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資料庫(kù)>GB/T 21650.3-2011/ISO 15901-3:2007 壓汞法和氣體吸附法測(cè)定固體材料孔徑分布和孔隙度——第3部分：氣體吸附法分析微孔
GB/T 21650.3-2011/ISO 15901-3:2007 壓汞法和氣體吸附法測(cè)定固體材料孔徑分布和孔隙度——第3部分：氣體吸附法分析微孔
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本文由 貝士德儀器科技（北京）有限公司 整理匯編
2024-08-05 15:02 406閱讀次數(shù)
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GB/T 21650.3-2011/ISO 15901-3:2007 壓汞法和氣體吸附法測(cè)定固體材料孔徑分布和孔隙度——第3部分：氣體吸附法分析微孔
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GB/T 21650.3-2011/ISO 15901-3:2007 壓汞法和氣體吸附法測(cè)定固體材料孔徑分布和孔隙度——第3部分：氣體吸附法分析微孔- GB/T 21650.3-2011/ISO 15901-3:2007 壓汞法和氣體吸附法測(cè)定固體材料孔徑分布和孔隙度——第3部分：氣體吸附法分析微孔[詳細(xì)]
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2024-08-05 15:02
應(yīng)用文章
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- GB/T 21650.3-2011 壓汞法和氣體吸附法測(cè)定固體材料孔徑分布和孔隙度 第3部分：氣體吸附法分析微孔
- GB/T 21650 的本部分規(guī)定了通過(guò)低溫氣體吸附測(cè)定微孔材料的微孔體積和比表面積的方法。
本部分適用于 IUPAC 分類(lèi)的 I、II、IV或 VI 型等溫線，本部分不適用于化學(xué)吸附或吸收。[詳細(xì)]
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2024-09-21 11:01
標(biāo)準(zhǔn)
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- GB/T 21650.1-2008 壓汞法和氣體吸附法測(cè)定固體材料孔徑分布和孔隙度 第1部分：壓汞法
- 本部分描述了根據(jù) Ritter 和 Drake 發(fā)展的壓汞法來(lái)評(píng)價(jià)固體的孔徑分布和孔中的比表面。它是一種可比較的方法。由于汞污染，本方法通常是破壞性的。測(cè)得的滲透到孔或空隙中汞的體積是與孔徑相關(guān)的靜壓力的函數(shù)。[詳細(xì)]
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2024-09-16 02:59
標(biāo)準(zhǔn)
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- GB/T 21650.1-2008/ISO 15901-1:2016 壓汞法和氣體吸附法測(cè)定固體材料孔徑分布和孔隙度——第1部分：壓汞法
- GB/T 21650.1-2008/ISO 15901-1:2016 壓汞法和氣體吸附法測(cè)定固體材料孔徑分布和孔隙度——第1部分：壓汞法[詳細(xì)]
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2024-09-16 00:41
應(yīng)用文章
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- GB_T 21650.1-2008 壓汞法和氣體吸附法測(cè)定固體材料孔徑分布和孔隙度 第1部分：壓汞法
- 通常，不同的孔（微孔、介孔和大孔）可視作固體內(nèi)的孔、通道或空腔，或者是形成床層、壓制體或團(tuán)聚體的固體顆粒間的空間（如裂縫或空隙）。通常用孔隙率來(lái)表示固體材料的多孔特性，其更為準(zhǔn)確的定義為：一定量固體中的可測(cè)定孔和空隙的體積與該固體所占有的總體積之比。除了可測(cè)定孔外，固體中可能還有一些閉孔，這些孔與外表面不相通，且流體不能滲入。本部分不涉及閉孔的表征。[詳細(xì)]
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2024-09-27 23:47
標(biāo)準(zhǔn)
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- GB/T 21650.2-2008 壓汞法和氣體吸附法測(cè)定固體材料孔徑分布和孔隙度 第2部分：氣體吸附法分析介孔和大孔
- GB/T 21650 的本部分規(guī)定了一種采用氣體吸附法測(cè)定孔隙率和孔徑分布的方法，用于比較性的而非意義上的測(cè)試。本方法局限于在恒定的控制溫度下，測(cè)定單位質(zhì)量樣品對(duì)氣體的吸附量。
本部分規(guī)定的方法可適用于大范圍內(nèi)的多孔材料。即使某些材料的孔結(jié)構(gòu)有時(shí)會(huì)受預(yù)處理或冷卻制度的影響。[詳細(xì)]
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2024-09-14 10:00
標(biāo)準(zhǔn)
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- 氣體吸附和壓汞法得到的孔徑分布結(jié)合的簡(jiǎn)單方法
- 氣體吸附和壓汞法得到的孔徑分布結(jié)合的簡(jiǎn)單方法[詳細(xì)]
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2013-06-21 00:00
安裝說(shuō)明
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- 測(cè)定比表面積氣體吸附法
