEORGIN繼電器、GEORGIN壓力變送器、motron、vester、Samon、BAUMER、Schenck、SpiraxSarco、CARLOGAVAZZI、ENGLER、Honsberg、DOMANGE、datasensor、helios、SCS、bender、floking、AZ、CAPTRON、REVALCO、TAIYO太陽(yáng)鐵工、CKD、SMC、KURODA黑田精工、TOYOOKI豐興、NACHI不二越、TACO塔克、SUNX神視、DAIKIN大金、KOGRNEI小金井等等進(jìn)口品牌。[詳細(xì)]

  2018-10-14 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 全反射太陽(yáng)模擬器

  SS0.5/1.0/1.6K是Sciencetech專(zhuān)門(mén)為研究者們?cè)O(shè)計(jì)生產(chǎn)擁有全反射光路的3A等級(jí)太陽(yáng)模擬器，這種*特的設(shè)計(jì)不僅避免了色差的產(chǎn)生，且能夠保持*大化的紫外線(xiàn)輸出，因此既可以模擬地球上的日光環(huán)境也可以模擬器外太空中的光照。[詳細(xì)]

  2024-09-28 00:27

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 液氧中雜質(zhì)的分析

  液氧中雜質(zhì)的分析[詳細(xì)]

  2024-09-29 08:56

  標(biāo)準(zhǔn)

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• 采用下落式量熱計(jì)測(cè)量硅材料高溫?zé)犰?/a>

  采用下落式量熱計(jì)測(cè)量硅材料高溫?zé)犰?a href="/doc/detail_b21613535b312688.html" target="_blank">[詳細(xì)]

  2015-11-04 00:00

  課件

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• 模擬太陽(yáng)光照輻射

  前言本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-5《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽(yáng)輻射》1975年版。通過(guò)使我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)等同，可以盡快適應(yīng)國(guó)際貿(mào)易的發(fā)展和經(jīng)濟(jì)、技術(shù)交流的需要。本標(biāo)準(zhǔn)代替了GB2423.24-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽(yáng)輻射試驗(yàn)方法》。本標(biāo)準(zhǔn)于1981年S次發(fā)布，1995年8月**次修訂。自本標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施之日起，原中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB2423.24-81同時(shí)作廢。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)電子工業(yè)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位：電子工業(yè)部第五研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：傅文茹、黃文忠、周心才、謝建華、黃玉洲。[詳細(xì)]

  2018-11-20 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 超高效太陽(yáng)模擬器

  3A等級(jí)別 一站式操作平臺(tái) 適用于大輻照面積[詳細(xì)]

  2023-09-21 13:49

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 深能級(jí)瞬態(tài)譜測(cè)試儀_Phystech FT1030

  深能級(jí)瞬態(tài)譜測(cè)試儀_Phystech FT1030[詳細(xì)]

  2024-09-14 21:11

  課件

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• 使用UPC2/MS進(jìn)行雜質(zhì)分析

  使用UPC2/MS進(jìn)行雜質(zhì)分析[詳細(xì)]

  2014-06-20 00:00

  其它

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• Equity-1701分析甲乙酮中雜質(zhì)

  Equity-1701分析甲乙酮中雜質(zhì)[詳細(xì)]

  2012-08-15 00:00

  課件

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• 乙烯、丙烯單體中雜質(zhì)分析

  乙烯、丙烯單體中雜質(zhì)分析[詳細(xì)]

  2014-05-19 00:00

  專(zhuān)利

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• 系統(tǒng)對(duì)原料藥中雜質(zhì)分析

  原料藥（API）中雜質(zhì)的檢測(cè)通常使用HPLC-UV的方法。但是雜質(zhì)的定性和定量分析不僅僅需要將雜質(zhì)與主成分分離，而且需要雜質(zhì)之間互相分離。另外，雜質(zhì)的來(lái)源，無(wú)論是樣品本身或者相關(guān)的外部因素，都需要確定。本文，我們研究了使用具有二維LC/MS/MS特點(diǎn)的Co-SenseforImpurity系統(tǒng)分析一種原料藥中的雜質(zhì)。[詳細(xì)]

  2018-11-13 15:46

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 一種高硅含量分析的**設(shè)備

  一種高硅含量分析的**設(shè)備[詳細(xì)]

  2012-07-16 00:00

  報(bào)價(jià)單

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• 雜質(zhì)

  雜質(zhì)[詳細(xì)]

  2014-05-14 00:00

  期刊論文

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• 熒光材料快速分析系統(tǒng)

  熒光材料快速分析系統(tǒng)[詳細(xì)]

  2010-06-10 00:00

  標(biāo)準(zhǔn)

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• 無(wú)機(jī)材料之結(jié)構(gòu)分析

  對(duì)于無(wú)機(jī)材料來(lái)說(shuō)，經(jīng)常會(huì)碰到同分異構(gòu)的情況。但是僅僅通過(guò)掃描電鏡和能譜，我 們只能得到形貌和成分?jǐn)?shù)據(jù)，而沒(méi)有辦法對(duì)樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的結(jié)構(gòu)分析。而結(jié)構(gòu)作為物質(zhì)的 基本特性，極大的影響著熱、力、光、電、磁等性能，因此也是微區(qū)表征不容忽視的方面。 而目前在 SEM 系統(tǒng)中，能夠進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征的也只有 EBSD，但是前提依然是要有嚴(yán)格的 樣品制備，局限性很大。[詳細(xì)]

  2024-09-14 01:13

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• 無(wú)機(jī)材料之微量元素分析

  在傳統(tǒng)的電鏡中，由于 EDS 的檢出限為 0.1%，所以對(duì)于一些微量元素的分析來(lái)說(shuō)較 為困難。尤其是要做微量元素或者差異很小的面分布來(lái)說(shuō)，EDS 往往不能滿(mǎn)足我們的需要。 雖然拉曼光譜并不能直接得到元素含量和分布分析，但是有時(shí)候微量元素的變化足以引起 對(duì)應(yīng)的特征拉曼峰的變化。此時(shí)便可利用拉曼光譜去進(jìn)行微量元素的分析。[詳細(xì)]

  2024-09-14 11:29

  應(yīng)用文章

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• 無(wú)機(jī)材料之結(jié)晶度分析

  對(duì)于無(wú)機(jī)材料來(lái)說(shuō)，結(jié)晶度也是重要的參數(shù)。目前能夠很好的表征結(jié)晶情況的主要是 XRD，并且是基于宏觀(guān)分析，能在微區(qū)尺度對(duì)結(jié)晶度進(jìn)行表征的手段則很少[詳細(xì)]

  2024-09-17 19:57

  應(yīng)用文章

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