本文由 天津徠科光學儀器有限公司 整理匯編

2024-09-13 00:40 652閱讀次數(shù)

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• 三離子束切割儀 Leica EM TIC 3X產(chǎn)品樣冊

  三離子束切割儀 Leica EM TIC 3X產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2024-09-13 00:40

  應(yīng)用文章

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• 徠卡三離子束切割儀-Leica EM TIC 3X

  Leica EM TIC 3X 通過離子槍激發(fā)獲得的離子束，以垂直于樣品側(cè)面縱向轟擊樣品，可獲得高質(zhì)量無應(yīng)力“切割”截面，便于SEM觀察。該處理方法適用于多層膜材料、軟硬復合材料等高難度制備樣品，并且操作簡單，可有效避免涂抹效應(yīng)，不需要大量摸索條件即可獲得理想的截面，使樣品暴露內(nèi)部細微結(jié)構(gòu)信息。[詳細]

  2024-09-11 17:47

  產(chǎn)品樣冊

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• 徠卡 三離子束切割儀 Leica EM TIC 3X產(chǎn)品樣冊

  徠卡三離子束切割儀 Leica EM TIC 3X產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2024-09-28 00:31

  其它

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• 德國徠卡 三離子束切割儀 EM TIC 3X產(chǎn)品單頁

  德國徠卡 三離子束切割儀 EM TIC 3X產(chǎn)品單頁[詳細]

  2024-09-27 23:50

  產(chǎn)品樣冊

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• 使用離子束制備SEM樣品：徠卡EM TIC 3X三離子束研磨儀

  "如今，離子束蝕刻技術(shù)是應(yīng)用Z廣泛的電子顯微鏡樣品制備方法。在蝕刻過程中，高能氬離子束轟擊樣品，并根據(jù)其應(yīng)用領(lǐng)域調(diào)整離子束能量和切割角度。 在制備掃描電子顯微鏡樣品時，離子束蝕刻可改善或修改樣品表面質(zhì)量。 首先，離子束刻蝕能夠清潔、拋光或增加表面的襯度。經(jīng)離子束處理的樣品表面足以適用于各種靈敏的表面性能測試方法（如EBSD）。 另外，離子束刻蝕也可以通過斜面切割制備樣品的橫截面。 徠卡EM TIC 3X是一款離子束研磨儀，用于制備掃描電子顯微鏡樣品?？梢灾苽錁悠返臋M截面以及大面積表面。 樣品的橫截面還可以使用低能離子束再次處理。該處理過程既可以清洗橫截面，也能增強其襯度。 另外，EM TIC 3X可以通過離子束拋光工藝改進樣品的機械拋光表面。樣品表面的Z大離子束制備直徑為 25mm，Z大樣品直徑為38mm。 離子束拋光可以清洗、拋光樣品表面，并增強其襯度，可以在一臺儀器中完成所有類型的掃描電子顯微鏡樣品制備流程。 該儀器配備了一個模塊化的系統(tǒng)，可配置5種適用于不同應(yīng)用的樣品臺：標準樣品臺，冷凍樣品臺，多樣品臺，旋轉(zhuǎn)樣品臺和預抽真空系統(tǒng)，用以轉(zhuǎn)移冷凍樣品或易氧化的樣品。EM TIC 3X[詳細]

  2024-09-28 01:25

  實驗操作

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• 用Leica EM TIC3X三離子束切割儀解剖太陽能電池

  用Leica EM TIC3X三離子束切割儀解剖太陽能電池[詳細]

  2024-09-21 08:29

  產(chǎn)品樣冊

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• 用Leica EM TIC3X三離子束切割儀解剖半導體芯片

  用Leica EM TIC3X三離子束切割儀解剖半導體芯片[詳細]

  2016-01-07 00:00

  標準

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• 德國徠卡 離子研磨儀EM TIC 3X產(chǎn)品樣本

  德國徠卡 離子研磨儀EM TIC 3X產(chǎn)品樣本[詳細]

  2021-02-26 17:28

  產(chǎn)品樣冊

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• 徠卡電鏡制樣產(chǎn)品資料_Leica EM TIC 3X離子研磨儀_樣本、參數(shù)、價格、應(yīng)用案例、配置對比等