- 測(cè)定比表面積氣體吸附法[詳細(xì)]
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2024-09-14 20:43
選購(gòu)指南
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- 低溫靜態(tài)容量法測(cè)定固體比表面和孔徑分布
- 低溫靜態(tài)容量法測(cè)定固體比表面和孔徑分布[詳細(xì)]
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2024-09-18 02:55
期刊論文
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- 低溫靜態(tài)容量法測(cè)定固體比表面和孔徑分布
- 細(xì)小粉末中相當(dāng)大比例的原子處于或靠近表面。如果粉末的顆粒有裂縫、縫隙或在表面上有孔，則裸露原子的比例更高。固體表面的分子與內(nèi)部分子不同，存在剩余的表面自由力場(chǎng)。同樣的物質(zhì)，粉末狀與塊狀有著顯著不同的性質(zhì)。與塊狀相比，細(xì)小粉末更具活性，顯示出更好的溶解性，熔結(jié)溫度更低，吸附性能更好，催化活性更高。這種影響是如此顯著，以至于在某些情況下，比表面積及孔結(jié)構(gòu)與化學(xué)組成有著相當(dāng)?shù)闹匾?。因此，無(wú)論在科學(xué)研究還是在生產(chǎn)實(shí)際中，了解所制備的或使用的吸附劑的比表面積和孔徑分布有時(shí)是很重要的事情。例如，比表面積和孔徑分布是表征多相催化劑物化性能的兩個(gè)重要參數(shù)。一個(gè)催化劑的比表面積大小常常與催化劑活性的高低有密切關(guān)系，孔徑的大小往往決定著催化反應(yīng)的選擇性。目前，已發(fā)展了多種測(cè)定和計(jì)算固體比表面積和孔徑分布的方法，不過(guò)使用Z多的是低溫氮物理吸附靜態(tài)容量法。[詳細(xì)]
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2024-09-16 02:59
應(yīng)用文章
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- 氣體吸附BET法測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積 GB T 19587-2004
- 比表面積測(cè)試儀F-Sorb2400是目前國(guó)內(nèi)**完全自動(dòng)化,智能化的BET法比表面積測(cè)量?jī)x器,2008年國(guó)內(nèi)市場(chǎng)銷(xiāo)量**,眾多科研院所及500強(qiáng)企業(yè)應(yīng)用案例,由金埃譜科技與兵器系統(tǒng)合作研發(fā),秉承兵器行業(yè)高標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)要求的技術(shù)宗旨,依據(jù)國(guó)際經(jīng)典比表面積測(cè)試?yán)碚摵驮?采用國(guó)內(nèi)外通用比表面積測(cè)試方法,符合國(guó)際比表面積測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),顯著提高產(chǎn)品穩(wěn)定性和使用壽命,測(cè)試結(jié)果更準(zhǔn)確,操作簡(jiǎn)單快捷,大大降低測(cè)試人員工作量。金埃譜科技是國(guó)內(nèi)Z早參與比表面積標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)定的機(jī)構(gòu),測(cè)試結(jié)果與國(guó)外數(shù)據(jù)可比性平行性**,并**獲取上海計(jì)量院檢測(cè)證書(shū),同時(shí)金埃譜科技也是國(guó)內(nèi)同行業(yè)中**一家注冊(cè)資本超百萬(wàn)的生產(chǎn)企業(yè),讓您選購(gòu)的產(chǎn)品無(wú)后顧之憂!比表面積是指每克物質(zhì)中所有顆?？偼獗砻娣e之和，國(guó)際單位是：m2/g，比表面積是衡量物質(zhì)特性的重要參量，其大小與顆粒的粒徑、形狀、表面缺陷及孔結(jié)構(gòu)密切相關(guān)；同時(shí)，比表面積大小對(duì)物質(zhì)其它的許多物理及化學(xué)性能會(huì)產(chǎn)生很大影響，特別是隨著顆粒粒徑的變小，比表面積成為了衡量物質(zhì)性能的一項(xiàng)非常重要參量，如目前廣泛應(yīng)用的納米材料。比表面積大小性能檢測(cè)在許多的行業(yè)應(yīng)用中是必須的，如電池材料，催化劑，橡膠中碳黑補(bǔ)強(qiáng)劑，納米材料等。比表面積研究和相關(guān)數(shù)據(jù)報(bào)告中，只有采用BET方法檢測(cè)出來(lái)的結(jié)果才是真實(shí)可靠的，因?yàn)閲?guó)內(nèi)外制定出來(lái)的比表面積標(biāo)準(zhǔn)都是以BET測(cè)試方法為基礎(chǔ)的。（GB.T19587-2004）-氣體吸附BET原理測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積的方法，國(guó)內(nèi)比較成熟的是動(dòng)態(tài)氮吸附法，現(xiàn)有國(guó)產(chǎn)儀器中大多數(shù)還只能進(jìn)行直接對(duì)比法的，北京金埃譜科技公司的F-Sorb2400新型比表面積測(cè)試儀是真正能夠?qū)崿F(xiàn)BET法檢測(cè)功能的儀器（兼?zhèn)渲苯訉?duì)比法），更重要的北京金埃譜科技公司的F-Sorb2400比表面積測(cè)試儀是迄今為止國(guó)內(nèi)**完全自動(dòng)化智能化的比表面積檢測(cè)設(shè)備，其測(cè)試結(jié)果與國(guó)際一致性很高，穩(wěn)定性也很好，同時(shí)減少人為誤差，提高測(cè)試結(jié)果極ng確性。[詳細(xì)]
