本文由 北京恒泰豐科試驗設(shè)備有限公司 整理匯編

2013-12-14 00:00 234閱讀次數(shù)

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  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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  2018-10-05 10:00

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  2018-09-14 10:00

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  2018-10-10 10:00

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  2013-12-12 00:00

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  GBT2424.6-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度濕度試驗箱性能確認用以確認溫濕度試驗箱在無負載時是否符合GB/T2423系列標(biāo)準(zhǔn)中氣候試驗方法規(guī)定的要求。GBT2424.6-2006適用于用戶進行常規(guī)的試驗箱性能監(jiān)測。武漢尚測試驗設(shè)備有限公司溫濕度試驗箱包括：高低溫濕熱試驗箱、恒溫恒濕試驗箱、高低溫沖擊試驗箱等。[詳細]

  2018-10-08 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗方法試驗B高溫

  本部分規(guī)定的高溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Bb和試驗Bd與早期版本無實質(zhì)上的差異。本高溫試驗的目的于用來確定元件，設(shè)備和其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T2423.22[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確定

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  2018-10-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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  2018-10-05 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 2423.2-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B高溫試驗方法

  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A低溫試驗方法[詳細]

  2018-09-04 10:00

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• GBT 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度 濕度試驗箱性能確認.pdf

  GBT 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度 濕度試驗箱性能確認.pdf[詳細]

  2015-06-19 00:00

  課件

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  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗方法：試驗和沖擊目的是提供一種確定樣品承受規(guī)定嚴(yán)酷等級沖擊能力的標(biāo)準(zhǔn)方法。[詳細]

  2018-10-13 10:00

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  2018-09-03 10:00

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• GBT 2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Q密封

  GBT2423.23-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗Q密封[詳細]

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  GBT 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N溫度變化試驗方法[詳細]

  2014-05-21 00:00

  安裝說明

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