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DG-MiniTest 400超聲波測(cè)厚儀

本文由 上海科學(xué)儀器有限公司 整理匯編

2024-09-15 19:19 407閱讀次數(shù)

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超聲波測(cè)厚儀DG-MiniTest400/400A/400B 高極ng準(zhǔn)超聲波測(cè)厚儀高阻抗雙晶探頭脈沖-回波方式 量程達(dá)0.65-400mm回波-回波方式(透過(guò)涂層測(cè)量) 量程達(dá)3-25mm堅(jiān)固的防靜電、防火塑料外殼??焖贉y(cè)量金屬、塑料、玻璃、陶瓷等材料的厚度。適合實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)使用。適用于各種板材、管材、油罐、輸油管、鍋爐容器壁厚及其局部腐蝕、銹蝕的檢測(cè)。適用于煉油、鋼鐵、冶金、造船、機(jī)械、化工、電力、原子能等各工業(yè)部門(mén)的產(chǎn)品檢驗(yàn)。DG-MiniTest400操作簡(jiǎn)便,易于使用。將探頭放置到被測(cè)物體表面上,即可讀出所測(cè)厚度的數(shù)據(jù),或是將探頭沿被測(cè)物體表面拖動(dòng),即可找出所測(cè)物體厚度Z薄點(diǎn)位置。DG-MiniTest400A超聲波測(cè)厚儀具有MiniTest400全部功能外,新增了下列功能:探頭自動(dòng)識(shí)別開(kāi)機(jī)自動(dòng)校零預(yù)置9種常用材料聲速值數(shù)據(jù)分組USB接口上傳聲速測(cè)量設(shè)限測(cè)量Z小值測(cè)量差值測(cè)量DG-MiniTest400B超聲波測(cè)厚儀具有MiniTest400A全部功能外,新增了下列功能:回波-回波測(cè)量(透過(guò)涂層測(cè)量)標(biāo)準(zhǔn)配置可選配置儀器主機(jī)階梯試塊,通訊電纜,通訊軟件,高溫探頭等,詳情請(qǐng)咨詢(xún)當(dāng)?shù)亟?jīng)帶連接電纜的探頭一支銷(xiāo)商。耦合劑2節(jié)5號(hào)電池塑料手提箱中英文說(shuō)明書(shū)保修卡技術(shù)參數(shù)項(xiàng)目參數(shù)400400A400B顯示信息測(cè)量值,聲速值,探頭型號(hào),電池電量,當(dāng)前數(shù)據(jù)組●●●測(cè)量范圍回波-回波測(cè)量:3mm-25mm                               ●發(fā)射-回波測(cè)量:0.65mm-400mm(不同型號(hào)探頭決定不同測(cè)量范圍)●●●示值精度小于99.99mm時(shí)為0.01mm;大于100mm時(shí)為0.1mm●●●單位公制/英制●●●聲速范圍1000m/s-9999m/s,●●●增益自動(dòng) ●●●手動(dòng)  ●●聲速測(cè)量確定未知聲速材料的聲速,預(yù)置9種常用材料聲速值 ●●探頭識(shí)別自動(dòng)識(shí)別探頭 ●●零位校準(zhǔn)開(kāi)機(jī)自動(dòng)零位校準(zhǔn) ●●測(cè)量模式發(fā)射-回波模式標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量:滿足常用的檢測(cè)要求●●●Z小值測(cè)量:滿足曲面或需要選擇Z小值的測(cè)量環(huán)境 ●●差分測(cè)量:顯示實(shí)際測(cè)量值與設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)值的差值 ●●平均測(cè)量:提供2-9點(diǎn)的測(cè)量平均值 ●●上下限測(cè)量:極限報(bào)警 ●●回波-回波模式透過(guò)涂層測(cè)量基體厚度  ●快速掃查模式適用于高溫或需要提高測(cè)量速度的測(cè)量環(huán)境,每秒10次的測(cè)量,可以同時(shí)顯示測(cè)量中的Zda值和Z小值●●數(shù)據(jù)存儲(chǔ)1組600個(gè)數(shù)據(jù)●  10組5000個(gè)數(shù)據(jù),動(dòng)態(tài)分配 ●●數(shù)據(jù)輸出USB接口,通過(guò)USB接口上傳儀器中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī) ●●關(guān)機(jī)選擇可選擇2分鐘,5分鐘自動(dòng)關(guān)機(jī)或選擇不自動(dòng)關(guān)機(jī)●●外形尺寸130×73×24mm(L×W×H)重量約190g工作溫度-20至50攝氏度電池兩節(jié)5號(hào)電池,電量顯示,電量不足報(bào)警工作時(shí)間不間斷測(cè)量不少于80小時(shí)顯示屏128×64背光DG-Minitest400可選探頭:型號(hào)晶體直徑頻率測(cè)量范圍工作溫度簡(jiǎn)介P44MM10.0MHZ0.8-20MM-12-+60℃小管徑探頭P66MM7.5MHZ0.8-150MM-12-+60℃主要用于薄壁及小弧面的測(cè)量.P88MM5.0MHZ0.8-350MM-12-+60℃標(biāo)配探頭,主要用于測(cè)量表面為平面或者較大弧度的材料。P1210MM5.0MHZ1.0-500MM-12-+60℃測(cè)厚探頭,主要用于測(cè)量厚度100-500MM的物體.ECP1212MM2.5MHZ3-50MM-12-+75℃粗晶探頭,主要用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測(cè)量.PHT1212MM5.0MHZ1.2-350MM-12-+350℃高溫探頭,主要用于測(cè)量溫度小于350℃的材料的測(cè)量,注:測(cè)量時(shí)晶體與被測(cè)高溫物體的接觸時(shí)間不得大于5S.PHT1212MM5.0MHZ1.2-350MM-12-+550℃高溫探頭,主要用于測(cè)量溫度小于550℃的材料的測(cè)量,注:測(cè)量時(shí)晶體與被測(cè)高溫物體的接觸時(shí)間不得大于5S.DG-Minitest400A/B可選探頭:型號(hào)晶體直徑頻率測(cè)量范圍工作溫度簡(jiǎn)介EP8E8MM5.0MHZ3-25MM(E-E)0.8-300MM(T-E)-12-+60℃400B獨(dú)有探頭,具有透過(guò)涂層測(cè)量模式EP44MM10.0MHZ0.65-20MM-12-+60℃小管徑探頭EP66MM7.5MHZ0.65-50MM-12-+60℃主要用于薄壁及小弧面的測(cè)量.EP88MM5.0MHZ0.8-350MM-12-+60℃標(biāo)配探頭,主要用于測(cè)量表面為平面或者較大弧度的材料。ECP1212MM2.0MHZ2.0-400MM-12-+60℃粗晶探頭,主要用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測(cè)量.EHP1313MM5.0MHZ3.0-200MM-12-+350℃高溫探頭,主要用于測(cè)量溫度小于350℃的材料的測(cè)量,注:測(cè)量時(shí)晶體與被測(cè)高溫物體的接觸時(shí)間不得大于5S.

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