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X射線熒光鍍層厚度測量儀 FT150 -硬件概要-

本文由 上海科學儀器有限公司 整理匯編

2018-08-13 16:03 508閱讀次數(shù)

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X射線熒光鍍層厚度測量儀作為一種可高速、簡便地對電子零件等的鍍層,半導體工藝中的薄膜,以及汽車部件中各類工業(yè)產(chǎn)品表皮膜等的膜厚進行管理的儀器而被廣泛應(yīng)用。FT150利用多毛細管所產(chǎn)生的照射直徑為30μm的高強度X射線光束,Z適于測量微小連接器、柔性電路板及導線架等微小零件及超薄鍍層?!敉ㄟ^優(yōu)化X射線光束與檢測器,與本公司以往機型相比,效率提高2倍(與本公司以往機型FT9550X相比)◆對裝置設(shè)計進行了全面改進,查看樣品室及測量位置的確認更加容易,大幅提高了操作性。◆產(chǎn)品線增加了FT150h,搭載了可測量超微部分的錫(Sn)及銀(Ag)等的高能量元素的專用X射線發(fā)生系統(tǒng)?!衾眯麻_發(fā)的軟件“XRFcontroller”,可提高用戶管理設(shè)定、操作導航及大型圖標的操作性,實現(xiàn)數(shù)據(jù)庫的綜合數(shù)據(jù)管理。此份資料中主要包括了FT150的硬件概要。

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