  您是否需要制備硬的，軟的，多孔，熱敏感，脆性和/或非.均質(zhì)多相復合型材料，獲得高質(zhì)量樣品表面，以適宜于掃描電子顯微鏡{SEM)分析和原子力顯微鏡(AFM)檢測? Leica EM TIC 3X采用的寬場離子束研磨系統(tǒng)非常適合能譜分析EDS，波譜分析WDS,俄歇分析Auger,背散射電子衍射分析EBSD。離子束研磨技術(shù)適用于多種多樣材質(zhì)樣品，獲得高質(zhì)量切割截面或拋光平面的解決方案。使用該技術(shù)對樣品進行處理，樣品受到形變或損傷的可能性低，可暴露出樣品內(nèi)部真實的結(jié)構(gòu)信息。 徠卡EM TIC 3X可以靈活選擇多種樣品臺，不僅適用于高通量實驗，也適合于特定制樣需求實驗室。依據(jù)您具體需求，每一臺徠卡EM TIC 3X都可裝配多種可切換樣品臺，如標準樣品臺，三樣品臺，旋轉(zhuǎn)樣品臺或冷凍樣品臺，應(yīng)用于常規(guī)樣品制備，高通量樣品制備，以及某些高分子聚合物，橡膠或生物材料等溫度敏感樣品制備。其與徠卡EM VCT環(huán)境 傳輸系統(tǒng)相連接，可以實現(xiàn)將冷凍的生物樣品表面受保護地被真空冷凍傳輸進入鍍膜儀或冷凍掃描電鏡(Cro-SEM)中,或者應(yīng)用于地質(zhì)或工業(yè)材料樣品，實現(xiàn)真空傳輸。 [詳細]

  2022-02-06 21:03

  產(chǎn)品樣冊

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• 徠卡 低真空鍍膜儀 Leica EM ACE200產(chǎn)品樣冊

  徠卡低真空鍍膜儀 Leica EM ACE200產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2016-10-20 09:15

  標準

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• 徠卡 冷凍替代儀 Leica EM AFS2產(chǎn)品樣冊

  徠卡冷凍替代儀 Leica EM AFS2產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2016-10-20 09:15

  報價單

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• 徠卡 高真空鍍膜儀 Leica EM ACE600產(chǎn)品樣冊

  徠卡高真空鍍膜儀 Leica EM ACE600產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2024-09-11 17:56

  實驗操作

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• Leica EM UC7 超薄切片機產(chǎn)品樣冊

  Leica EM UC7 超薄切片機產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2016-10-18 14:21

  其它

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• 徠卡真空鍍膜儀-Leica EM ACE200/600

  樣品進行掃描電鏡觀察前，通常需要對其表面鍍一層金屬膜，以便減少觀察時產(chǎn)生的荷電，并增強二次電子或背散射電子信號，獲得更好的信噪比。 Leica EM ACE200是一款低真空鍍膜儀，ACE200是高真空鍍膜儀。 可以選擇離子濺射鍍金屬膜或者碳絲蒸發(fā)鍍碳膜功能，或者同時具有這兩種功能。能夠滿足日常SEM需求，也可用于X-射線能譜及波譜分析，或者TEM銅網(wǎng)鍍碳膜。全自動電腦控制，自動完成抽真空、鍍膜、放氣等全過程，一鍵操作。采用當下非常流行的觸摸屏控制，簡單方便。[詳細]

  2024-09-12 16:03

  產(chǎn)品樣冊

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• 徠卡冷凍替代儀-Leica EM AFS2

  徠卡冷凍替代儀-Leica EM AFS2主要用于冷凍替代和梯度變溫技術(shù)，同時也可以用于樹脂的低溫包埋和聚合過程。 Leica EM FSP（冷凍替代驅(qū)動器），是為Leica EM AFS2特別設(shè)計的自動化試劑處理系統(tǒng)，可為冷凍替代和梯度變溫過程自動稀釋和更換試劑。樣品室內(nèi)部和體視顯微鏡下都裝有LED照明燈，觀察和定位樣品簡單方便。[詳細]

  2024-09-11 17:47

  產(chǎn)品樣冊

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• 徠卡 精研一體機 Leica EM TXP產(chǎn)品樣冊

  徠卡精研一體機 Leica EM TXP產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2016-10-20 09:15

  安裝說明

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• 徠卡 高壓冷凍儀 Leica EM HPM100產(chǎn)品樣冊

  徠卡高壓冷凍儀 Leica EM HPM100產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2016-10-20 09:15

  操作手冊

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• 徠卡 高壓冷凍儀 Leica EM PACT2產(chǎn)品樣冊

  徠卡高壓冷凍儀 Leica EM PACT2產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2024-09-28 01:02

  報價單

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• 徠卡Leica EM TXP精研一體機 產(chǎn)品樣冊

  LEICA EM TXP是一款獨特的可對目標區(qū)域進行準確定位的表面處理工具，特別適合于SEM，TEM及LM觀察之前對樣品進行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品，如需要對目標精細定位或需對肉眼難以觀察的微小目標進行定點處理。有了 Leica EM TXP，這些工作就可輕松完成。[詳細]

  2024-05-15 16:50

  產(chǎn)品樣冊

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• 徠卡Leica EM BAF060冷凍斷裂系統(tǒng)產(chǎn)品樣冊

  徠卡Leica EM BAF060冷凍斷裂系統(tǒng)產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2016-10-18 14:21

  其它

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