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2018-08-17 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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- GB/T 19587-2004 氣體吸附BET法測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積
- 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了氣體吸附 BET 原理測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積的方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于粉末及多孔材料（包括納米粉末及納米級(jí)的多孔材料）比表面積的測(cè)定。[詳細(xì)]
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2024-09-11 18:03
標(biāo)準(zhǔn)
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- ISO 9277-2010 用氣體吸附測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積 BET法
- ISO 9277-2010 用氣體吸附測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積 BET法[詳細(xì)]
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2024-08-05 14:59
應(yīng)用文章
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- _ISO 9277-2010 用氣體吸附測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積 BET法
- _ISO 9277-2010 用氣體吸附測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積 BET法[詳細(xì)]
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2024-09-19 06:37
應(yīng)用文章
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氣體吸附(氮?dú)馕椒?比表面積測(cè)定- 氣體吸附(氮?dú)馕椒?比表面積測(cè)定[詳細(xì)]
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2024-09-20 15:39
安裝說(shuō)明
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- 靜態(tài)法孔徑分布和比表面積分析儀產(chǎn)品樣冊(cè)
- 靜態(tài)法孔徑分布和比表面積分析儀產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]
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2016-10-18 14:38
操作手冊(cè)
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- 有關(guān)氣體吸附中靜態(tài)容量法和動(dòng)態(tài)色譜法的比較
- 動(dòng)態(tài)色譜法和靜態(tài)容量法都是常用的主要的比表面測(cè)試方法，目的都是確定吸附質(zhì)氣體的吸附量。吸附質(zhì)氣體的吸附量確定后，就可以由該吸附質(zhì)分子的吸附量來(lái)計(jì)算待測(cè)粉體的比表面了。
動(dòng)態(tài)色譜法是將待測(cè)粉體樣品裝在樣品管內(nèi)（一般為U型，國(guó)儀精測(cè)具備專(zhuān)利直管技術(shù)，中國(guó)實(shí)用新型專(zhuān)利，專(zhuān)利號(hào)：ZL202120620155.0），通入一定比例的載氣（He）和吸附質(zhì)氣體（N2）的混合氣體，待混合氣體流過(guò)樣品后，根據(jù)吸附前后氣體濃度變化，得到待測(cè)樣品吸附量；靜態(tài)容量法是將待測(cè)粉體樣品裝在一定體積的一段封閉的試管狀樣品管內(nèi)，向樣品管內(nèi)注入一定壓力的吸附質(zhì)氣體，根據(jù)吸附前后的壓力或重量變化來(lái)確定被測(cè)樣品對(duì)吸附質(zhì)分子（N2）的吸附量。[詳細(xì)]
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2024-09-10 23:04
標(biāo)準(zhǔn)
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- 比表面積和微孔分布測(cè)量?jī)x,孔徑比表面分析儀產(chǎn)品樣冊(cè)
- 比表面積和微孔分布測(cè)量?jī)x,孔徑比表面分析儀產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]
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2016-10-18 14:38
操作手冊(cè)
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- 壓汞法基本原理
- 壓汞法基本原理[詳細(xì)]
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2024-09-16 01:37
操作手冊(cè)
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- 微孔孔徑分布計(jì)算法
- 微孔孔徑分布計(jì)算法[詳細(xì)]
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2010-10-02 00:00
其它
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