本文由 HORIBA（中國(guó)） 整理匯編

2024-09-22 19:24 1037閱讀次數(shù)

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  ZetaPlus測(cè)定高分子脂質(zhì)體納米載體及磁性納米顆粒的粒徑[詳細(xì)]

  2014-01-09 00:00

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• 粒徑測(cè)量及用于磨料的各種顆粒儀器

  磨料是對(duì)粒度要求Z嚴(yán)格的行業(yè)之一。我們從各磨料出口企業(yè)了解到，發(fā)達(dá)國(guó)家（如美國(guó)、德國(guó)、日本）的進(jìn)口商大多采用激光粒度儀作為磨料粒度日常檢測(cè)的儀器。日本磨料的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)儀器是庫爾特（電阻法）計(jì)數(shù)器?？梢姡谀チ闲袠I(yè)，全世界同時(shí)有多種不同原理的儀器在使用。但在應(yīng)用實(shí)踐中，不同儀器對(duì)同一樣品的測(cè)量結(jié)果往往是不同的。本文簡(jiǎn)要介紹了國(guó)內(nèi)外流行的各種顆粒儀器的原理和性能特點(diǎn)。[詳細(xì)]

  2018-08-30 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 使用納米顆粒物追蹤分析技術(shù)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)粒子的粒徑測(cè)定

  使用納米顆粒物追蹤分析技術(shù)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)粒子的粒徑測(cè)定[詳細(xì)]

  2024-09-17 01:55

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• 熒光量子效率測(cè)量系統(tǒng)

  熒光量子效率測(cè)量系統(tǒng)[詳細(xì)]

  2024-09-23 19:07

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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  掃描電鏡在納米測(cè)量中的成象誤差[詳細(xì)]

  2024-09-20 13:38

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  麥奇克納米粒度儀在印刷油墨粒徑測(cè)量的應(yīng)用[詳細(xì)]

  2013-12-10 00:00

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• 使用激光粒度儀測(cè)量工業(yè)生產(chǎn)中維生素C片的粒徑

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  2024-09-29 13:46

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• 利用ICP-MS 的高靈敏度極ng確測(cè)定 Au納米的粒徑和數(shù)量

  納米材料在許多消費(fèi)產(chǎn)品領(lǐng)域的快速發(fā)展和應(yīng)用要求我們必須快速和準(zhǔn)確地對(duì)不同粒徑和成分的納米顆粒（NP）進(jìn)行表征。有多種技術(shù)可用來表征由金屬組成的和含有金屬成分的納米顆粒，但均受技術(shù)所限無法大規(guī)模應(yīng)用1。相比于這些技術(shù)，單顆粒ICP-MS技術(shù)（SP-ICP-MS）具有明顯的優(yōu)勢(shì)和更廣的應(yīng)用范圍，已有大量資料證明它可以快速對(duì)金屬納米顆粒和/或納米材料的組成和數(shù)量進(jìn)行表征。歐盟委員會(huì)（EC）（2011/696/EU）對(duì)“納米材料”的建議定義為：納米材料是一種由基本顆粒組成的粉狀或團(tuán)塊狀天然或人工材料，這一基本顆粒的一維或多維尺寸在1納米至100納米之間，并且這一基本顆粒的總數(shù)量在整個(gè)材料的所有顆?？倲?shù)中占50%以上。一般而言，SP-ICP-MS納米顆粒（NP）分析的挑戰(zhàn)之一就是準(zhǔn)確地表征粒徑小于20nm的顆粒。為了檢測(cè)到尺寸小于20nm的納米顆粒，SP-ICP-MS方法必須具備高靈敏度、快速數(shù)據(jù)采集速率（<75μs駐留時(shí)間）和低本底等特點(diǎn)。另外，具有自動(dòng)閾值檢測(cè)和實(shí)時(shí)本底扣除功能的數(shù)據(jù)處理軟件也是至關(guān)重要的。本文介紹了搭載了獨(dú)特射頻發(fā)生器和離子透鏡技術(shù)的珀金埃爾默公司NexION2000ICP-MS配合Syngistix納米應(yīng)用軟件模塊可以準(zhǔn)確地測(cè)量單一粒徑或混合粒徑納米顆粒樣品中粒徑小于和等于10nm的納米顆粒并對(duì)其進(jìn)行表征。[詳細(xì)]

  2018-08-17 10:00

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 納米粒度測(cè)量應(yīng)用案例-55-90Plus

  納米粒度測(cè)量應(yīng)用案例-55-90Plus[詳細(xì)]

  2015-07-23 00:00

  標(biāo)準(zhǔn)

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